一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置

文档序号:530700 发布日期:2021-06-01 浏览:5次 >En<

阅读说明:本技术 一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置 (Multifunctional detection device for chip packaging sealing performance test ) 是由 陈建清 于 2020-12-30 设计创作,主要内容包括:本发明涉及检测装置技术领域,且公开了一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置,包括过渡板,所述过渡板的底部固定连接有数量为三个的支撑杆,所述支撑杆的底部固定连接有接地块,所述过渡板的底部固定连接有电机箱,所述电机箱的内部固定连接有动力电机,所述过渡板的顶部固定连接有数量为两个的升降泵。该芯片封装密封性测试用多功能检测装置,通过设置过渡板底部固定连接的支撑杆和接地块从而可以便捷支撑装置,又通过动力电机配合转动底环和转动顶环的转动,从而可以控制转动块的转动,又通过设置转动块内部固定连接的升降板和进气管,经过进气块的过滤作用,从而使外部的空气便捷排出到转动块顶部的目的。(The invention relates to the technical field of detection devices and discloses a multifunctional detection device for chip packaging sealing performance test, which comprises a transition plate, wherein the bottom of the transition plate is fixedly connected with three support rods, the bottom of each support rod is fixedly connected with a grounding block, the bottom of the transition plate is fixedly connected with a motor box, the interior of the motor box is fixedly connected with a power motor, and the top of the transition plate is fixedly connected with two lifting pumps. This multi-functional detection device is used in test of chip package leakproofness through bracing piece and the grounding piece that sets up cab apron bottom fixed connection thereby can convenient strutting arrangement, rotates the rotation of bottom ring and rotation apical ring through the motor power cooperation again to can control the rotation of turning block, again through the lifter plate and the intake pipe that set up the inside fixed connection of turning block, through the filtering action of air inlet piece, thereby make the convenient purpose of discharging the turning block top of outside air.)

一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置

技术领域

本发明涉及检测装置技术领域,具体为一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置。

背景技术

集成电路,缩写作IC;或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。

随着科学技术的发展,人们生活水平的进步,人们对事物发展的便捷性和实用性的要求也更高,如中国专利所提出的CN210283623U一种芯片检测装置这类装置不具有便于固定拆卸调节装置,导致人们在使用时不能快速便捷的调节检测装置,故而提出了一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置来解决这一问题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本发明提供了一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置,具备便于固定拆卸调节装置,能快速便捷的调节检测装置等优点,解决了不能快速便捷的调节检测装置的问题。

(二)技术方案

为实现上述便于固定拆卸调节装置,能快速便捷的调节检测装置目的,本发明提供如下技术方案:一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置,包括过渡板,所述过渡板的底部固定连接有数量为三个的支撑杆,所述支撑杆的底部固定连接有接地块,所述过渡板的底部固定连接有电机箱,所述电机箱的内部固定连接有动力电机,所述过渡板的顶部固定连接有数量为两个的升降泵,所述升降泵的顶部固定连接有升降控制环,所述升降控制环的顶部活动连接有与升降泵活动连接的神将杆,所述动力电机的输出轴处固定连接有电机转动块,所述过渡板的顶部固定连接有转动底环,所述转动底环的顶部活动连接的转动底环,所述转动底环的顶部转动连接有转动顶环,所述转动顶环的顶部固定连接有转动块,所述转动块的左右两侧均固定连接有进气块,所述转动块的内部固定连接有排气块,所述转动顶环的内部且位于排气块的左右两侧均连通有与排气块的连通的气泵箱,两个所述气泵箱的相离侧均连通有与进气块连通的进气管,所述转动块的顶部固定连接有数量为两个的固定竖板,所述固定竖板的侧边活动连接有贯穿固定竖板的伸缩杆,两侧所述伸缩杆的相离侧均固定连接有拉板,所述拉板的右侧固定连接有拉块,所述伸缩杆的外部活动连接有与拉板活动连接的弹簧,两侧所述伸缩杆的相对侧均固定连接有夹持板,两个所述夹持板的相对侧均固定连接有夹持垫,两个所述神将杆的顶部固定连接有升降板,所述升降板的顶部固定连接有贯穿升降板的检测块。

优选的,所述接地块由顶部的连接块和底部的防滑块组成,且防滑块的底部铺设有分布均匀的防滑颗粒。

优选的,所述电机箱由顶部的转动环和底部的电机板组成,且电机板的顶部开设有电机槽,转动环与电机板的连接方式为焊接。

优选的,所述升降控制环为圆环状,且升降控制环的顶部开设有直径与神将杆外径相等的伸缩孔。

优选的,所述转动底环为圆环状,且转动底环的顶部开设有稳定转动槽,且转动底环与过渡板通过螺丝固定连接。

优选的,所述转动块由外部的电机箱和内部的风机组成,且风机的左右两侧均连通有连通管。

优选的,所述固定竖板为竖板状,且固定竖板的侧边开设有数量为两个的滑动孔,且转动块与固定竖板的连接方式为焊接。

优选的,所述拉块由活动杆和防滑块组成,且防滑块的外部开设有分布均匀的防滑槽。

(三)有益效果

与现有技术相比,本发明提供了一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置,具备以下有益效果:

