天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质

文档序号:1200157 发布日期:2020-09-01 浏览:9次 >En<

阅读说明:本技术 天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质 (Antenna test system, method, millimeter wave radar, and computer-readable storage medium ) 是由 杨涛 唐海军 赵一 于 2020-04-27 设计创作,主要内容包括:本申请涉及一种天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质,天线测试系统包括:实验暗箱,用于提供物理测试环境;发射天线组件,设于实验暗箱内,用于在第一控制信号的作用下产生并发射第一频段内任意频点的单音信号;待测天线组件,设于实验暗箱内,用于保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收单音信号对应的测试信号;测试设备,分别与发射天线组件和待测天线组件连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,还用于测量测试信号以获取测试结果。本申请通过在较小尺寸的暗箱内设置工作于w波段的发射天线组件和接收天线组件,保证天线测试性能的同时降低了系统的成本。(The application relates to an antenna test system, a method, a millimeter wave radar and a computer readable storage medium, the antenna test system comprising: the experimental camera bellows is used for providing a physical testing environment; the emission antenna assembly is arranged in the experimental camera bellows and used for generating and emitting single-tone signals of any frequency point in a first frequency band under the action of a first control signal; the antenna assembly to be tested is arranged in the experiment dark box, is used for keeping a first direction preset angle, rotates along a second direction under the action of a second control signal, and receives test signals corresponding to the single-tone signals at different second direction angles in the rotating process; and the test equipment is respectively connected with the transmitting antenna assembly and the antenna assembly to be tested, is used for generating a first control signal and a second control signal, and is also used for measuring the test signals to obtain a test result. This application has reduced the cost of system when guaranteeing antenna test performance through set up the transmission antenna subassembly and the receiving antenna subassembly that work in the w wave band in the camera bellows of less size.)

天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及毫米波雷达技术领域,特别是涉及一种天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质。

背景技术

毫米波雷达是测量被测物体相对距离、相对速度、方位的高精度传感器,早期被应用于军事领域,随着雷达技术的发展与进步,毫米波雷达传感器开始应用于汽车电子、无人机,智能交通等多个领域。毫米波天线是毫米波雷达的中药组成部分,天线测试系统用于对毫米波天线的性能进行测试,往往放置于微波暗室中。

然而,对于车载毫米波雷达天线来说,车载雷达工作于W波段,很多部件需要定制,整套天线测试系统成本太高,且测试系统的性能难以保证。

发明内容

本申请实施例提供了一种天线测试系统、方法、毫米波雷达、计算机可读存储介质,可以保证测试性能的同时降低成本。

一种天线测试系统,应用于毫米波雷达,包括:

实验暗箱,用于提供物理测试环境;

发射天线组件,设于所述实验暗箱内,用于在第一控制信号的作用下产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,所述第一频段在W波段内;

待测天线组件,设于所述实验暗箱内,与所述发射天线组件间隔预设距离设置,用于保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收所述单音信号对应的测试信号;

测试设备,设于所述实验暗箱外,分别与所述发射天线组件和所述待测天线组件连接,用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号,还用于测量所述测试信号以获取测试结果,所述测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

在其中一个实施例中,所述待测天线组件,包括:

电动转台,用于在所述第二控制信号的作用下转动;

待测天线,与所述电动转台连接,用于在所述电动转台过程中接收所述单音信号对应的测试信号,所述预设距离与所述待测天线的尺寸呈预设关系。

在其中一个实施例中,所述测试设备,包括:

频谱仪组件,与所述待测天线组件连接,用于测量所述测试信号生成测试数据;

计算机设备,分别与所述发射天线组件、所述待测天线组件连接和所述频谱仪组件连接,用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号,还用于根据所述测试数据生成所述测试结果。

在其中一个实施例中,所述频谱仪组件,包括:

频谱仪,工作于第二频段,用于对输入信号进行测量和显示,所述第二频段处于所述第一频段内;

