具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

射频功率测试首先要求测试环境本身的射频线损得到校准。测试环境本身的射频线损校准过程中会引入各种人员操作、环境硬件不稳定等带来的误差。这种误差如果在批量设备(例如5G低频AAU设备)生产的某道工序中存在，可能造成批量故障，甚至有不良品泄漏到外场，影响设备的正常使用。

目前，对于环境校准误差精度控制的方法主要是由工程师对测试环境本身的射频线损进行抽样测试，再根据经验值设置射频线损的上下限。但是该方法对射频线损的校准误差精度的控制相对较低。

基于此，本申请实施例提供了射频线损校准方法、装置、电子设备即存储介质，能够提高射频线损的校准精度。

第一方面，本申请实施例提供了一种射频线损校准方法，应用于射频线损校准装置，通过对射频线损进行校准和计算，可以抵消测量环境固有线损，从而为判断各个线损值的可靠度提供依据，进而有效提高射频线损的校准精度。

在一些实施例中，参照图1至图4，为上述射频线损校准装置的结构示意图。该装置包括：校准信号源100，第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路、第四射频连接线路、第一频谱仪400、第二频谱仪500。

其中，第一频谱仪400通过第一射频连接线路、第二射频连接线路分别连接校准信号源100，第二频谱仪500通过第三射频连接线路、第四射频连接线路分别连接校准信号源100。

在一些实施例中，校准信号源100输出后，分别经过第一射频连接线路和第二射频连接线路发送至第一频谱仪400，或者分别经过第三射频连接线路、第四射频连接线路发送至第二频谱仪500。因此第一频谱仪400和第二频谱仪500能够根据不同射频线路发送的射频信号校准得到线损值。通过设置第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路、第四射频连接线路能够依次获取对应的线损值，以根据独立的线损值判断出线损值的校准过程是否存在问题，从而有效提高线损值的校准精度。

此处值得说明的是，上述的第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路为传输射频信号的线路。可以理解的是，射频线路可以通过多种连接方式实现。例如，参照图1，采用第一直连射频线200连接校准信号源100和第一频谱仪400，以实现第一射频连接线路。完成第一射频连接线路后，参照图2，将第一直连射频线200和校准信号源100断开连接，采用第二直连射频线300连接校准信号源100和第一频谱仪400，以实现第二射频连接线路。完成第二射频连接线路后，参照图3，将第二直连射频线300和校准信号源100断开连接，采用第一直连射频线200连接校准信号源100和第二频谱仪500，以实现第三射频连接线路。完成第四射频连接线路后，参照图4，将第一直连射频线200和校准信号源100断开连接，将第二直连射频线300连接校准信号源100和第二频谱仪500，以实现第四射频连接线路。或通过射频开关进行切换形成四条射频线路。

在一些实施例中，参照图5，为本申请一实施例提供的射频线损校准方法的流程示意图。该方法包括：

S100、获取第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值；其中，第一线损值由第一射频连接线路连接至第一频谱仪校准得到，第二线损值由第二射频连接线路连接至第一频谱仪校准得到；第三线损值由第一射频连接线路连接至第二频谱仪校准得到，第四线损值由第二射频连接线路连接至第二频谱仪校准得到；

S200、对第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值进行相关计算，以抵消固有线损；

S300、根据计算结果，确定第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值中的至少一项为射频线损值。

第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路用于传输来自校准信号源的射频信号到不同的频谱仪，频谱仪根据接收到的射频信号校准得到多个线损值。其中，射频线路和频谱仪构成射频线损的测试环境，通过对上述多个线损值进行相关计算，可以抵消射频线路和频谱仪的固有线损，即抵消测试环境的固有线损。由于计算过程抵消了测试环境的固有线损，若计算结果符合要求，则射频线损的校准精度符合要求；若计算结果不符合要求，则校准过程异常，从而为判断各个线损值的可靠度提供依据。若计算结果符合要求，最终确定其中一个线损值即为射频线损值，进而有效提高了射频线损的校准精度。

为了便于描述本实施例的方案，以校准得到四个线损值为例，分别为第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B。

第一线损值1A由第一射频连接线路连接至第一频谱仪校准得到；

第二线损值2A由第二射频连接线路连接至第一频谱仪校准得到；

第三线损值1B由第三射频连接线路连接至第二频谱仪校准得到；

第四线损值2B由第四射频连接线路连接至第二频谱仪校准得到。

在一些实施例中，参照图6，步骤S100包括：

S110、利用矩阵开关切换以建立第一射频连接线路，获取第一频谱仪校准得到的第一线损值；

S120、利用矩阵开关切换以建立第二射频连接线路，获取第一频谱仪校准得到的第二线损值；

S130、利用矩阵开关切换以建立第三射频连接线路，获取第二频谱仪校准得到的第三线损值；

S140、利用矩阵开关切换以建立第四射频连接线路，获取第二频谱仪校准得到的第四线损值。

在一些实施例中，矩阵开关是一种开关，且该开关具有一个或多个输入端口、一个或多个输出端口，通过多个输入端口到多个输出端口之间的各种互连实现不同射频线路的切换。利用矩阵开关进行切换，分别建立第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路，分别获取第一频谱仪校准得到的第一线损值1A、第一频谱仪校准得到的第二线损值2A、第二频谱仪校准得到的第三线损值1B和第二频谱仪校准得到的第四线损值2B。

可以理解的是，矩阵开关只是其中一种实施方式。矩阵开关也可以采用其他接线方式或开关代替，例如采用两条射频线进行四次接线，以建立四条射频通路；再例如可以采用单刀双掷开关、多刀多掷开关、级联开关、树形开关或旋转转换开关等代替矩阵开关。

