一种晶圆等离子切割保护液及其制备方法与用途

文档序号:1841602 发布日期:2021-11-16 浏览:14次 >En<

阅读说明:本技术 一种晶圆等离子切割保护液及其制备方法与用途 (Wafer plasma cutting protection liquid and preparation method and application thereof ) 是由 侯军 贺剑锋 于 2021-06-24 设计创作,主要内容包括:本发明提供一种晶圆等离子切割保护液及其制备方法与用途。本发明晶圆等离子切割保护液包括重量配比如下的各组分:水溶性树脂5-40份;润湿剂0.1-2份;消泡剂0.1-2份;自由基捕捉剂0.1-2份;有机溶剂5-20份;水34-89.7份。本发明晶圆等离子切割保护液能够在晶圆表面快速成膜,具有良好的耐热性和可移除性。在晶圆加工时采用本发明保护液,能够有效避免冷凝后的硅蒸气或其他在加工过程中产生的碎屑沉积在芯片表面;同时本发明晶圆等离子切割保护液具有较高的热稳定性,能够避免由于激光切割的热效应或在较高工作温度下进行等离子切割时,保护膜分解导致晶圆表面直接暴露在外部环境下,有效提高产品的可靠性和良率。(The invention provides a wafer plasma cutting protective solution, a preparation method and application thereof. The wafer plasma cutting protection solution comprises the following components in parts by weight: 5-40 parts of water-soluble resin; 0.1-2 parts of a wetting agent; 0.1-2 parts of a defoaming agent; 0.1-2 parts of a free radical scavenger; 5-20 parts of an organic solvent; 34-89.7 parts of water. The wafer plasma cutting protective solution can quickly form a film on the surface of a wafer and has good heat resistance and removability. When the protective solution is used for processing a wafer, condensed silicon vapor or other scraps generated in the processing process can be effectively prevented from depositing on the surface of a chip; meanwhile, the wafer plasma cutting protective solution has higher thermal stability, can avoid the direct exposure of the surface of the wafer to the external environment due to the thermal effect of laser cutting or the decomposition of a protective film when plasma cutting is carried out at higher working temperature, and effectively improves the reliability and yield of products.)

一种晶圆等离子切割保护液及其制备方法与用途

技术领域

本发明涉及芯片制造技术,尤其涉及一种晶圆等离子切割保护液及其制备方法与用途。

背景技术

晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,晶圆切割是集成电路封装的关键制程。如在切割过程中无法提升晶圆表面可靠度,将对后道制程产生极大影响,从而降低芯片生产良率。

虽然现在的晶圆切割已经由原来的利用简单刀片切割,演变为利用激光切割以及等离子切割,但是激光沿着晶圆的切割道照射切割时,所产生的热能容易被晶圆吸收,热能吸收后容易导致硅熔解或热分解,产生硅蒸气而凝结、沉积在晶圆上,造成晶圆的周围边缘产生切屑;随着等离子刻蚀技术的发展,有时需要在较高的工作温度下进行刻蚀;另外由于晶圆切割道宽度变窄,且高精度的半导体切割装置等会在使用时带来一些热效应问题,例如切割道因热而崩裂、破片、保护膜热分解导致晶圆直接裸露等问题,这都要求保护膜具有相对高的热稳定性。

专利申请CN110408283A公开了一种等离子切割晶圆用的保护溶液,该保护溶液能够在晶圆表面快速成膜,且成膜后强度高。CN105489472A公开了一种前切割保护液,在不同激光切割功率下,减少或避免碎屑的产生。US8268449B2公开了一种用作保护涂层的组合物,固化或干燥后形成耐化学和耐热的膜,在制造过程的适当阶段容易溶解除去。