频率扩展头,分别与所述待测天线组件和所述频谱仪连接,用于将所述频谱仪的工作频段从所述第二频段拓展至所述第一频段,以使所述频谱仪测量所述测试信号生成测试数据。

在其中一个实施例中,所述发射天线组件,包括:

信号发生模块,用于在第一控制信号的作用下产生第一频段内任意频点的单音信号;

微带波导工装,与所述信号发生模块连接,用于传输所述单音信号;

发射天线,与所述微带波导工装连接,用于发射所述单音信号。

一种天线测试方法,应用于天线测试系统,包括:

将实验暗箱内的发射天线组件、待测天线组件分别与测试设备连接;

控制所述测试设备将生成的第一控制信号传输至所述发射天线组件,以使所述发射组件产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,所述第一频段在W波段内;

控制所述测试设备生成第二控制信号并传输至所述待测天线组件,以使所述待测天线组件保持第一方向预设角且在所述第二控制信号的作用下以第一步进沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收所述单音信号对应的测试信号;

控制所述测试设备测量所述测试信号以获取测试结果,所述测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

在其中一个实施例中,所述测试设备包括:频谱仪组件和计算机设备,所述以使所述待测天线组件保持第一方向预设角在所述第二控制信号的作用下以第一步进沿第二方向转动之前,所述方法还包括:

利用所述计算机设备控制所述发射天线组件生成预处理单音信号并发射所述预处理单音信号,其中,所述预处理单音信号处于所述第一频段内;

控制所述计算机设备生成第三控制信号并传输至所述待测天线组件,以使所述待测天线组件沿所述第一方向以第二步进转动并获取所述预处理单音信号对应的预处理测试信号;

根据在第一方向上各个角度接收的所述预处理测试信号的功率获取所述第一方向预设角。

在其中一个实施例中,所述控制所述测试设备测量所述测试信号以获取测试结果,包括:

将所述频谱仪组件设置为预设扫描方式和预设触发方式以测量所述测试信号并生成测试数据;

控制所述计算机设备根据所述测试数据生成所述测试结果。

一种毫米波雷达,包括存储器、处理器和天线测试系统,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如上述的天线测试方法的步骤。

一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法的步骤。

上述天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质,所述系统应用于毫米波雷达,包括:实验暗箱,用于提供物理测试环境;发射天线组件,设于所述实验暗箱内,用于在第一控制信号的作用下产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,所述第一频段在W波段内;待测天线组件,设于所述实验暗箱内,与所述发射天线组件间隔预设距离设置,用于保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收所述单音信号对应的测试信号;测试设备,设于所述实验暗箱外,分别与所述发射天线组件和所述待测天线组件连接,用于生成所述第一控制信号和所述第二控制信号,还用于测量所述测试信号以获取测试结果,所述测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。本申请通过在较小尺寸的暗箱内设置工作于w波段的发射天线组件和接收天线组件,并利用测试设备进行控制测试过程。保证天线测试性能的同时降低了系统的成本。利用测试设备控制待测天线组件和发射天线组件,并根据测试信号获取测试结果,形成闭环控制,便于进行天线自动化测试。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中毫米波雷达的内部结构示意图;

图2为一个实施例中天线测试系统的结构示意图;

图3为又一个实施例中天线测试系统的结构示意图;

图4为一个实施例中天线测试方法的流程图;

图5为又一个实施例中天线测试方法的流程图;

图6为一个实施例中步骤控制测试设备测量测试信号以获取测试结果的流程图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。

可以理解,本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件,但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说,在不脱离本申请的范围的情况下,可以将第一方向称为第二方向,且类似地,可将第二方向称为第一方向。第一方向和第二方向两者都是方向,但其不是同一方向。