在一些实施例中，校准信号源和矩阵开关之间设有第一射频连接线，校准信号源和矩阵开关之间设有第二射频连接线，矩阵开关和第一频谱仪之间设有第三射频连接线，矩阵开关和第二频谱仪之间设有第四射频连接线。通过矩阵开关将第一射频连接线和第三射频连接线连通建立第一射频连接线路，第二射频连接线和第三射频连接线连通建立第二射频连接线路，第一射频连接线和第四射频连接线连通建立第三射频连接线路，第二射频连接线和第四射频连接线连通建立第四射频连接线路。具体示例可参照下列说明。通过矩阵开关即可实现不同射频线路的切换，使射频线路切换简易。

在一些实施例中，步骤S100还包括：

按照预设顺序校准得到第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值，使得第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值中的任一线损值均为独立的校准操作过程校准得到的。

在一些实施例中，第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值对应的校准操作过程需要独立，以确保第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值中的随机误差都是独立的，从而使得第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值中的随机误差在后面的计算中不会被抵消。例如，如果按照第一线损值1A、第三线损值1B、第二线损值2A、第四线损值2B的顺序进行校准，则在校准第一线损值1A、第三线损值1B的过程中可能因为没有重新连接射频线，只是软件控制矩阵开关进行了内部切换，那么校准第一射频连接线路和第三射频连接线路得到的2个线损值(第一线损值1A、第三线损值1B)的随机误差就不独立(2次线损校准过程只有同一次连线操作)，2个线损值不独立的随机误差可能在后面的计算中会被抵消，从而影响线损值的校准精度。因此，4次校准操作过程需要独立。

在一些实施例中，可通过预设顺序来确保4次校准操作过程独立。

预设顺序包括：

第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B；或

第一线损值1A、第四线损值2B、第三线损值1B、第二线损值2A；或，

第二线损值2A、第一线损值1A、第四线损值2B、第三线损值1B；或，

第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B、第一线损值1A；或，

第三线损值1B、第二线损值2A、第一线损值1A、第四线损值2B；或，

第三线损值1B、第四线损值2B、第一线损值1A、第二线损值2A；或，

第四线损值2B、第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B；或，

第四线损值2B、第三线损值1B、第二线损值2A、第一线损值1A。

此处值得说明的是，上述的预设顺序设计好后，将其加入至计算模块的校准控制程序和/或矩阵开关的控制程序中，通过软件程序控制校准进程和/或矩阵开关按照上述预设顺序进行切换，例如第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B(先利用第一频谱仪依次校准第一直连射频线，再校准第二直连射频线，再利用第二频谱仪校准第一直连射频线，再校准第二直连射频线)，按照这种交错顺序确保了4次线损校准的操作独立(每次校准均需要进行射频线的重新连接)，进而保证每次测量的随机误差独立，使得随机误差在后面的计算中不会被抵消，被抵消的只有测量环境的固有线损。

以预设顺序为第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B为例，对校准线路的切换过程进行说明：参照图14，第一次校准时，第一射频连接线800一端连接校准信号源100，另一端连接第一射频输入端710，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400，再通过矩阵开关700的内部切换连通第一射频输入端710和第一射频输出端730，以实现第一射频连接线路，校准得到第一线损值1A，上传至计算模块600。参照图15，第二次校准时，第二射频连接线900一端连接校准信号源100，另一端连接第二射频输入端720，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400，再通过矩阵开关700的内部切换连通第二射频输入端720和第一射频输出端730，以实现第二射频连接线路，校准得到第二线损值2A，上传至计算模块600。参照图16，第三次校准时，第一射频连接线800一端连接校准信号源100，另一端连接第一射频输入端710；第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500，再通过矩阵开关700的内部切换连通第一射频输入端710和第二射频输出端740，以实现第三射频连接线路，校准得到第三线损值1B，上传至计算模块600。参照图17，第四次校准时，第二射频连接线900一端连接校准信号源100，另一端连接第二射频输入端720；第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500，再通过矩阵开关700的内部切换连通第二射频输入端720和第二射频输出端740，以实现第四射频连接线路，校准得到第四线损值2B，上传至计算模块600。计算模块600判断获取的线损值的顺序是否为第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B，若是，则执行步骤S200对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B进行相关计算，可实现确保4次校准操作过程独立的效果。

对于其他预设顺序，校准线路的切换过程同理，此处不再赘述。

在一些实施例中，参照图7，步骤S200包括：

S210、计算第一线损值和第三线损值的差值，得到第一差值；

S220、计算第二线损值和第四线损值的差值，得到第二差值；

S230、计算第一差值和第二差值的差值，得到第三差值。

计算第一线损值1A和第三线损值1B的差值，得到第一差值delta1，delta1＝1A-1B，delta1表示校准信号源连接至第一频谱仪和第二频谱仪的线损值差异。计算第二线损值2A和第四线损值2B的差值，得到第二差值delta2，delta2＝2A-2B，delta2表示校准信号源连接至第一频谱仪和第二频谱仪的线损值差异。计算第一差值delta1和第二差值delta2的差值，得到第三差值delta3，delta3＝delta2-delta1，delta3表示校准信号源在2台频谱仪的误差是否一致，目的是通过2台频谱仪误差是否一致间接判断射频线路的线损值校准过程是否正常。根据第一差值delta1、第二差值delta2和第三差值delta3的计算可以知道，第一差值delta1和相第二差值delta2当于不同频谱仪测量线损值产生的差异，而第三差值delta3相当于判断第一差值delta1和第二差值delta2之间是否存差异。通过计算频谱仪产生的差值后，再计算校准信号源在2台频谱仪的误差是否一致，采用两步计算来判断线线损值校准是否正常，提高了线损值校准的精度。

