具体实施方式

油气作业可包括建井、完井和生产。建井可包括钻探井筒，并且完井可包括使井筒准备好生产。例如，连接储层的下部完井设备可包括防止过度出砂的筛网、将井筒的区段与周围地层分离的分隔件、控制和/或限制流体从地层层段流入井筒中的流入控制装置、将区段沿着井筒彼此隔离的封隔器等等。一般来讲，裸眼完井或下套管完井可用于建井。裸眼完井可具有成本效益，但在井的整个生命周期内可允许有限修井和井筒控制。下套管完井可能更昂贵，但可允许诸如射孔、压裂和/或增产的井处理操作以优化井生命周期内的储层采收。

但不良井筒井眼质量会给完井带来挑战。例如，较差井眼质量可阻碍将完井管柱下入到井的预期总深度。在一些情况下，封隔器可用于在生产油管外部与套管、衬套和/或井筒壁内部之间提供密封。并且在具有多个生产区带的井中，封隔器可用于隔离每个区带的射孔。但由于例如由过大井眼直径而引起的封隔器密封不良、由于泥浆位移而引起的水泥胶结质量差、套管柱的偏心度等等，区带隔离可能具有挑战性。完井挑战的另一个示例可包括由于将筛网穿过具有过度狗腿严重度的井筒的区段而引起的完井筛网的损坏。例如，筛网可能暴露于每100英尺3度的最大狗腿严重度，使得高于该阈值的暴露具有出沙的风险。

类似地，不良储层质量可给井生产带来挑战。例如，储层跟部处的锥进可导致沿着侧钻井的储层耗减不相等。在一些情况下，可使用流入控制装置来限制井的不同区带之间的流动。但诸如近井筒区域处的储层质量也可受到由于钻井和/或完井/驱替流体而引起的损坏的影响。并且在施工期间评估储层质量可能是麻烦的。例如，通过匹配生产数据与历史数据和/或模型来评估储层质量可在大量时间之后才确定，并且可能不准确。在一些情况下，预期生产的关键绩效指标(KPI)和实际生产之间的不匹配可能导致业务和/或收入假设的调整，这可对烃田经营者的管辖权和交易产生影响。可能期望尽早评估生产KPI并尽早了解与由于建井限制而引起的生产挑战相关联的风险，以避免例如稍后在井筒的烃产出期间的不利结果和/或其他后果。

本主题的一些具体实施可通过以下操作确定针对井筒的建井计划：使用从储层图确定的所钻探储层的厚度评估井筒井眼和储层质量。例如，建井计划可包括井筒定位、井筒导航和/或封隔器和/或流入控制装置的放置位置。例如可通过使用井底钻具组合中的加速度计和磁力计在钻杆的每个立根处进行的静态勘测、连续倾斜和/或方位角测量计算狗腿严重度来评估井眼质量。与在钻杆的立根处收集的测量结果相比，在井底钻具组合处收集的测量结果可提供例如具有更高分辨率的井眼轨迹。

井眼质量表征还可通过其他传感器和测量原理进行，诸如超声波测量、围绕地层的密度的测量、伽马测量等等。超声波测量检测来自钻孔壁的超声波反射，并且方位角地获取反射导致井眼形状的三维扫描。为简单起见，可将井眼形状绘制为具有井筒直径或半径的颜色编码表示的钻孔壁的二维图像。可通过获取分别由近场检测器和远场检测器检测的地层密度的方位角表示来提供对井眼质量的另一测量。与远场检测器相比，近场检测器可对近井筒环境(例如，井眼尺寸、泥浆、钻屑等等)更敏感，使得这些传感器之间的密度读数差值提供井筒形状的额外指标。表征井眼形状的又一种另选方式包括例如伽马射线读数的重复测井测量。伽马射线读数可能受到井筒环境的影响，使得两个测量周期之间的钻孔尺寸随时间的变化将使伽马射线读数减小或增加，这取决于井筒环境条件。

