阅读说明：本技术 一种可移位电磁场观测方法及装置 (Displaceable electromagnetic field observation method and device ) 是由 陈又鲜 袁海军 周李梦男 刘凯 刘亮元 刘黎明 张华斌 苗裕 于 2020-06-05 设计创作，主要内容包括：本发明涉及一种可移位电磁场观测方法及装置。该装置包括发光二极管,支架,连接板,所述发光二极管两端电压不同发出的颜色不同,以平面阵列方式排列,连接板用于固定各个发光二极管,支架用于支撑连接板。连接板固定的发光二极管面在三维空间中位置可改变。将该电磁场观测装置放于电磁场环境中或微波电器内,开启微波电器电源,不同位置的发光二极管则会因电磁场强度不同感应出不同电动势发不同颜色光,很直观的对比显示出不同位置的电磁场强度大小。通过本发明的技术方案,结构简单、轻便,通过单层发光二极管连接就能够观测各种微波电器内各个位置的场分布,对比场强大小,从而分析均匀性,为微波电器设计提供一定的技术支撑。(The invention relates to a displaceable electromagnetic field observation method and a device. The device comprises light-emitting diodes, a support and a connecting plate, wherein the light-emitting diodes are arranged in a planar array mode in different colors emitted by different voltages at two ends of the light-emitting diodes, the connecting plate is used for fixing the light-emitting diodes, and the support is used for supporting the connecting plate. The position of the LED surface fixed by the connecting plate can be changed in a three-dimensional space. The electromagnetic field observation device is placed in an electromagnetic field environment or a microwave electrical appliance, a power supply of the microwave electrical appliance is started, the light emitting diodes at different positions can induce different electromotive forces to emit different color lights due to different electromagnetic field intensities, and the electromagnetic field intensities at different positions are displayed in a very visual contrast mode. According to the technical scheme, the structure is simple and light, the field distribution of each position in various microwave electrical appliances can be observed through the connection of the single-layer light-emitting diodes, the field intensity is compared, the uniformity is analyzed, and a certain technical support is provided for the design of the microwave electrical appliances.)

一种可移位电磁场观测方法及装置

技术领域

本发明涉及微波加热技术领域，具体而言，涉及一种可移位电磁场观测方法及装置。

背景技术

微波加热设备是由电流产生微波，并将微波照射到腔体内被加热物的表面来对物品进行加热的装置。众所周知，微波加热设备所采用的微波是一种电磁波。这种电磁波的能量不仅比通常的无线电波大得多，而且还很有特点，微波一碰到金属就发生反射，金属根本没有办法吸收或传导它；微波可以穿过玻璃、陶瓷、塑料等绝缘材料，但不会消耗能量；微波对各种介质类物品都有加热的功能，如微波炉、微波干衣机、微波热水器等，在人们的日常生活中得到了广泛的运用。

然而在现有技术中微波加热物体时均匀性提高还有一定难度，微波加热设备如微波炉在研发生产时经常发生因微波能聚集某一点而发生打火问题，避免微波设备发生质量问题并提高微波炉均匀性等性能就得知道微波加热腔的电磁场分布强弱，而电磁场强弱是肉眼不能直观看见的。

发明内容

本发明在于，针对上述问题，提供一种电磁场观测方法及装置，以至少解决现有技术中无法直观的观测微波加热腔中电磁场的问题。

为实现上述目的，提供了一种电磁场观测方法及装置，采用如下技术方案：

一种电磁场观测方法及检测装置，包括发光二极管，支架，连接板。所述发光二极管数量不限，由1个以上构成，若干个所述发光二极管设于所述连接板内，所述连接板用于固定各个发光二极管，所述支架与所述连接板相连，用于支撑所述连接板。本电磁场观测方法原理基于电磁场环境中所述发光二极管两端会有感应电动势产生，给所述发光二极管两端提供电压，从而使所述发光二极管发光，不同位置的所述发光二极管两端感应电动势不同而发出光的颜色不同，以此来区分电磁场强度的高低。

进一步，所述连接板可以有各种形状，如方形、圆形、椭圆形、多边形等等，形状不限。

进一步，所述连接板上可不设或设有电阻、电容或电感等为发光二极管实现电路匹配的元器件。

进一步，所述连接板和所述支架均采用吸热性能较差的介质材料，如聚四氟乙烯、泡沫材料等等。

进一步，所述发光二极管以阵列方式等间距排列于所述连接板内，也可以局部等间距，其他部分非等间距的方式排列，或全部非等间距方式排列，排列的形状可有各种形状，如方形、圆形、椭圆形、多边形、星形等等，形状不限。所述发光二极管排列的形状可与所述连接板形状相同也可以不同。

进一步，所述连接板放置方式可水平，可垂直、可斜放。

根据本发明的一个实施例，所述支架的结构包括底座、支撑轴，所述支撑轴连接所述连接板，所述连接板中间设置有可供所述支撑轴穿过的圆孔道。所述连接板可绕着支撑轴旋转，从而改变所述发光二极管的位置，来观察各处的场强强弱。所述支撑轴可水平、可竖放，也可与水平方向呈一定夹角放置。

