本发明提供一种基于仿生学的圆偏振检测集成器件及其制作方法,其中器件包括自下而上依次层叠的一透光基底、一金属光栅、一透光介质层和一超表面阵列；所述超表面阵列包括阵列排布的多个单元晶胞,每一所述单元晶胞包括一第一菱形结构、一第二菱形结构和一第三菱形结构；所述第一菱形结构、所述第二菱形结构和所述第三菱形结构的一对角线在同一直线上,且所述第一菱形结构和所述第三菱形结构部分堆叠重合在所述第二菱形结构内。本发明的一种基于仿生学的圆偏振检测集成器件及其制作方法,使器件在近红外波段较宽范围内都具有较高的透射率和高的消光比。

本申请实施例提供一种金属线栅偏振片与光探测设备。金属线栅偏振片包括透明衬底及设于透明衬底上的金属层,金属层包括第一线栅单元、第二线栅单元,第一线栅单元包括间隔且平行设置的多根第一金属条,第二线栅单元包括间隔且平行设置的多根第二金属条；第一金属条的延伸方向与第二金属条的延伸方向不平行。当该金属线栅偏振片应用于光探测设备时,可以将第一线栅单元与第二线栅单元分别对应第一探测单元与第二探测单元设置,这样第一探测单元与第二探测单元各自检测到的偏振光的偏振方向不同,从而可以采用一个光探测设备实现多种偏振光的检测,并且,在检测过程中,不需要改变探测单元的位置或方向,使光探测设备的使用更加便捷。

本发明提供一种空间调制偏振检测系统及设计方法,用于对待测样品的偏振特性进行检测,属于光学设计技术领域,该系统包括光源、偏振态产生器、空间光滤波器、准直透镜、相位延迟器、偏振态分析器、聚焦透镜、探测器及数据处理模块；该系统还包括四分之一波片,所述四分之一波片设置于相位延迟器与准直透镜之间；所述四分之一波片的快轴方位角为所述由所述偏振态系数对比度最大来确定。本申请选取四分之一波片的最优快轴方位角使强度分布模型中的模型参数有最大的对比度,以使得拟合解算偏振态过程中有全局最优解,来提高偏振态的解算精度。

本发明公开了一种应用于光线偏振研究的测量装置,包括：安装架,放置在实验台上；检偏器,通过支撑架安装在安装架的一侧,可使得光线在通过检偏器后被分辨；波片,通过连接架安装在安装架上位于检偏器的一侧,可使得光线通过波片后被检偏器分辨；传动组件,安装在支撑架与连接架之间,通过推动所述检偏器,可使得波片被推动至检偏器同一水平面,进而使得检偏器与波片同步测试光线种类,本发明可以通过传动机构只转动检偏器就可以推动波片至待测位置,进而研究人员只需单手操作,操作较为简便,方便研究人员独立的光线偏振的研究。