在一些实施例中，分别对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B做如下定义：

1A＝SA+△SA(1)+LA+△LA(1)+RF1+△RF1(1)+L1+△L1(1) (1)

2A＝SA+△SA(2)+LA+△LA(2)+RF1+△RF1(2)+L2+△L2(1) (2)

1B＝SB+△SB(1)+LB+△LB(1)+RF2+△RF2(1)+L1+△L1(2) (3)

2B＝SB+△SB(2)+LB+△LB(2)+RF2+△RF2(2)+L2+△L2(2) (4)

其中，SA为第一频谱仪的系统误差，△SA(1)、△SA(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第一频谱仪的随机误差，SB为第二频谱仪的系统误差，△SB(1)、△SB(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二频谱仪的随机误差，LA分别为第三射频连接线的系统误差，△LA(1)、△LA(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第三射频连接线的随机误差，LB为第四射频连接线的系统误差，△LB(1)、△LB(2)分别第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第四射频连接线的随机误差，RF1为矩阵开关内第一开关RFin1的系统误差，△RF1(1)、△RF1(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第一开关RFin1的随机误差，RF2为矩阵开关内第二开关RFin2的系统误差，△RF2(1)、△RF2(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二开关RFin1的随机误差，L1为第一射频连接线的系统误差，L2为第二射频连接线的系统误差，△L1(1)为第一射频连接线连接至第一频谱仪时第一射频连接线的随机误差，△L2(1)为第二射频连接线连接至第一频谱仪时第二射频连接线的随机误差，△L1(2)为第一射频连接线连接至第二频谱仪时第一射频连接线的随机误差，△L2(2)为第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二射频连接线的随机误差。

其中，矩阵开关内包括第一开关RFin1和第二开关RFin2。第一开关RFin1用于切换第一射频连接线、第二射频连接线连接通过第三射频连接线连接至第一频谱仪，校准得到第一线损值1A和第二线损值2A。第二开关RFin2用于切换第一射频连接线、第二射频连接线通过第四射频连接线连接至第二频谱仪，校准得到第三线损值1B和第四线损值2B。

可以理解的是，若射频线路只包括第一射频连接线和第二射频连接线，不包括矩阵开关、第三射频连接线和第四射频连接线，则公式(1)至(4)中不包括LA、LB、△LA、△LB、RF1、RF2、△RF1和△RF2分量。

根据公式(1)至(4)，可得：

delta1＝1A-1B＝SA-SB+△SA(1)-△SB(1)+LA-LB+△LA(1)-△LB(1)+RF1-RF2+△RF1(1)-△RF2(1)+△L1(1)-△L1(2) (5)

delta2＝2A-2B＝SA-SB+△SA(2)-△SB(2)+LA-LB+△LA(2)-△LB(2)+RF1-RF2+△RF1(2)-△RF2(2)+△L2(1)-△L2(2) (6)

根据公式(5)和(6)，可得：

delta3＝delta2-delta1＝[△SA(1)-△SB(1)]-[△SA(2)-△SB(2)]+[△LA(1)-△LB(1)]-[△LA(2)-△LB(2)]+[△RF1(1)-△RF2(1)]-[△RF1(2)-△RF2(2)]+[△L1(1)-△L1(2)]-[△L2(1)-△L2(2)] (7)

从公式(7)中可以看出，所有系统误差(固有线损)最终都被抵消，delta3只和校准过程中的随机误差有关。可以理解的是，在测试系统理想的情况下，所有的随机误差都可以忽略，所以理论上delta3等于0，一般会允许delta3有一个小范围的误差，即第一预设范围-0.3dB～0.3dB。但在实际测试中，测试系统无法保证每次的校准过程都是理想的，总会出现一些随机误差异常(偏大)的情况，任何一个随机误差偏大，都会导致delta3超出第一预设范围-0.3dB～0.3dB。因此，通过判断delta3是否超出第一预设范围，可以为判断各个线损值的可靠度提供依据，进而有效提高射频线损的校准精度。

在一些实施例中，可以理解的是，对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的相关计算可以是但不限于加、减、乘、除、平方、开方、加权等运算，目的为了抵消固有线损，使计算结果只和校准过程中的随机误差有关。例如，相关运算可采用减法运算得到第三差值delta3，目的是抵消固有线损，使第三差值delta3只和校准过程中的随机误差有关。因此，第三差值delta3的计算方式不限于上述这一种计算方式，只要能抵消固有线损即可。例如：计算第一差值delta1和第二差值delta2时，可定义第一差值delta1＝1A-2A，第二差值delta2＝1B-2B，则第三差值delta3＝delta1-delta2＝(1A-2A)-(1B-2B)＝(1A-1B)-(2A-2B)＝[△SA(1)-△SB(1)]-[△SA(2)-△SB(2)]+[△LA(1)-△LB(1)]-[△LA(2)-△LB(2)]+[△RF1(1)-△RF2(1)]-[△RF1(2)-△RF2(2)]+[△L1(1)-△L1(2)]-[△L2(1)-△L2(2)]，可以看出该计算结果和上述计算结果一样。此计算方式与上述计算方式的区别仅在于第一差值delta1和第二差值delta2的计算公式，但是对于第三差值delta3的计算公式无影响。

在一些实施例中，参照图8，步骤S210包括：

S211、计算第一线损值和第三线损值的差值；

S212、判断第一线损值和第三线损值的差值是否在第二预设范围内，若是，执行S213，否则停止计算或重新计算；

S213、确定第一线损值和第三线损值的差值为第一差值。

计算第一线损值1A和第三线损值1B的差值，判断第一线损值1A和第三线损值1B的差值是否在第二预设范围内，若在第二预设范围内，则计算过程正常，确定第一线损值1A和第三线损值1B的差值为第一差值delta1。若不在第二预设范围内，则计算过程可能出现异常，需要停止计算或重新计算。必要时，需要停止测试或重新测试线损值。

