阅读说明：本技术 显示装置及其缺陷像素修复方法 (Display device and defective pixel repairing method thereof ) 是由 北角英人 于 2018-03-29 设计创作，主要内容包括：显示装置具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素。缺陷像素修复方法包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光,使两条配线短路,从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中,将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。由此,能够容易地修复缺陷像素。(The display device has a plurality of pixels each including a driving transistor and an electro-optical element. The defective pixel repairing method comprises the following steps: a step of irradiating a laser beam onto an overlapping portion of two wirings formed on different wiring layers and having portions overlapping each other in a plan view via an insulating film to short-circuit the two wirings, thereby electrically connecting an anode electrode of the electro-optical element in the defective pixel and an anode electrode of the electro-optical element in an adjacent normal pixel of the same color; and electrically disconnecting the driving transistor and the electro-optical element in the defective pixel. This makes it possible to easily repair the defective pixel.)

显示装置及其缺陷像素修复方法

技术领域

本发明涉及一种显示装置，尤其涉及一种具有包含电光学元件的像素的显示装置及其缺陷像素修复方法。

背景技术

近年来，具备其中包含有机电致发光(Electro Luminescence：以下，称为EL)元件的像素的有机EL显示装置已经投入实际使用。有机EL显示装置的像素包含有有机EL元件和驱动晶体管。有机EL元件是电光学元件的一种，其以与流过的电流量相对应的亮度发光。驱动晶体管与有机EL元件串联设置，并且控制流过有机EL元件的电流量。像素内的晶体管使用薄膜晶体管(Thin Film Transistor：以下称为TFT)。

在有机EL显示装置的制造工序中，在像素中发生缺陷。缺陷像素的亮度与正常像素的亮度不同。因此，在有机EL显示装置的检查工序中，进行例如基于施加检查用图案时的显示图像来检测缺陷像素的处理。此外，为了使缺陷像素不那么引人注目，有时进行将缺陷像素的颜色固定为黑色的处理(以下称为黑点化)。黑点化例如通过从像素电极分离有机EL元件的发光区域的方法、将有机EL元件的发光区域与驱动晶体管切断的方法来进行。

在小型有机EL显示装置中，由于像素数少，因此缺陷像素数也少。因此，通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，从而可以将有机EL显示装置作为良品来出货。另一方面，在中型或大型的有机EL显示装置中，由于像素数多，因此缺陷像素数也多。因此，即使通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，有机EL显示装置也有可能无法作为良品来出货。由此，在中型或大型的有机EL显示装置中，优选修复缺陷像素。

关于修复缺陷像素，以往已知有各种方法。在专利文献1中记载了一种制造显示装置的方法，其为在形成显示元件之前检测到开关晶体管的不良时，将从电源供给线到不良的开关晶体管的电流路径断线，并且以覆盖像素的方式在基板上形成钝化膜，使用钝化膜来接线已断线的开关晶体管的第二电极和邻接像素的驱动晶体管的第二电极。在专利文献2中记载了一种图像显示装置的修复方法，其为在形成驱动电路层时，在缺陷像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面和正常像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面上形成开口部，并且经由两个开口部形成直接连接两个驱动晶体管的栅极端子的跳线。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本国特开2008-262013号公报

专利文献2：日本国特开2010-249883号公报

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，在以往的缺陷像素修复方法中，由于在形成像素的期间检测缺陷像素并形成钝化膜或跳线，因此存在难以实施或成本高等问题。

因此，提出以提供一种可以容易实施的显示装置的缺陷像素修复方法为课题。

解决问题的方案

上述问题可以通过如下缺陷像素修复方法来解决，例如，一种具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素的显示装置的缺陷像素修复方法，缺陷像素修复方法的特征在于，包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使两条配线短路，从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。

