引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质

文档序号:190185 发布日期:2021-11-02 浏览:15次 >En<

阅读说明:本技术 引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质 (Pin testing device, method, control equipment and storage medium ) 是由 李虹 于 2021-07-30 设计创作,主要内容包括:本申请公开一种引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质。装置包括:待测引脚,待测引脚包括Type-C接口的CC引脚,CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚;开关芯片,开关芯片的第一公共端与CC1引脚连接,开关芯片的第二公共端与CC2引脚连接,开关芯片的使能引脚、第一选择引脚、第二选择引脚分别连接外部的三个GPIO接口,三个GPIO接口用于输出高/低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景。本申请有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。(The application discloses a pin testing device, a pin testing method, control equipment and a storage medium. The device comprises: the pins to be tested comprise CC pins of a Type-C interface, and the CC pins comprise CC1 pins and CC2 pins; the switch chip, the first public end and the CC1 pin of switch chip are connected, and the second public end and the CC2 pin of switch chip are connected, and the enable pin, the first selection pin, the second selection pin of switch chip connect three external GPIO interfaces respectively, and three GPIO interfaces are used for exporting high/low level and realize the switching of on off state to the different connection scenes of simulation. The method and the device are beneficial to simplifying the test flow, reducing the production cost and improving the test efficiency.)

引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质

技术领域

本申请涉及测试技术领域,具体涉及一种引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质。

背景技术

目前的TYPE_C接口的CC脚测试往往是和USB2.0或者USB3.0捆绑在一起,通过正反插TYPE_C线后读取USB的通信状态来判断CC脚的功能是否OK。正反插TYPE_C线需要增加额外的机械设备,不仅操作不便,还会大大增加生产成本、降低测试效率。

发明内容

有鉴于此,本申请实施例提供一种引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质,有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。

本申请提供的一种引脚测试装置,包括:

待测引脚,所述待测引脚包括Type-C接口的CC引脚,所述CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚;

开关芯片,所述开关芯片的第一公共端与所述CC1引脚连接,所述开关芯片的第二公共端与所述CC2引脚连接,所述开关芯片的使能引脚、第一选择引脚、第二选择引脚分别连接外部的三个GPIO接口,所述三个GPIO接口用于输出高/低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景。

可选地,所述连接场景包括以下任一种:

所述CC1引脚接入到下行设备;

所述CC1引脚接入到上行设备;

所述CC2引脚接入到下行设备;

所述CC2引脚接入到上行设备。

可选地,引脚测试装置还包括:

第一中断寄存器,所述第一中断寄存器与所述CC1引脚连接;

第二中断寄存器,所述第二中断寄存器与所述CC2引脚连接;

控制模块,所述控制模块分别与所述第一中断寄存器、所述第二中断寄存器连接,用于读取所述第一中断寄存器、所述第二中断寄存器的值,以判断所述CC1引脚、所述CC2引脚是否正常连接。

可选地,引脚测试装置还包括:

第一中断寄存器,所述第一中断寄存器与所述CC1引脚连接;

第二中断寄存器,所述第二中断寄存器与所述CC2引脚连接;

控制模块,所述控制模块分别与所述第一中断寄存器、所述第二中断寄存器连接,用于读取所述第一中断寄存器、所述第二中断寄存器的值,以判断所述CC1引脚、所述CC2引脚是否正常连接。

本申请提供的一种引脚测试方法,应用于上述的引脚测试装置,所述方法包括:

预设连接场景;

根据预设的连接场景控制三个GPIO接口输出高低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景。

可选地,所述连接场景包括以下任一种:

所述CC1引脚接入到下行设备;

所述CC1引脚接入到上行设备;

所述CC2引脚接入到下行设备;

所述CC2引脚接入到上行设备。

可选地,第一中断寄存器与所述CC1引脚连接,第二中断寄存器与所述CC2引脚连接,所述方法还包括:

读取所述第一中断寄存器、所述第二中断寄存器的值,以判断所述CC1引脚、所述CC2引脚是否正常连接。

可选地,ADC模块分别与所述CC1引脚、所述CC2引脚连接,所述方法还包括:

