阅读说明：本技术 质控/校准测试方法、样本分析仪及计算机可读存储介质 (Quality control/calibration test method, sample analyzer, and computer-readable storage medium ) 是由 许华明 张震 于 2019-04-08 设计创作，主要内容包括：本发明实施例公开了一种质控/校准测试方法、一种样本分析仪及一种计算机可读存储介质,样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓,在该试剂仓内还设有质控/校准品保存位,该质控/校准测试方法包括：获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令；获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息；根据特征信息和位置信息,控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品；利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。(The embodiment of the invention discloses a quality control/calibration test method, a sample analyzer and a computer readable storage medium, wherein the sample analyzer comprises a reagent bin which is provided with a plurality of reagent storage positions and used for refrigerating reagents, and a quality control/calibration quality storage position is also arranged in the reagent bin, and the quality control/calibration test method comprises the following steps: acquiring a quality control/calibration test instruction of a quality control/calibration product to be tested; acquiring characteristic information of a quality control/calibration product to be tested and position information of a quality control/calibration product storage bit where the quality control/calibration product to be tested is located; controlling the sample sucking needle to move to a quality control/calibration product storage position where the quality control/calibration product to be detected is located to suck a specified amount of quality control/calibration product to be detected according to the characteristic information and the position information; and performing quality control/calibration test by using the specified quantity of quality control/calibration products to be tested.)

质控/校准测试方法、样本分析仪及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及体外诊断领域，尤其涉及一种质控/校准测试方法、一种样本分析仪及一种计算机可读存储介质。

背景技术

为了确保体外诊断设备检测结果的准确性，一般使用具有溯源性的标准品来对体外诊断设备进行校准，并跟踪设备检测结果的稳定性。以全自动化学发光分析仪为例，新批次的试剂在上机使用时，必须使用校准品对仪器和试剂体系进行校正，以确保仪器检测输出结果的正确性；同时，为了监控全自动化学发光分析仪的工作状态，通常实验室管理规范中会要求科室对仪器进行每日质控，即通过对具有一定溯源性的稳定的标准品进行每日测试，评价仪器在一定时间段内检测结果的稳定性和一致性。除了上述场景外，仪器在所处环境发生改变，如搬运、温湿度明显变化等情况下，均需使用质控品、校准品确认仪器性能是否发生偏移并校正。

上述质控品或校准品一般都具备一定的生物活性，为了确保它们的品质稳定性，通常都需要放置在冰箱中进行冷藏保存(如2-8℃)。当需要使用质控品、校准品时，将其从冰箱中取出，并放置在分析仪的样本位上，设定或通过条码扫描获取质控品或校准品位置，之后选择执行质控程序或校准程序，完成对仪器的质控监测或校准。在仪器测试完毕后，需要将质控品或校准品取出、封装，然后放回冰箱保存，由此会导致操作过程繁琐复杂；且由于化学发光分析仪不同项目测试时间不同，操作人员在质控/校准测试之后极易忘记取出质控品或校准品，或在仪器内放置较长时间后才取出，而质控品或校准品在室温下敞口长期放置极易发生变质，导致测试结果不准确，甚至整瓶质控品或校准品报废。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例期望提供一种质控/校准测试方法、一种样本分析仪及一种计算机存储介质，其能够简化质控/校准测试过程，提高测试结果的准确性。

本发明实施例提供一种质控/校准测试方法，应用于样本分析仪、尤其是生化仪或化学发光免疫分析仪，所述样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓，在该试剂仓内还设有质控/校准品保存位，所述方法包括：

获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令；

获取待测质控/校准品的特征信息以及获取所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息；

根据所述特征信息和所述位置信息，控制吸样针移动到所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品；

利用所述指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

在上述方法中，所述质控/校准品保存位可以构成为所述多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位，或者可以构成为独立于所述多个试剂保存位的保存位。