发明效果

根据上述缺陷像素修复方法，通过将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接，并在缺陷像素中将驱动晶体管与电光学元件电性切断，由此，流过缺陷像素内的电光学元件的电流量几乎与流过共用驱动晶体管的正常像素内的电光学元件的电流量相同，并且缺陷像素的亮度变为几乎与共用驱动晶体管的正常像素的亮度相同。另外，仅对两条配线的重叠部分照射激光，并将驱动晶体管与电光学元件电性切断，缺陷像素的亮度就变得如上所述。由此，能够容易地修复缺陷像素。

附图说明

图1是示出第一实施方式所涉及的有机EL显示装置的构成的框图。

图2是图1所示的有机EL显示装置的像素的电路图。

图3是图1所示的有机EL显示装置的时序图。

图4是示出图2所示的像素内的连接用配线的端部的图。

图5是用于说明图1所示的有机EL显示装置的缺陷像素修复方法的图。

图6是图1所示的有机EL显示装置的修复后的像素的电路图。

图7是第二实施方式的第一例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。

图8是第二实施方式的第二例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。

图9是第二实施方式的第三例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。

图10是第三实施方式的第一例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。

图11是第三实施方式的第二例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。

具体实施方式

(第一实施方式)

图1是示出第一实施方式所涉及的有机EL显示装置的构成的框图。图1所示的有机EL显示装置10包括显示部11、显示控制电路12、扫描线驱动电路13、数据线驱动电路14、控制线驱动电路15和电流测量电路16。以下设为，m为偶数，n为2以上的整数，i为1至m的整数，j为1至n的整数。另外，将附图的水平方向称为行方向，将附图的垂直方向称为列方向。

显示部11包含有m条扫描线G1～Gm、n条数据线S1～Sn、m条控制线P1～Pm、n条监测线Q1～Qn以及(m×n)个像素20。扫描线G1～Gm和控制线P1～Pm在行方向上延伸并且彼此平行地配置。数据线S1～Sn和监测线Q1～Qn在列方向上延伸并且以与扫描线G1～Gm正交的方式彼此平行地配置。扫描线G1～Gm与数据线S1～Sn在(m×n)位置处相交。(m×n)个像素20对应于扫描线G1～Gm和数据线S1～Sn的交点二维地配置。使用未图示的配线或电极向像素20提供高电平电源电压ELVDD和低电平电源电压ELVSS。

显示控制电路12将控制信号CS1输出到扫描线驱动电路13，并且将控制信号CS2和视频信号VS输出到数据线驱动电路14。扫描线驱动电路13基于控制信号CS1来驱动扫描线G1～Gm。更具体地，扫描线驱动电路13基于控制信号CS1，从扫描线G1～Gm之中依次选择一条扫描线，并将高电平电压施加到所选择的扫描线。由此，与所选择扫描线连接的n个像素20被共同选择。数据线驱动电路14基于控制信号CS2和视频信号VS来驱动数据线S1～Sn。更具体地，数据线驱动电路14基于控制信号CS2，将与视频信号VS相对应的n个电压(以下称为数据电压)分别施加到数据线S1～Sn。由此，将n个数据电压分别写入与所选择的扫描线连接的n个像素中。像素20的亮度根据被写入到像素20中的数据电压而变化。

控制线驱动电路15驱动控制线P1～Pm。更具体地，控制线驱动电路15在消隐期间等的非显示期间内，从控制线P1～Pm之中选择一条控制线，并将高电平电压施加到所选择的控制线。由此，与所选择的控制线连接的n个像素20被共同选择。电流测量电路16测量流过被选择的n个像素20和监测线Q1～Qn的n个电流。被测量的电流用于校正视频信号VS等。此外，也可以设置信号供给电路来代替电流测量电路16，并且将监测线Q1～Qn作为信号供给线来使用，以向像素20提供初始化信号等。

图2是像素20的电路图。在图2中，记载了第i行第j列的像素20以及第(i+1)行第j列的像素20。以下，将前者称为PX1，将后者称为PX2。像素PX1和PX2在数据线S1～Sn的延伸方向上邻接。像素PX1包含有TFT21～23、有机EL元件24和电容器25。TFT21～23是N沟道型TFT。

