本发明提供一种光电探测器频率响应测试方法,包括：波形发生器向可调谐激光器提供方波调谐信号；可调谐激光器接收方波调谐信号,产生波长分别为λ-1和λ-2的激光；波长为λ-1的激光经光耦合器输出频率为f-1的光A；波长为λ-2的激光经可调延时光纤输出频率为f-2的光B；光A与光B的频率差Δf＝f-2-f-1；强度调制器同时接收光A与光B；微波信号源向强度调制器提供调制信号f-m；强度调制器产生频率为f-1±f-m的±1阶边带和频率为f-1+Δf±f-m的±1阶边带；待测光电探测器对频率为f-1+f-m的+1阶边带与频率为f-1+Δf-f-m的-1阶边带拍频；待测光电探测器对频率为f-1-f-m的-1阶边带与频率为f-1+Δf+f-m的+1阶边带拍频；分别记录频率为2f-m+Δf和频率为|Δf-2f-m|的谱线对应的功率,得到待测光电探测器在频率2f-m+Δf和|Δf-2f-m|对应的频率响应。

本发明提供一种光电探测器频率响应测试方法,包括：波形发生器向可调谐激光器提供方波调谐信号；可调谐激光器接收方波调谐信号,产生波长分别为λ-1和λ-2的激光；波长为λ-1的激光经光耦合器输出频率为f-1的光A；波长为λ-2的激光经可调延时光纤输出频率为f-2的光B；光A与光B的频率差Δf＝f-2-f-1；强度调制器同时接收光A与光B；微波信号源向强度调制器提供调制信号f-m；强度调制器产生频率为f-1±f-m的±1阶边带和频率为f-1+Δf±f-m的±1阶边带；待测光电探测器对频率为f-1+f-m的+1阶边带与频率为f-1+Δf-f-m的-1阶边带拍频；待测光电探测器对频率为f-1-f-m的-1阶边带与频率为f-1+Δf+f-m的+1阶边带拍频；分别记录频率为2f-m+Δf和频率为|Δf-2f-m|的谱线对应的功率,得到待测光电探测器在频率2f-m+Δf和|Δf-2f-m|对应的频率响应。