本发明公开了一种重轨试样氧化铁皮物相检测方法,包括：取样；制样：然后按照从下往上的顺序,将具有一定面积的橡皮泥、试样样品,依次放在平整底板上,使用压平机将试样不平整的地方补平；拆卸X射线衍射仪OEC样品台,将第一步制备的试样整体放入OEC样品台中；使用帕纳克生产的X’PertPRO型X射线衍射仪编制测试程序,扫描范围2θ为10°～110°,扫描步进宽度为0.03°,扫描速度为0.3°/s；使用H i ghScore应用软件进行数据分析。本发明的目的是提供一种重轨试样氧化铁皮物相检测方法,此方法作为X射线衍射仪物相检测领域的一项重要方法,特别适用于表面不平整的块状重轨试样的氧化铁皮物相分析。

本申请实施例公开了一种组合样品及其制备方法,其中,制备方法包括：将样品承载部放置于承载台上；所述样品承载部包括基底和至少一个格栅,所述栅格位于所述基底背离所述承载台的一侧；在所述格栅中形成凹槽；所述凹槽具有第一侧壁,所述第一侧壁与所述基底垂直；将待减薄样品粘贴于所述凹槽的第一侧壁上,得到组合样品；所述待减薄样品的粘贴面与所述基底呈第一预设角度,所述第一预设角度为锐角；利用聚焦离子束,对所述待减薄样品进行减薄处理。

提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置,单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部,试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体,吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。

本发明实施例提供了一种X射线衍射信号的采集方法、系统、设备及存储介质。方法包括：通过X射线源发出X射线照射样品,使用二维面探测器进行持续性扫描,控制样品沿ψ圆旋转360度,确定是否将当前2θ和ω取值下的目标倒易空间Q-z为正的部分扫描完毕,若否,则控制χ变化Δχ,返回执行控制样品沿ψ圆旋转360度的步骤。若是,则判断是否已将目标倒易空间扫描完毕。若未将目标倒易空间扫描完毕,则控制2θ变化Δ2θ,控制ω变化Δω,并返回步骤控制样品沿ψ圆旋转360度。若已将目标倒易空间扫描完毕,则结束处理,并获得目标倒易空间中的第一衍射数据。本发明实现了对广域倒易空间中的大多数衍射信号快速高效地采集。

本发明公开了一种晶体定向方法及装置,属于晶体定向技术领域。所述装置包括X射线衍射仪和搭载于X射线衍射仪的基台,基台上设置有待测晶体搭载区、水平翻转机构、轴向旋转机构和竖直升降机构。定向方法包括：放置待测晶体于基台上；全谱范围内对待测晶体进行衍射；小角度调节水平翻转机构和轴向旋转机构,记录X射线衍射仪对待测晶体不同晶面的衍射强度；预判目标晶面所需的基台调整角度和旋转方向,调节并微调做衍射,直至衍射谱中只保留目标晶面的衍射峰。本发明比劳埃衍射仪法和定向仪法更加便捷；能够精确获取所需晶面；成本低,无需其他辅助设备。本发明还公开了根据上述晶体定向方法的晶体加工方法。