阅读说明：本技术 一种芯片测试用固定装置及使用方法 (Fixing device for chip test and using method ) 是由 常嘉伟 王霞 王志伟 于 2020-06-08 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种芯片测试用固定装置及使用方法,包括工作台与芯片测试盒,所述工作台上端面左侧位置设置有固定直板,所述工作台上端面在固定直板右侧位置设置有可调节的活动直板,所述固定直板右侧端面尾部位置设置有固定夹板,所述活动直板左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板,所述芯片测试盒位于固定夹板与活动夹板之间位置,所述芯片测试盒上端面设置有芯片插槽,所述工作台上端面在活动直板右侧位置设置有矩形槽。本发明所述的一种芯片测试用固定装置及使用方法,利用可调节位置的活动直板与活动夹板,可以有效固定芯片测试盒的位置,并针对不同规格大小的芯片测试盒进行位置调节,使芯片测试更加高效便捷。(The invention discloses a fixing device for chip testing and a using method thereof, the fixing device comprises a workbench and a chip testing box, a fixed straight plate is arranged at the left side position of the upper end surface of the workbench, an adjustable movable straight plate is arranged at the right side position of the fixed straight plate on the upper end surface of the workbench, a fixed clamping plate is arranged at the tail position of the right end surface of the fixed straight plate, an adjustable movable clamping plate is arranged at the tail position of the left end surface of the movable straight plate, the chip testing box is positioned between the fixed clamping plate and the movable clamping plate, a chip slot is arranged at the upper end surface of the chip testing box, and a rectangular slot is arranged at the right side position of the movable straight plate on the upper end surface. According to the fixing device for the chip test and the using method, the position of the chip test box can be effectively fixed by using the movable straight plate and the movable clamping plate which can adjust the positions, and the chip test box can be adjusted according to different specifications, so that the chip test is more efficient and convenient.)

一种芯片测试用固定装置及使用方法

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片测试用固定装置及使用方法。

背景技术

在芯片生产销售的过程中，为了保证芯片的生产质量，需要通过芯片测试盒对芯片进行检测，常用的芯片测试固定装置无法对芯片测试盒进行便捷有效的固定，因此会影响芯片检测的效率以及准确性，同时，由于芯片品质、规格不一，导致芯片测试盒的大小规格也各不相同，因此常用固定装置难以针对不用规格的芯片测试盒进行固定，给生产厂家带来不便。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种芯片测试用固定装置及使用方法及其工艺，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种芯片测试用固定装置，包括工作台与芯片测试盒，所述工作台上端面左侧位置设置有固定直板，所述工作台上端面在固定直板右侧位置设置有可调节的活动直板，所述固定直板右侧端面尾部位置设置有固定夹板，所述活动直板左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板，所述芯片测试盒位于固定夹板与活动夹板之间位置，所述芯片测试盒上端面设置有芯片插槽，所述工作台上端面在活动直板右侧位置设置有矩形槽，所述活动直板尾部设置有外接板，所述外接板头部设置有可调节的主圆杆，所述主圆杆头部设置有调节板，所述工作台前端面对应矩形槽中部位置设置有副圆杆，所述副圆杆头部设置有调节圆盘。

优选的，所述固定直板通过焊接固定到工作台上端面，所述固定夹板与活动夹板长度相等，所述固定夹板与活动夹板相对端面均设置有摩擦垫，所述芯片测试盒前后端连接到摩擦垫。

优选的，所述活动直板左侧端面对应活动夹板位置设置有推进滑槽，所述活动夹板位于推进滑槽顶部，所述活动夹板后端面尾部位置设置有连接板。

优选的，所述连接板右侧端面设置有限位块，所述推进滑槽一侧内壁对应限位块设置有限位滑槽，所述限位滑槽前后壁之间设置有固定柱，所述限位块中部对应固定柱设置有主圆孔，所述固定柱穿过主圆孔，所述固定柱外圈设置有主弹簧，所述主弹簧尾部连接到限位滑槽底部，所述主弹簧头部连接到限位块。

优选的，所述推进滑槽底部设置有固定孔，所述固定孔底部设置有副圆槽，所述外接板前端面设置有主圆槽，所述主圆槽头部连接到副圆槽，所述副圆槽内设置有可调节的活动圆板，所述主圆杆头部伸入副圆槽并连接到活动圆板后端面。

优选的，所述活动圆板前端面对应连接板设置有副圆孔，所述副圆孔底部设置有固定圆槽，所述固定圆槽内设置有固定圆板，所述连接板尾部伸入固定圆槽并连接到固定圆板前端面，所述固定圆板前端面在连接板外圈位置设置有若干钢珠。