高电平电源电压ELVDD被施加至TFT21的漏极端子。TFT21的源极端子被连接至有机EL元件24的阳极电极和TFT23的一个导通端子(图2中的左侧的端子)。低电平电源电压ELVSS被施加至有机EL元件24的阴极电极。TFT22的一个导通端子(图2中的左侧端子)被连接至数据线Sj，并且TFT22的另一个导通端子被连接至TFT21的栅极端子。TFT22的栅极端子被连接至扫描线Gi。TFT23的另一个导通端子被连接至监测线Qj，并且TFT23的栅极端子被连接至控制线Pi。电容器25设置在TFT21的栅极端子与源极端子之间。TFT21作为控制流过有机EL元件24的电流量的驱动晶体管发挥功能。

像素PX2具有与像素PX1相同的构成。像素PX2内的要素以与像素PX1中的要素相同的方式连接。但是，在像素PX2中，TFT22的栅极端子被连接至扫描线Gi+1，并且TFT23的栅极端子被连接至控制线Pi+1。像素PX2具有以像素PX1和PX2之间的边界线Z为对称轴与像素PX1几乎线对称的构成。此外，几乎线对称包括完全的线对称。

有机EL元件24发出红、绿和蓝中的任何一种颜色的光。像素20根据有机EL元件24的发光颜色，作为红色像素、绿色像素和蓝色像素中的任何一个发挥功能。在有机EL显示装置10中，配置在同一列中的像素20内的有机EL元件24发出相同的颜色。因此，像素PX1的颜色与像素PX2的颜色相同。在有机EL显示装置10中，像素20具有与相同颜色的邻接像素几乎线对称的配置。

此外，像素20中包含的TFT可以是具有由非晶硅形成的沟道层的非晶硅晶体管，可以是具有由低温多晶硅形成的沟道层的低温多晶硅晶体管，也可以是具有由氧化物半导体形成的沟道层的氧化物半导体晶体管。对于氧化物半导体，例如，也可以使用铟-镓-锌氧化物(Indium Gallium Zinc Oxide：称为IGZO)。此外，像素20中包含的TFT可以是顶栅型，也可以是底栅型。

图3是有机EL显示装置10的时序图。在有机EL显示装置10中，在一帧期间内设定m个水平期间。在第i个水平期间内，扫描线驱动电路13向扫描线Gi施加高电平电压，并且数据线驱动电路14分别向数据线S1～Sn施加n个数据电压。此时，在第i行的像素20中，TFT22导通，并且数据电压被写入到TFT21的栅极端子中。

在第i个水平期间结束时，扫描线驱动电路13向扫描线Gi施加低电平电压。因此，在第i行的像素20中，TFT22截止。即使在TFT22截止之后，TFT21的栅极-源极间电压也通过电容器25的作用保持在写入时的电平。TFT21和有机EL元件24中，流过与TFT21的栅极-源极间电压相对应的量的电流。有机EL元件24以与TFT21的栅极-源极间电压相对应的亮度发光。像素20的亮度(有机EL元件24的亮度)根据数据电压而变化。

在其他行的像素20内的TFT21的栅极端子中，也以相同的方法写入数据电压。其他行的20的亮度也根据数据电压而改变。有机EL显示装置10通过使用扫描线驱动电路13和数据线驱动电路14驱动扫描线G1～Gm和数据线S1～Sn，从而显示根据视频信号VS的图像。

对有机EL显示装置10，在形成显示部11之后并且在出货前，进行缺陷像素的检测工序和修复工序。在缺陷像素检测工序中，通过规定的方法检测缺陷像素。例如，通过分析施加检查用图案时的显示图像来检测缺陷像素。如下所示，在缺陷像素修复工序中，通过使用预先设置的连接用配线来电性连接缺陷像素内的有机EL元件24的阳极电极与正常像素内的有机EL元件24的阳极电极，使缺陷像素中的TFT21(驱动晶体管)与有机EL元件24电性切断。