目前的晶圆等离子切割保护液能够一定程度上提升晶圆片的切割效率和稳定性、避免切屑或裂纹、热应力问题,但是存在不能应用于较高工作温度条件下的等离子切割环境的问题。

发明内容

本发明的目的在于,针对目前晶圆等离子切割存在的诸多问题,提出一种晶圆等离子切割保护液,该保护液能够在晶圆表面快速成膜,具有良好的耐热性和可移除性。在晶圆加工时采用本发明晶圆等离子切割保护液,能够有效避免冷凝后的硅蒸气或其他在加工过程中产生的碎屑沉积在芯片表面;同时本发明晶圆等离子切割保护液具有较高的热稳定性,能够避免由于激光切割的热效应或在较高工作温度下进行等离子切割时保护膜分解导致晶圆表面直接暴露在外部环境下,有效提高产品的可靠性和良率。

为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种晶圆等离子切割保护液,包括重量配比如下的各组分:

进一步地,所述水溶性树脂选自聚氧化乙烯、聚丙烯酸、脲醛树脂、三聚氰胺甲醛树脂和聚乙烯亚胺中的一种或几种;所述聚氧化乙烯分子量为10万-200万、聚丙烯酸分子量为500-800万、脲醛树脂分子量1万-10万、三聚氰胺甲醛树脂分子量1万-10万、聚乙烯亚胺分子量1万-10万;所述水溶性树脂优选的重量配比为10-40份;更优选的重量配比为10-35份。

进一步地,所述水溶性树脂包括聚氧化乙烯和聚丙烯酸,所述聚氧化乙烯和聚丙烯酸的用量比为1:2-1:7,优选用量比为1:3-1:5。

进一步地,所述润湿剂选自长链脂肪醇、烷基硫酸盐、磺酸盐、磷酸酯、聚氧乙烯烷基酚醚和聚氧乙烯脂肪醇醚中的一种或几种;更优选的所述润湿剂选自长链脂肪醇、聚氧乙烯烷基酚醚和聚氧乙烯脂肪醇醚中的一种或几种,其与聚氧化乙烯树脂和聚丙烯酸树脂相容性更好;所述润湿剂优选的重量配比为0.1-1份。

进一步地,所述消泡剂选自有机硅类、聚醚类、聚醚改性硅氧烷类、脂肪酸及脂肪酸酯类、酰胺类和磷酸酯类中的一种或几种;更优选的所述消泡剂选自有机硅类和/或聚醚改性硅氧烷类;所述消泡剂优选的重量配比为0.1-1份。

进一步地,所述自由基捕捉剂选自对苯醌、四甲基苯醌、2,2,6,6-四甲基哌啶和2,8-二叔丁基-4-甲基苯酚中的一种或几种;更优选的所述自由基捕捉剂选自2,2,6,6-四甲基哌啶和/或非碱性自由基捕捉剂;所述自由基捕捉剂优选的重量配比为0.1-1份。

进一步地,所述有机溶剂选自醇、醚和酯中的一种或多种,优选的所述有机溶剂选自无水乙醇、异丙醇、乙二醇乙醚、乙二醇丁醚、丙二醇甲醚、丙二醇乙醚、丙二醇丁醚、二丙二醇乙醚、二丙二醇丁醚、醋酸乙酯和醋酸异丙酯中的一种或几种;更优选的所述有机溶剂选自无水乙醇、异丙醇、乙二醇丁醚和丙二醇甲醚中的一种或多种;所述有机溶剂优选的重量配比为5-10份。

本发明的另一个目的还公开了一种晶圆等离子切割保护液的制备方法,包括以下步骤:将原料按照重量配比加入到设有搅拌机的混合容器内,在常温下以300-1000rpm的速度搅拌0.5-2小时,制造出晶圆等离子切割保护液。