1、该芯片封装密封性测试用多功能检测装置,通过设置过渡板底部固定连接的支撑杆和接地块从而可以便捷支撑装置,又通过动力电机配合转动底环和转动顶环的转动,从而可以控制转动块的转动,又通过设置转动块内部固定连接的升降板和进气管,经过进气块的过滤作用,从而使外部的空气便捷排出到转动块顶部的目的,方便了使用者的使用。

2、该芯片封装密封性测试用多功能检测装置,通过设置转动块顶部固定连接的固定竖板,通过固定竖板侧边活动连接的伸缩杆,而伸缩杆侧边固定连接的拉板和拉块,从而可以稳定控制夹持板相对侧夹持垫的夹持,达到便捷固定芯片的目的,方便了使用者的使用。

附图说明

图1为本发明提出的一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置结构示意图;

图2为本发明提出的一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置图1中A部的局部放大示意图。

图中:1过渡板、2支撑杆、3接地块、4电机箱、5动力电机、6升降泵、7升降控制环、8神将杆、9电机转动块、10转动底环、11转动顶环、12转动块、13进气块、14排气块、15气泵箱、16进气管、17固定竖板、18伸缩杆、19拉板、20拉块、21弹簧、22夹持板、23夹持垫、24升降板、25检测块。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-2,一种芯片封装密封性测试用多功能检测装置,包括过渡板1,过渡板1的底部固定连接有数量为三个的支撑杆2,支撑杆2的底部固定连接有接地块3,接地块3由顶部的连接块和底部的防滑块组成,且防滑块的底部铺设有分布均匀的防滑颗粒,过渡板1的底部固定连接有电机箱4,电机箱4由顶部的转动环和底部的电机板组成,且电机板的顶部开设有电机槽,转动环与电机板的连接方式为焊接,电机箱4的内部固定连接有动力电机5,过渡板1的顶部固定连接有数量为两个的升降泵6,升降泵6的顶部固定连接有升降控制环7,升降控制环7为圆环状,且升降控制环7的顶部开设有直径与神将杆8外径相等的伸缩孔,升降控制环7的顶部活动连接有与升降泵6活动连接的神将杆8,动力电机5的输出轴处固定连接有电机转动块9,过渡板1的顶部固定连接有转动底环10,转动底环10为圆环状,且转动底环10的顶部开设有稳定转动槽,且转动底环10与过渡板1通过螺丝固定连接,转动底环10的顶部活动连接的转动底环10,转动底环10的顶部转动连接有转动顶环11,转动顶环11的顶部固定连接有转动块12,转动块12由外部的电机箱和内部的风机组成,且风机的左右两侧均连通有连通管,转动块12的左右两侧均固定连接有进气块13,转动块12的内部固定连接有排气块14,转动顶环11的内部且位于排气块14的左右两侧均连通有与排气块14的连通的气泵箱15,两个气泵箱15的相离侧均连通有与进气块13连通的进气管16,转动块12的顶部固定连接有数量为两个的固定竖板17,固定竖板17为竖板状,且固定竖板17的侧边开设有数量为两个的滑动孔,且转动块12与固定竖板17的连接方式为焊接,固定竖板17的侧边活动连接有贯穿固定竖板17的伸缩杆18,两侧伸缩杆18的相离侧均固定连接有拉板19,拉板19的右侧固定连接有拉块20,拉块20由活动杆和防滑块组成,且防滑块的外部开设有分布均匀的防滑槽,伸缩杆18的外部活动连接有与拉板19活动连接的弹簧21,两侧伸缩杆18的相对侧均固定连接有夹持板22,两个夹持板22的相对侧均固定连接有夹持垫23,两个神将杆8的顶部固定连接有升降板24,升降板24的顶部固定连接有贯穿升降板24的检测块25,通过设置过渡板1底部固定连接的支撑杆2和接地块3从而可以便捷支撑装置,又通过动力电机5配合转动底环10和转动顶环11的转动,从而可以控制转动块12的转动,又通过设置转动块12内部固定连接的升降板24和进气管16,经过进气块13的过滤作用,从而使外部的空气便捷排出到转动块12顶部的目的,方便了使用者的使用,通过设置转动块12顶部固定连接的固定竖板17,通过固定竖板17侧边活动连接的伸缩杆18,而伸缩杆18侧边固定连接的拉板19和拉块20,从而可以稳定控制夹持板22相对侧夹持垫23的夹持,达到便捷固定芯片的目的,方便了使用者的使用。

综上所述,该芯片封装密封性测试用多功能检测装置,通过设置过渡板1底部固定连接的支撑杆2和接地块3从而可以便捷支撑装置,又通过动力电机5配合转动底环10和转动顶环11的转动,从而可以控制转动块12的转动,又通过设置转动块12内部固定连接的升降板24和进气管16,经过进气块13的过滤作用,从而使外部的空气便捷排出到转动块12顶部的目的,方便了使用者的使用。

并且,通过设置转动块12顶部固定连接的固定竖板17,通过固定竖板17侧边活动连接的伸缩杆18,而伸缩杆18侧边固定连接的拉板19和拉块20,从而可以稳定控制夹持板22相对侧夹持垫23的夹持,达到便捷固定芯片的目的,方便了使用者的使用,解决了不能快速便捷的调节检测装置的问题。

需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

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