具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的耦合。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。

如图1所示，本申请所提供的磁编码器检测方法，可以应用于机器人关节的磁编码器检测装置中。其中，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据；根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理；获取预设宽度和预设阈值；根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置。如此可准确地发现磁编码器的磁环上的不良区域，方便磁编码器的测试和维护。有效避免磁编码器存在的自身缺陷，这对计算机器人关节的旋转位移数据会造成干扰。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种磁编码器检测方法，以该方法应用于如图1所示的机器人关节的磁编码器检测装置为例进行说明，包括以下步骤：

S202：获取磁环旋转至少一圈的检测数据。

其中，旋转磁编码器通常用于检测被测设备的角度位置数据，包括磁环和传感器，当磁环相对传感器转动时，磁编码器可读出相应的相对角度位置数据。至少一圈的检测数据包括：单圈检测数据及多圈检测数据，单圈检测数据是指对应于磁环单次完整运动周期上获取的数据。多圈检测数据是指对应于磁环在两个或以上的运动周期上获取的数据。

具体地，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据，其中，磁编码器检测装置获取单圈检测数据，也即磁环单次完整运动周期上获取的数据。磁编码器检测装置获取多圈检测数据，对应于磁环在大于一个运动周期上获取的数据。

S204：根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。

其中，理论数据曲线是指磁环旋转的检测数据的理想数据曲线。归一化处理是指为了方便数据处理，将得到的检测数据变为实测数据与理论数据之间的差值。

具体地，磁编码器检测装置可获取单圈检测数据，也即磁环单次完整运动周期上获取的数据。根据磁环旋转的理论数据曲线，对单圈检测数据进行归一化处理。

具体地，磁编码器检测装置获取多圈检测数据，也即对应于磁环在大于一个运动周期上获取的数据。根据磁环旋转的理论数据曲线，对多圈检测数据进行归一化处理。

S206：获取预设宽度和预设阈值。

其中，预设宽度是指在获取的磁环在一个或两个以上的运动周期的检测数据上，两个检测数据点之间的预设距离称为预设宽度。预设阈值是预设距离对应的两点数据的差值的预设差值。预设宽度和预设阈值用于判断磁环上是否出现坏点，其中预设宽度代表经验上出现坏点时数据可能出现的大峰值的宽度，而预设阈值代表经验上出现坏点时数据可能出现的大峰值的幅度。预设宽度和预设阈值由操作人员根据经验设置并输入至磁编码器的控制装置。

具体地，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据，并对检测数据进行归一化处理。磁编码器检测装置获取操作人员设置的预设宽度和预设阈值。

S208：根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置。

具体地，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据，其中，磁编码器检测装置获取单圈检测数据，也即磁环单次完整运动周期上获取的数据。磁编码器检测装置获取多圈检测数据，对应于磁环在两个或以上的运动周期上获取的数据。根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，以及获取预设距离对应的两点数据的预设阈值。根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置，重复上述操作直到找到所有的坏点位置。

在该实施例中，磁编码器检测装置通过获取磁环旋转至少一圈的检测数据；根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理；获取预设宽度和预设阈值；根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置。本申请可准确地发现磁编码器的磁环上的不良区域，方便磁编码器的测试和维护。有效避免磁编码器存在的自身缺陷对计算机器人关节的旋转位移数据造成的干扰。

如图3所示，在其中一个实施例中，根据预设宽度和预设阈值对检测数据进行处理得到坏点位置，包括：

S302：在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。

具体地，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据，根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。

S304：将大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

具体地，磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。磁编码器检测装置获取预设距离对应的两点数据的预设阈值，将得到的数据差值与预设阈值进行比较，将数据差值大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

在本实施例中，磁编码器检测装置在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值，将大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

在该实施例中，将大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置，通过设置不同的预设阈值以及预设宽度，以此找到磁环上坏点位置，从而准确地发现磁编码器的磁环上的不良区域，方便磁编码器的测试和维护。

在其中一个实施例中，在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值之前，还包括：

截取检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据。

具体地，获取磁环旋转至少一圈的检测数据，根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。截取进行归一化处理检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据。磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。磁编码器检测装置获取预设距离对应的两点数据的预设阈值，将得到的数据差值与预设阈值进行比较，将数据差值大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

在本实施例中，获取磁环旋转至少一圈的检测数据，根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理，截取进行归一化处理检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据。对单圈数据进行处理得到坏点位置，节约了数据存储空间，并提高了数据处理效率。

在其中一个实施例中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值的计算公式：

Z_i＝abs(Y_i+α-Y_i)

其中，i＝0～n-α，i为检测数据中的第i个点，Z_i为第i各点与第i+α个点的数据差值，α为预设宽度。

具体地，如图8所示，获取磁环旋转至少一圈的检测数据如图8中a所示，根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。截取进行归一化处理检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据如图8中b所示。可以通过多种方法实现截取单圈数据，在此不做限定，例如，在X轴上截取360°的范围，得到n个检测数据点。

具体地，磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度α，在进行过归一化处理的检测数据中如图8中c所示，依次公式Z_i＝abs(Y_i+α-Y_i)计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值Z_i如图8中d所示。磁编码器检测装置获取预设距离对应的两点数据的预设阈值β如图8中e所示，将得到的数据差值Z_i与预设阈值β进行比较，将数据差值Z_i预设阈值β的数据差值对应的位置进行标记如图8中f所示，并规定为坏点位置如图8中g所示。

