阅读说明：本技术 一种无源巡检系统及方法 (Passive inspection system and method ) 是由 鲁鹏飞 鲁霖 吴德龙 于 2021-09-09 设计创作，主要内容包括：本发明提供了一种无源巡检系统及方法,系统包括控制模块,所述控制模块设有按键,所述控制模块电性连接有供电模块和ADC采样模组,还包括错误报警蜂鸣器和错误报警指示灯,所述错误报警蜂鸣器和所述错误报警指示灯均与所述控制模块电性连接；通过ADC采样模组采集学习良品半导体的ADC阻值,并保存至控制模块内,再对待测产品的ADC阻值采集,与良品的ADC阻值进行对比,以测试出不良品,解决了电子产品半导体功能测试困难、效率低、只有在工作情况下才能测试、图像品质检验误差大等问题,大大提高了检测的便捷性,有效提高了测试效果。(The invention provides a passive inspection system and a passive inspection method, wherein the passive inspection system comprises a control module, a buzzer for alarming errors and an indicating lamp for alarming errors, wherein the control module is provided with a key and is electrically connected with a power supply module and an ADC (analog to digital converter) sampling module; gather the ADC resistance of study yields semiconductor through ADC sampling module to preserve to in the control module, gather the ADC resistance of the product that awaits measuring again, contrast with the ADC resistance of yields, with the test out the defective products, solved electronic product semiconductor function test difficulty, inefficiency, only can test under the operating condition, image quality inspection error big scheduling problem, improved the convenience that detects greatly, effectively improved test effect.)

一种无源巡检系统及方法

技术领域

本发明涉及电子产品测试领域，特别是涉及一种无源巡检系统及方法。

背景技术

随着科技的发展，电子产品已经与我们的日常生活息息相关，我们的身边处处都有电子产品的身影，半导体集成电路是电子产品的主要构成部分，因此，在电子产品的生产过程中，半导体功能的检测尤为重要。

目前半导体功能检测一般是在半导体工作时对其进行测试，这种测试方式不仅效率低，而且需要针对不同的半导体集成电路设计相应的测试系统，测试过程还需要耗费大量的电能，测试成本过高。

因此，亟需一种无源巡检系统及方法，能够解决现有半导体测试方法效率低、局限性大且成本高的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种无源巡检系统及方法，以解决上述现有半导体测试方法效率低、局限性大且成本高的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

本发明提供一种无源巡检系统，包括控制模块，所述控制模块设有按键，所述控制模块电性连接有供电模块和ADC采样模组，还包括错误报警蜂鸣器和错误报警指示灯，所述错误报警蜂鸣器和所述错误报警指示灯均与所述控制模块电性连接。

优选地，所述控制模块采用STM32G070C8T6微控制器芯片。

优选地，所述供电模块采用4.2V锂电池，其通过供电电路稳压输出3.3V。

优选地，所述ADC采样模组包括ADC采样切换模块，所述ADC采样切换模块通过ADC采样电路与所述控制模块电性连接，所述ADC采样切换模块电性连接有多个外接接口。

优选地，所述ADC采样电路采用3.3V分压输出模拟电压。

优选地，所述ADC采用切换模块采用2个CD40051开关芯片，每一所述CD40051开关芯片均设有8路测试线路。

优选地，所述控制模块还电性连接有信息打印串口。

优选地，所述控制模块还电性连接有烧录口。

本发明还提供一种无源巡检方法，所述方法包括以下步骤：

(1)将良品与外接接口连接，通过按键操控控制模块通过ADC采样模组对良品的ADC阻值进行测量学习，并将良品的ADC阻值保存至控制模块内；

(2)将待测产品与外接接口连接，通过按键操控控制模块通过ADC采样模组对待测产品的ADC阻值进行测量，并将待测产品的ADC阻值发送至控制模块内；

(3)控制模块对良品的ADC阻值和待测产品的ADC阻值进行对比，若待测产品的ADC阻值符合良品的ADC阻值，则该产品为良品，若待测产品的ADC阻值不符合良品的ADC阻值，则该产品为不良品，同时错误报警蜂鸣器和错误报警指示灯报警。

