具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。

本发明实施例设备可以是PC机或服务器设备。

如图1所示，该设备可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的设备结构并不构成对设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及波长测算程序。

其中，操作系统是管理和控制便携波长测算设备与软件资源的程序，支持网络通信模块、用户接口模块、波长测算程序以及其他程序或软件的运行；网络通信模块用于管理和控制网络接口1002；用户接口模块用于管理和控制用户接口1003。

在图1所示的波长测算设备中，所述波长测算设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的波长测算程序，并执行下述波长测算方法各个实施例中的操作。

基于上述硬件结构，提出本发明波长测算方法实施例。

参照图2，图2为本发明波长测算方法第一实施例的流程示意图，所述方法包括：

步骤S10，在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

步骤S20，将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

本实施例波长测算方法运用于光通信模块机构的波长测算设备中，波长测算设备可以是终端或者PC设备，为描述方便，以波长测算设备为例进行描述，波长测算设备中包括但不限于起偏器和固定光路；波长测算设备在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光，该线偏振光具有初始相位；波长测算设备将得到的待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹，并统计第一干涉条纹的数量，再获取预设处理器中储存的标准光源对应的第二波长和第二干涉条纹的数量，根据第二波长、第二干涉条纹的数量和第一干涉条纹的数量，测算出待测光源的第一波长；需要说明的是，起偏器是指用于从自然光中获得偏振光的器件，待测光源发射出的光属于自然光；固定光路中设置的光路长度都是毫米级别的，固定光路中可以设置一条光路或两条光路，固定光路的作用主要是使得待测线偏振光形成干涉条纹；预设处理器中的数据包括标准光源对应的第二波长和第二干涉条纹的数量。

本实施例的波长测算方法，在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。本发明通过将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光，并将待测线偏振光输入固定光路得到第一干涉条纹的数量，再根据第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出待测光源的第一波长，降低了波长测算的成本率。

以下将对各个步骤进行详细说明：

步骤S10，在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

在本实施例中，波长测算设备在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，经过起偏器的待测光源将转换为待测线偏振光；如：波长测算设备需要测算某种激光器发射出来的光线的波长，首先相关测试人员将激光器固定在测试位置，并启动该激光器和波长测算设备，波长测算设备检测到测算指令时，将激光器发出的光线输入起偏器中，经过起偏器的转换，得到待测线偏振光。需要说明的是，本发明中的起偏器可为反射型起偏器、复屈折型起偏器、二色性微晶型起偏器和高分子二色性型起偏器中的一种或多种，在此不做限定。

具体地，步骤S10还包括:

步骤a，将所述待测光源输入所述起偏器，使得所述待测光源发生偏振并转换为所述待测线偏振光，所述待测线偏振光具有与所述标准线偏振光相同的所述初始相位。

在该步骤中，波长设备将待测光源输入起偏器，使得待测光源发生偏振并转换为待测线偏振光，该待测线偏振光具有初始相位，且该初始相位与标准光源输入起偏器得到的标准线偏振光具有的初始相位相同。需要说明的是，由于标准光源和待测光源通过的起偏器是相同的，因此标准线偏振光和待测线偏振光的初始相位是相同的，这为后续的步骤打下了基础。

步骤S20，将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

在本实施例中，波长测算设备将得到的待测线偏振光输入固定光路，通过固定光路的待测线偏振光会发生干涉，在预设挡板上形成第一干涉条纹，波长测算设备统计第一干涉条纹的数量，根据第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出待测光源对应的第一波长。

具体的，步骤S20还包括：

步骤b，将所述待测线偏振光输入所述固定光路，使得所述待测线偏振光同时输入所述固定光路中的第一光路和第二光路，所述第一光路与所述第二光路存在光程差；

在该步骤中，波长测算设备将得到的待测线偏振光输入固定光路，该固定光路中包括第一光路和第二光路，且第一光路和第二光路存在光程差，待测线偏振光同时输入第一光路和第二光路；需要说明的是，第一光路和第二光路存在光程差是指第一光路与第二光路的长度不同，在本发明的波长测算设备中，若固定光路中设置有两条光路，则必须设定第一光路与第二光路的长度不相同，这使得通过第一光路后的待测线偏振光的相位和通过第二光路后的待测线偏振光的相位不相等，也即存在相位差，有利于下一步骤的进行。

