阅读说明：本技术 一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统 (Adjusting support and detection system for detecting field performance of microwave anechoic chamber ) 是由 伍捍东 刘迎喜 王英英 尹国选 潘云飞 于 2020-06-11 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统,包括水平支架,水平支架上设置有水平轨道,水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；水平托盘上安装有一维方位转台,一维方位转台上设置有竖直支架；竖直支架上安装有升降机构,升降机构包括升降带,升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；本发明通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动,通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转,通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节,进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号,提升微波暗室的检测效率。(The invention discloses an adjusting bracket and a detection system for detecting the field performance of a microwave anechoic chamber, which comprise a horizontal bracket, wherein the horizontal bracket is provided with a horizontal rail, and a horizontal tray which can horizontally move along the horizontal rail is arranged on the horizontal rail; a one-dimensional azimuth turntable is arranged on the horizontal tray, and a vertical support is arranged on the one-dimensional azimuth turntable; a lifting mechanism is arranged on the vertical support and comprises a lifting belt, and an installation platform for installing the microwave signal receiving device is arranged on the lifting belt; the microwave signal receiving device can be driven to transversely move on the same horizontal plane through the horizontal tray, the azimuth rotation of the microwave signal receiving device can be realized through the one-dimensional azimuth turntable, the height adjustment of the microwave signal receiving device can be realized through the lifting mechanism, the microwave signal receiving device can further receive microwave signals at different positions in the space of the microwave darkroom, and the detection efficiency of the microwave darkroom is improved.)

一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统

技术领域

本发明属于微波测量技术领域，具体涉及一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统。

背景技术

微波暗室是采用吸波材料和金属屏蔽体组建的特殊房间，其作用就是避免在暗室内做天线、雷达等无线通讯产品时受到杂波干扰，提高被测的精准度和效率，以实现对天线辐射特性的测量。在微波暗室中，当电磁波入射到墙面、天棚、地面时，绝大部分电磁波被吸收，而透射、反射极少。

建设微波暗室后能否满足使用条件，需要对微波暗室的反射、交叉极化、场均匀性等指标进行检测。现有的检测装置一般是在微波暗室中分别放置信号发射装置和接收装置，发射装置固定在一处，接收装置在一个位置接收信号后，人工调节其高度和/或位置，再继续信号的接收，最后整合所有信号数据，以实现对微波暗室的全面检测。

微波暗室检测时，接收装置需要对暗室内的绝大部分位置进行信号接收才能得到精确的检测结果，但是，频繁的人工调节接收装置的位置和/或高度，会大大增加检测时间。

发明内容

本发明的目的是提供一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统，以实现微波信号接收装置位置和高度的自动调节，降低微波暗室的检测时间。

本发明采用以下技术方案：一种微波暗室场地性能检测用调节支架，包括水平支架，水平支架上设置有水平轨道，水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；

水平托盘上安装有一维方位转台，一维方位转台上设置有竖直支架；

竖直支架上安装有升降机构，升降机构包括升降带，升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；

水平托盘、一维方位转台和升降机构分别用于实现微波信号接收装置的位置、方位和高度的调节。

进一步地，水平轨道的一侧设置有齿条；

水平托盘上设置有电机，电机的动力输出端设置有与齿条啮合的齿轮；电机用于带动齿轮转动，进而带动水平托盘沿水平轨道滑动。

进一步地，升降机构包括设置在竖直支架上的蜗轮蜗杆减速机，蜗轮蜗杆减速机的动力输入端连接有手把、动力输出端与升降带连接。

进一步地，安装台的一侧端设置有可竖向转动的连接板，连接板的自由端设置有极化机构。

进一步地，当水平支架的数量大于等于2个时，相邻两个水平支架之间设置有夹板，夹板分别贴合在相邻的水平支架上。

进一步地，相邻2个水平支架之间还通过直杆件连接。

进一步地，水平托盘的下方设置有与水平轨道相适配的滑块。

进一步地，水平轨道上还安装有托架，托架上还设置有拖链，拖链的端部固定连接至水平托盘上。

进一步地，水平托盘的两侧均设置有行程开关。

本发明的另一种技术方案：一种微波暗室场地性能检测系统，检测系统包括上述的一种微波暗室场地性能检测用调节支架。

本发明的有益效果是：本发明通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动，通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转，通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节，进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号，提升微波暗室的检测效率。