判断第一线损值1A和第三线损值1B的差值是否在第二预设范围，若第一线损值1A和第三线损值1B的差值未在第二预设范围内，则证明不同频谱仪测量的第一线损值1A和第三线损值1B明显异常，直接检查频谱仪和校准信号源之间的连接。若第一线损值1A和第三线损值1B在第二预设范围内，则证明不同频谱仪测量的线损值符合误差允许范围内，未出现明显的异常情况。因此，通过判断第一线损值1A和第三线损值1B的差值是否在第二预设范围，能够将明显的异常情况排除掉，使线损值校准更加精确。

在一些实施例中，参照图9，步骤S220包括：

S221、计算第二线损值和第四线损值的差值；

S222、判断第二线损值和第四线损值的差值是否在第三预设范围内，若是，执行S223，否则停止测试或重新测试；

S223、确定第二线损值和第四线损值的差值为第二差值。

计算第二线损值2A和第四线损值2B的差值，判断第二线损值2A和第四线损值2B的差值是否在第三预设范围内，若在第三预设范围内，则计算过程正常，确定第二线损值2A和第四线损值2B的差值为第二差值delta2。若不在第三预设范围内，则计算过程可能出现异常，需要停止计算或重新计算。必要时，需要停止测试或重新测试线损值。

判断第二线损值2A和第四线损值2B的差值是否在第三预设范围内，若第二线损值2A和第四线损值2B的差值未在第三预设范围内，则证明不同频谱仪测量的第二线损值2A和第四线损值2B明显异常，无需再进行线损值校准，直接检查频谱仪和校准信号源之间的连接。若第二线损值2A和第四线损值2B的差值在第三预设范围内，则证明测量第二线损值2A和第四线损值2B符合误差允许的范围，可以进行下一步计算。因此，通过判断第二线损值2A和第四线损值2B的差值是否在第三预设范围内，能够将出现明显的异常情况排除掉，提高线损值的校准精确。

在一些实施例中，第二预设范围和第三预设范围均为-0.5dB～0.5dB。可以理解的是，根据实际要求可对第二预设范围和第三预设范围进行调整，第二预设范围和第三预设范围可以相等，也可以不相等。

在一些实施例中，参照图10，步骤S300包括：

S310、判断第三差值是否在第一预设范围内，若是则执行S320；否则停止测试或重新测试；

S320、确定第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值中的至少一项为射频线损值。

判断第三差值delta3是否在第一预设范围内，若在第一预设范围内，则确定第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B中的至少一项为射频线损值。即：若第三差值delta3在第三预设范围内，则第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的校准精度满足要求，校准过程正常；若第三差值delta3不在第三预设范围内，则校准过程中出现了较大的误差，需要停止测试或重新测试。

此处值得说明的是，由于实际测试中最有可能出现问题的是射频线(的接线问题)，因此若第三差值delta3不在第三预设范围内，需要重新测试的时候可优先考虑检查射频线(的接线问题)，以缩短工作人员的检查时间，提高检查效率。

在一些实施例中，第一预设范围为-0.3dB～0.3dB。可以理解的是，根据实际要求可对第一预设范围进行调整。

在一些实施例中，参照图11，步骤S200之前，还包括：

S400、判断第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值是否均在第四预设范围内；若是，执行S500，否则停止测试或重新测试；

S500、执行对第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值进行相关计算。

判断第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B是否均在第四预设范围内，若均在第四预设范围内，则初步判断第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的校准过程正常，对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B进行相关计算；若有一个线损值(例如第一线损值1A)不在第四预设范围内，则初步判断第一线损值1A的校准过程明显异常，需要停止测试或重新测试第一线损值1A。

在一些实施例中，参照图12，射频线损校准方法还包括：

S600、使用第一线损值和第四线损值对待测设备进行射频功率测试，得到第一测试功率；

S700、使用第二线损值和第三线损值对待测设备进行射频功率测试，得到第二测试功率；

S800、对比第一测试功率和第二测试功率；

S900、根据对比结果，判断第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值的校准精度。

在一些实施例中，待测设备具有第一射频通道和第二射频通道。步骤S600中，使用第一线损值和第四线损值对待测设备进行射频功率测试，具体是指利用第一射频连接线路分别连接待测设备的第一射频通道和第一频谱仪，利用第四射频连接线路分别连接待测设备的第二射频通道和第二频谱仪，进行射频功率测试，此时，第一频谱仪和第二频谱仪测试得到的功率之和为第一测试功率。步骤S700中，使用第二线损值和第三线损值对待测设备进行射频功率测试，具体是指利用第二射频连接线路分别连接待测设备的第一射频通道和第一频谱仪，利用第三射频连接线路分别连接待测设备的第二射频通道和第二频谱仪，进行射频功率测试，此时，第一频谱仪和第二频谱仪测试得到的功率之和为第二测试功率。从公式(1)至(4)可以看出，第一线损值1A与第四线损值2B之和，第二线损值2A与第三线损值1B之和，两者是相等的，则使用第一线损值1A和第四线损值2B对待测设备进行射频功率测试，使用第二线损值2A和第三线损值1B进行射频功率测试，得到的两个测试功率(第一测试功率和第二测试功率)理论上是相等的。本实施例通过交叉调用四个线损值，对待测设备进行射频功率测试，通过对比两个测试功率，可以进一步判断第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的校准精度。即若两个测试功率相等，则线损值的校准精度满足要求。

