阅读说明：本技术 一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置 (Automatic lifting device for testing minority carrier lifetime of end face of polycrystal, monocrystal or cast monocrystal small square ingot ) 是由 尹翠哲 于 2019-03-24 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置,其特征在于：包括底板、导柱、导套、顶板、挡圈、红外高度测试仪、垂直传动装置,所述底板可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上,也可以直接放在少子寿命测试仪基座上,所述四个导柱固定底板上,所述四个导套固定在顶板上,所述顶板上表面用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭,所述挡圈用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭,防止其滑动,所述红外高度测试仪由导柱、导套、红外线发射装置组成,红外线高度和少子寿命测试仪探头的高度一致,所述垂直传动装置可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动等方式。(The invention discloses an automatic lifting device for testing the minority carrier lifetime of the end face of a small polycrystalline, single crystal or single crystal casting square ingot, which is characterized in that: the detector comprises a bottom plate, guide columns, guide sleeves, a top plate, check rings, an infrared height tester and a vertical transmission device, wherein the bottom plate can be fixed on a base of the existing minority carrier lifetime tester through bolts and can also be directly placed on the base of the minority carrier lifetime tester, the four guide columns are fixed on the bottom plate, the four guide sleeves are fixed on the top plate, the upper surface of the top plate is used for placing polycrystal, monocrystal or cast monocrystal small square ingots with the lifetime of minority carriers on the end surface to be tested, the check rings are used for fixing the polycrystal, monocrystal or cast monocrystal small square ingots to prevent the monocrystal small square ingots from sliding, the infrared height tester comprises the guide columns, the guide sleeves and an infrared emission device, the infrared height is consistent with the height of probes of the minority carrier lifetime tester, and the vertical transmission device can be in a hydraulic transmission mode, a pneumatic transmission mode.)

一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自 动升降装置

技术领域

本发明涉及光伏铸锭领域，具体是指用于测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

背景技术

为了保证多晶硅铸锭、单晶或铸造单晶铸锭质量的稳定性，产线上往往要对多晶、单晶或铸造单晶小方锭的截断面进行少子寿命测试，而小方锭的高度不固定，每次测试少子寿命时需要手动调节探头高度，探头的调节范围在5mm以内，造成有些小方锭不能测试，并且手动调节工作效率很低，市场上暂无测试端面少子寿命的自动升降装置，本发明专门设计了一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

本发明的实现方案如下 ：测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置，包括底板、导柱、导套、顶板、挡圈、红外高度测试仪、垂直传动装置，所述底板可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上，也可以直接放在少子寿命测试仪基座上，所述四个导柱固定底板上，所述四个导套固定在顶板上，所述导柱和导套采用间隙配合，并且可以跟随所述垂直传动装置在垂直方向上运动，所述顶板用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭，所述挡圈用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭，防止其滑动，所述红外高度测试仪由导柱、导套、红外线发射装置组成，红外线高度和少子寿命测试仪探头的高度一致，所述垂直转动装置可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动等方式。

有益效果

本发明提供的一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置有如下优点。

1.实现了小方锭高度的自动调节，提高了工作效率；

2.四个导柱和四个导套保证顶板只在垂直方向运动，从而保证了顶板上放置的小方锭端面呈水平状态，使少子寿命测试的结果比较精确。

附图说明

以下结合附图对本发明作进一步详述。

图 1是发明的结构示意图；

图 2是测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命过程图；

图 3是测得的铸造单晶小方锭端面少子寿命图。

具体实施方式

如图1-2所示，一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置括包括底板1、导柱2、导套3、顶板4、挡圈5、垂直传动装置7，红外高度测试仪导柱6、红外高度测试仪导套8、红外线发射器9，所述底板1可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上，也可以直接放在少子寿命测试仪基座上，所述四个导柱2固定底板1上，所述四个导套3固定在顶板4上，所述顶板4上表面用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭10，所述挡圈5用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭10，防止其滑动，所述垂直转动装置7可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动装置。

本发明的工作方式

如图1-2所示，将少子寿命测试仪的探头11固定在一个高度保持不变，调节红外高度测试仪导柱6和红外高度测试仪导套8，使红外线发射器9发射的红外线13和少子寿命测试仪的探头11在同一水平面上，此后少子寿命测试仪的探头11和红外线13的高度固定保持不变，电脑收集红外线的高度信号，将多晶、单晶或铸造单晶小方锭放置在顶板4上，垂直传动装置7向上运动，当多晶、单晶或铸造单晶小方锭上表面和红外线重合时，垂直传动装置7停止向上运动，少子寿命测试仪的探头11在导轨12上运动，测试整个端面的少子寿命，如图3所示为测得的铸造单晶小方锭端面少子寿命图，测试结束后垂直传动装置7向下运动回到最低点，为测试下一个小方锭端面少子寿命做准备。