具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在实际应用中，如图1，终端设备可以通过BBU(Building Base band Unite，室内基带处理单元)与RRU连接，5G射频拉远单元的数据的传输过程分为上行传输过程以及下行传输过程，5G射频拉远单元的数据上行传输过程包括：5G射频拉远单元将从电口接收的时域数据转换频域数据，并经过光纤将该频域数据传输到基站单元，5G射频拉远单元的数据下行传输过程包括：基站单元将频域数据通过光纤传输到射频拉远单元，射频拉远单元将频域数据转换为时域数据后经电口下发给终端。

在射频拉远单元的开发阶段及问题定位阶段，用户需要对射频拉远单元的功能验证，例如，可以对射频拉远单元的上行信道进行检测，如图2，射频拉远单元连接有基带处理单元，在射频拉远单元中，包括电口，与电口连接的通路处理模块，与通路处理模块连接的物理随机接入信道(Physical Random Access Channel，PRACH)以及上行前端处理模块，与上行前端处理模块连接的物理上行共享信道(Physical Uplink Shared Channel，PUSCH)、物理上行链路控制信道(Physical Uplink Control Channel，PUCCH)以及探测参考信号信道(Sounding Reference Signal，SRS)，分别与PRACH、PUSCH、PUCCH以及SRS连接的频域数据压缩处理信道，频域数据压缩处理信道连接上行信道组包处理信道，上行信道组包处理信道连接光口传输信道。

对上行信道进行检测时，用户可以在射频拉远单元的通路处理模块中设置上行通路源，射频拉远单元可以控制上行通路源发出一段简单的测试文件，如常数源、递增源以及单音源，将测试文件导入射频拉远单元的上行信道，完成对射频拉远单元上行信道的检测。

然而，在上述方式中，使用的测试数据是预先存储在射频拉远单元中的，测试数据较为简单、不够灵活，无法进行复杂性的检测，导致检测的准确性不足，且针对不同的通信信道采用的是同一测试数据，无法准确地对不同的通信信道进行功能验证，无法可靠以及充分的验证射频拉远单元的上行信道是否符合开发要求，射频拉远单元的开发周期长及开发效率低，在射频拉远单元出现问题时，对通信信道出现问题的定位手段也比较单一，大大限制了射频拉远单元的开发进度及问题定位效率。

在本发明实施例中，通过外部的操作维护软件把一组随机测试数据打入双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate，DDR)中，满足打桩条件后，现场可编程门阵列不断把双倍速率同步动态随机存储器中的测试数据写入射频拉远单元的上行通信信道中，需要进行出口数据比对时，只需要在现场可编程门阵列中把实际输出的数据与外部生成的对应数据进行比对，即可判断各通信信道传输是否正确。

本发明能够进行复杂性的检测，提升了检测的准确性、灵活性，且能够针对不同的通信信道采用不同的测试数据，进而准确地对不同的通信信道进行功能验证。同时可以把各信道中输出的数据取出，重新导入外部软件中进行算法分析，用以识别通信信道存在的问题，定位问题灵活方便，能快速识别通信信道的问题，大大提高了射频拉远单元的开发效率。

以下对本发明实施例进行具体说明：

参照图3，示出了本发明一实施例提供的一种射频拉远单元的检测方法的步骤流程图，该射频拉远单元为第五代移动通信技术设备中的射频拉远单元，该射频拉远单元可以具有现场可编程逻辑门阵列。

其中，射频拉远单元可以具有多个通信信道，如图5，包括PRACH信道和上行前端处理信道，在上行前端处理信道后连接有PUSCH信道、PUCCH信道以及SRS信道，PRACH信道、PUSCH信道、PUCCH信道以及SRS信道连接频域数据压缩处理信道，频域数据压缩处理信道连接上行信道组包处理信道，上行信道组包处理信道连接光口传输信道。

如图4，现场可编程逻辑门阵列可以包括DDR接头交互模块、帧头切换寄存器、DDR打桩模块，其中，DDR打桩模块包括数据收发状态机、AXI数据转换模块以及AXI控制字转换模块。

如图5，现场可编程逻辑门阵列可以具有对外接口，该对外接口包括双倍速率同步动态随机存储器的接口，现场可编程逻辑门阵列的对外接口连接DDR，该DDR的一侧还连接ARM微处理器，该ARM微处理器的一侧可以连接终端，ARM微处理器、DDR以及现场可编程逻辑门阵列都可以内置于射频拉远单元中。

具体的，可以包括如下步骤：

步骤301，所述现场可编程逻辑门阵列通过所述对外接口，获取针对所述射频拉远单元中目标通信信道的测试数据；

其中，该测试数据包括向量数据，该测试数据可以为总线协议(AdvancedeXtensible Interface，AXI)格式的数据。

在进行射频拉远单元的检测时，用户可以通过终端向场可编程逻辑门阵列发送针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据。现场可编程逻辑门阵列可以通过对外接口，获取该针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据。

具体的，如图5，用户可以通过终端向ARM微处理器发送针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据。