本申请提供一种天线测试系统,应用于毫米波雷达,毫米波雷达,是工作在毫米波波段(millimeter wave)探测的雷达。通常毫米波是指30~300GHz频域(波长为1~10mm)的。毫米波的波长介于微波和厘米波之间,因此毫米波雷达兼有微波雷达和光电雷达的一些优点。

本申请提供一种天线测试系统,应用于毫米波雷达,图1为一个实施例中毫米波雷达的内部结构示意图。如图1所示,该毫米波雷达包括通过系统总线连接的处理器、存储器和天线测试系统。其中,该处理器用于提供计算和控制能力,支撑整个毫米波雷达的运行。存储器可包括非易失性存储介质及内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序可被处理器所执行,以用于实现以下各个实施例所提供的一种天线测试方法。内存储器为非易失性存储介质中的操作系统计算机程序提供高速缓存的运行环境。

图2为一个实施例中天线测试系统10的结构示意图;如图2所示,天线测试系统10包括:实验暗箱110、发射天线组件120、待测天线组件130和测试设备140。其中,实验暗箱110,用于提供物理测试环境;发射天线组件120,设于实验暗箱110内,用于在第一控制信号的作用下产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,第一频段在W波段内;待测天线组件130,设于实验暗箱110内,与发射天线组件120间隔预设距离设置,用于保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收单音信号对应的测试信号;测试设备140,设于实验暗箱110外,分别与发射天线组件120和待测天线组件130连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,还用于测量测试信号以获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

具体的,本申请中实验暗箱110主要用于为车载毫米波天线的测试提供此时环境,车载毫米波的工作频段为77GHz~79GHz。由于辐射近场区与远场区的分界距离R=2D*D/λ,待测天线组件130中待测天线132的尺寸D大约为33mm,故发射天线组件120中发射天线与被测天线之间的距离约大于0.6m才能满足天线远场测试条件。本申请中采用的实验暗箱110尺寸约为3m x 2m x1.5m,大约为标准暗室(10米法)的228分之一。且实验暗箱110底部设置有6个万向滑轮,能够保证实验暗箱110根据需求朝各个方向移动。另外,在实验暗箱110内部设置毫米波段吸波材料的涂层,不同于标准暗室中设置的全波段吸波材料,本申请中专利使用的吸波材料主要作用于毫米波段,所以在一定程度上能够降低成本。

发射天线组件120,设置在实验暗箱110内部,包括信号产生模块和发射天线。信号产生模块能够在第一控制信号的作用下产生第一频段内任意频点的单音信号,其中,测试设备140根据测试需求生成第一控制信号,并将第一控制信号传输给发射天线组件120。第一频段可以指的是76GHz~80GHz。信号产生模块与发射天线之间设置有微带转波导工装,微带转波导工装用于使信号产生模块能够与标准增益的发射天线连接。现有技术中往往需要一个W频段的信号源来产生单音信号,该单音信号源成本较高,且市面上非常少。本申请通过在信号产生模块与发射天线之间设置有微带转波导工装,能够实现发射76GHz~80GHz频段内的单音信号。

待测天线组件130,设于实验暗箱110内,待测天线组件130中包括待测天线和电动转台131。其中,待测天线与发射天线组件120中发射天线间隔预设距离设置,预设距离R可以根据公式进行计算R=2D*D/λ,D指的是待测天线132的尺寸,λ为频段为77GHz~79GHz的毫米波的波长。电动可控转台在第一方向上±30°可调,第一方向指的是俯仰方向,在第二方向上0°~360°可调,第二方向指的是水平面旋转方向。当待测天线组件130接收到测试设备140发送的第二控制信号,将根据第二控制信号控制电动转台131在第一方向上保持预设角度,且在第二方向上旋转并接收单音信号对应的测试信号。测试信号指的是发射天线发送的单音信号经传播后被待测天线接收到的对应信号,测试信号和单音信号在功率和噪声上存在一定的差异。待测天线组件130通过通信电缆与测试设备140连接,并接收测试设备140发送的第二控制信号,如测试设备140可以采用RS422通信线和电动转台131连接,保证通信稳定性。本实施中被测天线指的是微带天线阵,在测试中通过微带转波导工装,使得被测微带天线与对比的标准增益喇叭天线同接口,保证测试数据的正确性。标准增益喇叭天线指的是76GHz~81GHz频段标准增益喇叭天线,型号PEWAN1015,增益20dBi,用于发射信号。

