探针装置及一体成型式探针

文档序号:1903438 发布日期:2021-11-30 浏览:13次 >En<

阅读说明:本技术 探针装置及一体成型式探针 (Probe device and integrated probe ) 是由 李文聪 魏逊泰 谢开杰 李晓刚 于 2020-05-26 设计创作,主要内容包括:本发明公开一种探针装置及一体成型式探针。探针装置包含第一导板、第二导板及多个一体成型式探针。第一导板具有多个第一穿孔。第二导板具有多个第二穿孔。各个一体成型式探针具有两个凸出结构,各一体成型式探针的本体及两个凸出结构能通过第二穿孔而插设于第一导板与第二导板之间,且各个一体成型式探针的两个凸出结构能抵靠于第二导板面对第一导板的一侧面,而两个凸出结构能限制一体成型式探针相对于第二导板的活动范围。(The invention discloses a probe device and an integrated probe. The probe device comprises a first guide plate, a second guide plate and a plurality of integrally formed probes. The first guide plate has a plurality of first through holes. The second guide plate has a plurality of second through holes. Each integrated into one piece formula probe has two protrusion structures, and the body and two protrusion structures of each integrated into one piece formula probe can be perforated through the second and insert and locate between first baffle and second baffle, and two protrusion structures of each integrated into one piece formula probe can support by the side that faces first baffle in the second baffle, and two protrusion structures can restrict the home range of integrated into one piece formula probe for the second baffle.)

探针装置及一体成型式探针

技术领域

本发明涉及一种探针装置及一体成型式探针,尤其涉及一种具有一体成型式探针的探针装置及垂直式探针。

背景技术

请参阅图1,其显示为现有的探针装置的剖面示意图。现有的探针装置P包含一底座P1、多个一体成型式探针P2及一顶盖P3。底座P1包含多个限位穿孔P11,顶盖P3具有多个顶盖穿孔P31。探针装置P的安装方式为:先进行植针作业,以将多个一体成型式探针P2的一端对应设置于底座P1的多个限位穿孔P11中;接着,将顶盖P3的多个穿孔P11对应穿过多个一体成型式探针P2,而使顶盖P3能与底座P1相互固定,并据以通过底座P1及顶盖P3而限制多个一体成型式探针P2的活动范围。

依上所述,在实际应用中,在一体成型式探针P2的数量较多,或一体成型式探针P2尺寸较小的实施例中,容易发生顶盖P3的多个穿孔P11无法顺利地穿过多个一体成型式探针P2,进而发生顶盖P3无法与底座P1相互固定的问题。

发明内容

本发明公开一种探针装置及一体成型式探针,主要用以改善公知的探针装置在组装过程中,容易发生顶盖难以与设置有多个弹簧探针的底座相互固定的问题。

本发明的其中一个实施例公开一种探针装置,其包含:至少一第一导板,其具有多个第一穿孔;至少一第二导板,其与第一导板间隔地设置,至少一第二导板具有多个第二穿孔,各个第二穿孔贯穿第二导板,多个第二穿孔彼此间隔且不相互连通地形成于第二导板;多个一体成型式探针,各个一体成型式探针包含一本体及两个凸出结构,本体彼此相反的两端分别定义为一接触端及一固定端,本体于接触端及固定端之间形成有一弹性结构;两个凸出结构形成于本体的两侧;多个一体成型式探针设置于第一导板及第二导板之间,且各个一体成型式探针的两个凸出结构抵靠于第二导板面对第一导板的一侧面,而两个凸出结构未容置于相邻的两个第二穿孔中,各个本体的一端穿出各个第一穿孔,而露出于第一导板相反于第二导板的一侧;其中,接触端受压时,弹性结构将弹性变形,而接触端不再受压时,弹性结构将恢复至未变形的状态;其中,各个一体成型式探针的本体、两个凸出结构及弹性结构能穿过各个第二穿孔。

优选地,第二导板的一侧面形成有多组限位结构,各组限位结构包含两个凹槽,各个凹槽未贯穿第二导板,各个第二穿孔与各组限位结构的两个凹槽相互连通,而各个一体成型式探针的两个凸出结构对应设置于各组限位结构的两个凹槽中。