在一些实施例中，第一射频通道和第二射频通道均为下列任一设备的射频通道：AAU设备(Active Antenna Unit，有源天线单元设备)、RRU设备(Remote Radio Unit，遥控发射单元)和AFU设备(Antenna Filter Unit，天线滤波器单元设备)等。

上述待测设备通常设置有多个射频通道，用于发射多个射频信号，因此对于射频线损的校准精度要求更高。以待测设备为AAU设备为例，将多个工装板(或其他信号连接件)与AAU设备的多个射频通道一一对应连接，射频信号经过工装板传输至射频线路，再经过射频线路传输至频谱仪，频谱仪根据接收到的射频信号测量得到射频线损。可以理解的是，本实施例仅以两条射频通道为例进行说明，若需要设置多条射频通道，则对应设置多个工装板，多条射频通道分别连接至第一频谱仪和第二频谱仪，对射频线损进行校准和计算。校准和计算的过程与设置两条射频通道时的过程同理，此处不再赘述。

在一些实施例中，射频通道设置有多个，采用2个工装板分别连接两个射频通道，通过2台频谱仪测量该两个射频通道到频谱仪之间的线损值后，将线损值进行校准。校准两个射频通道后，然后移动2个工装板连接另外两个射频通道，以校准另外2个射频通道到2台频谱仪之间的线损值。因此通过2块工装板和2台频谱仪的方式并行测试两个射频通道，提高了测试效率。在其他实施例中，射频通道设置多个，且工装板和频谱仪对应设置多个，同时启动多台频谱仪，同时校准每一个射频通道到频谱仪的线损值，提高了线损值的校准效率。

在一些实施例中，射频信号设置有频点，参照图13，射频线损校准方法还包括：

S1000、对各个频点的射频信号分别执行步骤S100至S300，获取对应于各个频点的多个第三差值；其中，第三差值由第一频谱仪和第二频谱仪分别测试来自第一射频通道和第二射频通道传输当前频点的射频信号，并通过执行步骤S100至S300计算得到；

S1100、发送多个第三差值至打印设备进行打印。

通过软件设置不同的频点，待测设备依次发射这些不同频点的射频信号，通过校准信号源传输这些不同频点的射频信号，通过执行步骤S100至S300分别获取每个频点下的第三差值，得到多个第三差值。软件发送该多个第三差值至打印设备进行打印。打印结果如下：

[11:40:02]频谱仪误差:频点2550.00MHz误差：0.03db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2560.00MHz误差：0.00db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2570.00MHz误差：0.02db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2580.00MHz误差：0.01db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2590.00MHz误差：0.03db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2600.00MHz误差：0.00db门限[0，0.30]。

其中，11:40:02为打印时间，频点为待测设备发射的射频信号的频点，误差为对应频点下的第三差值，门限为第一预设范围(-0.3dB～0.3dB)的绝对值(0～0.3dB)。

在一些实施例中，打印设备可以采用打印机实现。另外，也可以发送该多个第三差值至显示设备进行显示。显示设备可以采用显示屏实现。

将不同频点下的第三差值打印或显示出来，方便工作人员查看，及时掌握校准过程的线损值误差。

根据上述打印结果可以得知，频点在2550.00MHz-2600.00MHz的第三差值皆在第一预设范围内，因此在该频点内测量得到的第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B满足线损值的精度要求，因此该频点内测量的第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B可以作为计算射频功率的线损值。

若某一频点下的第三差值超出门限[0，0.30]，还可以在该条信息后加上“校准失败”的文字，以提醒工作人员及时检查测试环境，如上所述，可优先考虑检查射频线(的接线问题)。

在一些实施例中，射频线损校准方法可采用工控机实现，也可以采用控制器、处理器等其他具有数据处理功能的设备实现，本发明实施方案不作具体限定。以射频线损校准方法采用工控机实现为例，将上述相关计算的原理利用python编程(或其他编程方式，例如java、C或C++)，实现在工控机的后台测试软件中，通过软件提示工作人员进行校准操作。在射频线损校准过程中，通过软件提示工作人员校准成功或失败(也可以只提示校准失败)，使得工作人员及时对校准环境进行检查，保障射频线损校准精度满足要求。

第三方面，本申请实施例提供了一种射频线损校准装置。参照图14至图17，为本申请一实施例提供的射频线损校准装置的结构示意图。该装置包括：

第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路、第四射频连接线路；

第一频谱仪400，第一频谱仪400用于通过第一射频连接线路校准得到第一线损值1A，第一频谱仪400还用于通过第二射频连接线路校准得到第二线损值2A；

第二频谱仪500，第二频谱仪500用于通过第三射频连接线路校准得到第三线损值1B，第二频谱仪500还用于通过第四射频连接线路校准得到第四线损值2B；

计算模块600，计算模块600分别与第一频谱仪400和第二频谱仪500连接，计算模块600用于对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B进行相关计算，以抵消固有线损，并根据计算结果，确定第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B中的至少一项为射频线损值。

第一频谱仪400测试第一线损值1A和第二线损值2A，第二频谱仪500测试第三线损值1B和第四线损值2B，然后计算模块600通过与第一频谱仪400和第二频谱仪500连接即可获取第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B，且针对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B进行相关计算，消除固有线损，以校准第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B，提高了线损值的校准精度。

在一些实施例中，计算模块600的功能可采用工控机实现，也可以采用控制器、处理器等其他具有数据处理功能的设备实现，本发明实施方案不作具体限定。以计算模块600采用工控机实现为例，将上述相关计算的原理利用python编程(或其他编程方式，例如java、C或C++)，实现在工控机的后台测试软件中，通过软件提示工作人员进行校准操作。在射频线损校准过程中，通过软件提示工作人员校准成功或失败(也可以只提示校准失败)，使得工作人员及时对校准环境进行检查，保障射频线损校准精度满足要求。