像素20包含有连接用配线。以下，将像素PX1和PX2中的连接用配线分别称为配线26a和26b(参照图2)。配线26a和26b形成于不同的配线层。配线26a的一端(图2中的上端)被连接至像素PX1内的有机EL元件24的阳极电极。配线26b的一端(图2中的下端)被连接至像素PX2内的有机EL元件24的阳极电极。在执行缺陷像素修复工序之前，配线26a和26b的另一端未被连接至其他要素。像其他要素相同地，配线26a和26b以边界线Z为对称轴几乎线对称地形成。

图4是示出配线26a和26b的端部的图。在图4中，记载了边界线Z附近的配线26a和26b。配线26a在附图中从被连接至像素PX1内的有机EL元件24的阳极电极的节点向下延伸，并到达边界线Z的附近。配线26b在附图中从被连接至像素PX2内的有机EL元件24的阳极电极的节点向上延伸，并到达边界线Z的附近。配线26a和26b以另一端隔着绝缘膜(未图示)在俯视时重叠的方式形成。图4所示的相交阴影部分表示配线26a和26b的重叠部分。此外，例如有机绝缘膜被用于绝缘膜。

图5是用于说明有机EL显示装置10的缺陷像素修复方法的图。在此设为，像素PX1是缺陷像素，并且像素PX2是正常像素。在缺陷像素修复工序中，首先，激光LS被施加至配线26a和26b的重叠部分以使配线26a和26b短路(图5的(a))。由此，缺陷像素PX1内的有机EL元件24的阳极电极和正常像素PX2内的有机EL元件24的阳极电极电性连接。接下来，在缺陷像素PX1中，使TFT21与有机EL元件24电性切断(图5的(b))。具体地，使缺陷像素PX1内的TFT21的源极端子与有机EL元件24的阳极电极电性切断。

图6是修复后的像素PX1和PX2的电路图。在修复前的像素PX1和PX2中，流过TFT21和有机EL元件24的电流从具有高电平电源电压ELVDD的电源节点流向具有低电平电源电压ELVSS的电源节点。在修复后的像素PX1和PX2中，流过像素PX2内的TFT21、配线26b、配线26a和像素PX1内的有机EL元件24的电流Ia以及流过像素PX2内的TFT21和像素PX2内的有机EL元件24的电流Ib从前者的电源节点流向后者的电源节点。当有机EL元件24的特性在像素20之间相同时，电流Ia的量和电流Ib的量几乎相同。

上述电流Ia和Ib是当写入与修复后的像素PX2所处的灰度G相对应的数据电压时流过像素PX1和PX2内的有机EL元件24的电流。此时，在像素PX2内的TFT21中，流过使电流Ia和Ib合流的电流Iq。将当写入与和修复前的像素PX2相同的灰度G相对应的数据电压时流过像素PX2内的TFT21的电流设为Ip。电流Ip是当像素PX1内的有机EL元件24的阳极电极与像素PX2内的有机EL元件24的阳极电极未电性连接时的电流。扫描线驱动电路13和数据线驱动电路14在正常像素PX2中写入电流Iq的量成为电流Ip的1至2倍时的数据电压。

通常，有机EL元件的亮度与流过有机EL元件的电流量成比例。当电流Iq的量是电流Ip的量的k倍时，电流Ia和Ib的量变为电流Ip的量的几乎k/2倍。因此，修复后的像素PX1和PX2的亮度(修复后的像素PX1和PX2内的有机EL元件24的亮度)变为修复前的像素PX2的亮度(修复前的像素PX2内的有机EL元件24的亮度)的几乎k/2倍(1/2至1倍)。