优选地,探针装置还包含一辅助导板,辅助导板设置于第二导板面对第一导板的一侧,辅助导板具有多个辅助穿孔群;各个辅助穿孔群包含一辅助穿孔及两个卡合槽,各个辅助穿孔贯穿辅助导板,各个卡合槽由辅助导板的一侧内凹形成,且各个卡合槽面对第一导板设置,各个辅助穿孔群的辅助穿孔与两个卡合槽相互连通;各个第二穿孔能与各组辅助穿孔群的辅助穿孔相互连通;各个一体成型式探针的两个凸出结构卡合设置于各组辅助穿孔群的两个卡合槽;其中,各个一体成型式探针的本体、弹性结构及两个凸出结构能穿过一个第二穿孔及一组辅助穿孔群的辅助穿孔。

优选地,各个卡合槽贯穿辅助导板。

优选地,探针装置还包含一辅助导板,辅助导板设置于第二导板面对第一导板的一侧,辅助导板具有多个辅助穿孔群;各个辅助穿孔群包含一辅助穿孔及两个卡合槽,各个辅助穿孔贯穿辅助导板,各个卡合槽由辅助导板的一侧内凹形成,且各个卡合槽面对第二导板设置,各个辅助穿孔群的辅助穿孔与两个卡合槽能相互连通;各个第二穿孔与各组辅助穿孔群的辅助穿孔相互连通;各个一体成型式探针的两个凸出结构卡合设置于各组辅助穿孔群的两个卡合槽,且各个一体成型式探针的两个凸出结构对应位于辅助导板及第二导板之间;其中,各个一体成型式探针的本体、弹性结构及两个凸出结构能穿过一个第二穿孔及一组辅助穿孔群的辅助穿孔。

优选地,探针装置还包含一间隔框体,其设置于第一导板及第二导板之间,第一导板、间隔框体及第二导板共同形成一容置空间,多个一体成型式探针具有弹性结构的部分位于容置空间中。

优选地,各个一体成型式探针的两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,大于弹性结构的宽度;各个一体成型式探针的两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,小于各个第二穿孔的轴向宽度;一体成型式探针的本体的至少一部分为矩形条状结构,第二导板还包含多个避让孔,多个避让孔与多个第二穿孔相互连通,各个避让孔的径向宽度大于各个第二穿孔的径向宽度,各个一体成型式探针的一部分穿设各个避让孔,而各个一体成型式探针能对应于各个避让孔中旋转。

优选地,各个一体成型式探针的弹性结构为栅栏状。

本发明的其中一个实施例公开一种一体成型式探针,其包含一本体、两个凸出结构及一弹性结构,本体为沿一轴向方向延伸形成的长条状结构,本体、凸出结构及弹性结构一体成型地设置,两个凸出结构由本体彼此相反的两侧向外延伸形成;其中,本体的一端受压时,弹性结构将弹性变形,而本体的一端不再受压时,弹性结构将回复至未受压时的状态。

优选地,两个凸出结构的宽度及本体的宽度和,大于弹性结构的宽度。

综上所述,本发明的探针装置及一体成型式探针,通过于一体成型式探针设置两个凸出结构,于第二导板设置多个第二穿孔等设计,让探针装置可以方便地进行组装。

为能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,但是此等说明与附图仅用来说明本发明,而非对本发明的保护范围作任何的限制。

附图说明

图1为公知的探针装置的剖面示意图。

图2为本发明的探针装置的第一实施例的立体示意图。

图3为本发明的探针装置的第一实施例的分解示意图。

图4为本发明的探针装置的第一实施例的局部剖面示意图。

图5为本发明的一体成型式探针的其中一实施例的侧面示意图。

图6为本发明的探针装置的第一实施例的局部组装过程示意图。

图7为本发明的探针装置的第一实施例的局部组装过程示意图。

图8为本发明的探针装置的第二实施例的局部分解示意图。

图9为本发明的探针装置的第二实施例的局部剖面示意图。

图10为本发明的探针装置的第三实施例的局部分解示意图。

图11为本发明的探针装置的第三实施例的局部组装过程示意图。

图12为本发明的探针装置的第三实施例的局部剖面示意图。

图13为本发明的探针装置的第四实施例的局部剖面示意图。

具体实施方式

于以下说明中,如有指出请参阅特定附图或是如特定附图所示,其仅是用以强调于后续说明中,所述及的相关内容大部分出现于该特定附图中,但不限制该后续说明中仅可参考所述特定附图。