步骤c，将通过所述第一光路和所述第二光路的所述待测线偏振光投射到预设挡板上，得到所述第一干涉条纹，并统计所述第一干涉条纹的数量。

在该步骤中，波长测算设备将通过第一光路和第二光路的待测线偏振光投射到预设挡板上，得到第一干涉条纹，并统计第一干涉条纹的数量，需要说明的是，由于通过第一光路后的待测线偏振光的相位和通过第二光路后的待测线偏振光的相位不相等，因此会在预设挡板上形成干涉条纹，如：通过第一光路后的待测线偏振光的相位和通过第二光路后的待测线偏振光的相位差为π时，就会产生1级明条纹或暗条纹，产生的明条纹和暗条纹将对称分布在0级亮条纹附近，此时1级明条纹或1级暗条纹的数量都为2条。

进一步地，统计第一干涉条纹的步骤包括：

通过红外CCD相机对所述预设挡板上的所述第一干涉条纹进行扫描操作，得到所述第一干涉条纹对应的扫描结果；

在该步骤中，波长测算设备将通过第一光路和第二光路的待测线偏振光投射到预设挡板上后，通过红外CCD相机对预设挡板上的第一干涉条纹进行扫描操作，得到第一干涉条纹对应的扫描结果；需要说明的是，第一干涉条纹仅仅通过肉眼观察是无法确定具体的数量的，需要通过红外CCD相机进行扫描，捕获待测线偏振光信号；此处提及的红外CCD相机仅仅是一个名称，还可以称为红外CCD传感器、红外CCD测试仪等，在此不做限定。

对所述扫描结果进行预设操作，得到所述第一干涉条纹的数量。

在该步骤中，波长测算设备得到红外CCD相机扫描结果后，将扫描结果发送到计算机中，通过计算机中的分析软件进行分析，最终得到精确的第一干涉条纹的数量，需要说明的是，该计算机可以是通过数据传输线与波长测算设备相连的普通计算机，也可以是集成到波长测算设备中的微型计算机，分析软件可以采用matlab之类的软件。

步骤d，获取所述预设处理器中所述第二波长和所述第二干涉条纹的数量，并根据所述第二波长、所述第二干涉条纹的数量和所述第一干涉条纹的数量，测算出所述待测光源的所述第一波长。

在该步骤中，波长测算设备得到第一干涉条纹的数量后，获取预设处理器中标准光源对应的第二波长和第二干涉条纹的数量，并根据第二波长、第二干涉条纹的数量和第一干涉条纹的数量，测算出待测光源的第一波长，如：预设处理器中标准光源对应的第二波长为λ1，第二干涉条纹的数量N1，波长测算设备得到的第一干涉条纹的数量N2，待测光源对应的第一波长为λ2，波长测算设备根据计算公式λ2/λ1＝N1/N2，得到第一波长λ2＝λ1*N1/N2。需要说明的是，计算公式λ2/λ1＝N1/N2的计算过程为：标准光源对应的第二波长λ1已知，L1，L2分别代表固定光路中的第一光路和第二光路，其中L1，L2长度不完全相等且长度未知。标准光源经过起偏器后再经过第一光路L1产生的相位偏移H1＝ω1t1+ψ0，式中角相位ω1＝2*π*f1，标准光源的频率f1＝C/λ1，C为光速，t1＝L1/C，ψ0为初始相位。由公式可见ω1只和第二波长λ1相关，和经过的第一光路的长度没有关系，故标准光源经过第二光路L2后产生的相位偏移H2＝ω1t2+ψ0，t2＝L2/C；H1，H2相差为π时就会产生1级明条纹或暗条纹，产生的明暗条纹将对称分布在0级亮条纹两边，为了计量方便，选择统计产生的暗条纹个数N1，则标准光源经过起偏器后再经过经过第一光路L1和第二光路L2后产生的总相位差为N1*π/2，即可得|H1-H2|＝N1*π/2，简化公式有2*π*C*T1/λ1＝N1*π/2，T1＝|L1-L2|/C；待测光源对应的第一波长为λ2，待测光源在经过起偏器后再经过第一光路L1后产生的相位H3＝ω2t3+ψ1，t3＝L1/C，经过第二光路L2后产生的相位H4＝ω2t4+ψ1，t4＝L2/C，因此待测光源经过起偏器后再经过经过第一光路L1和第二光路L2后产生的总相位差为|H4-H3|＝N2*π/2，简化公式后有2*π*C*T2/λ2＝N2*π/2，T2＝|L1-L2|/C。结合T1的公式可知道T1＝T2，最后将2*π*C*T1/λ1＝N1*π/2，T1＝|L1-L2|/C与2*π*C*T2/λ2＝N2*π/2，T2＝|L1-L2|/C两个公式做相除处理，可得公式：λ2/λ1＝N1/N2；需要说明的是，若预设处理器中储存的标准光源对应的第二干涉条纹的数量为暗条纹的数量，则统计待测光源对应的第一干涉条纹时也是统计暗条纹的数量，反之亦然。

