阅读说明：本技术 一种光电传感器光电特性差异的校准方法 (Method for calibrating photoelectric characteristic difference of photoelectric sensor ) 是由 郭晋鹏 杜伟 孙瑞娟 于 2021-07-06 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种光电传感器光电特性差异的校准方法,其特征在于,包括步骤：S1,在特定校准环境及照射环境一致的情况下,分别调整输入至批量传感器中每个光电传感器输入端的PWM驱动信号的占空比,使每个光电传感器输出的电信号数值都一致；S2,分别对应存储每个光电传感器输出的信号数值一致时的PWM驱动数值；S3,驱动并使用每个光电传感器时,调用存储的每个光电传感器的PWM驱动数值,在该PWM驱动数值的驱动下驱动该光电传感器。本方法可以消除或减少光电传感器光电特性差异,提高传感器的检测精度和检测一致性。(The invention discloses a method for calibrating photoelectric characteristic difference of a photoelectric sensor, which is characterized by comprising the following steps: s1, under the condition that the specific calibration environment and the irradiation environment are consistent, respectively adjusting the duty ratio of the PWM driving signal input to the input end of each photoelectric sensor in the batch sensors to enable the electric signal values output by each photoelectric sensor to be consistent; s2, storing PWM driving values when the signal values output by each photoelectric sensor are consistent; and S3, when each photoelectric sensor is driven and used, calling the stored PWM driving value of each photoelectric sensor, and driving the photoelectric sensor under the driving of the PWM driving value. The method can eliminate or reduce the difference of photoelectric characteristics of the photoelectric sensor, and improve the detection precision and detection consistency of the sensor.)

一种光电传感器光电特性差异的校准方法

技术领域

本发明涉及传感器校准

技术领域

，具体涉及一种光电传感器光电特性差异的校准方法。

背景技术

目前，光电类传感器无论是对射式还是反射式，在批量生产中都无法保证每个传感器光电特性的一致性，导致在一些高精度应用环境中存在误判或无法使用的情况，后期使用中光电传感器也会受到结构差异、高温、潮湿、氧化、粉尘污损等因素影响造成光电特性的差异，进而导致光电传感器检测精度的下降。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种光电传感器光电特性差异的校准方法，可以快速有效地校准光电传感器因批量生产中个别光电特性出现微小差异，或者光电传感器受到高温、潮湿、氧化、粉尘污损等因素造成的光电特性差异而导致传感器检测精度下降的问题。

本发明的技术方案为：

一种光电传感器光电特性差异的校准方法，其特征在于，包括步骤：

S1，在特定校准环境及照射环境一致的情况下，分别调整输入至批量传感器中每个光电传感器输入端的PWM驱动信号的占空比，使每个光电传感器输出的电信号数值都一致；

S2，分别对应存储每个光电传感器输出的信号数值一致时的PWM驱动数值；

S3，驱动并使用每个光电传感器时，调用存储的每个光电传感器的PWM驱动数值，在该PWM驱动数值的驱动下驱动该光电传感器。

进一步地，在特定校准环境下包括在特定的温度、无尘以及光照环境相对固定的环境中。

进一步地，在照射环境一致下包括针对光电传感器中光电二极管照射的物质，以及照射的物质相对于被照射光电二极管的绝对距离一致。

进一步地，S1中分别调整输入至批量传感器中每个光电传感器输入端的PWM驱动信号的占空比，使每个光电传感器输出的信号数值都一致是通过微处理器MCU输出PWM信号至每个光电传感器的发光二极管的两端，给每个光电传感器输入PWM信号。

进一步地，S1中使每个光电传感器输出的信号数值都一致是通过接收光电传感器输出端的模拟信号数值，再将该模拟信号输出转换为数值信号，再通过所述微处理器MCU进行自动判断及通过所述微处理器MCU自动调整输出PWM信号实现的。

进一步地，所述微处理器MCU集成有模数转换模块，光电传感器输出的模拟信号直接通过微处理器MCU的模数转换模块自动进行采集和判断，并通过所述微处理器MCU自动调整输出的PWM信号的占空比。

本发明的有益效果为：本方法通过调整PWM占空比调整光电传感器发光二极管的发光强度，再通过采集光电传感器接收端的数值，使光电传感器接收端的数值一致，并存储和实用该数值，可以消除或减少光电传感器光电特性差异，提高传感器的检测精度和检测一致性。

附图说明

图1为本发明实施例的方法流程图。

具体实施方式

下面参考附图并结合实施例对本发明进行详细说明。需要说明的是在不冲突的情况下，以下各实施例及实施例中的特征可相互组合。

如图1所示，一种光电传感器光电特性差异的校准方法，其特征在于，包括步骤：

S1，在特定校准环境及照射环境一致的情况下，分别调整输入至批量传感器中每个光电传感器输入端的PWM驱动信号的占空比，使每个光电传感器输出的电信号数值都一致，这里的电信号数值一致代表电信号的电压数值一致；

其中，在特定校准环境下包括在特定的温湿度、无尘以及光照环境相对固定的环境中，特别是注意避免外部阳光、灯光的影响，在照射环境一致下包括针对光电传感器中光电二极管照射的物质，以及照射的物质相对于被照射光电二极管的绝对距离一致。避免外界结构差异、光照强度、温度、湿度、氧化情况、粉尘污损等因素造成的光电特性差异而导致校准值出现误差。

另外，其中，分别调整输入至批量传感器中每个光电传感器输入端的PWM驱动信号的占空比，使每个光电传感器输出的电信号数值都一致是通过微处理器MCU输出PWM信号至每个光电传感器的发光二极管的两端，给每个光电传感器输入PWM信号。

S2，分别对应存储每个光电传感器输出的电信号数值一致时的PWM驱动数值，将该特定的PWM数值保存再FLASH中，实现掉电保存校准值，避免二次校准或每次校准的重复操作；

S3，驱动并使用每个光电传感器时，调用存储的每个光电传感器的PWM驱动数值，在该PWM驱动数值的驱动下驱动该光电传感器。即能保证每个光电传感器的光电特性一致，实现光电传感器高精度的检测，后期也可以将该校准功能集成到产品中开放给用户，这样可以提高产品实时检测的精度，一定程度上解决由于环境突变或粉尘影响造成的设备故障。

需要进一步说明的是，在一个实施例中，S1中使每个光电传感器输出的信号数值都一致是通过接收光电传感器输出端的模拟信号数值，再将该模拟信号输出转换为数值信号，再通过所述微处理器MCU进行自动判断及通过所述微处理器MCU自动调整输出PWM信号实现的。

还需要进一步说明的是，在一个实施例中，所述微处理器MCU集成有模数转换模块，光电传感器输出的模拟信号直接通过微处理器MCU的模数转换模块自动进行采集和判断，并通过所述微处理器MCU自动调整输出的PWM信号的占空比。

以上所属实施例仅表达了本发明的集中实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。