请一并参阅图2至图4,图2显示为本发明的探针装置的第一实施例的立体示意图,图3显示为本发明的探针装置的第一实施例的分解示意图,图4显示为图2所示的本实施例的探针装置100沿Ⅳ-Ⅳ剖面线剖开后的剖面示意图。本发明的探针装置100包含一第一导板1、一间隔框体2、一第二导板3及多个一体成型式探针4。第一导板1具有多个第一穿孔11。各个第一穿孔11彼此间隔地设置,且各个第一穿孔11贯穿第一导板1。于本实施例的附图中,是以探针装置100包含6个一体成型式探针4为例,但一体成型式探针4的数量不以6个为限。

间隔框体2设置于第一导板1的一侧,第二导板3设置于间隔框体2相反于第一导板1的一侧,而第二导板3与第一导板1彼此间隔地设置。在实际应用中,第一导板1、间隔框体2及第二导板3三者之间例如可以是利用多个螺丝相互固定,但不以此为限。其中,间隔框体2主要是用来使第一导板1与第二导板3彼此间隔地设置,因此,间隔框体2的外型及其厚度等皆可依据需求变化,不以图中所示为限。特别说明的是,只要第一导板1与第二导板3两者是间隔地设置,探针装置100也可以是不具有间隔框体2,举例来说,在不同的实施例中,间隔框体2与第一导板1可以是一体成型地设置,或者,间隔框体2与第二导板3可以是一体成型地设置。

第二导板3具有多个第二穿孔31,各个第二穿孔31贯穿第二导板3,多个第二穿孔31彼此间隔且不相互连通地设置。其中,各个第二穿孔31是大致对应于第一导板1的各个第一穿孔11设置。各个第二穿孔31是用来提供各个一体成型式探针4穿过,因此,各个第二穿孔31的外型可以是依据一体成型式探针4的外型进行变化。

各个一体成型式探针4包含一本体41、两个凸出结构42及一弹性结构43,本体41、两个凸出结构42及弹性结构43一体成型地设置。本体41的外型可以大致为沿一轴向方向延伸形成的长条状矩形体结构,即业界俗称的“矩形探针”或“方型探针”,但本体41的外型不以此为限,在不同的实施例,本体41的外型也可以是大致为圆柱状结构。

两个凸出结构42形成于本体41的两侧(例如是彼此相反的两侧)。在本体41的外型为长条状矩形体结构的实施例中,两个凸出结构42可以是由本体41彼此相反的两个侧面向外延伸形成,而两个凸出结构42可以是大致位于同一轴在线,且各个凸出结构42的外型可以是矩形体。在实际应用中,各个凸出结构42的外型、尺寸及形成于本体41的位置,皆可依据需求变化,不以本实施例各附图所示为限。

本体41彼此相反的两端分别定义为一接触端411及一固定端412,本体41于接触端411及固定端412之间形成有所述弹性结构43。当本体41的接触端411受外力抵压时,弹性结构43将弹性变形,并对应产生弹性回复力,而当本体41的接触端411不再受外力抵压时,弹性结构43受压所产生的弹性回复力,将使弹性结构43恢复至未受压的状态。具体来说,所述弹性结构43受压后最大变化量,即为一体成型式探针4的最大行程。

在本实施例的附图中,是以弹性结构43的外型大致呈现弯曲状的矩形体为例,但弹性结构43的外型不以此为限,弹性结构43主要是用来使一体成型式探针4的一端受压时,能够于一体成型式探针4的长度方向弹性变形,因此,只要是能在一体成型式探针4的一端受压时,使一体成型式探针4于长度方向弹性变形,弹性结构43可以是任意外型。如图5所示,其显示为本发明的一体成型式探针4的其中一实施例的侧面示意图,一体成型式探针4的弹性结构43也可以是呈现为图5中所示的栅栏状结构。

请一并参阅图3及图6,图6为本发明的探针装置的第一实施例的局部组装过程示意图。各个一体成型式探针4的两个凸出结构42的宽度W1与本体41的宽度W2和,是不大于第二导板3的各个第二穿孔31的宽度W3,而各个一体成型式探针4的本体41及两个凸出结构42能穿过第二穿孔31。在本实施例中,是以各个一体成型式探针4的本体41为矩形体且各个凸出结构42为矩形体,而各第二穿孔31为矩形穿孔为例,但在一体成型式探针4的本体41及凸出结构42为不相同的外型时,第二穿孔31的外型可以是对应于本体41及凸出结构42的外型而变化,举例来说,在一体成型式探针4的本体41为圆柱体,而两个凸出结构为矩形体的实施例中,第二穿孔31可以是由一圆形穿孔及两个方形穿孔共同组成,而一体成型式探针4的本体41则能通过圆形穿孔,而两个凸出结构42则能通过方形穿孔。