进一步地，测算到待测光源的第一波长后：

将所述第一波长与所述第二波长进行对比，若所述第一波长与所述第二波长的差值在预设差值阈值内，则确定所述待测光源符合预设波长要求。

在该步骤中，波长测算设备将测算得到的待测光源对应的第一波长和标准光源对应的第二波长进行对比，得到对比结果，若对比结果为第一波长与第二波长的差值在预设差值阈值内，则确定待测光源符合预设波长要求；需要说明的是，预设波长要求是由相关测试人员根据具体生产需求设定的，因为不同的波长的光源携带的信息不同。

本实施例的波长测算设备在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光，该线偏振光具有初始相位；波长测算设备将得到的待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹，并统计第一干涉条纹的数量，再获取预设处理器中储存的标准光源对应的第二波长和第二干涉条纹的数量，根据第二波长、第二干涉条纹的数量和第一干涉条纹的数量，测算出待测光源的第一波长，降低了波长测算的成本。

进一步地，基于本发明波长测算方法第一实施例，提出本发明波长测算方法第二实施例。

波长测算方法的第二实施例与波长测算方法的第一实施例的区别在于，步骤S10之前还包括：

步骤e，获取标准光源的第二波长，并将所述第二波长储存到所述预设处理器中；

步骤f，将所述标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；

步骤g，将所述标准线偏振光输入所述固定光路，得到第二干涉条纹，并统计所述第二干涉条纹的数量，将所述第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中。

本实施例中的波长测算设备获取标准光源的第二波长，并将第二波长储存到预设处理器中；将标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；将标准线偏振光输入固定光路，得到第二干涉条纹，并统计第二干涉条纹的数量，将第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中；需要说明的是，标准光源对应的第二波长是已知的，标准光源对应的第二干涉条纹的数量不是确定的，因此需要将标准光源输入起偏器并通过固定光路，才能确定第二干涉条纹的数量。

以下对各个步骤进行详细说明：

步骤e，获取标准光源的第二波长，并将所述第二波长储存到所述预设处理器中；

在该步骤中，波长测算设备获取标准光源对应的第二波长，并将第二波长储存到预设处理器中；需要说明的是，标准光源对应的第二波长可以由相关测试人员输入到波长测算设备中，也可以是由波长测算设备识别标准光源对应的激光器的铭牌得到。

步骤f，将所述标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；

在该步骤中，波长测算设备将标准光源输入起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光。需要说明的是，标准光源输入的起偏器与待测光源输入的起偏器相同。

步骤g，将所述标准线偏振光输入所述固定光路，得到第二干涉条纹，并统计所述第二干涉条纹的数量，将所述第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中。