例如可通过使用物理属性确定储层的产能系数和/或贮藏量来评估储层质量，该物理属性使用储层测绘诸如所钻探储层的厚度来确定。通过使用例如从储层图确定的所钻探储层的厚度来评估井筒井眼和储层质量并且使用井筒井眼和储层质量评估来确定建井计划，可提高完井和生产效率。

图1是示出确定建井计划的示例性方法的工艺流程图。可执行该方法以通过例如使用物理属性确定储层的产能系数和/或贮藏量来评估井筒井眼和储层质量，该物理属性使用储层测绘诸如所钻探储层的厚度来确定。通过使用例如从储层图确定的所钻探储层的厚度来评估井筒井眼和储层质量并且使用井筒井眼和储层质量评估来确定建井计划，可提高完井和生产效率。

在110处，可接收表征钻探井筒时记录的测量结果的数据。例如，所接收的测量结果可包括电阻率、密度、孔隙度、渗透性、声学属性、核磁共振属性、地层压力、流体的属性或特性和井下储层条件(压力)以及围绕井筒的地层的其他所期望属性。所接收的测量结果可例如从在钻井之前、钻井期间和/或钻井之后部署的传感器、井下工具等等接收。例如，传感器可经由测井电缆、随钻测量和/或随钻测井部件来部署。测量结果可由形成至少一个计算系统的部分的至少一个处理器接收。

在120处，可使用测量结果确定井筒的贮藏量和井筒的产能系数。例如，给定使用储层图确定的所钻探储层的测量深度(MD)z、孔隙度Φ和厚度th，贮藏量可确定如下：

对于1,…,m,…N，贮藏

在一些实施方案中，储层的厚度可使用电磁测量原理来确定，该电磁测量原理显示在远离井筒的较大深度处对地层变化的检测的深度。地层变化可包括冠岩(例如页岩)和砂岩储层(例如砂石)之间的电导率的对比，其中与充有氢碳的砂岩相比，页岩通常显示出高得多的电导率。一些实施方案可包括检测烃类(例如，低电导率)和地层水(例如，由于高盐度含量而引起的高电导率)之间的电导率对比。因此，对诸如信号强度的方位角测量结果的电磁深度读数测量结果的解释可提供一种手段来检测电导率对比变化的距离和定向，由此可推断储层的范围。例如，正向和/或反演算法可用于方位角和/或全向测量结果以创建围绕钻孔的电阻率或电导率分布的模型(例如，电阻率图)。然后，该图可用于通过从图描绘电阻率对比来限定储层的范围。此类图可表示为沿着井眼轨迹的帘段，并且可包括围绕井筒的电阻率和/或电导率值的三维表示，由此可推断储层的范围。

在一些实施方案中，储层图可由数字模型提供。模型可例如自动和/或手动调整以匹配所期望的地质感知和/或导出能够使用适当地层响应建模算法和/或公式来解释地层测量结果的地球模型。例如，数字模型可为一维、二维和/或三维的，并且模型内的地质特征诸如地质边界、层理、断层、流体接触等等可由例如数学多边形和/或任何范围的几何体的其他参数表示来表示。

在一些实施方案中，声反射测量结果可用于描绘储层的范围。此类测量结果包括使用适当声源将声波从井筒激发到地层中，并且通过多个接收器检测声信号，其中信号由具有足够高的声阻抗对比度的地层边界处的反射波产生。这些边界同样可用于限定储层厚度。在另一个实施方案中，储层厚度可从可在地表、海底处、井筒内(例如，竖直地震剖面图等等)等等获得的地震数据描绘。类似地，给定测量深度z，渗透率K，产能系数可确定如下：