在上述方法中，所述获取待测质控/校准品的特征信息的步骤可以包括：

通过人机交互获得待测质控/校准品的特征信息；或者，

通过扫描装置扫描所述待测质控/校准品的容器的标识部获得待测质控/校准品的特征信息。

在上述方法中，所述获取所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息的步骤可以包括：

通过人机交互预先设定所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位，从而获得所述位置信息；或者，

通过扫描装置获得所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息。

在上述方法中，所述待测质控/校准品的特征信息可以包括质控/校准品名称、生产日期、有效期、总量中的至少一种。

在上述方法中，所述控制吸样针吸取指定量的待测质控/校准品之后，所述方法还可以包括：

获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息。

在上述方法中，所述获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息的步骤可以包括：

通过所述待测质控/校准品的总量和所述指定量，确定并且与所述待测质控/校准品的特征信息相关联地存储所述余量信息；或者

通过检测所述待测质控/校准品的当前液面高度，确定并且与所述待测质控/校准品的特征信息相关联地存储所述余量信息。

在上述方法中，在获取并存储所述待测质控/校准品的余量信息之后，所述方法还可以包括：

根据所述余量信息判断所述待测质控/校准品是否足以用于下一次质控/校准测试；

当所述待测质控/校准品不足以用于下一次质控/校准测试时，输出质控/校准品不足的报警信号和/或输出更换所述待测质控/校准品的提示信息。

在上述方法中，所述获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令的步骤可以包括：

预先设置所述待测试质控/校准品的质控/校准测试时刻；

获取所述样本分析仪的系统时间；

当检测出所述样本分析仪的系统时间到达所述质控/校准时刻时，则获取到所述质控/校准测试指令。

在上述方法中，在获取待测质控/校准品的特征信息之后，并且在控制吸样针吸取待测质控/校准品之前，所述方法还可以包括：

获取所述样本分析仪的系统时间；

根据所述系统时间和所述待测质控/校准品的特征信息中的生产日期和有效期，确定所述待测质控/校准品是否在有效期内；

当所述待测质控/校准品不在有效期内时，输出所述待测质控/校准品过期的报警信号和/或输出更换所述待测质控/校准品的提示。

本发明实施例还提供一种样本分析仪、尤其是生化仪或化学发光免疫分析仪，所述样本分析仪包括：

试剂仓，具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓，其中，在该试剂仓内还设有用于冷藏保存质控/校准品的质控/校准品保存位；

吸样针，设置用于吸排样本；

控制装置，设置用于在接收到对待测质控/校准品的质控/校准测试指令时控制吸样针移动到所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品，以利用所述指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

在上述样本分析仪中，所述试剂仓可以包括：试剂盘和制冷装置，其中，所述试剂盘可以包括多个试剂保存位。

在上述样本分析仪中，所述质控/校准品保存位可以构成为所述多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位，或者可以构成为独立于所述多个试剂保存位的保存位。

在上述样本分析仪中，所述待测质控/校准品的容器口上可以设有防止液体挥发的防护装置。

在上述样本分析仪中，所述样本分析仪还可以包括扫描装置，所述扫描装置用于获取所述待测质控/校准品的特征信息和所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息。

在上述样本分析仪中，所述处理器设置用于执行上述任一项所述的方法。

本发明实施例还提供一种质控/校准测试装置，应用于样本分析仪、尤其是生化仪或化学发光免疫分析仪，所述质控/校准测试装置包括：处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的方法。

本发明实施例还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，应用于样本分析仪，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的方法。

按照本发明，通过在样本分析仪的试剂仓中设置质控/校准品保存位，由于样本分析仪的试剂仓实际本身就具有冷藏功能，故将质控/校准品放置在样本分析仪的试剂仓中能够防止质控/校准品变质，进而提高测试结果的准确性，而且也无需在质控/校准测试结束之后将其再次取出，至少在用户忘记取出时也不会导致质控/校准品长期遗忘在常温环境下，而是处于冷藏中。因此，按照本发明将质控/校准品放置在设置于试剂仓的质控/校准品保存位处，当样本分析仪接收到质控/校准测试指令时，直接指示吸样针移动至质控/校准品保存位处获取质控/校准品，并完成后续的质控/校准测试的过程，简化了质控/校准测试过程。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种样本分析仪的俯视结构示意图；

