阅读说明：本技术 一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法 (Novel aperture detection jig, aperture measurement height gauge and detection method thereof ) 是由 吕华 于 2018-08-19 设计创作，主要内容包括：本发明提供了一种新型孔径检测治具,包括一体结构的测量块和固定块,所述测量块与固定块为相同轴心,所述测量块为锥形,其最下方为零点,所述固定块上设有与测量块相同轴心的安装孔。一种孔径测量高度规,采用了孔径检测治具。本发明的有益效果为：利用高度规带动测量块的锥体向下移动,通过三角函数计算出测量得出的孔径数值,一次即可判断孔径是否合格,测量效率大大提高。(The invention provides a novel aperture detection jig which comprises a measuring block and a fixed block which are of an integrated structure, wherein the measuring block and the fixed block are in the same axis, the measuring block is conical, the lowest part of the measuring block is a zero point, and the fixed block is provided with a mounting hole which is in the same axis as the measuring block. An aperture measuring height gauge adopts an aperture detection jig. The invention has the beneficial effects that: the cone of the measuring block is driven to move downwards by the height gauge, the aperture numerical value obtained by measurement is calculated through the trigonometric function, whether the aperture is qualified or not can be judged once, and the measuring efficiency is greatly improved.)

一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法

技术领域

本发明涉及治具检测领域，特别涉及一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规及其检测方法。

背景技术

在机械加工领域，对工件的孔径控制是非常重要的，为了更好的控制工件的孔径，一般采用通止规进行测量，每个孔径需要测量两次，即通规一次、止规一次，才可知道孔径是否合格，对于按比例抽检测量可能影响不大，但对于需要全数测量的产品，侧需要大量的时间与人工进行测量。

发明内容

本发明的目的是提供一种新型利用高度规进进行孔径检测的治具及其快速检测方法，以解决背景技术中的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种新型孔径检测治具，包括一体结构的测量块和固定块，所述测量块与固定块为相同轴心，所述测量块为锥形，其最下方为零点，所述固定块上设有与测量块相同轴心的安装孔。

进一步的技术方案，所述固定块上设有与安装孔垂直的固定螺丝，所述固定螺丝旋接在固定块上并可延伸到所述安装孔内。

一种孔径测量高度规，采用了孔径检测治具。

一种孔径测量方法，包括使用高度规，所述高度规上设有垂直方法的探针，所述高度规的探针上下运动进行测量，包括以下步骤：

S1、将探针放入到安装孔内，使用固定螺丝将固定块与探针进行固定；

S2、将需要测量的工件放置在测量台上，工件上的测量孔为垂直设置，将测量块最下方的零点接触到工件的上端面，此时将高度规的读数设置为0。

S3、将工件的测量孔中心与测量块为同一轴心，向下移动测量块，使锥体与测量孔接触时形成接触点，停止移动，读取向下移动的距离b。

S4、根据距离b，可计算出测量孔的直径a的实绩数据，判断是否合格。

进一步的技术方案，所述S1步骤中，探针、固定块和测量块同一轴心设置。

进一步的技术方案，所述S3步骤中，测量块从0开始向下移动的数据b小于等于测量孔的深度。

进一步的技术方案，所述S1和S2步骤只限于测量第一个工件时使用。

本发明的有益效果为：

利用高度规带动测量块的锥体向下移动，通过三角函数计算出测量得出的孔径数值，一次即可判断孔径是否合格，测量效率大大提高。

附图说明

图1是本发明的结构图；

图2是本发明的测量原理示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行进一步说明：

如图1~2所示，一种新型孔径检测治具，包括一体结构的测量块1和固定块2，所述测量块1与固定块2为相同轴心，所述测量块1为锥体11，其最下方为零点12，所述固定块2上设有与测量块1相同轴心的安装孔21。

进一步的技术方案，所述固定块2上设有与安装孔21垂直的固定螺丝22，所述固定螺丝22旋接在固定块2上并可延伸到所述安装孔21内。

一种孔径测量高度规，采用了孔径检测治具。

一种孔径测量方法，包括使用高度规，所述高度规上设有垂直方法的探针，所述高度规的探针上下运动进行测量，包括以下步骤：

S1、将探针放入到安装孔21内，使用固定螺丝22将固定块2与探针进行固定；

S2、将需要测量的工件3放置在测量台上，工件3上的测量孔31为垂直设置，将测量块1最下方的零点12接触到工件3的上端面，此时将高度规的读数设置为0。

S3、将工件3的测量孔31中心与测量块1为同一轴心，向下移动测量块1，使锥体11与测量孔31接触时形成接触点13，停止移动，读取向下移动的距离b。

S4、根据距离b，可计算出测量孔31的直径a的实绩数据，判断是否合格。当读取到b的数据时，测量块1轴心与接触点13形成第一直角边a1，b形成第二直角边，锥体11边缘形成斜边14，从而形成一个直角三角形，已知斜边14与b的夹角r及b的实绩数据，根据三角函数可以计算出a1的数据，而测量孔31的直径为a =2a1，从而计算出测量孔31的直径a的数据，在实际测量时，测量孔31在一定范围内即为合格，如a±0.1mm，也可以通过计算得到在高度规上的数据范围从而达到a±0.1mm的范围。

进一步的技术方案，所述S1步骤中，探针、固定块2和测量块1同一轴心设置。

进一步的技术方案，所述S3步骤中，测量块1从0开始向下移动的数据b小于等于测量孔31的深度。

进一步的技术方案，所述S1和S2步骤只限于测量第一个工件3时使用，从测量第二个工件3开始，只需要使用S3和S4步骤即可。

以上所述并非对本新型的技术范围作任何限制，凡依据本发明技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本新型的技术方案的范围内。