本发明的另一个目的还公开了上述晶圆等离子切割保护液在晶圆加工领域的用途。

进一步地,所述晶圆等离子切割保护液在晶圆加工领域的用途:首先将晶圆等离子切割保护液均匀滴加到置于旋涂机上的晶圆的中心位置上,每12寸晶圆上滴加30-50ml晶圆等离子切割保护液,用旋涂机以200-400rpm的速度旋转30-60秒,使保护液缓慢均匀的在晶圆表面铺展开,然后以1000-1500rpm的速度旋转120-180秒,最后将旋涂好的晶圆置于室温下干燥成膜,使晶圆等离子切割保护液在晶圆表面形成均匀的水溶性保护膜;然后利用激光划片工艺对覆有水溶性保护膜的晶圆进行图案化处理,使晶圆和水溶性保护膜上切割出沟槽,最后通过等离子切割工艺对沟槽进行扩展,将晶圆上的芯片切割成芯粒;切割后只需使用温水冲洗,即可将保护膜清除干净。该方法运用在薄晶圆上,能够使每片晶圆或每一区域的额外功能最大化,不受形状、大小或布局的限制,提升切割精度和速度,切割成任意形状。再加上切割前的均匀涂布保护液获得高强度的水溶性保护膜,可以避免切屑或裂纹、热应力问题,以及由于激光切割的热效应或在150~300℃工作温度下进行等离子切割时保护膜局部破坏、分解导致晶圆表面直接暴露在外部环境下等问题。

本发明晶圆等离子切割保护液配方科学、合理,及其制备方法简单、易行,与现有技术相比较具有以下优点:

1)本发明所提供的聚氧化乙烯分子主链上只含有亚甲基、醚键,不含有较长和活泼的侧链基团,其主链的热分解温度在390℃以上,在300℃的温度下其热失重低;同时聚丙烯酸分子主链上含有大量的羧酸基团,在高温条件下羧酸基团会吸收热能发生分子内脱水及脱羧反应,从而保护主链不会受热分解,其主链的热分解温度在300℃以上;因此切割保护液形成的保护膜具有较高的热稳定性;

2)本发明所提供的聚丙烯酸能够与聚氧化乙烯形成大分子缔合结构,降低聚氧化乙烯的结晶倾向,单独的聚氧化乙烯成膜后容易结晶,而结晶聚合物不透明、非结晶聚合物透明,加入聚丙烯酸后成膜透明度变高;

3)本发明所提供的水溶性树脂分子量高均为1万以上,含有的氢键数目多,产生的氢键力、范德华力、分子间作用力强,有效提高了切割保护液与基材之间的附着力;

4)本发明所提供的聚丙烯酸玻璃化转变温度TG=106℃,聚氧化乙烯的玻璃化转变温度TG<75℃,而玻璃化转变温度越高表明其由塑料态转变为高弹态的温度越高、材料产生热形变的下限温度越高,因此加入聚丙烯酸后可提高组分整体的玻璃化转变温度,增强保护膜在高温条件下的保形能力;

5)本发明的溶剂主要成分为水,但含有部分有机溶剂;所述有机溶剂可选用无水乙醇、异丙醇、乙二醇丁醚中的一种或多种,上述有机溶剂能与水任意比例互溶并对树脂具有良好的溶解性,其均属于小分子、沸点低且易于挥发,在加热预烘烤的过程中能够快速的携带水分子从保护液中挥发、缩短成膜时间;

6)本发明引入润湿剂可改善保护液成膜性,降低保护液与基材的接触角;

7)本发明引入消泡剂可降低保护液表面张力,避免泡孔的形成;

8)本发明引入自由基捕捉剂在等离子切割过程中能够吸收保护膜中产生的自由基,减缓树脂主链结构降解的速率。

综上,本发明晶圆等离子切割保护液能够在晶圆表面快速成膜,具有良好的耐热性和可移除性。在晶圆加工时,能够有效避免冷凝后的硅蒸气或其他在加工过程中产生的碎屑沉积在芯片表面;同时具有较高的热稳定性,能够避免由于激光切割的热效应或在较高工作温度(300-400℃,优选350-400℃)下进行等离子切割时保护膜分解导致晶圆表面直接暴露在外部环境下;提高产品的可靠性和良率。

附图说明

图1为S1-36激光划线工艺的1000倍显微镜图片。

图2为D1-10激光划线工艺的1000倍显微镜图片。

图3为S1-36的等离子切割形成的沟槽1000倍显微镜图片。

图4为D1-10的等离子切割形成的沟槽1000倍显微镜图片。

图5为S1-36的等离子切割形成的沟槽侧壁35000倍扫描电镜图片。

具体实施方式

以下结合实施例对本发明进一步说明:

实施例1

以质量百分比总计为100%wt计,分别称取质量百分比计的如下的各组分:1%wt分子量为10万的聚氧化乙烯和4%wt分子量为500万的聚丙烯酸,0.1%wt聚氧乙烯烷基酚醚,0.1%wt聚二甲基硅氧烷,0.1%wt2,2,6,6-四甲基哌啶,10%wt无水乙醇,84.7%wt水。将物料投入搅拌机,在常温下,以500rpm的速度搅拌1小时至均匀透明,制备得到晶圆等离子切割保护液,将其命名为S1,后续实施例均采用上述命名规则。

实施例2

以质量百分比总计为100%wt计,分别称取质量百分比计的如下的各组分:10%wt分子量为10万的聚氧化乙烯和25%wt分子量为500万的聚丙烯酸,1%wt聚氧乙烯烷基酚醚,0.1%wt GPES型消泡剂,1%wt2,2,6,6-四甲基哌啶,10%wt异丙醇,52.9%wt水。将物料投入搅拌机,在常温下,以500rpm的速度搅拌1小时至均匀透明,制备得到晶圆等离子切割保护液,将其命名为S2。

实施例3

以质量百分比总计为100%wt计,分别称取质量百分比计的如下的各组分:2%wt分子量为10万的聚氧化乙烯和8%wt分子量为500万的聚氧化乙烯,0.5%wt聚氧乙烯烷基酚醚,1.0%wt脂肪酸酯,0.5%wt2,2,6,6-四甲基哌啶,10%wt乙二醇丁醚,78%wt水。将物料投入搅拌机,在常温下,以500rpm的速度搅拌1小时至均匀透明,制备得到晶圆等离子切割保护液,将其命名为S3。

实施例4-36

可溶性树脂选用分子量10万的聚氧化乙烯和分子量500万的聚丙烯酸,制备方法与实施例1-3相同,得到的切割保护液分别记为S4、S5、S6……S36,保护液具体组成如表1。

表1

对比例1-4

与实施例1-3相比较,对比例1-4除将实施例中的聚氧化乙烯替换为下表的可溶性树脂外,其它操作均相同,对比例1-4制备得到的切割保护液D1-D4,如表2所示。

表2

对比例5-7

与实施例1-3相比较,对比例5-7除将实施例中的聚氧乙烯烷基酚醚替换为下表的润湿剂外,其它操作均相同,对比例5-7制备得到的切割保护液D5-D7,如表3所示。

表3

对比例 润湿剂 对应实施例
D5 碳十长链脂肪醇 S1
D6 十二烷基硫酸盐 S2
D7 聚氧乙烯脂肪醇醚 S3

对比例8-10

与实施例1-3相比较,对比例8-10除将自由基捕捉剂2,2,6,6-四甲基哌啶分别替换为对苯醌、四甲基苯醌和2,8-二叔丁基-4-甲基苯酚外,其它操作均相同,对比例8-10制备得到D8、D9和D10。

晶圆切割保护液的性能测试

I、热稳定性

在得到上述所实施例和对比例的晶圆切割保护液后,将保护液旋转均匀涂布在玻璃载玻片上,加热至约110℃,持续时间约3-5分钟,使该保护液在硅晶圆表面形成水溶性保护膜;实施例放置于烘箱中分别在300℃、400℃下烘烤30分钟,观察保护膜状态;对比例放置于烘箱中分别在200℃、300℃下烘烤30分钟,观察保护膜状态,从而考察了其各自的热稳定性能,结果见表4。