对于1,…,m,…N，流量

在130处，可使用贮藏量和产能系数来确定建井计划。建井计划可包括通过其可完成储层中的区带的有序布置。例如，给定井耗减策略，诸如以采收率为导向的完井，建井计划可包括在连接(例如通过建井)具有较高生产率的区带之前完成生产率较低的区带。如上所示，生产率可通过使用例如贮藏量、产能系数等等来确定。生产率较低的区带可包括具有比另一个区带更低的产能系数的区带，而该区带的贮藏量指示相对于沿着侧钻井的储层的剩余部分的贮藏在该特定区带中的烃类的相对量。

例如，第一区带可包括第一产能系数，并且第二区带可包括第二产能系数。如果例如第一区带的产能系数小于第二区带的产能系数，则第一区带的生产率可低于第二区带。以采收率为导向的完井策略可包括指示在连接区带2(例如，生产率较高的区)之前完成第一区带(例如，生产率较低的区带)的建井计划。如下文所论述，建井计划可包括地质停止、储层导航服务、井眼质量增强(例如扩孔等等)、处理(例如增产、水泥胶结、区带隔离等等)等等。

在140处，可提供建井计划。可在至少一个计算系统的图形用户界面的显示空间上提供建井计划。在一个实施方案中，建井计划可包括在帘段内显示井眼轨迹和可用或有用数据，并且另外绘制具有可见完井方案的专用轨道。例如，完井方案可包括封隔器、分隔件和筛网，并且轨道将显示各个设备的开始深度和结束深度。设备也可以先进的方式可视化，诸如在围绕管件的3D地下环境内显示。

可期望确定井筒的质量。例如，井眼质量可提供井筒的性能的指示，并且确定井筒的质量可包括确定井眼质量。例如，诸如岩石突出部、井眼褶皱、高狗腿等等的不良井眼质量的指标可妨碍完井管柱下入到预期的总深度。如果完井管柱不能下入到预期的总深度，则所钻探井筒可能无法接触到烃。因此，不良井眼质量可导致不良井筒质量。

将筛网用作下部完井设备例如以进行砂石控制可规定严格的最大狗腿严重度，诸如100英尺内最大3度。但例如由于预期气体和/或水的生产、处理不合格地层等等，可期望更长期的控制。在此类情况下，可以对侧钻井进行水泥胶结和/或选择性处理、射孔等等，并且/或者可在侧钻井内放置裸眼封隔器以将区带彼此隔离。

图2是示出不良水泥胶结质量的示意图200。在一些情况下，区带隔离可能不令人满意。例如，由于封隔器密封不良、由于不适当泥浆位移而引起的水泥胶结质量差(例如，在侧钻井的低侧留下泥浆凹坑)、水泥坍塌(例如，在侧钻井的高侧留下空隙)、套管柱的偏心度等等，区带隔离可能不令人满意。

类似地，可期望确定储层的质量。例如，储层质量可提供储层产量的指标，并且可为储层导航、井放置等等提供框架。如上文所论述，井筒的产量可取决于储层的质量。图3是示出沿着侧钻井的长度测量的示例性流入模式和对应储层特性的四个绘图的示意图300。储层特性可包括例如均质地层、跟部处的高渗透性、趾部处的高渗透性、交替的高/低渗透性等等。如图3的绘图中的每个绘图所示，在每个绘图中Y轴上示出的作为在每个绘图的X轴上示出的井长度的函数的流入速率可指示储层的生产率。

图4是示出在具有均质储层质量的侧钻井中的水和/或气体锥进的示意图400。例如，均质储层质量可使储层的跟部处的产量最大化并且使储层的趾部处的产量最小化。这可导致例如由于跟部处的锥化引起的早期气体和/或水突破。储层非均质性可与沿着侧钻井的不相等储层耗减相关联，这可通过针对井的不同区带实施流量限制(诸如流入装置)来补偿。