以此方式，当像素PX1是缺陷像素并且像素PX2是正常像素时，通过将激光照射至两根配线26a和26b的重叠部分，以在缺陷像素PX1中将TFT21与有机EL元件24电性切断，由此使缺陷像素PX1的亮度变得与共用驱动晶体管的正常像素PX2的亮度几乎相同。由此，根据本实施方式所涉及的缺陷像素修复方法，能够容易地修复缺陷像素。

如上所述，本实施方式所涉及的缺陷像素修复方法针对具有其中分别包含驱动晶体管(TFT21)与电光学元件(有机EL元件24)的多个像素20的显示装置而实施，并包括如下步骤：对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线26b和26b的重叠部分照射激光，使两条配线26b和26b短路，从而将缺陷像素(像素PX1)内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素(像素PX2)内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤(图5的(a))；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤(图5的(b))。

根据本实施方式所涉及的缺陷像素修复方法，通过将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接，并在缺陷像素中将驱动晶体管与电光学元件电性切断，由此，流过缺陷像素内的电光学元件的电流量几乎与流过共用驱动晶体管的正常像素内的电光学元件的电流量相同，并且缺陷像素的亮度变为几乎与共用驱动晶体管的正常像素的亮度相同。另外，仅对两条配线的重叠部分照射激光，并将驱动晶体管与电光学元件电性切断，缺陷像素的亮度就变得如上所述。由此，能够容易地修复缺陷像素。

像素20包含连接用配线(配线26)，其一端连接于电光学元件的阳极电极，像素20内的连接用配线和邻接像素内的连接用配线形成于不同配线层，且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分。在连接的步骤中，使激光LS照射至缺陷像素内的连接用配线(配线26a)和邻接的正常像素内的连接用配线(配线26b)的重叠部分。驱动晶体管的一个导通端子(TFT21的源极端子)被电性连接至电光学元件的阳极电极。在切断的步骤中，在缺陷像素中，使驱动晶体管的一个导通端子与电光学元件的阳极电极电性切断。当邻接像素是相同颜色的像素时，通过以像素与邻接像素设为几乎线对称的构成，从而可以容易地进行包含连接用配线在内的像素的布局。

本实施方式所涉及的显示装置(有机EL显示装置10)包括有多条扫描线G1～Gm、多条数据线S1～Sn以及多个像素20，该多个像素20分别包含驱动晶体管(TFT21)和电光学元件(有机EL元件24)。在该显示装置中，像素20内的连接用配线(配线26)和相同颜色的邻接像素内的连接用配线形成于不同配线层，且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分。由此，能够容易地修复缺陷像素。

缺陷像素(像素PX1)与邻接的相同颜色的正常像素(像素PX2)相对应，电性连接缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极，以使缺陷像素内的连接用配线(配线26a)与正常像素内的连接用配线(配线26b)在彼此重叠的部分短路，在缺陷像素中，使驱动晶体管与电光学元件电性切断。在缺陷像素中，使驱动晶体管的一个导通端子与上述电光学元件的阳极电极电性切断，在正常像素中，驱动晶体管的一个导通端子被电性连接至电光学元件的阳极电极。由此，能够构成容易地修复缺陷像素的显示装置。

显示装置包括驱动扫描线G1～Gm和数据线S1～Sn的驱动回路(扫描线驱动电路13和数据线驱动电路14)，驱动回路对正常像素写入如下电压，即流过正常像素内的驱动晶体管的电流(电流Iq)量变为缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极未电性连接时的电流(电流Ip)量的1至2倍时的电压。由此，可以将缺陷像素的亮度和正常像素的亮度设为修复前的正常像素的亮度的几乎1/2至1倍。

上述的缺陷像素修复方法不仅可以对包括其中具有图2所示的构成的像素的有机EL显示装置实施，还可以对包括其中分别具有驱动晶体管和有机EL元件的多个像素的有机EL显示装置实施。有机EL显示装置的整体构成可以是任意的，并且像素的构成也可以是任意的，只要其包含驱动晶体管和有机EL元件即可。因此，在以下说明的实施方式中，省略关于有机EL显示装置的整体构成以及像素的构成的说明，对连接用配线的布局和缺陷像素的修复方法进行说明。