在该步骤中，波长测算涉笔将标准线偏振光输入固定光路，得到第二干涉条纹，并统计第二干涉条纹的数量，将第二干涉条纹的数量储存到预设处理器中，需要说明的是，标准光源输入的固定光路和待测光源输入的固定光路相同，统计所述第二干涉条纹的数量与统计第一干涉条纹的数量的步骤相同，在此便不详细叙述。

本实施例中的波长测算设备获取标准光源的第二波长，并将第二波长储存到预设处理器中；将标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；将标准线偏振光输入固定光路，得到第二干涉条纹，并统计第二干涉条纹的数量，将第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中，为后续测算待测光源的第一波长打下数据基础，提高测算第一波长时的测算效率，并降低成本。

在具体实施时，如图3和图4所示，标准光源和待测光源都是先经过起偏器得到具有初始相位的线偏振光(标准线偏振光和待测线偏振光)，再经过相同的固定光路，其中固定光路中包括第一光路L1和第二光路L2，第一光路L1和第二光路L2的都是光波导，但第一光路L1和第二光路L2的长度不同，经过固定光路后，线偏振光发生干涉，得到干涉条纹。

如图5所示，本发明还提供一种波长测算装置。本发明波长测算装置包括：

检测模块，用于在检测到测算指令时，将待测光源输入起偏器，得到待测线偏振光；

测算模块，用于将所述待测线偏振光输入固定光路，得到第一干涉条纹的数量，并根据所述第一干涉条纹的数量和预设处理器中的数据，测算出所述待测光源的第一波长。

优选地，所述检测模块还包括储存模块，所述储存模块用于：

获取标准光源的第二波长，并将所述第二波长储存到所述预设处理器中；

将所述标准光源输入所述起偏器，得到具有初始相位的标准线偏振光；

将所述标准线偏振光输入所述固定光路，得到第二干涉条纹，并统计所述第二干涉条纹的数量，将所述第二干涉条纹的数量储存到所述预设处理器中。

优选地，所述检测模块还包括起偏模块，所述起偏模块用于：

将所述待测光源输入所述起偏器，使得所述待测光源发生偏振并转换为所述待测线偏振光，所述待测线偏振光具有与所述标准线偏振光相同的所述初始相位。

优选地，所述测算模块还包括固定光路模块，所述固定光路模块用于：

将所述待测线偏振光输入所述固定光路，使得所述待测线偏振光同时输入所述固定光路中的第一光路和第二光路，所述第一光路与所述第二光路存在光程差；

将通过所述第一光路和所述第二光路的所述待测线偏振光投射到预设挡板上，得到所述第一干涉条纹，并统计所述第一干涉条纹的数量。

优选地，所述测算模块还包括扫描模块。所述扫描模块用于：

通过红外CCD相机对所述预设挡板上的所述第一干涉条纹进行扫描操作，得到所述第一干涉条纹对应的扫描结果；

对所述扫描结果进行预设操作，得到所述第一干涉条纹的数量。

优选地，所述测算模块还用于：

获取所述预设处理器中所述第二波长和所述第二干涉条纹的数量，并根据所述第二波长、所述第二干涉条纹的数量和所述第一干涉条纹的数量，测算出所述待测光源的所述第一波长。

优选地，所述测算模块还包括对比模块，所述对比模块用于：

将所述第一波长与所述第二波长进行对比，若所述第一波长与所述第二波长的差值在预设差值阈值内，则确定所述待测光源符合预设波长要求。

本发明还提供一种波长测算设备。

本发明波长测算设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的波长测算程序，所述波长测算程序被所述处理器执行时实现如上所述的波长测算方法的步骤。

其中，在所述处理器上运行的波长测算程序被执行时所实现的方法可参照本发明波长测算方法各个实施例，此处不再赘述。

本发明还提供一种计算机可读存储介质。

本发明计算机可读存储介质上存储有波长测算程序，所述波长测算程序被处理器执行时实现如上所述的波长测算方法的步骤。

其中，在所述处理器上运行的波长测算程序被执行时所实现的方法可参照本发明波长测算方法各个实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书与附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。