图5是示出与侧钻井的产量相关联的不确定性的示意图500。例如，由于钻井、完井和/或驱替流体等等而引起的储层损害(例如，表皮)可导致井筒附近的高表皮。表皮效应的一个指标可包括自钻井以来的时间，并且在一些情况下，流入速率可跨越井相等地减少。另外，例如通过将储层、油田、井筒等等的实际生产数据与储层、油田、井筒等等的动态模型进行历史匹配来评估井产量。井筒的价值和优化潜能(例如包括导航和完井)可在一段时间后被发现，并且不良历史匹配可能是常见的。

图6是示出在高度倾斜的井筒中的地层评估测井中的伪影的根本原因的示例的示意图600。在一些情况下，根本原因可包括如605所示的非对称泥浆侵入、如610所示的测井设备的偏心度、如615所示的肩床效应等等。由于大斜度井中的测井采集而引起的不准确地层和/或岩石物理属性带来的挑战可包括不确定的产油层定位和预期的储层质量、不确定的饱和高度计算、生产目标的高度不确定性、可动与不能复归的烃评估的不确定性等等。另外的挑战可包括高水突破的不明根本原因、沿着井的不确定储层容量分布、来自随钻测井的更新储层模型、资产储量的不确定性、最终采收率的不确定性等等。由于上文提及的挑战，例如，油田开发可被延长，最终采收率可被降低，运行费用增加(例如，由于水处理、出沙、过度电潜水泵欠载关闭等等)，低效资本支出等等。

图7是示出来自不同测量结果的井眼轨迹(倾斜度)的示例性差异的示意图700。不同倾斜度可包括近钻头倾斜度705、飞行倾斜度710和勘测倾斜度715。井眼页岩评估可包括从静态勘测计算狗腿严重度(DLS)。例如，DLS可以度数导出，如每距离Y轴上所示，如X轴所示。可在距离连续近钻头倾斜度705和/或方位角测量结果更小测量距离上计算DLS。这可允许在较小深度间隔内，例如每20英尺的度数内提供DLS。该局部狗腿可显著超过静止狗腿，并且可提供对井眼形状和相关联后果的见解。

图8是示出取决于在其内计算DLS的测量的深度间隔的示例性DLS计算的示意图800。在图8中，例如，DLS可以每30英尺的测量深度的度数来测量。在一些具体实施中，DLS可以每5英尺的测量深度的度数来测量。

图9是示出超声波测径仪测井的三个绘图的示意图900。例如，可使用超声波成像来表征井筒的形状。参见图9，例如在绘图905中，可渲染钻孔的半径。在一些实施方案中，半径可使用幅值来渲染，如绘图910所示。在一些实施方案中，半径可使用阈值来渲染，如绘图915所示。

在一些具体实施中，可通过评估沿着侧钻井的流量、贮藏和/或类似潜力来评估储层质量。图10A是示出用于评估储层质量的示例性地层修正的洛伦茨绘图(SMLP)的示意图1000，并且图10B是示出示例性修正的洛伦茨绘图(MLP)的示意图1050。在一些情况下，给定测量深度z、孔隙度Φ和渗透率K，贮藏量可以以下方式确定：对于1,…,m,…N，贮藏 类似地，流量可以以下方式确定：对于1,…,m,…N，流量所得绘图可从跟部(例如，z₁)延伸到趾部(例如，z_N)，并且可表示贮藏的累积百分比(例如，沿着水平轴线)和流量的累积百分比(例如，沿着竖直轴线)。例如，在沿着侧钻井的均质储层中，所得SLMP可包括类似于图5中的绘图的形状。

图10A和图10B中示出的绘图可有助于识别例如在沿着图的拐点处具有不同贮藏量和/或产能系数的储层和/或地层区带。例如，图10A包括18个区带。每个区带可与斜率相关联。例如，区带的斜率越陡，沿着侧钻井的该特定区带的生产率(如，流量)越高。通过减小斜率对图10A所示的SLMP的区带进行分类可得到图10B所示的MLP。如图10B所示，MLP可提供哪些区带可为高生产率区带以及哪些区带可为较低生产率的概览。例如，区带5、区带8、区带6和区带3可能包括最高生产率。然而，例如，贮藏在侧钻井中的烃类的18％(例如，对应于区带5、区带8、区带6和区带3的贮藏量)可在例如不进行特殊井处理的情况下产出。