附图说明

图1为本发明实施例一种微波暗室场地性能检测用调节支架的结构示意图；

图2为本发明实施例中水平支架的结构示意图；

图3为本发明实施例中水平托盘的下部结构示意图；

图4为本发明实施例中安装台的结构示意图；

图5为本发明实施例中相邻2个水平支架之间的夹板结构示意图；

图6为本发明实施例中竖直支架的结构示意图。

其中：1.水平支架；2.一维方位转台；3.竖直支架；

11.水平托盘；12.水平轨道；13.齿条；14.电机；15.齿轮；16.滑块；17.托架；18.拖链；19.行程开关；

31.安装台；32.升降带；33.手把；34.连接板；35.极化机构；

121.夹板。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。

本发明实施例公开了一种微波暗室场地性能检测用调节支架，如图1所示，包括水平支架1，水平支架1上设置有水平轨道12，水平轨道12上安装有可沿其水平移动的水平托盘11；水平托盘11上安装有一维方位转台2，一维方位转台2上设置有竖直支架3；竖直支架3上安装有升降机构，升降机构包括升降带32，升降带32上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台31；水平托盘11、一维方位转台2和升降机构分别用于实现微波信号接收装置的位置、方位和高度的调节。

本发明通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动，通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转，通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节，进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号，提升微波暗室的检测效率。

具体的，上述的各部件均采用非金属材料制成，以避免金属材料在暗室检测过程中干扰微波信号。水平支架1选为型材加工而成的框架，在其下方还设置有脚轮，以方便水平支架1的整体移动。并且，由于在微波暗室检测过程中，对于位置、方位等有高精确的要求，所以，在水平支架1的下方设置有多个调节支腿，可以通过调节支腿来调节水平支架1的整体水平度，保证水平支架1时水平的，进而为高度和方位的精确定位提供良好的基础。

在本实施例中，水平支架1可以根据设计要求加工一定的长度，但是，为了方便设备的收纳，将水平支架1可以设计为多个，每个水平支架1的长度不会太长而影响其使用。如图5所示，当水平支架1的数量大于等于2个时，相邻两个水平支架1之间设置有夹板121，夹板121分别贴合在相邻的水平支架1上。相邻2个水平支架1之间还通过直杆件连接，通过夹板121和直杆件的设置，可以保证相邻的2个水平支架1之间是处在同一水平面上的，以保证水平轨道12的水平。而且，在相邻的水平支架1的连接端对应位置上均设有盲孔，通过盲孔和直杆件的配合，一方面保证相邻2个水平支架1位于同一水平面上，另一方面，通过直杆件还可以保证相邻2个水平支架1的位置连接准确，进而实现相邻2个水平支架1上的水平轨道12的水平，且保证项链2个水平支架1上的齿条13连接位置匹配。

本实施例中，如图2所示，在水平支架1上平行设置有两条水平轨道12，并且在水平托盘11的下方设置有与水平轨道12相适配的滑块16。具体的，在两条水平轨道12的内侧沿其长度方向设置有齿条13，水平托盘11上设置有电机14，电机14的动力输出端设置有与齿条13啮合的齿轮15；电机14用于带动齿轮15转动，进而带动水平托盘11沿水平轨道12滑动。通过点击14可以提供动力带动水平托盘11横向移动，通过滑块16和水平轨道12可以使得水平托盘11按照预设轨道12移动，防止齿轮15和齿条13脱位，还能提升水平托盘11移动时的位置精准性。

作为一种可能的实现方式，如图3所示，水平轨道12上还安装有托架17，托架17上还设置有拖链18，拖链18的端部固定连接至水平托盘11上。托架17也可以当做线槽来使用，其余拖链18配合，可以避免该支架上各个设备的走线互相缠绕，进而避免由于电缆、线缆缠绕引起的设备事故，也避免线缆、电缆影响水平托盘11移动的精确性。

为了防止水平托盘11移动到水平支架1边缘部位时脱落，在水平导轨12的边缘可以设置凸起，而且，还可以在水平托盘11的两侧设置有行程开关19，以保证水平托盘11不管向哪个方向移动，都不会脱位。