在一些实施例中，第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B需按照预设顺序进行获取，且第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B均为独立的校准操作过程校准得到的。预设顺序包括：

第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B；或，

第一线损值1A、第四线损值2B、第三线损值1B、第二线损值2A；或，

第二线损值2A、第一线损值1A、第四线损值2B、第三线损值1B；或，

第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B、第一线损值1A；或，

第三线损值1B、第二线损值2A、第一线损值1A、第四线损值2B；或，

第三线损值1B、第四线损值2B、第一线损值1A、第二线损值2A；或，

第四线损值2B、第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B；或，

第四线损值2B、第三线损值1B、第二线损值2A、第一线损值1A。

此处值得说明的是，上述的预设顺序设计好后，将其加入至计算模块的校准控制程序和/或矩阵开关的控制程序中，通过软件程序控制校准进程和/或矩阵开关按照上述预设顺序进行切换，例如第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B(先利用第一频谱仪400依次校准第一直连射频线200，再校准第二直连射频线300，再利用第二频谱仪依次500校准第一直连射频线200，再校准第二直连射频线300)，按照这种交错顺序确保了4次线损校准的操作独立(每次校准均需要进行射频线的重新连接)，进而保证每次测量的随机误差独立，不会在相关计算的过程中被抵消，被抵消的只有测量环境的固有线损。

以预设顺序为第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B为例，对校准线路的切换过程进行说明：则按照图1至图4的接线顺序，依次校准得到第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B、第四线损值2B。具体地，取第一直连射频线200，如图1所示，将第一直连射频线200的一端连接校准信号源100，另一端连接第一频谱仪400，建立第一射频连接线路，校准得到第一线损值1A。将第一直连射频线200取下，取第二直连射频线300，如图2所示，将第二直连射频线300的一端连接校准信号源100，另一端连接第一频谱仪400，建立第二射频连接线路，校准得到第二线损值2A。将第二直连射频线300取下，如图3所示，将第一直连射频线200的一端连接校准信号源100，另一端连接第二频谱仪500，建立第三射频连接线路，校准得到第三线损值1B。将第一直连射频线200取下，如图4所示，将第二直连射频线300的一端连接校准信号源100，另一端连接第二频谱仪500，建立第四射频连接线路，校准得到第四线损值2B。

在一些实施例中，参照图14至图17，射频线损校准装置还包括：

矩阵开关700，矩阵开关700包括：

第一射频输入端710，用于连接校准信号源100；

第二射频输入端720，用于连接校准信号源100；

第一射频输出端730，用于连接第一频谱仪400；

第二射频输出端740，用于连接第二频谱仪500；

矩阵开关700用于通过切换建立第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路。

通过矩阵开关700切换建立第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路，防止人工切换射频线路产生多余的误差，因此采用矩阵开关700进行切换，即操作简易，且保证了计算精度。

矩阵开关700只是其中一种实施方式。矩阵开关700也可以采用其他接线方式或开关代替，例如两条射频线交错连接射频通道和频谱仪之间，以建立四条射频通路；再例如可以采用单刀双掷开关、多刀多掷开关、级联开关、树形开关或旋转转换开关等代替矩阵开关700。

参考图14至图17，在一些实施例中，校准信号源100和矩阵开关700之间连接有第一射频连接线800，校准信号源100和矩阵开关700之间连接有第二射频连接线900，矩阵开关700和第一频谱仪400之间连接有第三射频连接线1000，矩阵开关700和第二频谱仪500之间连接有第四射频连接线1100。通过矩阵开关700控制使第一射频连接线800和第三射频连接线1000连接以形成第一射频连接线路，第二射频连接线900和第三射频连接线1000连接以形成第二射频连接线路，第二射频连接线900和第三射频连接线1000连接以形成第三射频连接线路，第二射频连接线900和第四射频连接线1100连接以形成第四射频连接线路。因此，通过矩阵开关700实现第一射频连接线路、第二射频连接线路、第三射频连接线路和第四射频连接线路的操作简易。

第一射频连接线路为第一射频连接线800连接第一射频输入端710，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400形成的射频线路；

第二射频连接线路为第二射频连接线900连接第二射频输入端720，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400形成的射频线路；

第三射频连接线路为第一射频连接线800连接第一射频输入端710，第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500形成的射频线路；

第四射频连接线路为第二射频连接线900连接第二射频输入端720，第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500形成的射频线路。

下面参考图14至图18，以一个具体的实施例详细描述本实施例的方案。值得理解的是，下述描述仅是示例性说明，而不是对本实施例的具体限制。

参照图14，第一次开始校准时，第一射频连接线800一端连接校准信号源100，另一端连接第一射频输入端710，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400，再通过矩阵开关700的内部切换连通第一射频输入端710和第一射频输出端730，以实现第一射频连接线路，校准得到第一线损值1A。参照图15，第二次校准时，第二射频连接线900一端连接校准信号源100，另一端连接第二射频输入端720，第一射频输出端730通过第三射频连接线1000连接第一频谱仪400，再通过矩阵开关700的内部切换连通第二射频输入端720和第一射频输出端730，以实现第二射频连接线路，校准得到第二线损值2A。参照图16，第三校准时，第一射频连接线800一端连接校准信号源100，另一端连接第一射频输入端710；第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500，再通过矩阵开关700的内部切换连通第一射频输入端710和第二射频输出端740，以实现第三射频连接线路，校准得到第三线损值1B。参照图17，第四次校准时，第二射频连接线900一端连接校准信号源100，另一端连接第二射频输入端720；第二射频输出端740通过第四射频连接线1100连接第二频谱仪500，再通过矩阵开关700的内部切换连通第二射频输入端720和第二射频输出端740，以实现第四射频连接线路，校准得到第四线损值2B。因此，计算模块600连接第一频谱仪400和第二频谱仪500即可获得第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B，且对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B进行校准，从而提高线损值的校准精度。