根据另一个实施例，所述支架可设置成可升降式，改变所述连接板的纵向位移。

根据本发明的另一个实施例，所述支架上也可在纵向设置若干个卡槽A，可凹可凸，所述连接板中间设有卡槽B，所述卡槽A和所述卡槽B凹凸互为相反。所述连接板可任选的所述卡槽A其中的作为支点固定，从而改变连接板的纵向位置。

与相关技术相比，本发明具有以下有益效果：

能够仅通过一层发光二极管连接板观测各种微波电器内任意位置的场分布，对比场强大小，从而判断微波场能量的聚集方位，分析均匀性，为微波电器设计提供一定的技术支撑。

与相关技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明可以用肉眼直接观察食物在加热过程中各层次是否均匀受热情况，模拟空载时加热腔内电磁场分布的相对强弱，比较直观，相比传统的用电磁场仿真软件模拟预测更为简单、方便、迅速。

附图说明

图1为本发明电磁场观测装置实施例1的结构示意图；

图2为本发明电磁场观测装置实施例2的结构示意图；

图3为本发明电磁场观测装置实施例3的结构示意图；

图4为本发明电磁场观测装置实施例4的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图和实施方式对本发明作进一步说明。

请参阅图1，本发明的一种新型电磁场观测装置，包括发光二极管1若干个，其放置于连接板3内，所述连接板3为单层，固定于支架3之上。

实施例1如图1所示，在本实施例中，将该电磁场观测装置放于电磁场环境中如微波炉、微波干衣机、微波热水器等微波电器内，开启微波电器电源，不同位置的发光二极管1则会因电磁场强度不同感应出不同电动势发不同颜色光，很直观的对比显示出不同位置的电磁场强度大小。该实施例1可以观测某一平面也就是二维空间内任意点的电磁场相对强弱。

进一步，所述发光二极管1排列形成的平面和所述连接板2的形状不限，可由矩形、圆形、椭圆形、多边形等任意形状构成。

进一步，所述发光二极管1排列形成的平面和所述连接板2水平放置、也可与水平方向呈现一定夹角切斜放置。

进一步，所述支架2可设置成可升降式，这样可以改变单层发光二极管板的纵向位置，达到利用单层发光二极管板测试三维空间内任意点场强强弱的测试。

实施例2如图2所示，在本实施例中，所述支架2支撑连接板3，所述发光二极管1置于所述连接板3内，相对比于实施例1所述所述支架2在纵向设置若干个卡槽A 22，可凹可凸，所述连接板3中间设有卡槽B 30，所述卡槽A 22 和所述卡槽B 30凹凸互为相反。所述连接板3可任选所述卡槽A 22其中的一个作为支点固定，从而改变所述连接板的纵向位置，达到利用单层发光二极管板测试三维空间内任意点场强强弱的测试。

实施例3如图3所示，在本实施例中，所述支架2支撑连接板3，所述发光二极管1置于所述连接板3内，相对比于实施例1，所述支架2包括底座20、支撑轴21，所述支撑轴21连接所述连接板3，所述连接板3中间设置有可供所述支撑轴21穿过的圆孔道210。所述支撑轴21包含一水平方向的横轴，所述连接板3可绕着支撑轴21的水平轴旋转，从而改变所述发光二极管1的位置，观察各处的场强强弱。

实施例4如图4所示，在本实施例中，所述支架2支撑连接板3，所述发光二极管1置于所述连接板3内，所述支架2包括底座20、支撑轴21，所述支撑21连接所述连接板3，所述连接板3中间设置有可供所述支撑轴21穿过的圆孔道210。对比于实施例3，所述支撑轴21纵向设置，连接板3可绕着支撑轴21水平方向上旋转，从而改变所述发光二极管1的位置，观察各处的场强强弱。

具体来说，所述的电磁场观测方法及装置工作过程如下：首先用户将所述连接板3调整好所需要观测的方位，然后将所述电磁场观测装置放置于微波加热腔体内，封闭炉腔，然后开启微波加热电器或设备的电源，电磁场环境中所述发光二极管1两端会有感应电动势产生，从而使所述发光二极管1发光，不同位置的发光二极管两端因为场强不同感应电动势不同而发出光的颜色不同，用户可通过微波加热腔门观看，以此来区分电磁场强度的高低。如果想看其他方位的电磁场强弱，可再调整所述连接板3的方位重复上述操作。

除以上所述实施例外，所述发光二极管1排列形成的平面和所述连接板3放置方式可以水平、垂直、斜放等多种方式放置，所述连接板3放置方式可水平，可垂直、可斜放。本说明书不再一一例出。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书原理及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

以上利用实施方式对本发明进行了说明，但无需多言，本发明的技术范围并不局限于上述实施方式所记载的范围。对于本领域技术人员显而易见的是，能够对上述实施方式施加各种改变或改良。另外，根据权利要求书的记载的范围显而易见的是，该施加各种改变或改良的实施方式也包含在本发明的技术范围内。