具体实施方式

下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

随着我国经济迅猛发展，铁路建设也步入了“高铁时代”。五次大提速带来的经济和社会效益更加证明了高速铁路的强大生命力和广阔发展空间。在高速铁路跨越式发展的同时，各系统的安全性、可靠性已然成为至关重要的一环。

高速动车组通过受电弓碳滑板获得电力，通过牵引电机产生驱动力，牵引电流经车轮、轨道和大地回到变电所形成回路。接地装置的作用是将车上的漏电电流传到车轴继而形成接地，防止电流对轴承造成电蚀，起到保护轴承的作用。接地装置的安装与高速旋转的集电环相接触，该接地装置在工作时不仅承受很大的电流，同时还承受着较大的振动和冲击。因此，接地装置的性能也直接影响高速动车组整体性能水平。

经本申请发明人研究了解，接地装置的关键零部件包括碳刷。为了适应动车检修修程的需要，对接地装置的碳刷的磨损技术要求已经从原来的60万公里寿命提升至120万公里寿命要求。因此，碳刷材料的研究和开发具有新的挑战。

在以往的接地装置的碳刷载流磨损试验台中，还仅仅是在模拟工况下验证技术要求指标上，因此目前针对碳刷的研究已难以满足对碳刷材料的研究需求。

基于上述研究，本申请提供一种碳刷磨损测试方法，能够从碳刷的材料上进行研究，了解到碳刷的磨损情况。下面通过一些实施例进行描述。

为便于对本实施例进行理解，首先对执行本申请实施例所公开的一种碳刷磨损测试方法的碳刷磨损测试系统进行介绍。

如图1所示，是本申请实施例提供的碳刷磨损测试系统包括：试验台100、控制装置200和安装在试验台上的位移传感器110。

该试验台100用于放置需要测试的待测接地装置170。如图2所示，该试验台100上安装有：接地装置安装座120、隔离底座130、驱动电机140、集电环150、导流电缆接头160以及位移传感器110。

其中，隔离底座130安装在该试验台100上。该接地装置安装座120、驱动电机140、集电环150安装在该隔离底座130上。位移传感器110可以安装在试验台100上。

可选地，该试验台100上可以设置一个或多个接地装置安装座120，在图2所示的实例中，该试验台100上设置有两个接地装置安装座120。

示例性地，集电环150安装在驱动电机140的输出轴上，接地装置安装座120位于该集电环150的两侧，待测接地装置170被安装在位于集电环150两侧的接地装置安装座120上，待测接地装置170的碳刷171从接地装置安装座120中间的矩形孔伸出，压到集电环150上。测试时，可以通过控制驱动电机140带动集电环150相对待测接地装置170转动摩擦，以模拟实际情况下齿轮箱内车轴上的集电环150和待测接地装置170之间的转动摩擦。

如图3所示，待测接地装置170包括：碳刷171、顶架172和外壳173。

碳刷171和顶架172安装在该外壳173的内部，该外壳173远离集电环150的一端设置有通孔。位移传感器110发出的激光信号可以穿过该通孔，以检测到与外壳173内部的碳刷171和顶架172的相位位置的变化情况。

该碳刷171的第一端与顶架172接触，该碳刷171的第二端与集电环150接触。集电环150相对待测接地装置170转动时，该集电环150与该碳刷171的第二端产生摩擦。

该顶架172的一端接触该碳刷171的第一端，该顶架172的另一端可以设置在外壳173的通孔处，位移传感器110发出的激光信号遇到该顶架172的另一端，则可以反射回位移传感器110中。

可选地，该待测接地装置170的顶架172可以是弹簧顶架。

示例性地，位移传感器110的数量可以与接地装置安装座120的数量相同。例如，在图2所示的实例中，可以设置两个位移传感器110，两个位移传感器110分别安装在接地装置安装座120的两侧，以用于采集安装在接地装置安装座120上的待测接地装置170的碳刷171的位移数据。

