阅读说明：本技术 环形缩距天线测试装置 () 是由 张道治 于 2019-03-15 设计创作，主要内容包括：一种环形缩距天线测试装置,包含一组环形主反射面,单组或多组辅反射面,及单组或多组讯号馈入器。主反射面为一环形反射面,其凹陷朝向环形中心轴线上。辅反射面几何形状依费马原理之波特性原理求得。如要产生多组分别由不同方向朝向环形中心轴线之平面波,可利用环形反射面上朝向环形中心轴线之不同区块,及其相对应不同讯号馈入器之位置,则其相对应之多组辅反射面几何形状可算出。本发明可在天线测试静区产生多组不同方向之入射平面波,同时供单组或多组天线在不同方向的天线辐射场型量测,且可快速量测二维及三维天线辐射场型。()