本发明提供了一种芯片检测标记计数方法及其设备,包括以下步骤：开启电机,芯片前进,芯片依次经过到位检测工位、次品芯片检测工位、芯片读写性能检测工位、标记工位。在此过程中,次品芯片检测工位对芯片的孔进行检测,芯片读写性能检测工位对芯片进行读写性能检测,标记工位按照前述检测反馈的信息对芯片进行新的标记。本发明提供的方案具有较高的自动化程度,节省空间,便于操作,能够进行个性化标记,可广泛地在IC卡生产企业中应用。