图2为图1中的样本分析仪的样本试剂装载装置的俯视结构示意图；

图3为图2所示的样本试剂装载装置的分解示意图；

图4为图2所示的样本试剂装载装置中扫描装置的扫描识别码的示意图；

图5为本发明实施例提供的一种质控/校准测试方法的示意流程图；

图6为本发明实施例提供的通过人机交互建立质控/校准品和质控/校准品保存位的对应关系的示意流程图；

图7为本发明实施例提供的通过扫描装置建立质控/校准品和质控/校准品保存位的对应关系的示意流程图；

图8为本发明实施例提供的一种质控/校准测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本发明所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

参见图1，本发明实施例提供一种样本分析仪、尤其是化学发光免疫分析仪，该化学发光免疫分析仪用于对待测的样本进行分析检测，以得到相应的检测结果，满足使用需求。所述样本分析仪包括：试剂仓，具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓，其中，在该试剂仓内还设有用于冷藏保存质控/校准品的质控/校准品保存位；吸样针，设置用于吸排样本；控制装置，设置用于在接收到对待测质控/校准品的质控/校准测试指令时控制所述吸样针移动到所述待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品，以利用所述指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

具体地，在本发明中，样本分析仪、尤其是化学发光免疫分析仪可以包括样本试剂装载装置1、孵育测光装置2、分注装置3、磁分离清洗装置4、反应容器抓取装置5、混匀装置6、排废液装置7、反应容器装载装置8和控制装置(未示出)等。样本试剂装载装置1用于装载样本与试剂。具体的，样本试剂装载装置1能够存储多种样本。样本试剂装载装置1还能够装载样本检测时所需要的各种试剂，方便选择所需的试剂，提高吸取试剂的效率。分注装置3包括吸样针和/或试剂针(未示出)，用于吸排样本和试剂，以实现将样本和试剂转移到反应容器中。混匀装置6用于支撑反应容器。可以理解的是，空的反应容器被转移到混匀装置中，分注装置3分别将样本与试剂转移到反应容器中，通过混匀装置6将样本与试剂混合均匀后，将反应容器转移至孵育测光装置2中。孵育测光装置2用于孵育与发光检测，磁分离清洗装置4用于分离清洗。反应容器被转移至孵育测光装置2后，孵育测光装置2能够对反应容器中的样本与试剂进行孵育，孵育后的反应容器被转移至磁分离清洗装置4进行分离清洗，清洗后的反应容器再被转移回孵育测光装置2中进行发光检测，以得到样本的对应参数。反应容器抓取装置5用于在混匀装置6、孵育测光装置2与磁分离清洗装置4之间转运反应容器。排废液装置7用于排出检测后反应容器中的废液，排废液的同时，排废液装置7还能对孵育测光装置2中进行发光检测的反应容器遮光。反应容器装载装置8用于装载样本和试剂反应的反应容器。

如图2至4所示，按照本发明的样本试剂装载装置1包括用于装载样本的样本装载机构11以及用于装载试剂的试剂装载机构12，样本装载机构11套设于试剂装载机构12的外侧，且样本装载机构11与试剂装载机构12相互独立转动。样本装载机构11能够存储待检测的样本，试剂装载机构12存储样本检测时所需的各种试剂。

试剂装载机构12可以包括试剂盘122及可选地包括驱动试剂盘122相对于样本装载机构11转动的试剂存储驱动结构126。所述试剂盘122收容于试剂仓121中，试剂盘122用于存储具有试剂的试剂容器，也就是说在试剂盘上具有多个试剂保存位。试剂仓121能够起到冷藏功能，能够冷藏试剂盘122上的试剂，实现试剂的低温保存；而且在整机处在关机状态时，试剂仓121可以支持试剂继续制冷到更低温度，以便试剂在机内过夜。