在其中一个实施例中，磁编码器检测方法，还包括：根据坏点位置对磁环进行组装。

具体地，磁编码器检测装置获取磁环旋转至少一圈的检测数据，其中，磁编码器检测装置获取单圈检测数据，也即磁环单次完整运动周期上获取的数据。磁编码器检测装置获取多圈检测数据，对应于磁环在两个或以上的运动周期上获取的数据。根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，以及获取预设距离对应的两点数据的预设阈值。根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置，重复上述操作直到找到所有的坏点位置，得到所有坏点位置后，根据坏点位置对磁环进行组装。

具体地，对磁环进行组装使坏点位置所在区域，位于关节驱动器的运动区间之外，也即在关节极限内，机器人关节的运动范围并不是0～360°，而是小于这个数值，其极限位置称为关节极限。

在本实施例中，对磁环进行组装使坏点位置所在区域，位于关节驱动器的运动区间之外，也即在关节极限内，如此，提高了正常工作时关节驱动器的旋转位置测量的准确性。

应该理解的是，虽然图2和图3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2和图3的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

如图1所示，在其中一个实施例中，一种机器人关节的磁编码器检测装置，其中机器人关节包括电机300和与电机300连接的磁编码器，检测装置包括处理器和存储器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述的磁编码器检测方法。

具体地，机器人关节包括电机和与电机连接的磁编码器，电机为磁编码器提供动力，驱动磁编码器旋转工作。检测装置包括处理器和存储器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述的磁编码器检测方法。磁编码器检测装置获取磁环200旋转至少一圈的检测数据，并将检测数据存储于存储器。根据磁环200旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。磁编码器检测装置获取检测数据上两个数据点之间的预设宽度，以及获取预设距离对应的两点数据的预设阈值。根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置，重复上述操作直到找到所有的坏点位置，得到所有坏点位置后，根据坏点位置对磁环200进行组装。

如图1和图4所示，在其中一个实施例中，机器人关节的磁编码器检测装置，还包括标记装置100，处理器执行计算机程序时还执行：

S402：驱动电机旋转，使得标记装置对应至获取的坏点位置。

具体的，磁编码器检测装置根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置，磁编码器检测装置驱动电机旋转，使得标记装置对应至获取的坏点位置。

S404：驱动标记装置对坏点位置进行标记。

具体的，磁编码器检测装置根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置，磁编码器检测装置驱动电机旋转，使得标记装置对应至获取的坏点位置，磁编码器检测装置驱动标记装置对坏点位置进行标记。

如图5所示，在其中一个实施例中，机器人关节的磁编码器检测装置的处理器执行计算机程序时还执行：

S502：获取机器人关节的极限位置。

具体地，如图6和图7所示，机器人关节的运动范围并不是0～360°，而是小于360°这个数值，找到机器人关节的非运动范围，进而获取机器人关节的极限位置。

S504：判断坏点位置是否位于极限位置以内，若判断坏点位置位于极限位置以内，则发出警告消息。

具体地，机器人关节的磁编码器检测装置获取机器人关节的极限位置，判断坏点位置是否位于极限位置以内，若判断坏点位置位于极限位置以内，则磁编码器检测装置发出警告消息。若判断坏点位置位于极限位置以外，说明机器人关节正常运动时不会旋转到该位置，则该坏点的存在不会影响正常的数据测量，这种情况下就无需对其进行处理(或者仅需记录该坏点位置以备后续使用)。

关于机器人关节的磁编码器检测装置的具体限定可以参见上文中对于磁编码器检测方法的限定，在此不再赘述。上述机器人关节的磁编码器检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。需要说明的是，本申请实施例中对模块的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

在其中一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储周期任务分配数据，例如配置文件、理论运行参数和理论偏差值范围、任务属性信息等。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种周期任务分配方法。

领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，该存储器存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取磁环旋转至少一圈的检测数据。

根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。

获取预设宽度和预设阈值。

根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时实现根据预设宽度和预设阈值对检测数据进行处理得到坏点位置，包括：

在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。

将大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时实现进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值之前，还包括：

截取检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时实现依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值的计算公式：

Z_i＝abs(Y_i+α-Y_i)

其中，i＝0～n-α，i为检测数据中的第i个点，Z_i为第i各点与第i+α个点的数据差值，α为预设宽度。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时实现磁编码器检测方法，还包括：

根据坏点位置对磁环进行组装。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，该存储器存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

根据上述任一项实施例的车辆横向控制方法对车辆进行横向控制。

根据横向控制实现自动驾驶。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取磁环旋转至少一圈的检测数据。

根据磁环旋转的理论数据曲线，对检测数据进行归一化处理。

获取预设宽度和预设阈值。

根据预设宽度和预设阈值对进行过归一化处理的检测数据进行处理得到坏点位置。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时实现根据预设宽度和预设阈值对检测数据进行处理得到坏点位置，包括：

在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值。

将大于预设阈值的数据差值对应的位置规定为坏点位置。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时实现在进行过归一化处理的检测数据中，依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值之前，还包括：

截取检测数据中的对应磁环旋转一圈的单圈数据。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时实现依次计算相距为预设宽度的两点对应的数据差值的计算公式：

Z_i＝abs(Y_i+α-Y_i)

其中，i＝0～n-α，i为检测数据中的第i个点，Z_i为第i各点与第i+α个点的数据差值，α为预设宽度。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时实现磁编码器检测方法，还包括：

根据坏点位置对磁环进行组装。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的耦合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的耦合都进行描述，然而，只要这些技术特征的耦合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。