(第二实施方式)

在第二实施方式中，对具有S条型排列的显示部的有机EL显示装置中修复缺陷像素的方法进行说明。图7至图9分别是本实施方式的第一至第三例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。在以下所示的布局图中，仅记载了为理解缺陷像素修复方法的特征所需的要素。当两条配线形成于不同的配线层且隔着绝缘膜在俯视时重叠时，两条配线被描述为以窄间距平行地隔开。

在图7中，附有附图标记31的要素表示有机EL元件的阳极电极，附有附图标记32的要素表示有机EL元件的发光区域。红色发光区域32r和绿色发光区域32g在行方向上交替排列配置。在红色发光区域32r和绿色发光区域32g的附图中，蓝色发光区域32b配置在下方。阳极电极31r、31g、31b以分别包围发光区域32r、32g、32b的方式形成。在图7所示的显示部中，当仅关注红色像素时，包含红色发光区域32r的红色像素与周围的四个红色像素邻接。对于包含绿色发光区域32g的绿色像素而言也同样。

作为以不同颜色各被包含两个以上的像素的像素组，考虑包含配置在同一列中的两个红色像素和配置在同一列中的两个绿色像素的像素组。在图7所示的显示部中，每个像素在包含有驱动晶体管(未图示)和有机EL元件(未图示)的基础上，还包含有其中一端被连接至阳极电极31的配线33。图7所示的显示部具有配线34，该配线34与像素组相对应地设置且电性独立。配线34形成于与阳极电极31和配线33不同的配线层。

在图7中，将附有附图标记A1～A4的阳极电极称为第一至第四阳极电极，并将包含第一至第四阳极电极的像素分别称为第一至第四像素。配线34具有在行方向上延伸的第一部分和第二部分，以及在列方向上延伸的第三部分。第一部分具有隔着绝缘膜(未图示)在俯视时与被连接至第一阳极电极的配线33彼此重叠的部分，以及隔着绝缘膜在俯视时与被连接至第二阳极电极的配线33彼此重叠的部分。第二部分具有隔着绝缘膜隔着绝缘膜在俯视时与被连接至第三阳极电极的配线33彼此重叠的部分，以及隔着绝缘膜在俯视时与被连接至第四阳极电极的配线33彼此重叠的部分。第三部分连接第一部分和第二部分并具有隔着绝缘膜在俯视时与阳极电极31b彼此重叠的部分。由此，配线34形成于与配线33不同的配线层，并且具有针对像素组内的像素的每一个隔着绝缘膜在俯视时与配线33彼此重叠的部分。此外，配线34具有隔着绝缘膜在俯视时与蓝色像素内的有机EL元件的阳极电极31b彼此重叠的部分。

对第一例所涉及的有机EL显示装置，也在形成显示部之后并且在出货前，进行缺陷像素的检测工序和修复工序。当缺陷像素是第一像素时，使激光照射至被连接至第一阳极电极的配线33与配线34彼此重叠的部分X1以及被连接至第三阳极电极的配线33与配线34彼此重叠的部分X3。由此，第一阳极电极与第三阳极电极电性连接。在此基础上，在第一像素中，使驱动晶体管(未图示)与有机EL元件电性切断。

当缺陷像素是第二像素时，使激光照射至被连接至第二阳极电极的配线33与配线34重叠的部分X2以及被连接至第四阳极电极的配线33与配线34重叠的部分X4。由此，第二阳极电极与第四阳极电极电性连接。在此基础上，在第二像素中，使驱动晶体管(未图示)与有机EL元件电性切断。当缺陷像素是第三像素或第四像素时，进行相同的处理。