分别对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B做如下定义：

1A＝SA+△SA(1)+LA+△LA(1)+RF1+△RF1(1)+L1+△L1(1) (1)

2A＝SA+△SA(2)+LA+△LA(2)+RF1+△RF1(2)+L2+△L2(1) (2)

1B＝SB+△SB(1)+LB+△LB(1)+RF2+△RF2(1)+L1+△L1(2) (3)

2B＝SB+△SB(2)+LB+△LB(2)+RF2+△RF2(2)+L2+△L2(2) (4)

其中，SA为第一频谱仪的系统误差，△SA(1)、△SA(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第一频谱仪的随机误差，SB为第二频谱仪的系统误差，△SB(1)、△SB(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二频谱仪的随机误差，LA分别为第三射频连接线的系统误差，△LA(1)、△LA(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第三射频连接线的随机误差，LB为第四射频连接线的系统误差，△LB(1)、△LB(2)分别第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第四射频连接线的随机误差，RF1为矩阵开关内第一开关RFin1的系统误差，△RF1(1)、△RF1(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第一频谱仪时第一开关RFin1的随机误差，RF2为矩阵开关内第二开关RFin2的系统误差，△RF2(1)、△RF2(2)分别为第一射频连接线、第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二开关RFin1的随机误差，L1为第一射频连接线的系统误差，L2为第二射频连接线的系统误差，△L1(1)为第一射频连接线连接至第一频谱仪时第一射频连接线的随机误差，△L2(1)为第二射频连接线连接至第一频谱仪时第二射频连接线的随机误差，△L1(2)为第一射频连接线连接至第二频谱仪时第一射频连接线的随机误差，△L2(2)为第二射频连接线连接至第二频谱仪时第二射频连接线的随机误差。

其中，矩阵开关内包括第一开关RFin1和第二开关RFin2。第一开关RFin1用于切换第一射频连接线、第二射频连接线通过第三射频连接线连接至第一频谱仪，校准得到第一线损值1A和第二线损值2A。第二开关RFin2用于切换第一射频连接线、第二射频连接线通过第四射频连接线连接至第二频谱仪，校准得到第三线损值1B和第四线损值2B。

可以理解的是，若射频线损校准装置不包括矩阵开关、第三射频连接线和第四射频连接线，则公式(1)至(4)中不包括LA、LB、△LA、△LB、RF1、RF2、△RF1和△RF2分量。

根据公式(1)至(4)，可得：

delta1＝1A-1B＝SA-SB+△SA(1)-△SB(1)+LA-LB+△LA(1)-△LB(1)+RF1-RF2+△RF1(1)-△RF2(1)+△L1(1)-△L1(2) (5)

delta2＝2A-2B＝SA-SB+△SA(2)-△SB(2)+LA-LB+△LA(2)-△LB(2)+RF1-RF2+△RF1(2)-△RF2(2)+△L2(1)-△L2(2) (6)

根据公式(5)和(6)，可得：

delta3＝delta2-delta1＝[△SA(1)-△SB(1)]-[△SA(2)-△SB(2)]+[△LA(1)-△LB(1)]-[△LA(2)-△LB(2)]+[△RF1(1)-△RF2(1)]-[△RF1(2)-△RF2(2)]+[△L1(1)-△L1(2)]-[△L2(1)-△L2(2)] (7)

从公式(7)中可以看出，所有系统误差(固有线损)最终都被抵消，delta3只和校准过程中的随机误差有关。可以理解的是，在测试系统理想的情况下，所有的随机误差都可以忽略，所以理论上delta3等于0，一般会允许delta3有一个小范围的误差，即第一预设范围-0.3dB～0.3dB。但在实际测试中，测试系统无法保证每次的校准过程都是理想的，总会出现一些随机误差异常(偏大)的情况，任何一个随机误差偏大，都会导致delta3超出第一预设范围-0.3dB～0.3dB。因此，通过判断delta3是否超出第一预设范围，可以为判断各个线损值的可靠度提供依据，进而有效提高射频线损的校准精度。

在一些实施例中，可以理解的是，对第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的相关计算可以是但不限于加、减、乘、除、平方、开方、加权等运算，目的为了抵消固有线损，使计算结果只和校准过程中的随机误差有关。例如，相关运算可采用减法运算得到第三差值delta3，目的是抵消固有线损，使第三差值delta3只和校准过程中的随机误差有关。因此，第三差值delta3的计算方式不限于上述这一种计算方式，只要能抵消固有线损即可。例如：计算第一差值delta1和第二差值delta2时，可定义第一差值delta1＝1A-2A，第二差值delta2＝1B-2B，则第三差值delta3＝delta1-delta2＝(1A-2A)-(1B-2B)＝(1A-1B)-(2A-2B)＝[△SA(1)-△SB(1)]-[△SA(2)-△SB(2)]+[△LA(1)-△LB(1)]-[△LA(2)-△LB(2)]+[△RF1(1)-△RF2(1)]-[△RF1(2)-△RF2(2)]+[△L1(1)-△L1(2)]-[△L2(1)-△L2(2)]，可以看出该计算结果和上述计算结果一样。此计算方式与上述计算方式的区别仅在于第一差值delta1和第二差值delta2的计算公式，但是对于第三差值delta3的计算公式无影响。

在一些实施例中，参照图18，该装置还包括：待测设备1200，待测设备1200的射频信号通过射频通道输出，且待测设备1200上设有多条射频通道，以便于通过多条射频通道将射频信号输出。

