阅读说明：本技术 利用直线光源测量平整度的仪器和方法 (Apparatus and method for measuring flatness using linear light source ) 是由 胡毅 肖立翠 邓增文 于 2020-06-09 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种利用直线光源测量平整度的仪器,包括发射装置,还包括接收装置,发射装置包括底座和位于底座上方的发射部,发射部与底座轴承连接,发射部的外表面嵌入平行于水平面发光的直线光源；接收装置包括与发射装置的底座高度相同的底座,以及底座上方的高差测量部,高差测量部表面设有多条均布的刻度线,以水平面为基准,零刻度线与直线光源等高。本发明还公开了一种利用直线光源测量平整度的方法。本发明的仪器结构简单,方法操作方便,能够通过发射装置与激光接收装置的配合精确地判断平面任意两点间是否水平并迅速直观的测量出平面上不同位置处的准确高差值。(The invention discloses an instrument for measuring flatness by utilizing a linear light source, which comprises an emitting device and a receiving device, wherein the emitting device comprises a base and an emitting part positioned above the base, the emitting part is connected with a base bearing, and the outer surface of the emitting part is embedded with the linear light source which emits light parallel to a horizontal plane; the receiving device comprises a base with the same height as that of the base of the transmitting device and a height difference measuring part above the base, wherein the surface of the height difference measuring part is provided with a plurality of uniformly distributed scale marks, and the zero scale marks are as high as the straight line light source by taking a horizontal plane as a reference. The invention also discloses a method for measuring the flatness by using the linear light source. The instrument of the invention has simple structure, the method is convenient to operate, and the level of any two points of the plane can be accurately judged through the matching of the transmitting device and the laser receiving device, and the accurate height difference values at different positions on the plane can be rapidly and visually measured.)

利用直线光源测量平整度的仪器和方法

技术领域

本发明涉及平整度和误差测量领域，具体而言，涉及一种利用激光发射器、红外线发射器等直线光源测量平整度的仪器和方法，适用于测量较大的平面物体或施工区域的平整度及误差。

背景技术

在对平面物体或区域进行施工或验收时，需要测量其平整度是否满足要求，平整度数值越小，物体或区域表面越平整。目前，在测量面积较大的平面物体或施工区域的平整度时，只能通过水平尺或者卷尺粗略地估计出不同距离间部位高度的差异，但是却无法准确读取实际的数据差值，难以获得精确的平整度数值。激光或者红外线都具有直线传播特性，激光的准直性更好，直线传播效果更佳，因此考虑利用激光或红外线的这一特性进行找平。

发明内容

针对上述技术问题，本发明提供了一种利用直线光源测量平整度的仪器和方法，能够快速准确地判定较大面积物体或区域是否水平并方便直观的读取不同位置的高差值。

本发明采用如下技术方案：

一种利用直线光源测量平整度的仪器，包括发射装置，还包括接收装置，发射装置包括底座和位于底座上方的发射部，发射部与底座轴承连接，发射部的外表面嵌入平行于水平面发光的直线光源；接收装置包括与发射装置的底座高度相同的底座，以及底座上方的高差测量部，高差测量部表面设有多条均布的刻度线，以水平面为基准，零刻度线与直线光源等高。

采用本发明的利用直线光源测量平整度的仪器的优点在于，该装置结构简单，能够通过发射装置与激光接收装置的配合精确地判断平面任意两点间是否水平并迅速直观的测量出平面上不同位置处的准确高差值。