测试设备140,设于实验暗箱110外,分别与发射天线组件120和待测天线组件130连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,并将第一控制信号传输给发射天线组件120,将第二控制信号发射至待测天线组件130。测试设备140还用于接收待测天线组件130传输的测试信号,根据测试信号获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。在其中一个实施例中,测试设备140包括频谱仪组件和计算机设备。频谱仪组件,与待测天线组件130连接,用于测量测试信号生成测试数据;计算机设备,分别与发射天线组件120、待测天线组件130连接和频谱仪组件连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,还用于根据测试数据生成测试结果。

在一个实施例中,测试系统还包括设备支架,设备支架用于支撑测试系统内其他设备与地面保持一定距离,减少地面反射对测试结果的影响。

上述天线测试系统、方法、毫米波雷达和计算机可读存储介质,系统应用于毫米波雷达,包括:实验暗箱110,用于提供物理测试环境;发射天线组件120,设于实验暗箱110内,用于在第一控制信号的作用下产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,第一频段在W波段内;待测天线组件130,设于实验暗箱110内,与发射天线组件120间隔预设距离设置,用于保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收单音信号对应的测试信号;测试设备140,设于实验暗箱110外,分别与发射天线组件120和待测天线组件130连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,还用于测量测试信号以获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。本申请通过在较小尺寸的暗箱内设置工作于w波段的发射天线组件120和接收天线组件,并利用测试设备140进行控制测试过程。保证天线测试性能的同时降低了系统的成本。利用测试设备140控制待测天线组件130和发射天线组件120,并根据测试信号获取测试结果,形成闭环控制,便于进行天线自动化测试。

在其中一个实施例中,如图2所示,待测天线组件130,包括:电动转台131,用于在第二控制信号的作用下转动;待测天线132,与电动转台131连接,用于在电动转台131过程中接收单音信号对应的测试信号,预设距离与待测天线132的尺寸呈预设关系。

具体的,待测天线组件130可以接收第二控制信号,当待测天线组件130接收到测试设备140发送的第二控制信号,将根据第二控制信号控制电动转台131在第一方向上保持预设角度,且在第二方向上旋转并接收单音信号对应的测试信号。待测天线与发射天线组件120中发射天线间隔预设距离设置,预设距离R可以根据公式进行计算R=2D*D/λ,D指的是待测天线132的尺寸,λ为频段为77GHz~79GHz的毫米波的波长。举例来说,根据远场公式2D*D/λ,产品天线尺寸D大约为33mm,故发射天线与被测天线口径之间的距离约大于0.6m,即满足天线远场测试条件。

在其中一个实施例中,如图2所示,发射天线组件120包括:信号发生模块121,用于在第一控制信号的作用下产生第一频段内任意频点的单音信号;微带波导工装122,与信号发生模块121连接,用于传输单音信号;发射天线123,与微带波导工装122连接,用于发射单音信号。

具体的,微带波导工装122,用于连接信号发生模块121和发射天线123。信号产生模块121与发射天线123之间设置有微带转波导工装122,微带转波导工装122用于使信号产生模块121能够与标准增益的发射天线连接。本申请通过在信号产生模块121与发射天线123之间设置有微带转波导工装,能够实现发射76GHz~80GHz频段内的单音信号。

在其中一个实施例中,如图3所示,测试设备140,包括:频谱仪组件141,与待测天线组件130连接,用于测量测试信号生成测试数据;计算机设备142,分别与发射天线组件120、待测天线组件130连接和频谱仪组件141连接,用于生成第一控制信号和第二控制信号,还用于根据测试数据生成测试结果。