在以利润为导向的完井策略中，例如，完成整个井或生产率最高的区带。例如，可不产出生产率较低的区带中的烃类。例如，在以采收率为导向的完井策略中，可在连接具有预期较高生产率的区带之前完成生产率较低的区带。在一些情况下，生产率较低的区带可被酸化、水力增产、最初连接到生产等等。稍后(例如，几年后)，除了和/或代替生产率较低的区带之外，生产率较高的区带可被连接。例如，可使用如图11所示的储层测绘来扩展沿着侧钻井的贮藏量潜力的评估。通过使用从储层图确定的所钻探储层的厚度th、到岩床的距离计算、图像解释、另一个源等，贮藏量可确定如下：对于1,…,m,…N，贮藏

图11是示出示例性储层测绘和相关联地层评估测井、气体比率分析等等的示意图1100。可描绘储层，并且描绘可包括绘制冠岩边界、流体接触等等。图11可提供储层的组合解释的可视化。最上部轨道(例如轨道1105)例如可包括帘段，该帘段包含实际井眼轨迹和深度读取电磁测井数据的反演结果。例如，可从最上部轨道确定侧钻井的厚度。第二轨道(例如轨道1110)例如可包括近井筒结构模型，该近井筒结构模型可从在第三轨道(例如轨道1115)中的钻孔图像上识别的岩床边界导出。在此上下文中的图像例如可包括所测量地层的物理属性的方位角表示，并且可包括方位角电测量结果、方位角伽马射线测量结果等等。第四轨道(例如轨道1120)例如可突出显示沿着侧钻井的属性的分区，其中分区包括可被认为是具有平均地层属性的地下地层的区段的深度间隔。区带可例如使用人工智能算法来自动识别，以分析地层评估测井，诸如伽马射线、密度、中子、电阻率等等的测量结果。

在一些具体实施中，图11可用于使用到系统的适当用户界面来限定区带。可限定储层区带(例如，1、2、3、4、5等等)和非储层区带(例如，A、B等等)。另外，在(例如)井眼轨迹不与储层相交的情况下，可能不会以沿着侧钻井的层段来限定区带。例如，第五轨道(例如轨道1125)可包括地表测井数据的解释，诸如总孔隙度(例如轨道1125中所示的阴影体积)、烃孔隙度颜色编码区域、可能的烃类型(例如，由轨道1125中所示的阴影体积内的尖峰表示)等等。自地表测井设备使用的数据可为总气体、烃组分(例如C1至C5)的浓度等等。解释方法诸如气体比率分析可用于导出此类钻井记录。图11还可包括例如电阻率的测量(例如，在轨道1130中)、中子密度测井(例如轨道1135)、伽马射线轨道(例如轨道1140)等等。轨道1140还可包括穿透率(ROP)。

在一些具体实施中，反演结果可由沿着侧钻井的多个竖直剖面图构成。例如，每个剖面图可包括具有至少一种地层属性的至少一个地层，诸如水平或竖直电阻率、地层浸渍等等。地层电阻率例如可包括反演的结果，可需要来自深度读数测量结果的电磁信号，可包括以度数和/或分贝为单位的相位差和/或衰减、视电阻率值(例如，以欧姆为单位)、电导率(例如，以西门子为单位)等等。这些一维剖面图沿井的对齐可提供储层范围和结构的可视化，这可被称为储层图。例如，储层可在顶部处受到具有低电阻率的冠岩(例如，作为页岩边界的页岩冠岩)的约束，作为最大上部范围。又如，储层可延伸到流体接触(例如，流体边界)，诸如含油区带上方的油气接触或含油区带下方的油水接触。

