发明内容

本发明的目的在于提供液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置及检测方法，实现了小体积化、无外置连接线式的研磨盘多位平坦度检测，避免了人力放置较重直规所产生的较大检测误差，提高了研磨盘的检测效率和检测精度。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明为液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置，用于检测上研磨盘的上研磨面、下研磨盘的下研磨面，上研磨盘上安装有主轴杆，下研磨盘上配置有位于中部位置的下盘驱动齿柱和位于外边缘位置的下盘外齿柱。

平坦度辅助检测装置包括检测长条本体和外控盒，外控盒位于检测长条本体的一侧端，检测长条本体的另一端设置有端侧对径安装板，端侧对径安装板的外侧端面嵌入安装有对径传感条；检测长条本体的下侧面嵌入安装有边侧可见光定位器和若干依次排列的光电距离传感探头；检测长条本体的上侧面固定设置有一组吸附块，检测长条本体的上侧面嵌入安装有位于两个吸附块之间的水平检测机构，检测长条本体的上侧面设置有外齿块和内齿块。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：外控盒上配置有显示屏，外控盒内置主控板，主控板通过控制线路与边侧可见光定位器、吸附块电连接，主控板通过信号传输线路与水平检测机构、光电距离传感探头和对径传感条电连接；外控盒的主控板上配置有无线模块，用于控制信息的获取和传感检测信息的上传；外控盒上配置有用于整个外控盒的开关键、用于控制吸附块的电控确认键和用于开启检测平坦度的检测的检测信号键；外控盒内置充电电源，为外控盒元器件提供电能。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：外控盒的主控板上配置有数模转换模块，显示屏上显示出经数模转换模块处理后的模拟轴杆边界线。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：外控盒的显示屏上模拟显示出与对径传感条传感检测区段相配合的模拟对准刻度，模拟对准刻度的中心点为“0”基准点。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：对径传感条上设置有若干光电传感器，用于传感检测主轴杆的遮挡区域。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：检测长条本体上侧面的吸附块采用电动吸盘或电磁吸附机构。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测装置的一种优选技术方案：外齿块位于检测长条本体靠近外控盒的侧端位置，内齿块位于检测长条本体靠近端侧对径安装板的侧端位置。

本发明涉及液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测方法，包括以下内容：

㈠检测长条本体的对径调试

①以外控盒的显示屏朝上，将检测长条本体插在上研磨盘的下方区域，直至边侧可见光定位器所发出的基准光线正好照射在下研磨盘的外侧边缘位置；②来回调节检测长条本体，对径传感条传感检测到主轴杆的遮挡区域，经过数模转换模块，显示屏上显示出主轴杆的实时对准状态，将主轴杆的两边缘侧关于“0”基准点对齐后，按下电控确认键，检测长条本体的吸附块牢固吸附在上研磨盘的上研磨面。

㈡检测下研磨面的平坦度

①检测长条本体对径调试完成后，开启外控盒上的检测信号键，主控板驱动光电距离传感探头对下研磨盘的下研磨面进行传感检测；②启动主轴杆转动，带动上研磨盘匀速转动一圈，检测长条本体同步转动一圈，若干光电距离传感探头对下方的下研磨盘的下研磨面进行环绕式检测。

㈢检测上研磨面的平坦度

①检测下研磨盘的下研磨面平坦度后，解除吸附块吸附，将检测长条本体翻转180°，将外齿块卡合在下盘外齿柱上，将内齿块卡合在下盘驱动齿柱上；②启动主轴杆转动，带动上研磨盘匀速转动一圈，安装在下研磨盘上的检测长条本体静止，检测长条本体的光电距离传感探头朝上对上研磨盘的上研磨面进行传感检测。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测方法的一种优选技术方案：主控板实时获取到若干光电距离传感探头检测到的距离信息，将传感检测到距离信息通过无线模块传输至手机或计算机终端设备中，手机APP或计算机软件通过分析距离信息，判断输出研磨盘的平坦度状况。

作为本发明中液晶玻璃基板研磨盘平坦度辅助检测方法的一种优选技术方案：检测长条本体吸附安装在上研磨盘上或齿口安装在下研磨盘时，水平检测机构进行水平状态检测，当水平检测机构检测到检测长条本体未处于水平状态时，持续输出未水平放置信号，直至水平检测机构检测到检测长条本体处于水平状态后解除。

本发明具有以下有益效果：

1、本发明通过设计一种新型的研磨盘平坦度辅助检测装置，实现小体积化、无外置连接线式的研磨盘多位平坦度检测，避免了人力放置较重直规所产生的较大检测误差；

2、本发明通过吸附定位或齿口安装配合，将平坦度辅助检测装置进行安置，反向对相对侧的研磨盘的平坦度进行环绕式检测，提高了研磨盘的检测效率和检测精度。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。