按照本发明，在所述试剂仓121中、尤其是在所述试剂盘122中设有至少一个质控/校准品保存位置，用于保存质控/校准品。由于试剂仓121具有冷藏功能，故将质控/校准品放置在试剂仓121中能够防止质控/校准品变质，进而提高测试结果的准确性，而且也无需在质控/校准测试结束之后将其再次取出，至少在用户忘记取出时也不会导致质控/校准品长期遗忘在常温环境下，而是处于冷藏中。因此，按照本发明将质控/校准品放置在设置于试剂仓121的质控/校准品保存位处，当化学发光分析仪接收到质控/校准测试指令时，直接指示分注装置3的吸样针移动至质控/校准品保存位处获取质控/校准品，并完成后续的质控/校准测试的过程，简化了质控/校准测试过程。

在本发明中，所述质控/校准品保存位可以构成为所述多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位，或者也可以构成为独立于所述多个试剂保存位的保存位。

进一步地，所述待测质控/校准品的容器口上设有防止液体挥发的防护装置，该防护装置可以配合吸样针的动作实现开合吸样和密封保护的功能。示例性的，质控/校准品的容器口设置有带十字切口的橡胶薄膜，在吸样针下针时，薄膜十字切口处会被顶开；针移走后，十字切口恢复原样，封闭切口。

试剂存储驱动结构126可以包括试剂存储驱动电机、同步带结构及转轴，转轴伸入到试剂仓121中，同步带结构传动连接试剂存储驱动电机与转轴，试剂盘122安装于转轴上。试剂存储驱动电机通过同步带结构驱动转轴转动，进而转轴带动试剂盘122转动，使得试剂盘122中待吸取的试剂容器或质控/校准品容器转移到吸试剂工位，分注装置3的试剂针或吸样针吸取试剂或质控/校准品并转移到反应容器中；分注装置3的试剂针或吸样针吸取试剂或质控/校准品后，试剂存储驱动结构126可以驱动试剂盘122再次转动，使得下一待检测试剂容器转动到吸试剂工位。

备选地，也可以不设置吸试剂工位和试剂存储驱动结构，而是直接由控制装置控制分注装置3试剂针或吸样针移动到试剂或质控/校准品所在的位置吸取试剂或质控/校准品，然后转移到反应容器中。

所述吸样针和所述试剂针可以是同一元件，也可以是不同的两个元件。

更进一步地，试剂装载机构12还可以包括试剂仓盖123，试剂仓盖123盖设于试剂仓121上。试剂仓盖123能够避免试剂仓121内的冷量流失，保证制冷效果，节省成本。而且试剂仓盖123可以具有多个吸试剂孔1231，试剂针能够伸入任一吸试剂孔1231中吸取试剂。

进一步地，试剂装载机构12还可以包括开关盖124，试剂仓盖123上具有用于放置或取出试剂容器的放取开口，开关盖124可开关地位于试剂仓盖123的放取开口中。当试剂盘122上某一试剂容器中的试剂需要补充时，打开开关盖124，通过放取开口取出试剂容器，补充完试剂后，再经放取开口将试剂容器放置于试剂盘122上。这样能够方便操作人员使用，同时还能避免试剂仓121内冷量流失。

此外，样本试剂装载装置1还包括用于扫描识别码的扫描装置13，样本装载机构11上设置有扫描缺口1111。扫描装置13能够扫描样本装载机构11上样本容器的识别码，扫描装置13还能经扫描缺口1111扫描试剂装载机构12上的试剂容器和质控/校准品容器的识别码。控制装置与扫描装置13电连接，控制装置用于控制扫描装置13进行扫描操作并存储扫描装置13扫描获取的各项信息，如样本的位置及待检测项目等信息，如试剂和质控/校准品的位置及种类等信息，扫描装置13能够将样本、试剂和质控/校准品的基本信息如位置、待检测项目信息等等传输给控制装置。

换言之，所述扫描装置13可以设置用于获取待测质控/校准品的特征信息和待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息，所述待测质控/校准品的特征信息例如可以包括质控/校准品名称、生产日期、有效期、总量中的至少一种。

此外，试剂装载机构12还包括制冷装置(未示出)，制冷装置用于对试剂仓121内进行制冷，使得试剂仓121内处于低温环境，便于试剂和质控/校准品保藏。所述制冷装置可以设置在所述试剂盘下部。此外，所述制冷装置可以包括半导体制冷片或压缩机。此外，所述化学发光免疫分析仪可以包括显示操作界面，用于显示样本分析结果和/或显示试剂和/或质控/校准品的相关信息，例如特征信息、类型信息、位置信息等以及用于接收用户的设置和控制指令、例如质控/校准测试指令。