储层厚度可包括例如井眼轨迹和具有大电阻率对比度的最近地层边界之间的距离。在一些情况下，储层可被定义为地层，这可归因于电阻率值高于某个阈值(例如，高于100Ω的阈值)。贮藏(例如，当使用厚度和孔隙度时)可被限定用于包含井眼轨迹并且包括高于阈值的电阻率的地层。因此，非储层(例如，非产油区)例如可从计算中排除，因为它们可能不会有助于沿着侧钻井的烃类的贮藏潜力。其它深度读数测井技术可在本公开的范围内，并且可用于例如描绘储层的结构、范围等等。诸如，例如声波成像(例如，声波在具有足够大的声阻抗对比度的结构处的反射可用作一种手段来描绘岩石和/或流体边界)、瞬时电磁测量结果、随钻地震测量结果、电磁测量结果等等。

在一些具体实施中，限定在帘段中的区带可链接到例如SMLP、MLP等等，使得限定在帘轨道上的区带可被填充到SMLP、MLP等等。例如，在一个可视化中操纵(例如，自动、手动等等)区带可影响不同可视化中的区带。而SMLP可包括例如用于储层区段和非储层区段(例如，非产油区)的区带，例如，储层区段可用于使用MLP中的产能系数和/或贮藏量的分类来比较区带。在一些情况下，MLP可排除非储层区段(例如，非产油区)，这在例如一系列沙通道可被井眼轨迹穿透时可为有用的，诸如浊积岩储层。在一些具体实施中，储层质量的分析仪、解译器等等例如有目的地排除沿着侧钻井的特定层段，因为储层层段已经被注水并且不能连接到井筒。

在一些具体实施中，可沿着侧钻井评估二维贮藏量。图12A至图12C是示出沿着侧钻井对贮藏潜力进行评估的示意图。图12A是示出沿着侧钻井对贮藏潜力进行二维评估的示例的示意图1200。图12B是示出使用孔隙度公式沿着侧钻井对贮藏潜力进行评估的示例的示意图1230。图12C是示出包括乘以烃饱和度的沿着侧钻井对贮藏潜力进行示例性二维评估的示意图1260。在一些情况下，诸如沿着侧钻井具有相等水饱和度的情况下，二维方法可提供对围绕侧钻井的贮藏潜力的更准确估计。例如，在图12C中，区带4可向井筒贡献21％的烃体积，而不是图12B中贡献15％的烃体积。对于具有不相等水饱和度的情况，例如，可修改贮藏潜力公式以考虑饱和度S，并且可沿着侧钻井提供另选的贮藏量评估，其中，对于1,…,m,…N，贮藏

表1可示出上述贮藏量评估的示例性比较，其中根据所用的评估方法，适当位置的烃类可以显著量变化。

表1

在一些情况下，在大斜度井中获得的地层评估测井可归因于例如钻孔几何形状的环境条件而受到多种影响。钻孔条件可不同于测井电缆地层评估测井的环境条件。例如，侵入效应可能是不对称的，并且径向对称的竖直井假设可能不适用于随钻测井；包含随钻测井设备的井底钻具组合可能不会同心地定位在钻孔内，使得可在随钻测井钻井记录上观察到偏心效应；当地层边界可以低入射角穿透和记录时，肩床效应可能是相关的，因为地层测量的体积包含来自包括不同属性的多个地层的响应；等等。

图13是示出地层响应建模的示例性方法的示意图1300。正向建模可包括计算在给定的、用户定义的地球模型中由测井工具物理地读取的合成测井(例如，围绕钻孔的环境的数字表示)。正向建模解算器可表示工具传感器的物理原理。合成测井可与实际测量结果进行比较，并且它们之间的一致性可提供能够例如解释测量的测井的地球模型。如果合成测井和测量的测井不一致，则可改变地球模型(例如，改变层位置)，直到可实现一致。反演过程自动调整地球模型，直到可实现合成测井和/或测量的测井之间的准确匹配。所得地球模型可例如描述围绕井筒的地层属性，并且可用于进一步岩石物理分析以导出孔隙度、饱和度、体积等等。

