具体实施方式

现在参考附图介绍本发明的示例性实施方式，然而，本发明可以用许多不同的形式来实施，并且不局限于此处描述的实施例，提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本发明，并且向所属技术领域的技术人员充分传达本发明的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本发明的限定。在附图中，相同的单元/元件使用相同的附图标记。

除非另有说明，此处使用的术语(包括科技术语)对所属技术领域的技术人员具有通常的理解含义。另外，可以理解的是，以通常使用的词典限定的术语，应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义，而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。

根据本实施例的第一个方面，提供了一种三相带零序电流传感器复合误差测试方法100。参考图1所示，该方法100包括：

S102:按照配电网10kV交流传感器典型设计参数，确定电流传感器额定一次电流定为600A，额定一次零序电流为20A，准确值系数为10；

S104:通过模拟两相短路，进行复合误差时，一次通入不小于6000A电流时，通过零序电流传感器的电流远小于20A；

S106:分别测量三相带零序电流传感器A相、B相、C相的复合误差。

具体地，三相带零序电流传感器复合误差测试需要使用的仪器，包括单相电流源、升流器、标准电流互感器，复合误差校验仪。单相电流源可提供30A-1200A的单相电流，通过升流器可以将一次电流提高到目标电流。

按照配电网10kV交流传感器典型设计参数，电流传感器额定一次电流定为600A，额定一次零序电流为20A，准确值系数为10，进行复合误差时，通过模拟两相短路情况下，一次通入不小于6000A电流时，通过零序电流传感器的电流远小于20A，不会破坏零序电流传感器的采样电阻，此时再分别测量三相带零序电流传感器A相、B相、C相的复合误差。

参考图2和图3所示，以测量A相复合误差为例，一次回路为A相通入不小于6000A电流，电流从B相流出，此时通过零序电流传感器的合成零序电流很小，将A相传感器二次端子和A相标准接入复合误差校验仪，测量A相的复合误差。当测量B相复合误差时，一次侧接线不变，仅需更换接入复合误差校验仪标准端子的相序，并将B相二次端子接入复合误差校验仪。测量C相的复合误差时，可采用从C相一次通入不小于6000A的试验电流，从B相流出，C相标准接入校验仪标准输入端子，B相标准接校验仪二次输出端子，C相的二次端接入复合误差校验仪，测量C相的复合误差。

从而，通过相带零序电流传感器复合误差的相序测量方法模拟两相短路的情况，仅在一次侧施加单相电流，从一相流入，另一相流出，使得一次电流合成的零序电流近似为零，此时测量各相的复合误差，不会破坏零序电流传感器的采样电阻。进而解决了现有技术中存在的采用将一次电流平稳升到额定一次电流与额定保护限值电流准确值系数的乘积，分别对电流传感器的各相分别进行复合误差试验的方式，这样带来的设备投资较高的技术问题。

可选地，测量三相带零序电流传感器A相的复合误差，包括：从A相一次侧通入试验电流，B相流出，C相不通电流，A相标准接入校验仪标准输入端子，B相标准接入校验仪标准输出端子，将A相二次输出接入复合误差校验仪，测量A相的复合误差。

可选地，测量三相带零序电流传感器B相的复合误差，包括：一次侧接线不变，从A相一次侧通入试验电流，B相流出，C相不通电流，交换二次侧接入校验仪标准部分的输入与输出接头，A相标准接校验仪标准输出端子，B相标准接校验仪标准输入端子，并将B相的二次输出接入复合误差校验仪，测量B相的复合误差。

可选地，测量三相带零序电流传感器C相的复合误差，包括：从C相一次通入试验电流，从B相流出，C相标准接入校验仪标准输入端子，B相标准接校验仪二次输出端子，C相的二次端接入复合误差校验仪，测量C相的复合误差。

从而，通过相带零序电流传感器复合误差的相序测量方法模拟两相短路的情况，仅在一次侧施加单相电流，从一相流入，另一相流出，使得一次电流合成的零序电流近似为零，此时测量各相的复合误差，不会破坏零序电流传感器的采样电阻。进而解决了现有技术中存在的采用将一次电流平稳升到额定一次电流与额定保护限值电流准确值系数的乘积，分别对电流传感器的各相分别进行复合误差试验的方式，这样带来的设备投资较高的技术问题。

根据本实施例的另一个方面，还提供了一种三相带零序电流传感器复合误差测试系统400。该系统400包括：确定参数模块410，用于按照配电网10kV交流传感器典型设计参数，确定电流传感器额定一次电流定为600A，额定一次零序电流为20A，准确值系数为10；模拟两相短路模块420，用于通过模拟两相短路，进行复合误差时，一次通入不小于6000A电流时，通过零序电流传感器的电流远小于20A；测量复合误差模块430，用于分别测量三相带零序电流传感器A相、B相、C相的复合误差。

可选地，测量复合误差模块430，包括：测量A相复合误差子模块，用于从A相一次侧通入试验电流，B相流出，C相不通电流，A相标准接入校验仪标准输入端子，B相标准接入校验仪标准输出端子，将A相二次输出接入复合误差校验仪，测量A相的复合误差。

可选地，测量复合误差模块430，包括：测量B相复合误差子模块，用于一次侧接线不变，从A相一次侧通入试验电流，B相流出，C相不通电流，交换二次侧接入校验仪标准部分的输入与输出接头，A相标准接校验仪标准输出端子，B相标准接校验仪标准输入端子，并将B相的二次输出接入复合误差校验仪，测量B相的复合误差。

可选地，测量复合误差模块430，包括：测量C相复合误差子模块，用于从C相一次通入试验电流，从B相流出，C相标准接入校验仪标准输入端子，B相标准接校验仪二次输出端子，C相的二次端接入复合误差校验仪，测量C相的复合误差。

本发明的实施例的一种三相带零序电流传感器复合误差测试系统400与本发明的另一个实施例的一种三相带零序电流传感器复合误差测试方法100相对应，在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。本申请实施例中的方案可以采用各种计算机语言实现，例如，面向对象的程序设计语言Java和直译式脚本语言JavaScript等。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。