如图3及图6所示,各个一体成型式探针4的弹性结构43的宽度W4小于各第二穿孔31的轴向宽度W3,而各个一体成型式探针4的弹性结构43可以通过第二穿孔31。各个第二穿孔31是用来使一体成型式探针4的两个凸出结构42及弹性结构43通过,因此,各个第二穿孔31的外型及尺寸,可以是依据各个一体成型式探针4的本体41、两个凸出结构42及弹性结构43的外型进行变化。为利于第二穿孔31的外型设计,可以是使弹性结构43对应位于两个凸出结构42的正下方,并使各个一体成型式探针4的弹性结构43的宽度W4,小于一体成型式探针4的本体41的宽度W2及两个凸出结构42的宽度W1和(也就是说,W4<W1+W1+W2),如此,只要一体成型式探针4的本体41及两个凸出结构42能穿过第二穿孔31,则弹性结构43亦能穿过第二穿孔31。若是弹性结构43是由本体41向一侧弯曲而成,则弹性结构43的宽度W4可以是小于相对应的凸出结构42的宽度W1即可。

请一并参阅图4、图6及图7,图7为本发明的探针装置的第一实施例的第一导板的一部分、第二导板的一部分及单一个一体成型式探针的分解示意图(为利清楚显示一体成型式探针4的结构,于图7中并未显示前述间隔框体2)。本发明的探针装置的一体成型式探针4安装于第一导板1及第二导板3的植针方式可以是:如图6所示,先使一体成型式探针4的弹性结构43及两个凸出结构42依序通过第二导板3的第二穿孔31;在使两个凸出结构42通过第二穿孔31,而使两个凸出结构42位于第二导板3面对第一导板1的一侧后,旋转一体成型式探针4(如图7所示),以使两个凸出结构42不再位于第二穿孔31的正下方,借此完成植针步骤。在实际应用中,一体成型式探针4旋转的角度可以是依据两个凸出结构42的位置决定,于此不加以限制,以图7所示的一体成型式探针4来说,在安装一体成型式探针4时,可以是使一体成型式探针4旋转90度。

承上,在使两个凸出结构42通过第二穿孔31的过程中,可以是使一体成型式探针4的一端穿过第一导板1的第一穿孔11,或者,也可以是在旋转一体成型式探针4后,再使一体成型式探针4向靠近第一导板1的方向移动,而使一体成型式探针4的一端穿过第一穿孔11。当然,在使两个凸出结构42通过第二穿孔31的过程中,使一体成型式探针4的一端穿过第一穿孔11的实施例中,第一穿孔11的孔径是略大于一体成型式探针4的一端的宽度,而一体成型式探针4能相对于第一穿孔11旋转。在实际应用中,为利于一体成型式探针4于第一穿孔11中旋转,第一穿孔11可以是圆形穿孔,或者,第一穿孔11的孔径是大于一体成型式探针4的外径。如图2及图3所示,在实际应用中,在一体成型式探针4的本体41的至少一部分为矩形条状结构的实施例中,第二导板3还可以是包含多个避让孔311,多个避让孔311与多个第二穿孔31相互连通,各个避让孔311的径向宽度W6大于各个第二穿孔31的径向宽度W5,各个一体成型式探针4的一部分穿设各个避让孔311,而各个一体成型式探针4能对应于各个避让孔311中旋转。换言之,为了使一体成型式探针4能够顺畅地相对于第二导板3旋转,除了可以是加宽第二穿孔31的轴向宽度外,也可以是使第二导板3形成有多个避让孔311。

如图6及图7所示,在将一体成型式探针4安装于第一导板1及第二导板3的过程中,可以是利用外部的相关辅助构件(图未示,例如是各式垫材等),以使第二导板3与间隔框体2之间形成有间隙,如此,将可确保一体成型式探针4的旋转过程中,不会受到第二导板3的干扰。当然,若是在安装一体成型式探针4的过程中,让第二导板3与间隔框体2之间形成有间隙,则在旋转一体成型式探针4,以使两个凸出结构42不位于第二穿孔31的正下方后,还必须移除相关辅助构件,以使第二导板3向第一导板1的方向移动,并据以使两个凸出结构42对应抵靠于第二导板3面向第一导板1的一侧面3A(如图4所示)。