如图5所示，本发明实施例提供一种质控/校准测试方法，应用于尤其是按照本发明的样本分析仪、尤其是生化仪或化学发光免疫分析仪，所述样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓121，在该试剂仓121内还设有质控/校准品保存位，该方法包括：

S101、获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令。

本发明实施例提供的一种质控/校准测试方法适用于在样本分析仪的试剂仓中设置质控/校准品保存位用以保存质控/校准品的场景下。

本发明实施例中，样本分析仪包括具有冷藏功能的试剂仓121，试剂仓中设置有多个试剂保存位。可以将多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位设置为质控/校准品保存位，即，质控/校准品保存位构成为多个试剂保存位中的至少一个试剂保存位；或者预先在样本分析仪中构建独立于所述多个试剂保存位的质控/校准品保存位，即，质控/校准品保存位构成为独立于多个试剂保存位的保存位。具体的根据实际情况进行设置，本发明实施例不做具体的限定。

本发明实施例中，质控/校准测试指令可以由用户在样本分析仪的显示操作界面上通过人机交互的方式给出。例如可以由用户在样本分析仪中预先设置待测质控/校准品的质控/校准测试时刻，并获取样本分析仪的系统时间，当样本分析仪检测出样本分析仪的系统时间到达质控/校准时刻时，则获取到质控/校准测试指令；或者可以由用户在样本分析仪的显示操作界面进行触发质控/校准测试的触控操作，此时，样本分析仪获取到质控/校准测试指令。具体的根据实际情况进行选择，本发明实施例不做具体的限定。

可以理解的是，由于在样本分析仪的试剂仓中同时保存待测质控/校准品和试剂，可以根据科室空闲时间预设质控/校准测试时刻，能够自动完成每日质控/校准测试，进而节省了科室工作量以及工作时间。

S102、获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息。

本发明实施例中，样本分析仪可以通过人机交互获得待测质控/校准品的特征信息；或者样本分析仪可以通过扫描装置扫描待测质控/校准品的标识部而自动获得待测质控/校准品的特征信息，具体的根据实际情况进行选择，本发明实施例不做具体的限定。

本发明实施例中，待测质控/校准品的特征信息包括质控/校准品名称、生产日期、有效期、总量中的至少一种，具体的根据实际情况进行选择，本发明实施例不做具体的限定。

本发明实施例中，由于待测质控/校准品存放在质控/校准品容器中，且质控/校准品容器上设置有标识部，该标识部承载有待测质控/校准品的特征信息，样本分析仪通过扫描装置扫描质控/校准品容器的标识部而获取待测质控/校准品的特征信息。

本发明实施例中，样本分析仪可以通过人机交互预先设定待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位，从而获得位置信息，例如用户可以在样本分析仪的显示操作界面上将某一试剂保存位或者某一独立的质控/校准品保存位设置为某一质控/校准品的质控/校准品保存位，从而获取该质控/校准品保存位的位置信息；或者，样本分析仪可以通过扫描装置获得待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息。具体的根据实际情况进行选择，本发明实施例不做具体的限定。

本发明实施例中，当样本分析仪获取到待测质控/校准品的特征信息以及待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息之后，样本分析仪建立并保存待测质控/校准品的特征信息以及待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息之间的对应关系，由此，样本分析仪能够根据对应关系确定放置待测质控/校准品的待测质控/校准品保存位的位置信息。

在一种实施方式中，样本分析仪通过显示操作界面上的人机交互分别获取待测质控/校准品保存位的位置信息和待测质控/校准品的特征信息，之后建立特征信息与位置信息的对应关系。