本发明相对于现有技术取得了以下有益技术效果：

本发明提供的一种无源巡检系统及方法，系统包括控制模块，所述控制模块设有按键，所述控制模块电性连接有供电模块和ADC采样模组，还包括错误报警蜂鸣器和错误报警指示灯，所述错误报警蜂鸣器和所述错误报警指示灯均与所述控制模块电性连接；通过ADC采样模组采集学习良品半导体的ADC阻值，并保存至控制模块内，再对待测产品的ADC阻值采集，与良品的ADC阻值进行对比，以测试出不良品，解决了电子产品半导体功能测试困难、效率低、只有在工作情况下才能测试、图像品质检验误差大等问题，大大提高了检测的便捷性，有效提高了测试效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的一种无源巡检系统电连接关系示意图；

图2为本发明提供的一种无源巡检系统控制模块部分电路图；

图3为本发明提供的一种无源巡检系统ADC采样切换模块部分电路图；

图中：1：供电模块、2：控制模块、3：按键、4：ADC采样电路、5：ADC采样切换模块、6：外接接口、7：错误警报蜂鸣器、8：错误报警指示灯、9：信息打印串口、10：烧录口。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的目的是提供一种无源巡检系统及方法，以解决现有半导体测试方法效率低、局限性大且成本高的问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

实施例1：

本实施例提供一种无源巡检系统，如图1所示，包括控制模块2，控制模块2设有按键3，控制模块2电性连接有供电模块1和ADC采样模组，还包括错误报警蜂鸣器7和错误报警指示灯8，错误报警蜂鸣器7和错误报警指示灯8均与控制模块2电性连接。

具体地，如图2所示，控制模块2采用STM32G070C8T6微控制器芯片。

进一步地，供电模块1采用4.2V锂电池，其通过供电电路稳压输出3.3V。

进一步地，ADC采样模组包括ADC采样切换模块5，ADC采样切换模块5通过ADC采样电路4与控制模块2电性连接，ADC采样切换模块5电性连接有多个外接接口6。

进一步地，ADC采样电路4采用3.3V分压输出模拟电压。

进一步地，如图3所示，ADC采用切换模块5采用2个CD40051开关芯片，每一CD40051开关芯片均设有8路测试线路，这样ADC采用切换模块5的测试线路可达16路。

进一步地，控制模块2还电性连接有信息打印串口9，具有打印控制模块2工作模式、测试数据的功能。

进一步地，控制模块2还电性连接有烧录口10，具有进行更新替换系统的功能。

本实施例还提供了一种无源巡检系统的无源巡检方法，方法包括以下步骤：

(1)将良品与外接接口连接，通过按键操控控制模块通过ADC采样模组对良品的ADC阻值进行测量学习，并将良品的ADC阻值保存至控制模块内；

(2)将待测产品与外接接口连接，通过按键操控控制模块通过ADC采样模组对待测产品的ADC阻值进行测量，并将待测产品的ADC阻值发送至控制模块内；

(3)控制模块对良品的ADC阻值和待测产品的ADC阻值进行对比，若待测产品的ADC阻值符合良品的ADC阻值，则该产品为良品，若待测产品的ADC阻值不符合良品的ADC阻值，则该产品为不良品，同时错误报警蜂鸣器和错误报警指示灯报警。

本发明提供的一种无源巡检系统及方法，通过ADC采样模组采集学习良品半导体的ADC阻值，并保存至控制模块内，再对待测产品的ADC阻值采集，与良品的ADC阻值进行对比，以测试出不良品，解决了电子产品半导体功能测试困难、效率低、只有在工作情况下才能测试、图像品质检验误差大等问题，大大提高了检测的便捷性，有效提高了测试效果。

本发明应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。