表4

编号 300℃/30min 400℃/30min 编号 300℃/30min 400℃/30min
S1 无色透明 无色透明 S19 无色透明 无色透明
S2 无色透明 无色透明 S20 无色透明 无色透明
S3 无色透明 无色透明 S21 无色透明 无色透明
S4 无色透明 无色透明 S22 无色透明 无色透明
S5 无色透明 无色透明 S23 无色透明 无色透明
S6 无色透明 无色透明 S24 无色透明 无色透明
S7 无色透明 无色透明 S25 无色透明 无色透明
S8 无色透明 无色透明 S26 无色透明 无色透明
S9 无色透明 无色透明 S27 无色透明 无色透明
S10 无色透明 无色透明 S28 无色透明 无色透明
S11 无色透明 无色透明 S29 无色透明 无色透明
S12 无色透明 无色透明 S30 无色透明 无色透明
S13 无色透明 无色透明 S31 无色透明 无色透明
S14 无色透明 无色透明 S32 无色透明 无色透明
S15 无色透明 无色透明 S33 无色透明 无色透明
S16 无色透明 无色透明 S34 无色透明 无色透明
S17 无色透明 无色透明 S35 无色透明 无色透明
S18 无色透明 无色透明 S36 无色透明 无色透明
编号 200℃/30min 300℃/30min 编号 200℃/30min 300℃/30min
D1 深黄色 深褐色 D6 黄色 涂层破坏
D2 深黄色 深褐色 D7 黄色 涂层破坏
D3 深黄色 深褐色 D8 黄色 涂层破坏
D4 深黄色 深褐色 D9 黄色 涂层破坏
D5 深黄色 深褐色 D10 黄色 涂层破坏

从上述测试结果可以看出,实施例1-36的晶圆等离子切割保护液在300℃、400℃温度下烘烤30分钟后外观无明显变化;而对比例1-10在200℃、300℃温度下烘烤30分钟后外观均出现了明显变化,说明已经发生了严重的热分解反应,证明了实施例1-36的热稳定性明显优于对比例1-10。

II、等离子刻蚀速率测试

在得到上述所实施例和对比例的晶圆切割保护液后,将保护液旋转均匀涂布在硅晶圆上,加热至110℃,持续3-5分钟,使保护液在硅晶圆表面形成水溶性保护膜;再利用激光划片工艺图案化覆有水溶性保护膜的硅晶圆,并使水溶性保护膜和硅晶圆表面上形成沟槽;进行等离子切割:使用等离子体工艺蚀刻形成相应的沟槽扩展;其中蚀刻速率情况如表5所示。

表5

从上述测试结果可以看出,实施例1、2、3的晶圆等离子切割保护液均有较高的刻蚀速率比,能够满足作为等离子刻蚀保护膜的基本要求;并且其中实施例1和实施例2晶圆等离子切割保护液的刻蚀速率比远高于对比例1-4的刻蚀速率比,具有更好的刻蚀选择性。因此在等离子切割过程中达到相同保护效果时的保护膜厚度会更薄,且最终得到的切割道界限会更清晰、侧壁更平整。

附图1是使用S1-36切割保护液进行激光划线放大1000倍的显微镜图片,可以清楚看出,切割道附近芯片保护良好,界限清晰,说明切割保护液在高温下未分解,耐高温。

附图2是D1-10切割保护液激光划线放大1000倍的显微镜图片,能够明显看出切割道附近遭到破坏,界限模糊,说明切割道附近的保护膜在激光加工过程中分解,不耐高温。

附图3是使用S1-36切割保护液进行等离子切割后,形成的沟槽放大1000倍显微镜图片,可以清楚看出,在高温下保护膜未分解,切割道附近的芯片保护良好。附图4是使用D1-10切割保护液进行等离子切割形成的沟槽1000倍显微照片,能够明显看出,在高温下保护膜分解,切割道附近芯片裸露后遭到破坏,不耐高温。

附图5是使用S1-36切割保护液进行等离子切割形成的沟槽侧壁放大35000倍扫描电镜图片,可以明显观察到切割侧壁平整、光滑,且无明显侧向刻蚀。

由此可见,采用聚氧化乙烯和聚丙烯酸两种可溶性树脂,复配能够降低切割保护液与基材表面接触角的润湿剂,以及降低切割保护液表面张力的消泡剂,显著提升了切割保护液的耐高温性能,有效提高激光、等离子切割制程切割道界限清晰度和侧壁平整度,有利于进行芯片加工后道制程。

最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

14页详细技术资料下载
上一篇:一种医用注射器针头装配设备
下一篇:金属屋面免除锈保温隔热防水涂料及其制备方法

网友询问留言

已有0条留言

还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!

精彩留言,会给你点赞!