在一些具体实施中，完井挑战的生产风险可通过用井眼形状指示器对SMLP进行颜色编码来评估。图14是示出包括完井挑战对生产损失的影响的示例性绘图的示意图1400。例如，图14的区带1、区带2和区带4具有更高狗腿严重度。这可提供对与完井挑战相关联的后果的见解。例如，如果高狗腿严重度导致完井管柱卡在区带4的开始处(例如，由竖直线指示)，则约35％的烃体积可能不会连接到井筒。对于这种量的烃，可作出例如对井进行扩孔并重新下入套管的决定。

在一些具体实施中，可使用关于水的饱和度的SMLP来分析区带隔离挑战的后果。图15是示出包括对区带隔离风险和后果的评估的示例性绘图的示意图1500。例如，区带4和区带5的开始可包括增加的水饱和度并且可提供将区带1至区带3与区带4和区带5隔离的理由。可使用上文提及的技术、额外井眼形状测井等等来检查区带3和区带4之间的井眼形状引起的水泥胶结挑战。根据井眼形状，可作出例如对区带3和区带4之间的层段进行扩孔以确保水泥胶结的决定。

类似地，可通过引入渗透率权重来考虑例如近井筒表皮(例如储层损害)来提高沿侧钻井的流量潜力。然后，对于1,…,m,…N，流量 其中渗透率权重w_s表示沿着侧钻井的流量的表皮效应。根据表皮，区带的流量潜力可不同地布置，使得井筒的处理对于优化井的生产和/或采收可能是必需的。图16是示出使用渗透性的流动区带的示例性布置的示意图1600。图17是示出使用表皮效应的流动区带的示例性布置的示意图1700。

在本主题的一些具体实施中，可以最低风险优化建井。例如，可实时验证和调整生产绩效指标，并且可在短时间帧内跨越多个角色作出快速客户决策。例如，当前主题的一些具体实施可支持岩石物理学家和/或作业地质学家在储层、完井和/或生产工程师等等面前讨论和证明随钻测井的解释是正确的。根据耗减策略(例如，以利润导向的、以采收率为导向的等等)，团队可对钻井和完井作业作出决策。

本主题的一些具体实施可适用于侧钻井、朝向生产优化的建井的井筒定位和/或井筒导航。例如，可评估沿着和远离所钻探井筒正穿过的侧钻井贮藏的烃类的量。又如，可以基于渗透率(指数)测井、地层测试流度和/或流体类型等等来评估沿着侧钻井的可生产性。又如，可使用来自近钻头方位和倾斜度的井眼形状分析、超声测径仪和井眼形状测井和图像、出砂风险分析等等来评估与完成侧钻井相关联的风险。又如，可评估完成井所需的资本支出、侧钻井生产期间的运营费用、从产出烃获得的利润等等。

作为非限制性示例，本文所述的方法、系统和计算机可读介质的示例性技术效果包括基于井筒贮藏量和井筒产能系数确定建井计划。建井计划可允许井筒操作者选择合适的设备以从井中实现最高生产率。例如，根据储层区带的相对产能系数，可重新评估由流入控制装置(ICD)导致的流量限制，并且可选择适当的ICD设备。此外，可选择LCD的位置(在MD中沿着产生钻孔的位置)。