示例性的，如图6所示，在步骤S201中，首先将第一质控/校准品放置在试剂仓的第一试剂仓位上；在步骤S202中，在试剂仓位设置界面上选择第一试剂仓位作为第一质控/校准品的保存位，从而获取第一质控/校准品的保存位的位置信息；之后在步骤S203中，在试剂仓位设置界面上输入第一质控/校准品的特征信息，例如质控/校准品名称、项目、生产日期、有效期和总量等；最后在步骤S204中，建立并保存第一质控/校准品的特征信息以及第一质控/校准品所在的保存位的位置信息之间的对应关系。

在另一种实施方式中，样本分析仪上可以设置有扫描装置，样本分析仪利用扫描装置扫描待测质控/校准品的容器的标识部，同时获得待测质控/校准品的特征信息和扫描位置对应的待测质控/校准品保存位；之后，建立特征信息与位置信息的对应关系。

示例性的，如图7所示，在步骤S301中，首先将第一质控/校准品放置在试剂仓的任一保存位上；在步骤S302中，样本分析仪控制扫描装置对试剂仓的各个保存位进行扫描，以获得第一质控/校准品的特征信息和第一质控/校准品所在的保存位的位置信息；最后在步骤S303中，建立并保第一质控/校准品的特征信息以及第一质控/校准品所在的保存位的位置信息之间的对应关系。

需要说明的是，本发明实施例不限定步骤S101——样本分析仪获取质控/校准测试指令以及步骤S102——获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息(或设置待测质控/校准品的特征信息和质控/校准品保存位的位置信息的对应关系)这两个步骤的执行顺序，具体的根据实际情况进行选择。也就是说，样本分析仪可以先按照图6所示的方法获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息并且建立特征信息与位置信息的对应关系，然后才获取质控/校准测试指令；或者样本分析仪也可以在获取到质控/校准测试指令之后再控制控制扫描装置对试剂仓的各个保存位进行扫描，以获得第一质控/校准品的特征信息和第一质控/校准品所在的保存位的位置信息。

需要说明的是，试剂保存位可以包括设置有混匀装置的试剂保存位和未设置有混匀装置的试剂保存位，其中，设置有混匀装置的试剂保存位能够对化学发光磁珠试剂进行混匀操作，当待测质控/校准品的类型为混匀类型时，可以将该待测质控/校准品放置到试剂仓中设置有混匀装置的试剂保存位上，即，将设置有混匀装置的试剂保存位设置为质控/校准品保存位。所述混匀类型为在测试之前需要进行混匀操作的类型。

进一步地，当样本分析仪获取到待测质控/校准品的特征信息之后，样本分析仪可以判断该待测质控/校准品的类型，当待测质控/校准品的类型为混匀类型时，样本分析仪指示将该待测质控/校准品放置在设置混匀装置的待测质控/校准品保存位上。

S103、根据特征信息和位置信息，控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品。

当样本分析仪获取到待测质控/校准品的特征信息以及获取到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息之后，样本分析仪根据特征信息和位置信息，控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品。

本发明实施例中，样本分析仪控制吸样针移动至待测质控/校准品的保存位处，并从质控/校准测试指令中确定出进行质控/校准测试的指定量，之后，样本分析仪控制吸样针***存放待测质控/校准品的容器中，吸取指定量的待测质控/校准品。

进一步地，当待测质控/校准品为混匀类型时，样本分析仪先利用待测质控/校准品保存位的混匀装置对待测质控/校准品进行混匀，之后，样本分析仪控制吸样针吸取指定量的待测质控/校准品。

S104、利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

当样本分析仪控制吸样针在待测质控/校准品保存位吸取指定量的待测质控/校准品之后，样本分析仪利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

本发明实施例中，吸样针在吸取了指定量的待测质控/校准品之后，样本分析仪控制吸样针移动至反应容器，将所吸取的待测质控/校准品排到反应容器中与试剂反应，以完成质控/校准测试。

进一步地，当样本分析仪控制吸样针在待测质控/校准品保存位吸取指定量的待测质控/校准品之后，样本分析仪可以获取并存储待测质控/校准品的余量信息，之后，样本分析仪可以根据余量信息判断待测质控/校准品是否足以用于下一次质控/校准测试；当待测质控/校准品不足以用于下一次质控/校准测试时，样本分析仪输出质控/校准品不足的报警信号和/或输出更换待测质控/校准品的提示信息。