优选的，所述主圆杆外圈设置有固定环，所述固定环外圈一侧位置设置有固定块，所述主圆槽一侧内壁对应固定块从前向后设置有定位滑槽，所述固定块位于定位滑槽头部，所述外接板尾部上端面位置对应固定块设置有定位卡槽。

优选的，所述矩形槽内左侧位置设置有矩形板，所述矩形板头部连接到活动直板下端面，所述矩形板上端面设置有齿条，所述工作台前端面对应副圆杆设置有定位圆槽，所述定位圆槽头部连接到矩形槽，所述副圆杆头部伸入矩形槽，并在齿条上方位置设置有对应的驱动齿轮。

优选的，所述矩形板尾部设置有间隔板，所述间隔板后端面设置有副弹簧，所述副弹簧尾部连接到矩形槽底部。

一种芯片测试用固定装置的使用方法，包括以下步骤：

S1：所述外接板尾部的调节板可活动调节，将调节板连同主圆杆向外拉动，从而带动外圈的固定环运动，与固定环相连的固定块沿着定位滑槽运动，直至固定环离开主圆槽，与此同时主圆杆带动后方的活动圆板运动，从而带动连接板运动，与连接板相连的活动夹板跟随运动，使固定夹板与活动夹板之间的间隔扩大，同时连接板也带动限位块运动，使主弹簧受力产生压缩；

S2：所述调节板可转动调节，握住调节板并转动，直至固定环外圈的固定块到达定位卡槽所在角度，然后松开调节板，此时调节板在主弹簧的弹力作用下向运动，从而使固定块进入定位卡槽内，使活动夹板达到固定状态；

S3：所述工作台前端面的调节圆盘可转动，握住调节圆盘并带动副圆杆转动，使与副圆杆相连的驱动齿轮转动，同时驱动齿轮通过对应的齿条带动矩形板运动，此时矩形板挤压矩形槽底部的副弹簧，使副弹簧受力产生压缩，最终矩形板带动活动直板逐渐向右侧运动；

S4：所述活动直板与固定直板之间的距离不断扩大，然后握住调节圆盘保持不动，将芯片测试盒放置到固定直板右侧端面，并将芯片测试盒头部移动到固定夹板的摩擦垫位置，然后缓慢松开调节圆盘，此时活动直板逐渐向左侧运动，直至活动直板与固定直板将芯片测试盒夹在中间；

S5：所述芯片测试盒的左右两侧均受到挤压固定，此时可再次拉动调节板向外运动并进行转动，使固定块再次进入定位滑槽内并在弹力作用下进行复位运动，此时活动夹板逐渐向前方运动，活动夹板与固定夹板之间的距离不断缩小，直至活动夹板与固定夹板到达芯片测试盒前后端位置，此时芯片测试盒到达固定状态，即可***芯片并进行检测作业。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

通过在工作台上端面设置固定直板与可调节的活动直板，利用调节圆盘即可转动调节活动直板的位置，使活动直板与固定直板对芯片测试盒左右两侧进行固定，通过在活动直板内侧端面设置可调节的活动夹板，通过调节板即可调节活动夹板的位置并进行固定，从而对芯片测试盒的前后端进行固定，方便进行检测作业，并可针对不同规格大小的芯片测试盒进行固定，使用更加便捷，使检测作业更加高效。

附图说明

图1为本发明一种芯片测试用固定装置的俯视图；

图2为本发明一种芯片测试用固定装置的俯视剖面图；

图3为图2中A处的放大图；

图4为图2中B处的放大图；

图5为本发明一种芯片测试用固定装置的主圆槽示意图。

图中：1、工作台；2、固定直板；3、活动直板；4、外接板；5、芯片测试盒；6、固定夹板；7、芯片插槽；8、活动夹板；9、摩擦垫；10、主圆杆；11、调节板；12、矩形槽；13、副圆杆；14、调节圆盘；15、推进滑槽；16、连接板；17、限位块；18、限位滑槽；19、固定柱；20、主圆孔；21、主弹簧；22、固定孔；23、副圆槽；24、主圆槽；25、活动圆板；26、副圆孔；27、固定圆槽；28、固定圆板；29、固定环；30、固定块；31、定位滑槽；32、定位卡槽；33、矩形板；34、齿条；35、定位圆槽；36、驱动齿轮；37、间隔板；38、副弹簧；39、钢珠。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例1：

如图1-5所示，本发明涉及一种芯片测试用固定装置，包括工作台1与芯片测试盒5，工作台1上端面左侧位置设置有固定直板2，工作台1上端面在固定直板2右侧位置设置有可调节的活动直板3，固定直板2右侧端面尾部位置设置有固定夹板6，活动直板3左侧端面尾部位置设置有可调节的活动夹板8，芯片测试盒5位于固定夹板6与活动夹板8之间位置，芯片测试盒5上端面设置有芯片插槽7，工作台1上端面在活动直板3右侧位置设置有矩形槽12，活动直板3尾部设置有外接板4，外接板4头部设置有可调节的主圆杆10，主圆杆10头部设置有调节板11，工作台1前端面对应矩形槽12中部位置设置有副圆杆13，副圆杆13头部设置有调节圆盘14；