本文所述主题的一个或多个方面或特征可在数字电子电路、集成电路、专门设计的专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)计算机硬件、固件、软件和/或它们的组合中实现。这些各个方面或特征可包括一个或多个计算机程序中的具体实施，该计算机程序在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上可执行和/或可解释，该具体实施可为专用或通用，耦接以从存储系统、至少一个输入装置和至少一个输出装置接收数据和指令，并且发射数据和指令到存储系统、至少一个输入装置和至少一个输出装置。可编程系统或计算系统可包括客户端和服务器。客户端和服务器一般彼此远离，并且通常通过通信网络交互。客户端和服务器的关系由于在相应计算机上运行计算机程序并且彼此具有客户端-服务器关系而产生。

这些计算机程序(也可称为程序、软件、软件应用程序、应用程序、部件或代码)包括用于可编程处理器的机器指令，并且可以以高级过程语言、面向对象的编程语言、功能编程语言、逻辑编程语言和/或以汇编语言/机器语言来实现。如本文所用，术语“机器可读介质”是指用于向可编程处理器提供机器指令和/或数据的包括接收机器指令作为机器可读信号的机器可读介质的任何计算机程序产品、设备和/或装置，诸如，磁盘、光盘、存储器和可编程逻辑装置(PLD)。术语“机器可读信号”是指用于向可编程处理器提供机器指令和/或数据的任何信号。机器可读介质可非暂态地存储此类机器指令，诸如，非暂态固态存储器或磁性硬盘驱动器或任何等同的存储介质将会做的。另选地或附加地，机器可读介质可以以瞬态方式存储此类机器指令，诸如，处理器高速缓存或与一个或多个物理处理器内核相关联的其他随机存取存储器将会做的。

为了提供与用户的交互，本文所述主题的一个或多个方面或特征可在计算机上实现，该计算机具有用于向用户显示信息的显示装置(诸如，阴极射线管(CRT)或液晶显示器(LCD)或发光二极管(LED)监视器)以及通过其用户可向计算机提供输入的键盘和指向装置(诸如，鼠标或轨迹球)。还可使用其他种类的装置来提供与用户的交互。例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的感官反馈，诸如例如视觉反馈、听觉反馈或触觉反馈；并且可以任何形式接收来自用户的输入，包括声音、语音或触觉输入。其他可能的输入装置包括触摸屏或其他触敏装置，诸如单点或多点的电阻式或电容式触控板、语音识别硬件和软件、光学扫描仪、光学指针、数字图像捕获装置以及相关联的解释软件等。

在上述说明书和权利要求中，短语诸如“至少一个”或“一个或多个”可在元件或特征的结合式要素列表之后出现。术语“和/或”也可出现在两个或更多个要素或特征的列表中。除非在短语用于其中的上下文中另有暗示或与该上下文明确地矛盾，否则此类短语旨在表示单独地列出的要素或特征中的任一者或者所列举要素或特征中的任一者与其他列举的要素或特征中的任一者的组合。例如，短语“A和B中的至少一者”、“A和B中的一者或多者”以及“A和/或B”各自旨在表示“A单独、B单独、或A和B一起”。类似的解释也旨在用于包括三个或更多项目的列表。例如，短语“A、B和C中的至少一者”、“A、B和C中的一者或多者”以及“A、B和/或C”各自旨在表示“A单独、B单独、C单独、A和B一起、A和C一起、B和C一起、或A和B和C一起”。此外，上文和权利要求书中使用的术语“基于”旨在表示“至少部分地基于”，以使得未述及的特征或元件也是允许的。

本文所述的主题可体现在系统、设备、方法和/或制品中，这取决于所需配置。在前面描述中阐述的具体实施不表示与本文所述的主题一致的所有具体实施。相反，它们仅是与所述主题相关的方面一致的一些示例。尽管上文已详细描述了少数变型，但其他修改或添加也是可能的。具体地，还可提供除本文阐述的那些之外的特征和/或变型。例如，上述具体实施可涉及所公开特征的各种组合和子组合和/或以上公开的若干另外特征的组合和子组合。此外，附图中所描绘的和/或本文所述的逻辑流程不一定需要所示特定次序或顺序以实现所需结果。其他具体实施可在以下权利要求书的范围内。