读取所述CC1引脚、所述CC2引脚上的电压值,以判断所述CC1引脚、所述CC2引脚是否正常连接。

本申请提供的一种控制设备,包括:存储器、处理器,其中,存储器上存储有程序,程序被处理器执行时实现如上述的引脚测试方法的步骤。

本申请提供的一种可读存储介质,存储有程序,程序被处理器调用时执行如上述的引脚测试方法的步骤。

本申请通过三个GPIO接口输出高/低电平实现开关状态的切换,来模拟不同的连接场景,从而测试CC1引脚和CC2引脚在不同连接场景下是否正常连通、是否存在虚焊等。跟目前的测试方案相比,本申请实施例有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例的引脚测试装置的结构示意图;

图2是本申请一实施例的开关芯片的电路示意图;

图3是本申请另一实施例的引脚测试装置的结构示意图;

图4是本申请一实施例的引脚测试方法的流程示意图;

图5是本申请另一实施例的引脚测试方法的流程示意图;

图6是本申请又一实施例的引脚测试方法的流程示意图。

具体实施方式

本申请实施例提供的引脚测试装置,通过三个GPIO接口输出高/低电平实现开关状态的切换,来模拟不同的连接场景,从而测试CC1引脚和CC2引脚在不同连接场景下是否正常连通、是否存在虚焊等。跟目前的测试方案相比,本申请实施例有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合实施例及附图,对本申请技术方案进行清楚地描述。显然,所描述实施例仅是一部分实施例,而非全部。基于本申请中的实施例,在不冲突的情况下,下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。

需要说明的是,在本申请的描述中,虽然采用了诸如S300、S400等步骤代号,其目的是为了更清楚简要地表述相应内容,并不构成顺序上的实质性限制,本领域技术人员在具体实施时,例如在由第一场景切换至第二场景时,可能会先执行S400后执行S300等,但这些均属于本申请的保护范围之内。

目前的TYPE_C接口的CC脚测试往往是和USB2.0或者USB3.0捆绑在一起,通过正反插TYPE_C线后读取USB的通信状态来判断CC脚的功能是否OK。正反插TYPE_C线需要增加额外的机械设备,不仅操作不便,还会大大增加生产成本、降低测试效率。

基于上述,本申请提供一种引脚测试装置、方法、控制设备及存储介质,无需USB2.0或者USB3.0参与,且不需要正反插TYPE_C线,有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。

第一方面,本申请实施例提供了一种引脚测试装置。如图1所示,是本申请一实施例的引脚测试装置的结构示意图。引脚测试装置包括:

待测引脚,待测引脚包括Type-C接口的CC引脚,CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚;

开关芯片100,开关芯片100的第一公共端与CC1引脚连接,开关芯片100的第二公共端与CC2引脚连接,开关芯片100的使能引脚、第一选择引脚、第二选择引脚分别连接外部的三个GPIO接口,三个GPIO接口用于输出高/低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景。

在一些实施例中,引脚测试装置用于测试Type-C接口的CC引脚,CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚。将CC1引脚和CC2引脚分别连接到开关芯片100的两个公共端。主控平台上具有控制模块,控制模块与开关芯片100连接,通过三个GPIO接口输出高/低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景,从而测试CC1引脚和CC2引脚在不同连接场景下是否正常连通、是否存在虚焊等。

在一些实施例中,连接场景包括以下任一种:

CC1引脚接入到下行设备;

CC1引脚接入到上行设备;

CC2引脚接入到下行设备;

CC2引脚接入到上行设备。

在一些实施例中,开关芯片100的型号可以是SGM48752,SGM48752是一款双4通道的模拟开关芯片,相当于双刀四掷开关。开关芯片的型号也可以是其它型号。

如图2所示,以开关芯片100的型号为SGM48752为例,对本申请的引脚测试装置的连接方式和实现过程进行详细说明。请参照图2,CC1引脚和CC2引脚分别连接至开关芯片100的两个公共端。第一个4通道开关的第一端子X2和第二端子X3悬空,第三端子X0接5.1K的电阻R2到地,则端子X连接X0时就可以模拟CC1引脚连接到下行设备(或DFP下行接口);第四端子X1接56K的电阻R1到VBUS(VBUS连接至电脑的USB口),则端子X连接X1时就可以模拟CC1引脚连接到上行设备(或UFP上行接口)。第二个4通道开关的第三端子Y0和第四端子Y1悬空,第一端子Y2接5.1K的电阻R3到地,则端子Y连接Y2时就可以模拟CC2引脚连接到下行设备(或DFP下行接口);第二端子Y3接56K的电阻R4到VBUS,VBUS连接至电脑的USB口,则端子Y连接Y3时就可以模拟CC2引脚连接到上行设备(或UFP上行接口)。