可选的，样本分析仪获取待测质控/校准品的余量信息的步骤可以包括：样本分析仪通过待测质控/校准品的总量和指定量，确定并且与待测质控/校准品的特征信息相关联地存储余量信息；或者，样本分析仪通过检测待测质控/校准品的当前液面高度，确定并且与待测质控/校准品的特征信息相关联地存储余量信息，具体的根据实际情况进行选择，本发明实施例不做具体的限定。

进一步地，在获取待测质控/校准品的特征信息之后并且在控制吸样针吸取待测质控/校准品之前，样本分析仪还可以获取样本分析仪的系统时间；之后样本分析仪根据系统时间和待测质控/校准品的特征信息中的生产日期和有效期，确定待测质控/校准品是否在有效期内；当待测质控/校准品不在有效期内时，样本分析仪输出待测质控/校准品过期的报警信号和/或输出更换待测质控/校准品的提示。

可以理解的是，通过在样本分析仪的试剂仓中设置质控/校准品保存位，由于样本分析仪的试剂仓本身具有冷藏功能，故将质控/校准品放置在试剂仓中能够防止质控/校准品变质，进而提高测试结果的准确性。将质控/校准品放置在质控/校准品保存位处，当样本分析仪接收到质控/校准测试指令时，直接指示吸样针移动至质控/校准品保存位处获取质控/校准品，并完成后续的质控/校准测试的过程，简化了质控/校准测试过程。

如图8所示，本发明实施例提供一种质控/校准测试装置，应用于尤其是按照本发明的样本分析仪、尤其是生化仪或化学发光免疫分析仪，所述质控/校准测试装置1000可以包括：

存储器1004，用于存储指令和数据；

处理器1002，执行所述指令用于：获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令；获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息；根据特征信息和位置信息，控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品；利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。

所述质控/校准测试装置1000的处理器1002用于控制上述试剂仓、吸样针和扫描装置以实现对应的方法步骤，上述处理器1002可以为特定用途集成电路(ASIC，Application Specific Integrated Circuit)、数字信号处理器(DSP，Digital SignalProcessor)、数字信号处理装置(DSPD，Digital Signal Processing Device)、可编程逻辑装置(PLD，Programmable Logic Device)、现场可编程门阵列(FPGA，Field ProgrammableGate Array)、中央处理器(CPU，Central Processing Unit)、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种。可以理解，对于不同的设备，用于实现上述处理器1002功能的电子器件还可以为其它，本发明实施例不作具体限定。

所述质控/校准测试装置1000的存储器1004用于存储可执行程序代码，该程序代码包括计算机操作指令，存储器1004可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器。在实际应用中，上述存储器1004可以是易失性存储器(volatile memory)，例如随机存取存储器(RAM，Random-Access Memory)；或者非易失性存储器(non-volatile memory)，例如只读存储器(ROM，Read-Only Memory)，快闪存储器(flash memory)，硬盘(HDD，Hard Disk Drive)或固态硬盘(SSD，Solid-State Drive)；或者上述种类的存储器的组合，并向处理器12提供指令和数据。

所述质控/校准测试装置1000还可以包括通信总线1006，用于连接所述处理器1002和所述存储器1004以实现这些器件之间的相互通信和/或用于与外部网元进行数据传输。

另外，在本实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并非作为独立的产品进行销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中，基于这样的理解，本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或processor(处理器)执行本实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，应用于样本分析仪中，该计算机程序被处理器10002执行时实现上述质控/校准测试方法。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、服务器、或计算机程序产品。因此，本发明可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(服务器)和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解，可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上提及的特征，只要在本发明的范围内是有意义的，均可以任意相互组合。针对所述样本分析仪所说明的优点和特征以相应的方式适用于所述质控/校准测试方法和所述质控/校准测试装置。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应该理解，这些具体实施方式仅是举例说明。本领域的技术人员可以在不背离本发明的原理的前提下对这些具体实施方式做出多种变更或修改，这些变更和修改均落入本发明的保护范围内。