在一些实施例中，参照图19，待测设备1200具有第一射频通道1210和第二射频通道1220。利用第一射频连接线路分别连接待测设备1200的第一射频通道1210和第一频谱仪400，利用第四射频连接线路分别连接待测设备1200的第二射频通道1220和第二频谱仪500，进行射频功率测试，此时，第一频谱仪400和第二频谱仪500测试得到的功率之和为第一测试功率。第二射频连接线路分别连接待测设备1200的第一射频通道1210和第一频谱仪400，利用第三射频连接线路分别连接待测设备1200的第二射频通道1220和第二频谱仪500。进行射频功率测试，此时，第一频谱仪400和第二频谱仪500测试得到的功率之和为第二测试功率。从公式(1)至(4)可以看出，第一线损值1A与第四线损值2B之和，第二线损值2A与第三线损值1B之和，两者是相等的，则使用第一线损值1A和第四线损值2B对待测设备进行射频功率测试，使用第二线损值2A和第三线损值1B进行射频功率测试，得到的两个测试功率(第一测试功率和第二测试功率)理论上是相等的。本实施例通过交叉调用四个线损值，对待测设备进行射频功率测试，通过对比两个测试功率，可以进一步判断第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B的校准精度。即若两个测试功率相等，则线损值的校准精度满足要求。

在一些实施例中，第一射频通道1210和第二射频通道1220通过下列任一设备的射频通道输出的信号源：AAU设备、RRU设备和AFU设备等。

其中，AAU设备为有源天线单元设备，RRU设备为远端射频单元设备，AFU设备为天线滤波器单元设备。上述待测设备通常设置有多个射频通道，用于发射多个射频信号，因此对于射频线损的校准精度要求更高。以待测设备1200为AAU设备为例，将多个工装板(或其他信号连接件)与AAU设备的多个射频通道一一对应连接，射频信号经过工装板传输至射频线路，再经过射频线路传输至频谱仪，频谱仪根据接收到的射频信号测量得到射频线损。可以理解的是，本实施例仅以两条射频通道为例进行说明，若需要设置多条射频通道，则对应设置多个工装板，多条射频通道分别连接至第一频谱仪和第二频谱仪，对射频线损进行校准和计算。校准和计算的过程与设置两条射频通道时的过程同理，此处不再赘述。在一些实施例中，射频信号为待测设备1200上的射频通道输出，其中待测设备1200上设置多个射频通道，而进行射频线损校准时，只需要采用一条射频通道输出一个校准信号源即可。在进行射频线损时，可以同时连接多条射频通道，以实现多个线损值测量。

在一些实施例中，射频通道设置有多个，采用2个工装板分别连接两个射频通道，通过2台频谱仪测量该两个射频通道到频谱仪之间的线损值后，将线损值进行校准。校准两个射频通道后，然后移动2个工装板连接另外两个射频通道，以校准另外2个射频通道到2台频谱仪之间的线损值。因此通过2块工装板和2台频谱仪的方式并行测试两个射频通道，提高了测试效率。在其他实施例中，射频通道设置多个，且工装板和频谱仪对应设置多个，同时启动多台频谱仪，同时校准每一个射频通道到频谱仪的线损值，提高了线损值的校准效率。

在一些实施例中，待测设备1200也可以是其他具有射频传输功能的设备，例如手机、对讲机等。

在一些实施例中，待测设备1200依次发射这些不同频点的射频信号，通过校准信号源传输这些不同频点的射频信号，计算模块600分别获取每个频点下的第三差值，得到多个第三差值。计算模块600发送该多个第三差值至打印设备进行打印。打印结果如下：

[11:40:02]频谱仪误差:频点2550.00MHz误差：0.03db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2560.00MHz误差：0.00db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2570.00MHz误差：0.02db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2580.00MHz误差：0.01db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2590.00MHz误差：0.03db门限[0，0.30]；

[11:40:02]频谱仪误差:频点2600.00MHz误差：0.00db门限[0，0.30]。

其中，11:40:02为打印时间，频点为待测设备发射的射频信号的频点，误差为对应频点下的第三差值，门限为第一预设范围(-0.3dB～0.3dB)的绝对值(0～0.3dB)。

在一些实施例中，打印设备可以采用打印机实现。另外，也可以发送该多个第三差值至显示设备进行显示。显示设备可以采用显示屏实现。

将不同频点下的第三差值打印或显示出来，方便工作人员查看，及时掌握校准过程的线损值误差。

根据上述打印结果可以得知，频点在2550.00MHz-2600.00MHz的第三差值皆在第一预设范围内，因此在该频点内测量得到的第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B满足线损值的精度要求，因此该频点内测量的第一线损值1A、第二线损值2A、第三线损值1B和第四线损值2B可以作为计算射频功率的线损值。

第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备。电子设备可以为工控机，也可以为笔记本电脑、平板电脑、手持计算机、超级移动个人计算机、上网本等其他具有数据处理功能的设备，本发明实施方案不作具体限定。

设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现：

如上述第一方面所述的射频线损校准方法。

例如，可以执行如上述第一方面所述的射频线损校准方法的步骤S100～S300、S110～S140、S210～S230、S211～S213、S221～S223、S310～S320、S400～S500、S600～S900或者S1000～S1100。

第五方面，本申请实施例提供了计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于：

执行第一方面所述的射频线损校准方法。

例如，可以执行如上述第一方面所述的射频线损校准方法的步骤S100～S300、S110～S140、S210～S230、S211～S213、S221～S223、S310～S320、S400～S500、S600～S900或者S1000～S1100。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

以上是对本申请的较佳实施进行了具体说明，但本申请并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本申请精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。