在接收到测试数据后，ARM微处理器可以将该测试数据发送至DDR。在接收到测试数据后，DDR可以以总线协议格式将该测试数据发送至可编程逻辑门阵列，具体的，DDR可以以每次发512bit的突发(Burst)模式将该测试数据发送至可编程逻辑门阵列。

在DDR发送测试数据后，DDR接头交互模块通过对外接口，获取针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据。

步骤302，所述现场可编程逻辑门阵列确定所述目标通信信道对应的时钟频率；

其中，时钟频率是指同步电路中时钟的基础频率，量度单位采用SI单位赫兹(Hz)，目标通信信道对应的时钟频率可以预先存储于可编程逻辑门阵列中，如491.25MHz。

在获取测试数据后，现场可编程逻辑门阵列可以先确定目标通信信道对应的时钟频率。具体的，如图5，在接收到DDR发送的测试数据后，DDR打桩模块可以通过获取预先存储于可编程逻辑门阵列中的时钟频率，确定目标通信信道对应的时钟频率。

步骤303，所述现场可编程逻辑门阵列按照所述时钟频率，将所述测试数据发送至所述目标通信信道，以对所述目标通信信道进行检测。

在确定目标通信信道对应的时钟频率后，现场可编程逻辑门阵列可以按照该时钟频率，将测试数据发送至目标通信信道，以对目标通信信道进行检测。

具体的，如图5，在确定目标通信信道对应的时钟频率后，DDR打桩模块可以以该时钟频率将测试数据发送至目标通信信道，如，目标通信信道对应的时钟频率为491.25MHz时，则现场可编程逻辑门阵列以491.25MHz的时钟将测试数据发送至目标通信信道。

在接收到测试数据后，目标通信信道可以基于该测试数据生成对应的测试结果数据，并将该测试结果数据发送至终端。

在接收到该测试结果数据后，终端可以将该测试结果数据与基于测试向量预先生成的模拟结果数据进行比对，在测试结果数据与模拟结果数据相同时，终端可以向用户展示目标通信信道正常；在测试结果数据与模拟结果数据不相同时，终端可以提取测试结果数据与模拟结果数据的差异数据；在提取出差异数据后，终端可以在预先存储的问题信息中，获取与差异数据对应的问题信息，进而可以快速判断通信信道存在的问题。

在本发明实施例中，射频拉远单元具有现场可编程逻辑门阵列，该现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，该射频拉远单元具有多个通信信道，射频拉远单元具有现场可编程逻辑门阵列，该现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，该射频拉远单元具有多个通信信道，该现场可编程逻辑门阵列通过对外接口，获取针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据，现场可编程逻辑门阵列确定目标通信信道对应的时钟频率，现场可编程逻辑门阵列按照时钟频率，将测试数据发送至目标通信信道，以对目标通信信道进行检测，实现了采用现场可编程逻辑门阵列对射频拉远单元进行检测，能够通过现场可编程逻辑门阵列从外部获取测试数据，以进行复杂性的检测，提升了检测的准确性、灵活性，且能够针对不同的通信信道采用不同的测试数据，进而准确地对不同的通信信道进行功能验证。

参照图6，示出了本发明一实施例提供的另一种射频拉远单元的检测方法的步骤流程图，该射频拉远单元具有现场可编程逻辑门阵列，该现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，该射频拉远单元具有多个通信信道，

具体的，可以包括如下步骤：

步骤601，所述现场可编程逻辑门阵列通过所述对外接口，获取针对所述射频拉远单元中目标通信信道的测试数据；

步骤602，所述现场可编程逻辑门阵列确定所述目标通信信道对应的时钟频率；

步骤603，所述现场可编程逻辑门阵列确定当前数据时长；

在确定目标通信信道对应的时钟频率后，现场可编程逻辑门阵列可以确定当前已接收测试数据的数据时长。

具体的，如图4，在接收到DDR发送的测试数据后，DDR接头交互模块可以先确定当前已接收数据的时长。

步骤604，所述现场可编程逻辑门阵列判断所述当前数据时长是否满足预设的打桩条件；

在确定当前测试数据的时长后，现场可编程逻辑门阵列可以判断当前数据时长是否满足预设的打桩条件；

具体的，如图4，在确定当前测试数据的时长后，DDR接头交互模块可以判断该当前测试数据的时长是否满足预设的打桩条件。

在本发明一实施例中，步骤504还可以包括如下子步骤：

子步骤S11，判断所述当前数据时长是否大于或等于预设数据时长；

其中，预设数据时长可以为10ms。

在判断过程中，现场可编程逻辑门阵列可以将当前数据时长与预设数据时长进行比较，进而判断当前数据时长是否大于或等于预设数据时长；

具体的，如图4，在确定当前数据时长后，DDR接头交互模块可以判断当前测试数据的时长是否大于或等于预设数据时长，如，DDR接头交互模块可以判断当前测试数据的时长是否大于或等于10ms。