图8所示的显示部具有配线35以代替配线34。配线35形成于与阳极电极31相同的配线层，并且形成于与配线33不同的配线层。与配线34相同地，配线35具有第一至第三部分。然而，配线35的第三部分在俯视时不与阳极电极31b重叠。由此，配线35以不与蓝色像素内的有机EL元件的阳极电极31b重叠的方式形成。第二例所涉及的有机EL显示装置除上述之外的方向与第一例所涉及的有机EL显示装置相同。对第二例所涉及的有机EL显示装置实施与第一例所涉及的有机EL显示装置相同的缺陷像素修复工序。

图9所示的显示部具有配线36r和36g以代替配线33和34。设置配线36r以电性连接在列方向上邻接的红色像素内的阳极电极31r。设置配线36g以电性连接在列方向上邻接的绿色像素内的阳极电极31g。然而，当以此方式为每种颜色设置连接用配线时，配线区域变大。

相对于此，在本实施方式的第一例和第二例所涉及的有机EL显示装置中，作为红色像素和绿色像素中共用的连接用配线，设置有配线34和35。由此，能够缩小配线区域。此外，由于可以容易地实现连接用配线的引绕，因此，如第二例那样，将配线35用与最上层的阳极电极31相同的材料制成，并使用激光CVD(化学气相沉积，Chemical VaporDeposition)来连接配线33和35。由此，可以抑制当照射激光以连接不同层的配线时由膜跳动引起的颗粒的产生。

本实施方式的第一例和第二例所涉及的缺陷像素修复方法被应用于具有多个像素的显示装置(有机EL显示元件)，其中每个像素包含驱动晶体管和电光学元件(有机EL元件)。像素包含有一端被连接至电光学元件的阳极电极31的第一连接用配线(配线33)。显示装置具有第二连接用配线(配线34和35)，该第二连接用配线与以不同颜色各被包含两个以上的像素的像素组(包含两个红色像素和两个绿色像素的像素组)对应设置而电性独立。第二连接用配线形成于与第一连接用配线不同的配线层，并且具有针对像素组内的像素的每一个隔着绝缘膜在俯视时与第一连接用配线彼此重叠的部分(重叠部分X1～X4)。在连接的步骤中，使激光照射至缺陷像素内的第一连接用配线与第二连接用配线彼此重叠的部分以及正常像素内的第一连接用配线与第二连接用配线彼此重叠的部分(例如，重叠部分X1、X3)。通过使用多种颜色的像素中共用的第二连接用配线，可以缩小配线面积。

缺陷像素与相同像素组中包含的相同颜色的正常像素相对应。缺陷像素与相同像素组中包含的相同颜色的正常像素相对应，电性连接缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极，以使缺陷像素内的第一连接用配线与第二连接用配线在彼此重叠的部分短路并使正常像素内的第一连接用配线与第二连接用配线在彼此重叠的部分短路，在缺陷像素中，使驱动晶体管与电光学元件电性切断。在缺陷像素中，使驱动晶体管的一个导通端子与电光学元件的阳极电极电性切断，在正常像素中，驱动晶体管的一个导通端子被电性连接至上述电光学元件的阳极电极。

像素组包含：第一颜色像素(两个红色像素)，其在同列中配置有两个以上；第二颜色像素(两个绿色像素)，其在同列中配置有两个以上，第二连接用配线具有针对第一颜色像素的每一个隔着绝缘膜在俯视时与第一连接用配线彼此重叠的部分和针对第二颜色像素的每一个隔着绝缘膜在俯视时与第一连接用配线彼此重叠的部分。像素组中包含的多个像素共用第二连接用配线。

在第一例所涉及的显示装置中，第二连接用配线(配线34)具有隔着绝缘膜在俯视时与蓝色像素内的有机EL元件的阳极电极31b彼此重叠的部分。在第二例所涉及的显示装置中，第二连接用配线(配线34)以隔着绝缘膜在俯视时不与蓝色像素内的有机EL元件的阳极电极31b重叠的方式形成。

(第三实施方式)