具体的,频谱仪组件141可以测量77GHz~79GHz对应的测试信号并生成测试数据,将测试数据传输给计算机设备142。计算机设备142可以生成第一控制信号和第二控制信号,并将第一控制信号传输给发射天线组件120,将第二控制信号发射至待测天线组件130。计算机设备142还接收频谱仪组件141传输的测试数据,根据测试数据获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

在其中一个实施例中,频谱仪组件141包括:频谱仪,工作于第二频段,用于对输入信号进行测量和显示,第二频段低于第一频段;频率扩展头,分别与待测天线组件130和频谱仪连接,用于将频谱仪的工作频段从第二频段拓展至第一频段,以使频谱仪测量测试信号生成测试数据。

具体的,频谱仪组件141包括:频谱仪和频率扩展头。其中,频谱仪的型号为安捷伦9020B,其本身频率测量范围为10Hz~44GHz,而本申请毫米波雷达工作的频段为77GHz~79GHz,故不能直接进行测量。利用频率扩展头,使得频谱仪测量范围变成70GHz到90GHz,完全覆盖我们需要使用的频段。频率扩展头的信号可以是M1971),与型号为9020B频谱仪配合使用,扩展频谱仪测量频带宽度。其中,频谱仪和频率扩展头可以通过射频电缆连接。

本申请实施例提供一种天线测试方法,应用于天线测试系统,如图4所示,天线测试方法包括:步骤402至步骤408。其中,步骤402、将实验暗箱内的发射天线组件、待测天线组件分别与测试设备连接;步骤404、控制测试设备将生成的第一控制信号传输至发射天线组件,以使发射组件产生并发射第一频段内任意频点的单音信号,其中,第一频段在W波段内;步骤406、控制测试设备生成第二控制信号并传输至待测天线组件,以使待测天线组件保持第一方向预设角且在第二控制信号的作用下以第一步进沿第二方向转动,并在转动过程中以不同的第二方向角接收单音信号对应的测试信号;步骤408、控制测试设备测量测试信号以获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

具体的,将实验暗箱内的发射天线组件、待测天线组件分别与测试设备连接;测试设备,生成第一控制信号和第二控制信号,并将第一控制信号传输给发射天线组件,将第二控制信号发射至待测天线组件。发射天线组件,设置在实验暗箱内部,包括信号产生模块和发射天线。信号产生模块能够在第一控制信号的作用下,产生第一频段内任意频点的单音信号。待测天线组件包括待测天线和电动转台。其中,待测天线与发射天线组件中发射天线间隔预设距离设置,预设距离R可以根据公式进行计算R=2D*D/λ,D指的是待测天线的尺寸,λ为频段为77GHz~79GHz的毫米波的波长。待测天线组件包括电动可控转台和待测天线,电动可控转台在第一方向上±30°可调,第一方向指的是俯仰方向,在第二方向上0°~360°可调,第二方向指的是水平面旋转方向。待测天线组件可以接收第二控制信号,将第二控制信号中旋转角度相关信息传输给电动转台以控制电动转台在第一方向上保持预设角度,在第二方向上旋转并接收单音信号对应的测试信号。测试信号指的是发射天线发送的单音信号经传播后被待测天线接收到的对应信号,测试信号和单音信号在功率和噪声上存在一定的差异。测试设备接收待测天线组件传输的测试信号,根据测试信号获取测试结果,测试结果至少包括:方向图测试结果、增益测试结果和驻波测试结果。

