具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。

需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提出了一种自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能的硬复位式数据的测试方法的一个实施例。图1示出的是本发明提供的硬复位式数据的测试方法的流程示意图。

所述的硬复位式数据的测试方法，如图1所示，包括执行以下步骤：

步骤S101，使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；

步骤S103，响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；

步骤S105，响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；

步骤S107，响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。

RMT数据存在于服务器中的系统日志中，并为其中的一段日志，而非所有日志。因此，本发明实施例截取其中的一段日志即可快速获取到RMT数据。系统日志中RMT数据开始与结束的关键字分别为“START_BSSA_RMT”“STOP_BSSA_RMT”，本发明利用BIOS关键字自检特性，并配合外部硬件逻辑设计即可达到快速获取多组RMT数据的功能。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。所述计算机程序的实施例，可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。

在一些实施方式中，硬复位式数据为内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，方法还包括：在使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令之前，先激活基本输入输出系统的内存位宽余量工具和串口调试模式；系统日志中包括内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志包括：由基本输入输出系统基于内存位宽余量工具输出包括内存位宽余量测试数据的系统日志，并使用存储芯片通过串口调试模式获取系统日志，并存储。

在一些实施方式中，方法还包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统；

从存储芯片中读取系统日志，并使用硬复位式数据开始关键字和硬复位式数据结束关键字从系统日志中截取出硬复位式数据。

在一些实施方式中，硬件开关为跳帽；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出高电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出高电平；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出低电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出低电平。

在一些实施方式中，方法还包括：响应于存储芯片从带外管理器获取针对硬复位式数据的读取指令，而向带外管理器输出硬复位式数据或系统日志。

在一些实施方式中，方法还包括：在使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统的同时，还由测试控制芯片向供电控制芯片发出误触发保险指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统包括：响应于供电控制芯片同时接收到重置指令和误触发保险指令而断电基本输入输出系统。

在一些实施方式中，方法还包括：响应于测试控制芯片检测到存储芯片中存储的系统日志的总大小已经达到或超过存储安全阈值而复位存储芯片以清除存储芯片中存储的所有系统日志。

本发明例公开所述的装置、设备等可为各种电子终端设备，例如手机、个人数字助理(PDA)、平板电脑(PAD)、智能电视等，也可以是大型终端设备，如服务器等，因此本发明实施例公开的保护范围不应限定为某种特定类型的装置、设备。本发明实施例公开所述的客户端可以是以电子硬件、计算机软件或两者的组合形式应用于上述任意一种电子终端设备中。

下面根据图2所示的具体实施例进一步阐述本发明的具体实施方式。

目前获取RMT数据主要方式为：在BIOS(基本输入输出系统)中将Rank MarginTool(内存位宽余量工具)和Serial Debug(串口调试模式)打开，手动打开串口工具收集一次Power On(上电)到Power Off(下电)中完整的日志信息，记一次有效的RMT数据，按照上述方法重复收集N组(目标次数)RMT数据，这就意味着需要手动开关串口工具N次。每获取一次RMT数据时，需要手动操作串口工具进行命名保存工作，这就需要测试人员守在机台旁。

内存位宽余量测试是在正常温度和电压下的内存测试方案,整个测试方案都嵌入特定的BIOS中。如果在BIOS中启用了RMT选项，则平台将自动进入RMT测试模式。测试结果通过串口输出，可以检测出内存设计部分主板的余量。RMT提供自动的内存位宽余量测试，并用于识别不同级别的内存位宽余量。该测试将嵌入到内存参考代码MRC中，并在启用后运行。RMT通过MRC在BIOS中启用，并在系统启动期间执行。它通过施加压力模式，在CPU和DIMM上自动设置内存参考电压和持续时间参数的边距，并将结果输出到串行端口。

而本发明实施例克服了该问题。在测试前先进行准备工作，使服务器通电并开机，在BIOS中将Rank Margin Tool和Serial Debug打开以便进行RMT测试。本发明实施例使用跳帽作为硬件开关，使用CPLD(复杂逻辑可编程器件)作为测试控制芯片，使用Flash(闪存存储器)作为存储芯片，使用VR(电压调节器)作为供电控制芯片，使用BMC(基板控制管理器)作为带外管理器。

结合这里的公开所描述的方法或算法的步骤可以直接包含在硬件中、由处理器执行的软件模块中或这两者的组合中。软件模块可以驻留在RAM存储器、快闪存储器、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、可移动盘、CD-ROM、或本领域已知的任何其它形式的存储介质中。示例性的存储介质被耦合到处理器，使得处理器能够从该存储介质中读取信息或向该存储介质写入信息。在一个替换方案中，所述存储介质可以与处理器集成在一起。处理器和存储介质可以驻留在ASIC中。ASIC可以驻留在用户终端中。在一个替换方案中，处理器和存储介质可以作为分立组件驻留在用户终端中。