示例性地，该位移传感器110可以是红外线传感器。

示例性地，导流电缆接头160的数量也可以与接地装置安装座120的数量相同。在图2所示的实例中，该试验台100上安装有两个导流电缆接头160。

可选地，该隔离底座130的材质可以是绝缘材质。

示例性地，该控制装置200可以包括：大电流发生器210和电气控制柜220。

示例性地，如图4所示，该大电流发生器210包括恒流源211、端子板212和控制设备213。

该大电流发生器210的两个电缆与试验台100上的导流电缆接头160连接。该大电流发生器210的恒流源211产生的大电流通过大电流发生器210的一对端子板212中的一极输出，经过电缆进入一侧待测接地装置170，该待测接地装置170的碳刷171再将电流导入集电环150，电流被安装在集电环150另一侧的待测接地装置170的碳刷171收集导出到另一根纯铜电缆上继而回到恒流源211上的一对端子板212的另一极，从而实现电流的回路，继而实现对集电环150与待测接地装置170的碳刷171摩擦副的通流。

可选地，如图4所示，端子板212可以是铜端子板，电缆也可以是铜电缆。

该控制设备可以包括存储器、处理器、输入输出单元、显示单元。控制设备还可包括比上述更多或者更少的组件，或者具有与上述不同的配置。

上述的存储器、处理器、输入输出单元及显示单元各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。上述的处理器用于执行存储器中存储的可执行模块。

其中，存储器可以是，但不限于，随机存取存储器（Random Access Memory，简称RAM），只读存储器（Read Only Memory，简称ROM），可编程只读存储器（Programmable Read-Only Memory，简称PROM），可擦除只读存储器（Erasable Programmable Read-OnlyMemory，简称EPROM），电可擦除只读存储器（Electric Erasable Programmable Read-OnlyMemory，简称EEPROM）等。

上述的处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(digital signal processor，简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

上述的输入输出单元用于提供给用户输入数据。该输入输出单元可以是，但不限于，鼠标和键盘等。

上述的显示单元在电子设备与用户之间提供一个交互界面（例如用户操作界面）或用于显示图像数据给用户参考。

本实施例中的碳刷磨损测试系统可以用于执行本申请实施例提供的各个方法中的各个步骤。下面通过几个实施例详细描述碳刷磨损测试方法的实现过程。

在图1至图3所示的实例中，在待测接地装置170的外壳173远离集电环150的一侧开设两个磨损测试的通孔，使得通孔在碳刷171远离集电环150的一端抵靠在顶架172的尾端。由于顶架172受弹力的作用始终保持顶住碳刷171，以使用碳刷171远离顶架172的一端能够抵靠在集电环150上，碳刷171抵靠在集电环150的一端与集电环150产生摩擦而发生磨损时，碳刷171远离集电环150的一端就会缓慢向集电环150所在方向移动，继而导致顶架172的远离碳刷171的一端也向集电环150所在的方向移动，且由于顶架172未发生磨损，因此，碳刷171的移动量与顶架172的移动量相同。因此，碳刷171的磨损量可以通过测试碳刷171的移动量测量得到，也可以通过待测接地装置170的顶架172的位移量来间接测量得到。待测接地装置170的顶架172的位移量可以通过位移传感器110进行测试，可以将位移传感器110的发出的红色光束通过已经在待测接地装置170的外壳173上通孔投射至待测接地装置170的顶架172的末端，即可通过位移传感器110获取待测接地装置170的顶架172的末端的位移变化。下面结合图5所示的流程图描述本申请实施例提供的碳刷磨损测试方法，关于图5所示的具体流程描述如下。