固定直板2通过焊接固定到工作台1上端面，固定夹板6与活动夹板8长度相等，固定夹板6与活动夹板8相对端面均设置有摩擦垫9，芯片测试盒5前后端连接到摩擦垫9；活动直板3左侧端面对应活动夹板8位置设置有推进滑槽15，活动夹板8位于推进滑槽15顶部，活动夹板8后端面尾部位置设置有连接板16；连接板16右侧端面设置有限位块17，推进滑槽15一侧内壁对应限位块17设置有限位滑槽18，限位滑槽18前后壁之间设置有固定柱19，限位块17中部对应固定柱19设置有主圆孔20，固定柱19穿过主圆孔20，固定柱19外圈设置有主弹簧21，主弹簧21尾部连接到限位滑槽18底部，主弹簧21头部连接到限位块17；推进滑槽15底部设置有固定孔22，固定孔22底部设置有副圆槽23，外接板4前端面设置有主圆槽24，主圆槽24头部连接到副圆槽23，副圆槽23内设置有可调节的活动圆板25，主圆杆10头部伸入副圆槽23并连接到活动圆板25后端面；活动圆板25前端面对应连接板16设置有副圆孔26，副圆孔26底部设置有固定圆槽27，固定圆槽27内设置有固定圆板28，连接板16尾部伸入固定圆槽27并连接到固定圆板28前端面，固定圆板28前端面在连接板16外圈位置设置有若干钢珠39；主圆杆10外圈设置有固定环29，固定环29外圈一侧位置设置有固定块30，主圆槽24一侧内壁对应固定块30从前向后设置有定位滑槽31，固定块30位于定位滑槽31头部，外接板4尾部上端面位置对应固定块30设置有定位卡槽32；矩形槽12内左侧位置设置有矩形板33，矩形板33头部连接到活动直板3下端面，矩形板33上端面设置有齿条34，工作台1前端面对应副圆杆13设置有定位圆槽35，定位圆槽35头部连接到矩形槽12，副圆杆13头部伸入矩形槽12，并在齿条34上方位置设置有对应的驱动齿轮36；矩形板33尾部设置有间隔板37，间隔板37后端面设置有副弹簧38，副弹簧38尾部连接到矩形槽12底部。

实施例2：

在实施例1的基础上，一种芯片测试用固定装置的使用方法，包括以下步骤：

S1：外接板4尾部的调节板11可活动调节，将调节板11连同主圆杆10向外拉动，从而带动外圈的固定环29运动，与固定环29相连的固定块30沿着定位滑槽31运动，直至固定环29离开主圆槽24，与此同时主圆杆10带动后方的活动圆板25运动，从而带动连接板16运动，与连接板16相连的活动夹板8跟随运动，使固定夹板6与活动夹板8之间的间隔扩大，同时连接板16也带动限位块17运动，使主弹簧21受力产生压缩；

S2：调节板11可转动调节，握住调节板11并转动，直至固定环29外圈的固定块30到达定位卡槽32所在角度，然后松开调节板11，此时调节板11在主弹簧21的弹力作用下向运动，从而使固定块30进入定位卡槽32内，使活动夹板8达到固定状态；

S3：工作台1前端面的调节圆盘14可转动，握住调节圆盘14并带动副圆杆13转动，使与副圆杆13相连的驱动齿轮36转动，同时驱动齿轮36通过对应的齿条34带动矩形板33运动，此时矩形板33挤压矩形槽12底部的副弹簧38，使副弹簧38受力产生压缩，最终矩形板33带动活动直板3逐渐向右侧运动；

S4：活动直板3与固定直板2之间的距离不断扩大，然后握住调节圆盘14保持不动，将芯片测试盒5放置到固定直板2右侧端面，并将芯片测试盒5头部移动到固定夹板6的摩擦垫9位置，然后缓慢松开调节圆盘14，此时活动直板3逐渐向左侧运动，直至活动直板3与固定直板2将芯片测试盒5夹在中间；

S5：芯片测试盒5的左右两侧均受到挤压固定，此时可再次拉动调节板11向外运动并进行转动，使固定块30再次进入定位滑槽31内并在弹力作用下进行复位运动，此时活动夹板8逐渐向前方运动，活动夹板8与固定夹板6之间的距离不断缩小，直至活动夹板8与固定夹板6到达芯片测试盒5前后端位置，此时芯片测试盒5到达固定状态，即可***芯片并进行检测作业。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。