在第三实施方式中，对具有使用了菱形砖排列的显示部的有机EL显示装置的修复缺陷像素方法进行说明。图10和图11分别是本实施方式的第一例和第二例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。在图10中，附有附图标记42的要素表示有机EL元件的发光区域。此外，在如下所述的布局图中，省略了有机EL元件的阳极电极。有机EL元件的阳极电极以包括发光区域和附图中的黑圆的方式形成。

绿色发光区域42g在行方向和列方向上排列配置。红色发光区域42r和蓝色发光区域42b在(2×2)个绿色发光区域42g的中心附近交替配置。作为以不同颜色各被包含两个以上的像素的像素组，考虑包含两个红色像素、四个绿色像素和两个蓝色像素的像素组。在图10所示的显示部中，每个像素包含有一端被连接至有机EL元件的阳极电极(未图示)的配线43。配线43具有相同的形状。图10所示的显示部具有配线44，该配线34与像素组相对应地设置且电性独立。配线44形成于与有机EL元件的阳极电极和配线43不同的配线层。配线44在行方向上延伸，并且具有针对像素组内的像素的每一个隔着绝缘膜在俯视时与配线43彼此重叠的部分。

对本实施方式所涉及的有机EL显示装置，也在形成显示部之后并且在出货前，进行缺陷像素的检测工序和修复工序。当缺陷像素是红色像素时，使激光照射至被连接至具有缺陷的红色像素内的有机EL元件的阳极电极的配线43与配线44重叠的部分以及被连接至正常的红色像素内的有机EL元件的阳极电极的配线43与配线44重叠的部分。由此，具有缺陷的红色像素内的有机EL元件的阳极电极和正常的红色像素内的有机EL元件的阳极电极电性连接。另外，在具有缺陷的红色像素中，使驱动晶体管(未图示)与有机EL元件电性切断。当缺陷像素是绿色像素或蓝色像素时，进行相同的处理。

在图11所示的显示部中，每个像素包含有一端被连接至有机EL元件的阳极电极(未图示)的配线45。设置配线45r以电性连接两个红色像素内的有机EL元件的阳极电极(未图示)。设置配线45g以电性连接两个绿色像素内的有机EL元件的阳极电极(未图示)。设置配线45b以电性连接两个蓝色像素内的有机EL元件的阳极电极(未图示)。然而，当以此方式为每种颜色设置连接用配线时，配线区域变大。

相对于此，在本实施方式的第一例所涉及的有机EL显示装置中，作为红色像素、绿色像素和蓝色像素中共用的第二连接用配线，设置有配线44。由此，能够缩小配线区域。另外，第一连接用配线(配线43)具有相同的形状。因此，可以容易地设置包含配线43的显示部的布局。除此之外，由于在相同颜色的像素之间负载电容变得相同，因此在相同颜色的像素之间由负载电容导致引入电压变得相同。因此，可以抑制有机EL元件的驱动电压的偏差。

此外，在第一至第三实施方式中，作为具备其中包含驱动晶体管和电光学元件的像素的显示装置的例子，说明了具备其中包含有机EL元件(有机发光二极管)的像素的有机EL显示装置，但也可以以相同的方法来构成具备其中包含无机发光二极管的像素的无机EL显示装置、具备其中包含量子点发光二极管的像素的QLED(量子点发光二极管，Quantum-dot Light Emitting Diode)显示装置。

在上述的缺陷像素修复方法中，在电性连接电光学元件的阳极电极的步骤中，完成了对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，以使两条配线短路。取而代之的是，也可以是在不预先设置配线而在电性连接电光学元件的阳极电极的步骤中，通过使用钨等材料的激光CVD来新形成将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的配线。

附图标记说明

10...有机EL显示装置

11...显示部

12...显示控制电路

13...扫描线驱动电路

14...数据线驱动电路

20...像素

21～23...TFT

24...有机EL元件

25...电容器

26、33～36、43～45...配线

31...阳极电极

32、42...发光区域

LS...激光