在本发明一实施例中，在所述当前数据时长不满足所述打桩条件时，对所述测试数据进行缓存。

子步骤S12，在所述当前数据时长大于或等于预设数据时长，判定所述当前数据时长满足预设的打桩条件。

步骤605，所述现场可编程逻辑门阵列在所述当前数据时长满足所述打桩条件时，按照所述时钟频率，将所述测试数据发送至所述目标通信信道，以对所述目标通信信道进行检测。

具体的，如图4，当前数据时长满足打桩条件时，现场可编程逻辑门阵列可以按照该时钟频率，将测试数据发送至所述目标通信信道，以对目标通信信道进行检测。

如图4，以下对步骤605进行示例性说明：

1、当前数据时长满足打桩条件时，DDR接头交互模块可以生成帧头，该帧头包括控制RAM的写使能、存储测试数据的写地址，并将该帧头添加至测试数据。写地址可以是根据写RAM状态机产生的写地址。

2、在添加帧头至测试数据后，DDR接口交互模块可以将测试数据发送至帧头切换寄存器。

3、在接收到测试数据后，帧头切换寄存器可以在测试数据中获取对应的标识，该标识用于指示测试数据为上行数据或下行数据，并根据标识生成对应的使能信号，将使能信号以及测试数据发送至数据收发状态机。

4、在接收到添加帧头后的测试数据后，AXI数据转换模块可以转换该测试数据的格式，如，将512bit位宽写入512深度的测试数据转换为32bit位宽8192深度数据。

5、在转换测试数据的格式后，AXI数据转换模块可以将转换格式后的测试数据存储至RAM中。

6、在生成存储测试数据的写地址后，现场可编程逻辑门阵列还可以生成与写地址对应的读取测试数据的读地址，并将该读地址发送至AXI控制字转换模块。

7、在AXI控制字转换模块接收到读地址后，AXI控制字转换模块可以根据RAM状态机产生的RAM读使能信号及RAM读地址信号，将数据以的目标通信信道对应的时钟从RAM中输出。

在本发明实施例中，该现场可编程逻辑门阵列通过对外接口，获取针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据，确定所述目标通信信道对应的时钟频率，确定当前数据时长，判断当前数据时长是否满足预设的打桩条件，在当前数据时长满足打桩条件时，按照时钟频率，将测试数据发送至目标通信信道，以对目标通信信道进行检测，在当前数据时长不满足所述打桩条件时，对测试数据进行缓存，实现了采用现场可编程逻辑门阵列对射频拉远单元通信的检测，操作简单、高效，充分利用现场可编程逻辑门阵列的逻辑特性，资源利用率高。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图7，示出了本发明一实施例提供的一种射频拉远单元的结构示意图，所述射频拉远单元具有现场可编程逻辑门阵列，所述现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，所述射频拉远单元具有多个通信信道，所述现场可编程逻辑门阵列包括：

测试数据获取模块701，用于通过所述对外接口，获取针对所述射频拉远单元中目标通信信道的测试数据；

时钟频率确定模块702，用于确定所述目标通信信道对应的时钟频率；

测试数据发送模块703，用于按照所述时钟频率，将所述测试数据发送至所述目标通信信道，以对所述目标通信信道进行检测。

在本发明一实施例中，所述测试数据发送模块703，包括：

数据时长确定子模块，用于确定当前数据时长；

打桩条件判断子模块，用于判断所述当前数据时长是否满足预设的打桩条件；

测试数据发送子模块，用于在所述当前数据时长满足所述打桩条件时，按照所述时钟频率，将所述测试数据发送至所述目标通信信道。

在本发明一实施例中，所述现场可编程逻辑门阵列还包括：

缓存模块，用于在所述当前数据时长不满足所述打桩条件时，对所述测试数据进行缓存。

在本发明一实施例中，所述打桩条件判断子模块，包括：

判断执行单元，用于判断所述当前数据时长是否大于或等于预设数据时长；在所述当前数据时长大于或等于预设数据时长，调用判定结果生成单元；

判定结果生成单元，用于判定所述当前数据时长满足预设的打桩条件。

在本发明一实施例中，所述测试数据为总线协议格式的数据。

在本发明一实施例中，所述对外接口包括双倍速率同步动态随机存储器的接口。

在本发明一实施例中，所述射频拉远单元为第五代移动通信技术设备中的射频拉远单元。

在本发明实施例中，射频拉远单元具有现场可编程逻辑门阵列，该现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，该射频拉远单元具有多个通信信道射频拉远单元通信具有现场可编程逻辑门阵列，该现场可编程逻辑门阵列具有对外接口，该射频拉远单元具有多个通信信道，该现场可编程逻辑门阵列通过对外接口，获取针对射频拉远单元中目标通信信道的测试数据，现场可编程逻辑门阵列确定目标通信信道对应的时钟频率，现场可编程逻辑门阵列按照时钟频率，将测试数据发送至目标通信信道，以对目标通信信道进行检测，实现了采用现场可编程逻辑门阵列对射频拉远单元进行检测，能够通过现场可编程逻辑门阵列从外部获取测试数据，以进行复杂性的检测，提升了检测的准确性、灵活性，且能够针对不同的通信信道采用不同的测试数据，进而准确地对不同的通信信道进行功能验证。

一种电子设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的射频拉远单元的检测方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的射频拉远单元的检测方法的步骤。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对所提供的射频拉远单元的检测方法和射频拉远单元，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。