参见图2，本发明实施例通过跳帽的方式进行RMT数据自动收集功能的开启与关闭：当跳帽放置在1-2位，信号1.RMT_Mode为低电平“0”，CPLD接收到该信号后发给Flash芯片的信号3.RMT_Enable也为低电平“0”，此时该Flash不工作，RMT数据自动收集功能关闭；当跳帽放置在2-3位，外部有3V3电上拉，此时信号1为高电平“1”，CPLD也会发将高电平信号3发给Flash芯片，Flash芯片开始工作，RMT数据自动收集功能开启。

服务器开机后，BIOS下开始打印系统日志，并通过信号5.RMT_DATA将数据传递给Flash芯片进行存储，在系统日志打印到“STOP_BSSA_RMT”关键字后，BIOS会触发信号6.Data_Detect。为了避免误触发使系统关机情况，信号3.RMT_Enable和信号6.Data_Detect进入与门芯片进行逻辑判断，从而触发信号7.Power Off控制VR，对系统进行开关机操作，判断逻辑如下：

当RMT数据自动功能开机时，信号3是高电平“1”，并且当时系统检测到“STOP_BSSA_RMT”关键字后，信号6也会是高电平“1”，这两个信号都为高时，与门芯片触发信号7.Power Off也为高电平“1”，VR检测到信号7为高电平后，系统断电关机，否则不关机；CPLD内部延时(例如100ms)后自动触发信号8.Power_On发给VR，使系统再次上电开机，Flash芯片再次收集RMT数据。

若保存的系统日志文件大小即将超过Flash芯片的存储大小时，CPLD会发送4.Reset信号给Flash芯片，对Flash芯片进行Reset复位，清除之前芯片内部所有的系统日志，保证下一测试阶段系统日志的正常保存。这是Flash芯片复位功能。

另外，Flash中保存的系统日志通过I2C传递给BMC，并在BMC内部将日志从BMC Web界面上下载保存出来。这是日志保存功能。

本文所述的计算机可读存储介质(例如，存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储器，或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。作为例子而非限制性的，非易失性存储器可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦写可编程ROM(EEPROM)或快闪存储器。易失性存储器可以包括随机存取存储器(RAM)，该RAM可以充当外部高速缓存存储器。作为例子而非限制性的，RAM可以以多种形式获得，比如同步RAM(DRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据速率SDRAM(DDR SDRAM)、增强SDRAM(ESDRAM)、同步链路DRAM(SLDRAM)、以及直接Rambus RAM(DRRAM)。所公开的方面的存储设备意在包括但不限于这些和其它合适类型的存储器。

从上述实施例可以看出，本发明实施例提供的硬复位式数据的测试方法，通过使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统的技术方案，能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。

需要特别指出的是，上述硬复位式数据的测试方法的各个实施例中的各个步骤均可以相互交叉、替换、增加、删减，因此，这些合理的排列组合变换之于硬复位式数据的测试方法也应当属于本发明的保护范围，并且不应将本发明的保护范围局限在所述实施例之上。

基于上述目的，本发明实施例的第二个方面，提出了一种自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能的硬复位式数据的测试装置的一个实施例。装置包括：

处理器；

控制器，存储有处理器可运行的程序代码，处理器在运行程序代码时执行以下步骤：

使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；

响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；

响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；

响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。

在一些实施方式中，硬复位式数据为内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，步骤还包括：在使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令之前，先激活基本输入输出系统的内存位宽余量工具和串口调试模式；系统日志中包括内存位宽余量测试数据。

在一些实施方式中，使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志包括：由基本输入输出系统基于内存位宽余量工具输出包括内存位宽余量测试数据的系统日志，并使用存储芯片通过串口调试模式获取系统日志，并存储。

在一些实施方式中，步骤还包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统；

从存储芯片中读取系统日志，并使用硬复位式数据开始关键字和硬复位式数据结束关键字从系统日志中截取出硬复位式数据。

在一些实施方式中，硬件开关为跳帽；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出高电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出高电平；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出低电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出低电平。

在一些实施方式中，步骤还包括：响应于存储芯片从带外管理器获取针对硬复位式数据的读取指令，而向带外管理器输出硬复位式数据或系统日志。

在一些实施方式中，步骤还包括：在使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统的同时，还由测试控制芯片向供电控制芯片发出误触发保险指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统包括：响应于供电控制芯片同时接收到重置指令和误触发保险指令而断电基本输入输出系统。

在一些实施方式中，步骤还包括：响应于测试控制芯片检测到存储芯片中存储的系统日志的总大小已经达到或超过存储安全阈值而复位存储芯片以清除存储芯片中存储的所有系统日志。

从上述实施例可以看出，本发明实施例提供的硬复位式数据的测试装置，通过使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统的技术方案，能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。

需要特别指出的是，上述装置的实施例采用了所述硬复位式数据的测试方法的实施例来具体说明各模块的工作过程，本领域技术人员能够很容易想到，将这些模块应用到所述硬复位式数据的测试方法的其他实施例中。当然，由于所述硬复位式数据的测试方法实施例中的各个步骤均可以相互交叉、替换、增加、删减，因此，这些合理的排列组合变换之于所述装置也应当属于本发明的保护范围，并且不应将本发明的保护范围局限在所述实施例之上。

以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。