在其中一个实施例中,测试设备包括:频谱仪组件和计算机设备,步骤以使待测天线组件保持第一方向预设角在第二控制信号的作用下以第一步进沿第二方向转动之前,如图5所示,天线测试方法还包括:步骤502至步骤506。其中,步骤502、利用计算机设备控制发射天线组件生成预处理单音信号并发射预处理单音信号,其中,预处理单音信号处于第一频段内;步骤504、控制计算机设备生成第三控制信号并传输至待测天线组件,以使待测天线组件沿第一方向以第二步进转动并获取预处理单音信号对应的预处理测试信号;步骤506、根据在第一方向上各个角度接收的预处理测试信号的功率获取第一方向预设角。

具体的,计算机设备生成的第一控制信号产生模块生成一个79GHz的单音信号,且计算机设备生成第二控制信号控制电动转台的第二方位角处于0°,即此时被测天线与76GHz~81GHz频段标准增益喇叭天线处于相对状态,即两天线口径法线重合。然后利用频谱仪测量测试信号,此时在频谱仪上能够看到一个频率为79GHz的单音信号。然后通过计算机设置发送第二控制信号控制电动转台的俯仰角度,先将俯仰角按照1°的步进调整到频谱仪上79GHz信号的功率由大变小的第一拐点,并记录第一拐点时对应的最大功率Pup。然后控制电动转台回到法线方向,在将电动转台向下按照1°步进调整到频谱仪上功率由大变小的第二拐点,记录第二拐点对应的功率Pdown。然后比较Pup与Pdown的大小,如果Pup大于Pdown,就将第一方向预设角设置为Pup功率对应的角度,如果Pup小于Pdown,就将第一方向预设角设置为Pdown功率对应的角度。

在其中一个实施例中,如图6所示,步骤控制测试设备测量测试信号以获取测试结果,包括:步骤602至步骤604。其中,步骤602、将频谱仪组件设置为预设扫描方式和预设触发方式以测量测试信号并生成测试数据;步骤604、控制计算机设备根据测试数据生成测试结果。

具体的,对于方向图测试将频谱仪Span设置为0Hz,Sweep设置为9s,1001pts,ResBW设置为100KHz,打开触发,设置触发源为Video,触发Slope为电平上升沿触发模式,然后通过计算机发送第二控制信号至待测天线组件,以控制电动转台的方位逆时针方向转动60°。然后调整TRIG LVL(触发电平)线,比底噪线高5dB的地方,触发改为单次触发,通过计算机发送第二控制信号至待测天线组件,以控制电动转台的方位按照21°/s顺时针方向转动120°,即可在频谱仪上看到被测天线的方向图,即为毫米波雷达所用的天线的方向图。

对于增益测试,采用标准增益天线与被测天线,使其口面在同一平面,先使用标准增益天线,通过计算机发送第二控制信号至待测天线组件,以控制电动转台的方位角度为0°,俯仰角保持与方向图测试相同的角度,记录频谱仪上的功率Pres;然后换上被测天线,重复相同步骤,并记录频谱仪上的功率Ptest,因为标准增益天线的增益已知为20dBi,所以通过公式20*Ptest/Pres,就能获取到被测天线的增益测试结果,单位dBi。另外,驻波测试,采用安捷伦矢量网络分析仪N5224A加上倍频模块直接对被测天线进行测试获取驻波测试结果。

应该理解的是,虽然图4-6的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图4-6中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

上述天线测试系统中各个模块的划分仅用于举例说明,在其他实施例中,可将天线测试系统按照需要划分为不同的模块,以完成上述天线测试系统的全部或部分功能。

关于天线测试系统的具体限定可以参见上文中对于天线测试方法的限定,在此不再赘述。上述天线测试系统中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

本申请实施例中提供的天线测试系统中的各个模块的实现可为计算机程序的形式。该计算机程序可在终端或服务器上运行。该计算机程序构成的程序模块可存储在毫米波雷达的存储器上。该计算机程序被处理器执行时,实现本申请实施例中所描述方法的步骤。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质,当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时,使得所述处理器执行天线测试方法的步骤。

一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行天线测试方法。

本申请所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM),它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDR SDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

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