本发明提供了一种用于EBSD实验的样品预倾装载装置,包括：架体；装载组件包括基座和装载单元,基座可拆卸地设置在架体上,基座有顺次连接的放置部、基准部和连接部,连接部用于与测试装置连接,基准部有倾斜参照面,放置部有放置腔和与放置腔连通的开口,开口与倾斜参照面位于基座的同一侧,装载单元有相对放置腔转动的转动状态和相对放置腔移动的移动状态,装载单元具有装载面,装载面朝向开口设置且用于放置样品；驱动机构设置在架体上且与装载单元驱动连接,驱动机构用于调整样品在基座上的位置,使样品检测面与倾斜参照面于同一平面。通过本申请提供的技术方案,能够解决现有技术中的样品安装精度以及实验结果准确性较低的问题。

本发明涉及X射线吸收光谱表征技术领域,公开了一种同步辐射XAS与质谱联用的流动电化学测试装置,包括法兰基体、法兰盖、工作电极、光学窗口和气液分隔组件；所述法兰基体开有沿其轴向贯穿的质谱进样通道,所述法兰基体靠近法兰盖的一侧面开有反应腔,所述法兰基体还开有与反应腔连通的参比电极安装通道、对电极安装通道、进液通道和出液通道,所述法兰盖开有贯穿的透光窗,所述光学窗口覆盖于透光窗,所述工作电极位于光学窗口与反应腔之间。本发明还公开了一种同步辐射XAS与质谱联用的流动电化学测试装置的试验方法。其有益效果在于：本电化学池能实现X射线光谱与质谱联用,能同时捕捉X射线荧光信号、质谱信号以及电化学信号。

本发明公开了一种用于获取泥页岩水岩作用前后弹性参数的方法,包括：对岩样进行研磨并分析岩石矿物含量；对岩样进行电镜扫描,分析扫描图像中各物相的分布和含量,确定岩样微观结构体积单元；对岩样进行纳米压痕测试,建立各压痕点的载荷与位移曲线,计算每个压痕点的弹性参数；将压载完的岩样进行流体浸泡,并进行电镜扫描和纳米压痕测试,计算浸泡后每个压痕点的弹性参数；根据浸泡前后每个压痕点的弹性参数,利用混合高斯模型对各压痕点的物相类别进行识别,计算每个物相类别的弹性参数趋势；进一步由岩石矿物含量分析结果,得到浸泡前后待评价泥页岩岩样的宏观弹性参数。本发明不受岩样尺寸限制即可获得页岩水岩作用前后的力学参数。

本发明涉及一种扫描电子显微镜能谱仪用测试夹具,所述测试夹具包括多个夹口,所述各夹口的两边包括不同金属,所述扫描电子显微镜能谱仪包括扫描电子显微镜和能谱分析仪,所述扫描电子显微镜包括扫描电子显微镜舱室,所述夹具设置于所述扫描电子显微镜舱室内,所述能谱分析仪用于：对待测样品截面元素分布进行测试,本发明夹具上的各夹口两边采用不同的金属制造,用来避免夹具与测试样品中含有同一种金属所造成的测试结果干扰,以及测量元素分布不准确的技术问题。

同步STEM和TEM显微镜。用于使用单个电子显微镜系统通过TEM和STEM技术研究样本的方法包含以下步骤：朝着所述样本发射电子；将所述电子形成为两个束；以及然后修改所述两个束中的至少一个束的聚焦特性,使得所述两个束具有不同的焦平面。一旦所述两个束具有不同的焦平面,第一电子束被聚焦,使得所述第一电子束充当聚焦在所述样本处的STEM束,并且第二电子束被聚焦,使得当入射到所述样本上时,所述第二电子束充当作为平行束的TEM束。然后,可以由单个检测器或检测器阵列检测由入射到所述样本上的所述STEM束和所述TEM束产生的发射,并且所述发射用于产生TEM图像和STEM图像。

用于通过多个带电粒子细束来检查样品的带电粒子束装置。本发明涉及一种通过多个带电粒子细束来检查样品的方法。所述方法包括以下步骤：提供样品；提供多个带电粒子细束并将所述多个带电粒子细束聚焦到所述样品上；以及检测响应于所述多个带电粒子细束的所述辐照而从所述样品发出的辐射通量。此处,所述多个带电粒子细束聚焦到所述样品上成为细束图案,其中所述细束图案包括多个间隔开的细束光点,且其中所述细束光点在第一方向上间隔开且相邻细束光点之间的间隔构成细束间光点距离。如本文所定义,所述方法包括以下步骤：使所述细束图案在所述第一方向上移动且移动距离超过所述细束间光点距离而到达多个彼此不同的细束图案位置。通过检测相应的辐射通量,可以将一个或多个样品特征对应至所述样品。

本发明涉及一种超纯净无取向冷轧硅钢中非金属夹杂物形貌的原位观察方法,包括如下步骤：制备无取向冷轧硅钢样品,将待测试面用打磨至1000#,使样品表面平整光滑,并进行机械抛光和表面清洗。对处理好的样品在电化学工作站上进行电化学腐蚀,电解液为：1～8wt%氯化物MCl溶液,余量为去离子水,通入CO-2气体至饱和,加入适量NaHCO-3和三乙醇胺作为稳定剂调节pH值将其稳定在6.0～6.5之间。电化学设定参数：开路：0.5～2h,动电位极化测试：扫描速率:0.1 mV/S～1.0 mV/S,测试区间：VS.SCE-0.8 V～0.2 V,测试温度为：10～25℃。取不同区间内做完电化学腐蚀的样品用去离子水冲洗,吹干。通过扫描电子显微镜+能谱仪对非金属夹杂物的形貌进行原位观察和成分分析。