在本发明实施例中，如图6所示，升降机构包括设置在竖直支架3上的蜗轮蜗杆减速机，蜗轮蜗杆减速机的动力输入端连接有手把33、动力输出端与升降带32连接。如图4所示，安装台31的一侧端设置有可竖向转动的连接板34，连接板34的自由端设置有极化机构35。

通过手把33可以手动为涡轮蜗杆减速机提供动力，进而调节升降带32，使升降带32上的安装台31移动到指定位置。具体的，也可以通过设置电动机来替代手把33，以增加装置的自动化程度。

本发明实施例通过计算机控制平移、方位转动，结合手动升降和俯仰极化调节，可实现微波暗室的性能测试。该系统可以提供300MHz-40GHz的微波暗室性能检测系统，可以实现对微波暗室发射特性、交叉极化隔离度特性、场均匀特性、多路径损耗特性等进行自动化检测。发明核心为采用自动控制扫描架实现快速采集数据测量、非金属升降支架的设计思想、全套数据采集、分析以及结果处理集成软件。

控制机箱内的控制器通过人机交互界面接收用户的运动指令，并反馈运动状态和运动结果；然后生成伺服控制指令发给伺服运动控制系统，由伺服运动控制系统生成电机运动脉冲并发给电机驱动系统驱动电机运动，驱动水平托盘11按照用户的目标运动。在运动过程中，伺服运动控制系统实时采集安装在水平托盘11上的位置传感器的位置信息，与运动目标进行对比，在出现偏差时进行自动校正，如此形成一个闭环控制系统。

在横向以及纵向测量中，只改变方位角，俯仰角始终保持不变，测量暗室的两个侧壁和后墙的反射，因此需要一个方位旋转转台；方位转台选用MRS105精密旋转台，采用电动控制，通过步进电机驱动，实现角度调整自动化，精密轴系设计，精度高，承载大，步进电机与传动件通过进口弹性联轴器连接，消除误差影响，旋转台面外圈标刻度，示值直观，转动范围：0°～360°连续旋转。升降机构导向杆用玻纤引拔棒制作，通过底部手摇机构控制升降杆的上下运动。升降机构使用涡轮蜗杆减速机带动同步齿形带驱动，升降过程平稳、可靠，具有任意位置自锁功能。升降时间短。手动操作，且手摇操作方便。升、降时有精密定位机构，消除了杆间的间隙，可保证到位时杆体的摆动量和扭转量最小。

本发明实施例中各部件连接均采用螺钉连接，水平支架1在拼接时首先要保证地面平整，必要时要对地面进行处理。手动调整调节支腿的高度，将各段水平支架1调整到近似同一水平高度，使相邻两段水平支架1拼接端面对齐，然后进行微调，保证直杆件能装入，保证在拼接端面处滑块能够正常滑动，无卡死现象，再在拼接端面装入夹板121，进行固定。

支架上电以后为了保证零点在支架中心，必须先点击水平寻零按钮，当平台运动到限位之后自动到达水平中间零点处，此时显示水平与方位都是零；按照需要输入方位或者平移距离使得水平托板11开始运动；选择顺时针或者逆时针设置方位旋转方向；选择左移或者右移可以设置水平运动方向；当需要相对运动时，是指以当前位置为基准，方位旋转设定的角度或者平移设定的距离；绝对平移是指以归零后的零点为基准，方位旋转设定的角度或者平移设定的距离；零位重置是指以当前位置设为零点，点击后相应的方位或者平移显示为零；按下停止按钮之后，水平和方位轴都将停止运动。

在本发明另一实施例中，还包括一种微波暗室场地性能检测系统，在该检测系统中除了上述实施例中的一种微波暗室场地性能检测用调节支架，还具有微波信号接收装置、微波信号发射装置支架以及微波信号发射装置，还包括控制机箱、数据采集器和射频系统等，以实现系统的整体控制以及信号产生。控制机箱主要实现对一维方位转台2和电机14进行程序控制。数据采集器通过控制线与控制机箱进行通信，设置移动范围、转动角度等信息控制整个支架进行运动，同时采集仪器仪表的数据。射频系统由仪器仪表和射频线缆组成，主要实现微波信号的传输，来测量暗室场地的性能。