在一些实施例中,图2中的EN为使能引脚,A为第一选择引脚,B为第二选择引脚。外部的三个GPIO接口输出到使能引脚EN、第一选择引脚A、第二选择引脚B的高/低电平与开关状态以及模拟的CC1引脚、CC2引脚的接入状态的对应表格如下:

上表中,H表示高电平,L表示低电平。X-X0表示端子X连接X0,Y-Y0表示端子Y连接Y0,其它开关状态类似。根据实际需要,想要模拟哪个连接场景,控制模块按照上表控制三个GPIO接口输出的电平高低,即可切换到对应的开关状态,进而模拟不同的连接场景,并实现该连接场景下的CC引脚测试。

结合上述,端子X连接X0(或X1)时,模拟CC1引脚连接到下行设备(或上行设备),端子Y连接Y0(或Y1)时,CC2引脚未接入(因为Y0、Y1悬空)。端子X连接X2(或X3)时,CC1引脚未接入(因为X2、X3悬空),端子Y连接Y2(或Y3)时,模拟CC2引脚连接到下行设备(或上行设备)。因此,上述电路的连接方式能保证CC1引脚和CC2引脚不会同时接入到外部的上下拉电阻,这与正常的使用场景相匹配,可以提高引脚测试的准确性。

在一些实施例中,模拟其中一个连接场景后,有两种方式可以判断测试结果,即判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。这两种判断方式如下:

(1)在第1种方式中,引脚测试装置还包括:

第一中断寄存器200,第一中断寄存器200与CC1引脚连接;

第二中断寄存器300,第二中断寄存器300与CC2引脚连接;

控制模块400,控制模块400分别与第一中断寄存器200、第二中断寄存器300连接,用于读取第一中断寄存器、第二中断寄存器的值,以判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。

如上所述,主控平台上具有控制模块400,控制模块400与开关芯片100连接。如图3所示,控制模块400还分别与第一中断寄存器200、第二中断寄存器300连接。第一中断寄存器200与CC1引脚连接,第二中断寄存器300与CC2引脚连接。控制模块400控制输出电平模拟其中一个连接场景后,读取第一中断寄存器200、第二中断寄存器300的值,若第一中断寄存器200、第二中断寄存器300的值增加,则判断CC1引脚、CC2引脚正常连接。若第一中断寄存器200、第二中断寄存器300的值未增加,则判断CC1引脚、CC2引脚未正常连接,可能存在虚焊等情况。

可选地,中断寄存器也可以使用中断计数器代替。

(2)在第2种方式中,引脚测试装置还包括:

ADC模块,ADC模块分别与CC1引脚、CC2引脚连接,用于读取CC1引脚、CC2引脚上的电压值,以判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。

可选地,ADC模块可以是控制模块400里面的ADC采样端口,也可以是单独的ADC芯片。ADC模块分别与CC1引脚、CC2引脚连接。控制模块400控制输出电平模拟其中一个连接场景后,ADC模块读取CC1引脚、CC2引脚上的电压值,判断电压值是否处于预设范围,来判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。以开关芯片100为SGM48752为例,电压的预设范围为0.4V左右。

目前的整机测试方案都是直接用TYPE_C线正插或者反插,然后读取USB是否通信成功来判断CC脚是否正常。本申请实施例通过开关芯片将CC脚的CC1引脚或者CC2引脚上拉到VBUS或者下拉到GND来模拟接入上行设备或者下行设备,然后通过读取中断寄存器的值或者读取CC脚上的电压判断CC脚是否正常。跟目前的测试方案相比,本申请实施例有利于简化测试流程、降低生产成本、提高测试效率。