步骤310，获得目标碳刷的第一数量的第一位移数据。

示例性地，该第一数量的第一位移数据可以是测试时间段内的第一数量的第一位移数据。该测试时间段可以是集电环的一个转动周期，也可以是集电环的多个转动周期。

本实施例中的方法可以由一电子设备执行，该电子设备可以与采集目标碳刷的位移数据的传感器连接。可以通过获取传感器采集的数据，得到目标碳刷的第一数量的第一位移数据。

本实施例中的方法可以由图1所示的碳刷磨损测试系统执行，则可以通过该碳刷磨损测试系统中的传感器采集目标碳刷的第一数量的第一位移数据。

示例性地，该目标碳刷的第一位移数据可以是该目标碳刷的第一端的位移数据。例如，该目标碳刷的第一位移数据可以为目标碳刷的第一端与位移传感器的相对距离。

其中，该目标碳刷的第一端可以为与目标碳刷接触集电环相反的一端。

示例性地，若接地装置内仅安装有目标碳刷，该目标碳刷的第一端为靠近该位移传感器的一端，该目标碳刷的第二端为与集电环接触的一端。其中，该目标碳刷的第二端保持与该集电环接触。该位移传感器发射出激光信号，在遇到该目标碳刷的第一端后反射回来，以测得该目标碳刷的第一端的位置的变化情况，则该目标碳刷的第一端的第一位移数据可以为该位移传感器检测到数据。可以理解为，该第一位移数据可以表示位移传感器采集到的该位移传感器与目标碳刷的第一端的距离。

示例性地，若接地装置内安装有目标碳刷和顶架，且该顶架安装在目标碳刷与位移传感器之间，则该目标碳刷的第一端的第一位移数据可以基于该顶架的尺寸和该位移传感器检测到的与该顶架的位移数据确定。示例性地，该目标碳刷的第一端的位移数据可以等于位移传感器检测到的与该顶架的位移数据与该顶架的尺寸之和。可以理解为，该第一位移数据可以表示位移传感器采集到的该位移传感器与顶架的一端的距离。

示例性地，位移传感器与目标碳刷的第一端之间安装有其它组件，则目标碳刷的第一端的第一位移数据可以基于位移传感器与目标碳刷的第一端之间安装的其它组件的尺寸和该位移传感器检测到的位移数据确定。因此，根据接地装置的内部结构的不同，该目标碳刷的第一端的第一位移数据也可以适应性调整。可以理解为，该第一位移数据可以表示位移传感器采集到的该位移传感器与最靠近该位移传感器的组件的一端的距离。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据也可以是其它安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件的位移数据。如图3所示，该目标碳刷的第一位移数据可以为顶架靠近位移传感器的一端与位移传感器的相对距离。

为了提高对目标碳刷的磨损的准确性，每次存在对目标碳刷的测试需求时，可以获取指定时长中得到的位移数据用于对目标碳刷的磨损进行测试。示例性地，步骤310可以被执行为，获得该目标碳刷在指定时长内的第一数量的第一位移数据。

示例性地，与该目标碳刷接触的集电环的转动一周所需时长为三十毫秒，则该指定时长可以是三十毫秒的倍数，例如，该指定时长可以三十毫秒、六十毫秒、九十毫秒等。可以理解的是，如果与该目标碳刷接触的集电环的转动一周所需时长不同，对应的指定时长也可能存在不同，具体可以根据实际使用场景设置该指定时长。

与目标碳刷接触的集电环自身可能并非是个完美无缺的圆环且旋转中心也可能与集电环的圆心并非完美重合，这导致集电环在旋转时，可能存在径向的跳动，这也就导致接地装置的目标碳刷在一个时刻或者某几个时刻的位移变化，可能存在是集电环的旋转至不同位置的圆周跳动和目标碳刷的缓慢磨损而导致的位移变化这两者叠加的结果，因此，可以将集电环旋转一个周期或多个周期的位移数据进行综合计算，可以降低由于集电环本身所导致的碳刷的位移的变动，从而可以使确定出的第一位移数据能够更好地、更准确地表示目标碳刷的磨损，从而也可以提高基于该目标碳刷的位移数据确定出目标碳刷的磨损情况。

可选地，步骤310可以被实施为：按照第一采集频率，通过第一传感器采集该目标碳刷的第一数量的第一位移数据。

可选地，该第一采集频率可以基于所需的第一位移数据的第一数量确定。

示例性地，可以采用等时间间距的方式采集第一数量的第一位移数据。例如，该第一数量被设定为十五，且上述的指定时长为三十毫秒时，则该第一采集频率可以为每两毫秒采集一次一项第一位移数据。再例如，该第一数量被设定为十，且上述的指定时长为三十毫秒时，则该第一采集频率可以为每三毫秒采集一次一项第一位移数据。