进一步的，直线光源为激光发射器或红外线发射器。

进一步的，高差测量部的零刻度线以上部分为正值，绝对值由下向往上依次增大；零刻度线以下部分为负值，绝对值由上往下依次增大。

进一步的，发射装置与接收装置分别由不锈钢材质制成。

一种如上所述的利用激光测量平整度的仪器的测量方法，通过以下步骤来实施：

S1，将发射装置固定在完成施工的平面的任意位置处；

S2，将接收装置固定在完成施工的平面上一个随机抽查位置处，并旋转发射装置的发射部，使直线光源对准接收装置上的高差测量部；

S3，开启直线光源，激光线照射到高差测量部的刻度线上，检查激光是位于零刻度线之上还是零刻度线之下，读取激光线对应的数值并判断是否达到所要求的平整度。

采用本发明的测量方法的优点在于，该方法操作方便，能够通过发射装置与激光接收装置的配合精确地判断平面是否水平并能快速直观的读取平面上不同位置处的准确高差值。

附图说明

图1是本发明的发射装置结构的立体图；

图2是本发明的发射装置的侧视图；

图3是本发明的发射装置的俯视图；

图4是本发明的接收装置的侧视图；

图5是本发明的使用状态图；

图中：1-发射部；2-激光发射器；3-发射装置底座；4-连接轴；5-接收装置底座；6-零刻度线；7-上方刻度线；8-下方刻度线。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施来进一步描述本发明。应当理解，以下描述仅用于清楚地说明本发明，而非对其进行限制。

参考图1至图5，示出了组成利用激光测量平整度的仪器的发射装置和接收装置。发射装置由发射装置底座3和发射部等组成。

发射装置底座3为圆台形，发射部1为圆柱形，发射部1通过连接轴4设置在发射装置底座3上方。连接轴4一端固定连接在发射装置底座3顶部，连接轴4另一端和发射部1底部的连接处设置轴承，实现发射部底部与发射装置底座3的轴承连接，从而发射部1可以相对发射装置底座3转动。发射部的外表面嵌入平行于水平面发光激光发射器2，激光发射器2也可以用红外线发射器代替，但是当距离较大时，优选直线发光性能好的激光发射器。当发射部1通过轴承转动而相对于发射装置底座3转动时，激光发射器2发射的激光始终与水平面平行。

接收装置由接收装置底座5和高差测量部等组成，二者通过连接轴固定连接。接收装置底座5也为圆台形状，与发射装置底座3的高度相同，高差测量部表面设有多条均布的刻度线，单位为mm。当发射装置和接收装置共同置于水平面上时，零刻度线6位置与激光发射器2等高。对于零刻度线6以上的上方刻度线7，数值为正值，绝对值由下向往上依次增大；对于零刻度线6以下的下方刻度线8，数值为负值，绝对值由上往下依次增大。为了增强刻度线的耐磨性和清晰度，高差测量部由不锈钢材质制成。整个发射装置和接收装置也可以采用不锈钢材质制成，增加其耐用性和稳定性，当然也可以采用其他合适的材质。

一种如上所述的利用激光线测量平整度的仪器的测量方法，通过以下步骤来实施：

S1，将发射装置固定在完成施工的平面的任意位置处。

S2，将接收装置固定在完成施工的平面的中的一个随机抽查位置处，并旋转发射部，使激光发射器2对准接收装置上的高差测量部。

S3，开启激光发射器2，激光发射器2发射水平激光，激光沿图5所示箭头方向照射到高差测量部的刻度线上，检查激光是位于零刻度线上方还是零刻度线下方，当读数位于零刻度线处时，表示两个位置等高，当读数位于零刻度线上方（为正值）时，表示接收装置所处位置高于发射装置所处位置，而当读数位于零刻度线下方（为正值）时，则表示接收装置所处位置低于发射装置所处位置；准确读取激光对应刻度线处的数值，该数值即为两个位置之间的高差，并判断是否达到所要求的的平整度。例如，对于一个施工平面，要求其表面平整度不超过2mm，通过在其表面随机选取几个抽查点，分别对各个抽查点与发射装置的高差进行测量，即可获得各个抽查点之间的高差，如果任意两点间的高差都满足正负2mm要求，则施工平面符合施工要求，反之则需要进一步对施工平面进行调整。

本发明的利用激光测量平整度的仪器和方法的有益效果在于，该装置结构简单，测量方法操作简便，能够通过发射装置与激光接收装置的配合精确地判断平面是否水平并快速直观的测量出平面上不同位置处的准确高差值。

以上所述仅是本发明的优选实施方式。本领域技术人员可以在不脱离本发明的思想和范围的条件下做出各种修改和等同变化，这些修改和变化均涵盖在本发明的范围内。