第二方面,本申请实施例还提供一种引脚测试方法,应用于第一方面所述的引脚测试装置。如图4所示,该方法包括:

步骤S100:预设连接场景;

步骤S200:根据预设的连接场景控制三个GPIO接口输出高低电平实现开关状态的切换,以模拟不同的连接场景。

在一些实施例中,连接场景包括以下任一种:

CC1引脚接入到下行设备;

CC1引脚接入到上行设备;

CC2引脚接入到下行设备;

CC2引脚接入到上行设备。

结合第一方面的描述,控制模块内预设有上述连接场景。根据要模拟的连接场景,控制三个GPIO接口输出的电平高低,即可实现开关状态的切换,进而实现该连接场景下的CC引脚测试。具体的实现过程请参照第一方面的描述,此处不再赘述。

在一些实施例中,第一中断寄存器与CC1引脚连接,第二中断寄存器与CC2引脚连接。如图5所示,引脚测试方法还包括:

步骤S300:读取第一中断寄存器、第二中断寄存器的值,以判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。

可选地,控制模块控制输出电平模拟其中一个连接场景后,读取第一中断寄存器、第二中断寄存器的值,若第一中断寄存器、第二中断寄存器的值增加,则判断CC1引脚、CC2引脚正常连接。若第一中断寄存器、第二中断寄存器的值未增加,则判断CC1引脚、CC2引脚未正常连接,可能存在虚焊等情况。

在一些实施例中,ADC模块分别与CC1引脚、CC2引脚连接。如图6所示,引脚测试方法还包括:

步骤S400:读取CC1引脚、CC2引脚上的电压值,以判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。

可选地,ADC模块可以是控制模块里面的ADC端口,也可以是单独的ADC芯片。ADC模块分别与CC1引脚、CC2引脚连接。控制模块400控制输出电平模拟其中一个连接场景后,ADC模块读取CC1引脚、CC2引脚上的电压值,判断电压值是否处于预设范围,来判断CC1引脚、CC2引脚是否正常连接。以开关芯片100为SGM48752为例,电压的预设范围为0.4V左右。

第三方面,本申请实施例还提供一种控制设备,包括:存储器、处理器,其中,存储器上存储有程序,该程序被处理器执行时实现如第二方面任一实施例中的引脚测试方法的步骤。

在实际场景中,控制设备可以是第二方面描述的控制模块,也可以是具有数据处理能力的智能电子设备。智能电子设备的具体表现形式,本申请不予以限制,例如包括但不限于:手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、个人数字助理(Personal DigitalAssistant,PDA)、便捷式媒体播放器(Portable Media Player,PMP)等手持式电子设备;车载导航设备;可穿戴设备等具有相应功能的移动电子设备。

第四方面,本申请实施例还提供一种可读存储介质,可读存储介质存储有程序,该程序被处理器执行时实现如第二方面任一实施例中的引脚测试方法的步骤。

在本申请提供的控制设备和可读存储介质的实施例中,包含了上述方法各实施例的全部技术特征,说明书拓展和解释内容与上述引脚测试方法的各实施例适应性相同,在此不做再赘述。

本申请还提供一实施例的计算机程序产品,该计算机程序产品包括计算机程序代码,当计算机程序代码在计算机上运行时,使得计算机执行如上各种可能的实施例中所述的方法。

本申请还提供一实施例的芯片,包括存储器和处理器,该存储器用于存储程序,处理器用于从存储器中调用并运行程序,使得安装有芯片的设备执行如上各种可能的实施例中的方法。

通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述定位方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台设备(例如手机、计算机、服务器、被控电子设备、网络设备等)执行本申请每个实施例的方法。

以上所述仅为本申请的部分实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本说明书及附图内容所作的等效结构变换,均同理包括在本申请的专利保护范围内。

在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素,此外,不同实施例中具有同样命名的部件、特征、要素可能具有相同含义,也可能具有不同含义,其具体含义需以其在该具体实施例中的解释或者进一步结合该具体实施例中上下文进行确定。

术语“或”和“和/或”被解释为包括性的,或意味着任一个或任何组合。仅当元件、功能、步骤或操作的组合在某些方式下内在地互相排斥时,才会出现该定义的例外。

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