示例性地，可以采用非等时间间距的方式采集第一数量的第一位移数据。例如，该第一数量被设定为十，且上述的指定时长为三十毫秒时，则该第一采集频率可以为前二十毫秒采集五次第一位移数据，后十毫秒采集五次第一位移数据。再例如，该第一数量被设定为二十，且上述的指定时长为六十毫秒时，则该第一采集频率可以为第一个时间段十毫秒采集五次第一位移数据，第二个时间段二十毫秒采集五次第一位移数据，第三个时间段二十毫秒采集五次第一位移数据，第四个时间段十毫秒采集五次第一位移数据。具体还可以根据数据需求，按照其它时间分布采集第一数量的第一位移数据。

该第一传感器可以是图1所示的位移传感器。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据可以是在该目标碳刷在启动一设定时间后采集得到的数据。示例性的，该设定时间可以是在目标碳刷可能存在磨损情况的时间。例如，在碳刷启用一天后，碳刷会开始存在磨损，则该设定时间可以是一天。再例如，在碳刷启用两小时后，碳刷会开始存在磨损，则该设定时间可以是两小时。

步骤320，根据该第一数量的该第一位移数据，确定出该目标碳刷的目标位移数据。

可选地，可以对第一数量的第一位移数据进行加权求和，以得到该目标碳刷的目标位移数据。例如，可以计算第一数量的第一位移数据的平均值，将该平均值作为目标碳刷的目标位移数据。

步骤330，根据该目标位移数据以及该目标碳刷的参考值，确定出该目标碳刷的磨损值。

其中，该目标碳刷的参考值可以表示目标碳刷还未发生磨损时，目标碳刷的位移数据。

目标碳刷的磨损值可以为该目标位移数据与该目标碳刷的参考值之差。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据表示该目标碳刷的第一端的位移数据时，则目标碳刷的参考值可以表示为目标碳刷还未发生磨损时，目标碳刷的第一端与位移传感器的位移数据。例如，目标碳刷还未发生磨损时，目标碳刷的第一端与位移传感器的相对距离。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据表示其它安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件的位移数据，则目标碳刷的参考值可以表示为目标碳刷还未发生磨损时，安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件，与位移传感器的位移数据。例如，目标碳刷还未发生磨损时，安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件，与位移传感器的相对距离。

为了使磨损测试能够更好地适应当前的目标碳刷的测试需求，在步骤310之前，碳刷磨损测试方法还可以包括步骤340和步骤350。

步骤340，在该目标碳刷启动使用的第一时间段内，获得该目标碳刷的第二数量的第二位移数据。

本实施例中，上述的第一时间段内可以是该目标碳刷刚启动的一时间段内。例如，该第一时间段内可以表示该目标碳刷启动使用的一分钟、五分钟内、十分钟内、二十分钟内等。

可选地，可以按照第二采集频率，通过第二传感器采集第二数量的该目标碳刷的第二位移数据。

该第一采集频率可以是与第一采集频率相同的频率，该第一采集频率也可以是与第一采集频率不同的频率。

可选地，该第二数量可以与第一数量相同，也可以与第一数量不同。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据表示该目标碳刷的第一端的位移数据时，则目标碳刷的第二位移数据可以表示为目标碳刷还未发生磨损时，目标碳刷的第一端与位移传感器的位移数据。

可选地，该目标碳刷的第一位移数据表示其它安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件的位移数据，则目标碳刷的第二位移数据可以表示为目标碳刷还未发生磨损时，安装在该目标碳刷与位移传感器之间的其它组件，与位移传感器的位移数据。

步骤350，根据该第二数量的该第二位移数据，确定出该目标碳刷的该参考值。

可选地，可以对第二数量的第二位移数据进行加权求和，以得到该目标碳刷的参考值。例如，可以计算第二数量的第二位移数据的平均值，将该平均值作为目标碳刷的参考值。

在实际使用场景中，当接地装置的碳刷与集电环存在异常接触时，会使得碳刷的磨耗速率变大，因此，碳刷的磨损情况可以表征接地装置的工作状态，例如，碳刷的磨耗速率高于标准磨损速率，则接地装置当前的工作状态不好，因此，本实施例中的碳刷磨损测试方法还可以包括步骤360和步骤370。