依上所述,如图3及图4,本实施例的探针装置100在完成组装后,各个凸出结构42是抵靠于第二导板3面对第一导板1的侧面3A,而一体成型式探针4将的活动范围将被限制在第一导板1与第二导板3之间。其中,一体成型式探针4的穿出第一穿孔11的一端可以是接触端411,其用来接触待测物(device under test,DUT);在不同的实施例中,一体成型式探针4穿出第一穿孔11的一端,也可以是固定端412,其用来固定于电路板。

如图4及图5所示,值得一提的是,间隔框体2的中心具有一穿孔21,穿孔21贯穿间隔框体2设置。当探针装置100的第一导板1、间隔框体2及第二导板3相互固定时,将第一导板1、间隔框体2及第二导板3共同形成一容置空间SP,而多个一体成型式探针4的两个凸出结构42的部分则是对应位于容置空间SP中。所述间隔框体2主要是用来使第一导板1与第二导板3彼此间隔地设置,而使各个一体成型式探针4的弹性结构43能对应于容置空间SP中弹性变形,因此,间隔框体2的外型及厚度等,可依据各个一体成型式探针4的外型来决定。

综上所述,本发明的探针装置100通过一体成型式探针4的凸出结构42、第二导板3的多个第二穿孔31等设计,相关机械手臂或人员将各个一体成型式探针4插入第一导板1及第二导板3中并旋转后,即可完成该一体成型式探针4的植针作业,而本发明的探针装置100不会存在有图1所示的公知探针装置P1,在将多个一体成型式探针P2植入底座P1后,欲将顶盖P3与底座P1相互固定时,多个一体成型式探针P2可能无法正确地穿过顶盖P3的多个顶盖穿孔P31的问题。

请一并参阅图8至图9,图8显示为本发明的探针装置的第二实施例的单一个一体成型式探针、第一导板及第二导板的局部分解示意图,图9显示为本发明的探针装置的第二实施例的局部剖面示意图。本实施例的探针装置100与前述第一实施例最大不同之处在于:第二导板3的侧面3A还形成有多组限位结构32,各组限位结构32包含两个凹槽321,各个凹槽321未贯穿第二导板3,各组限位结构32的两个凹槽321与各第二穿孔31相互连通,且与一个第二穿孔31相连通的两个凹槽321能对应容置单一个一体成型式探针4的两个凸出结构42。简单来说,第二导板3于所述侧面3A形成有为盲孔的多个凹槽321,每一个第二穿孔31与两个凹槽321相连通。

在实际应用中,本实施例的探针装置100的多个一体成型式探针4的植针流程可以是:先利用相关机构(例如可以是垫片、类似于间隔框体2的构件等),使第二导板3与间隔框体2间隔地设置,接着,使各个一体成型式探针4的本体41及两个凸出结构42穿过第二导板3的第二穿孔31后,旋转各个一体成型式探针4,以使各个一体成型式探针4的两个凸出结构42位于两个凹槽321的正下方;当每一个一体成型式探针4的两个凸出结构42都对应位于相邻的两个凹槽321的正下方时,则将原本设置于第二导板3与间隔框体2之间的相关机构移开,以使第二导板3向间隔框体2的方向移动,据以使各个一体成型式探针4的两个凸出结构42对应容置于第二导板3的两个凹槽321中;最后,使第一导板1、间隔框体2及第二导板3相互固定,据以完成所述植针作业。也就是说,本实施例的探针装置100,在完成各个一体成型式探针4的植针作业后,各个一体成型式探针4的两个凸出结构42将对应卡合于第二导板3的两个凹槽321中,而各个一体成型式探针4将难以相对于第二导板3旋转。

依上所述,通过于第二导板3的所述侧面3A形成多个凹槽321等设计,各个一体成型式探针4的两个凸出结构42可以对应卡合于两个凹槽321中,借此,各个一体成型式探针4将不易相对于第一导板1及第二导板3旋转。在实际应用中,只要各个凸出结构42能对应卡合于凹槽321中,并据以限制各个一体成型式探针4不易相对于第二导板3旋转,各个凸出结构42的外型、尺寸及各个凹槽321的外型及尺寸,皆可依据需求设置。

请一并参阅图10至图12,图10显示为本发明的探针装置的第三实施例的立体局部分解示意图,图11显示为本发明的探针装置的第三实施例的组装过程示意图,图12显示为本发明的探针装置的第三实施例的局部剖面示意图。本实施例的探针装置100与前述第一实施例最大不同之处在于:探针装置100还包含一辅助导板5。辅助导板5设置于第二导板3面对第一导板1的一侧,也就是说,辅助导板5设置于第一导板1与第二导板3之间。在实际应用中,第一导板1、间隔框体2、第二导板3及辅助导板5可以是通过螺丝相互固定,但固定方式不以此为限。