步骤360，根据该目标碳刷在多个时间节点对应的该磨损值，确定出该目标碳刷的磨损速率。

上述的多个时间节点可以是需要监测的时间段中的节点。

可选地，还可以将目标碳刷在多个时间节点的磨损值以变化曲线的形式呈现。

步骤370，根据该磨损速率，确定出该目标碳刷所在的接地装置的工作状态。

示例性地，该磨损速率可以与目标碳刷的标准磨耗速率进行对比，以确定目标碳刷所在的接地装置的工作状态。

例如，该磨损速率比目标碳刷的标准磨耗速率小，则表示定目标碳刷所在的接地装置的工作状态为良好状态。

再例如，该磨损速率比目标碳刷的标准磨耗速率大，则表示定目标碳刷所在的接地装置的工作状态为异常状态。

本实施例中的碳刷磨损测试方法可以由图1所示的碳刷磨损测试系统执行，也可以由与采集目标碳刷的位移变化数据的传感器通信连接的电子设备执行。

在本申请实施例提供的方法中，通过周期性的获得目标碳刷位移值，从而确定出碳刷的磨损情况。进一步地，本申请的碳刷磨损测试方法中，将获得的动态位移值与参考值进行对比，以确定出位移变化，从而可以实现将磨损问题转化为位移变化问题，可以更直观地、准确地确定出碳刷的磨损情况。进一步地，采用本申请实施例中的方法，可以不终止碳刷当前的工作状态就能够实现磨损的测试，相较于现有的拆下碳刷后用游标卡尺进行测量，时效性更好，测试起来也相对更加方便。

基于同一申请构思，本申请实施例中还提供了与碳刷磨损测试方法对应的碳刷磨损测试装置，由于本申请实施例中的装置解决问题的原理与前述的碳刷磨损测试方法实施例相似，因此本实施例中的装置的实施可以参见上述方法的实施例中的描述，重复之处不再赘述。

请参阅图6，是本申请实施例提供的碳刷磨损测试装置的功能模块示意图。本实施例中的碳刷磨损测试装置中的各个模块用于执行上述方法实施例中的各个步骤。碳刷磨损测试装置包括：第一获得模块410、第一确定模块420和第二确定模块430；其中各个模块如下所述。

第一获得模块410，用于获得目标碳刷的第一数量的第一位移数据；

第一确定模块420，用于根据该第一数量的该第一位移数据，确定出该目标碳刷的目标位移数据；

第二确定模块430，用于根据该目标位移数据以及该目标碳刷的参考值，确定出该目标碳刷的磨损值。

一种可能的实施方式中，第一获得模块410，用于：

获得该目标碳刷在指定时长内的第一数量的第一位移数据。

一种可能的实施方式中，第一获得模块410，用于：

按照第一采集频率，通过第一传感器采集该目标碳刷的第一数量的第一位移数据。

一种可能的实施方式中，本实施中的碳刷磨损测试装置还可以包括：

第二获得模块，用于在该目标碳刷启动使用的第一时间段内，获得该目标碳刷的第二数量的第二位移数据；

第三确定模块，用于根据该第二数量的该第二位移数据，确定出该目标碳刷的该参考值。

一种可能的实施方式中，第二获得模块，用于：

按照第二采集频率，通过第二传感器采集第二数量的该目标碳刷的第二位移数据。

一种可能的实施方式中，本实施中的碳刷磨损测试装置还可以包括：

第四确定模块，用于根据该目标碳刷在多个时间节点对应的该磨损值，确定出该目标碳刷的磨损速率；

第五确定模块，用于根据该磨损速率，确定出该目标碳刷所在的接地装置的工作状态。

此外，本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器，该存储器存储有该处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，该机器可读指令被该处理器执行时执行上述的碳刷磨损测试方法的步骤。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述方法实施例中该的碳刷磨损测试方法的步骤。

本申请实施例所提供的碳刷磨损测试方法的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，该程序代码包括的指令可用于执行上述方法实施例中该的碳刷磨损测试方法的步骤，具体可参见上述方法实施例，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，该模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

该功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例该方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上该仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上该，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。