辅助导板5具有多个辅助穿孔群51。各个辅助穿孔群51包含一辅助穿孔511及两个卡合槽512,各个辅助穿孔511贯穿辅助导板5,各个卡合槽512由辅助导板5的一侧内凹形成,且各个卡合槽512面对第二导板3设置,各个辅助穿孔群51的辅助穿孔511与两个卡合槽512相互连通。

辅助导板5固定于第二导板3的一侧,且各第二穿孔31与各组辅助穿孔群51的辅助穿孔511相互连通。在实际应用中,各个第二穿孔31与各组辅助穿孔群51的辅助穿孔511可以是具有完全相同的外型及尺寸,而各个一体成型式探针4的两个凸出结构42及弹性结构43,能先后穿过各个第二穿孔31及各组辅助穿孔群51的辅助穿孔511。各组辅助穿孔群51的两个卡合槽512用以与各个一体成型式探针4的两个凸出结构42相互卡合。

本实施例的探针装置100的各个一体成型式探针4的植针作业流程可以是:先利用相关构件使第二导板3与辅助导板5之间形成间隔,而后,使各个一体成型式探针4的弹性结构43穿过第二导板3的第二穿孔31及辅助导板5的辅助穿孔511,并使两个凸出结构42穿过第二穿孔31而位于第二导板3与辅助导板5之间;接着,旋转一体成型式探针4(例如是旋转90度),以使两个凸出结构42不再位于第二穿孔31的正下方,而使两个凸出结构42位于相邻的两个卡合槽512的正上方;最后,当所有一体成型式探针4都穿设于第二导板3及辅助导板5并旋转后,则将原本设置于辅助导板5与间隔框体2之间的构件抽离,以使辅助导板5及第二导板3向间隔框体2的方向移动,而各个一体成型式探针4的两个凸出结构42将对应卡合设置于相邻的两个卡合槽512中,且第二导板3将对应抵靠于辅助导板5相反于第一导板1的一侧,如此,各个一体成型式探针4将无法轻易地被旋转。

如图10所示,值得一提的是,在第二导板3具有多个避让槽311的情况下,辅助导板5也可以是具有相对应的多个避让槽513,各个避让槽513的径向宽度大于各个辅助穿孔511的径向宽度,且各个辅助穿孔511与两个避让槽513相互连通。通过多个避让槽311、513的设计,可以让各个一体成型式探针4更容易相对于第二导板3及辅助导板5旋转。

请参阅图12,其显示为本发明的探针装置的第四实施例的局部剖面示意图。如图所示,本实施例的探针装置与前述第三实施例的最大不同之处在于:辅助导板5的多组辅助穿孔群51的卡合槽512是由辅助导板5面向第一导板1的一侧向内凹设形成,而各个一体成型式探针4在固定于第一导板1及第二导板3之间时,一体成型式探针4的两个凸出结构42是对应位于辅助导板5与第一导板1之间,且两个凸出结构42的至少一部分是对应卡合于相邻的两个卡合槽512中。本实施例在具体的应用中,各个卡合槽512也可以是贯穿辅助导板5设置。

本实施例的探针装置100的一体成型式探针4的安装流程可以是:先利用相关构件使辅助导板5与间隔框体2之间形成有间隔;接着,逐一使各个一体成型式探针4穿过第二导板3的各个第二穿孔31及辅助导板5的各个辅助穿孔511,并旋转一体成型式探针4,以使各个一体成型式探针4的两个凸出结构42对应位于相邻的两个卡合槽512的正下方;最后,抽离位于辅助导板5与间隔框体2之间的相关构件,以使辅助导板5及第二导板3一同向第一导板1的方向移动,而使各个卡合槽512与各个凸出结构42相互卡合。

特别说明的是,在实际应用中,上述各实施例所指的一体成型式探针4也可以是被单独地制造、贩卖,而各个一体成型式探针4不局限于仅可与探针装置100一同制造、贩卖。

综上所述,本发明的探针装置及一体成型式探针,通过于一体成型式探针设置两个凸出结构,于第二导板设置多个第二穿孔等设计,让探针装置可以方便地进行组装。

以上所述仅为本发明的较佳可行实施例,非因此局限本发明的专利范围,故凡运用本发明说明书及附图内容所做的等效技术变化,均包含于本发明的保护范围内。

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