阅读说明：本技术 一种辐射测试方法及系统 (Radiation testing method and system ) 是由 李军阳 于 2019-11-22 设计创作，主要内容包括：本申请公开了一种辐射测试方法及系统,该方法首先获取任一测试点处的PK值,将其转换为设定格式的第一数据,并记录第一数据及其天线位置信息,记录任一测试点处的第二数据,当第二数据大于第一数据时,将第一数据替换为第二数据并记录其天线位置信息,否则保持第一数据及其天线位置,根据一个扫描周期内任一测试点处的频率与PK值的关系生成波形,再根据波形确定任一测试点处的最大PK值和QP最大值,将该QP最大值与辐射测试阈值相比确定辐射测试结果。该系统包括：天线、转桌、接收器、比较器以及波形显示器,待测设置固定设置于转桌上,接收器与天线通信连接,比较器与接收器通信连接。通过本申请,能够大大提高测试效率和测试结果的准确性。(The method comprises the steps of firstly obtaining a PK value at any test point, converting the PK value into first data in a set format, recording the first data and antenna position information of the first data, recording second data at any test point, replacing the first data with second data and recording the antenna position information of the second data when the second data is larger than the first data, otherwise, keeping the first data and the antenna position of the first data, generating a waveform according to the relation between the frequency and the PK value at any test point in a scanning period, then determining the maximum PK value and the maximum QP value at any test point according to the waveform, and comparing the maximum QP value with a radiation test threshold value to determine a radiation test result. The system comprises: antenna, revolving table, receiver, comparator and waveform display, the setting that awaits measuring is fixed to be set up on the revolving table, receiver and antenna communication connection, comparator and receiver communication connection. Through the application, the test efficiency and the accuracy of the test result can be greatly improved.)

一种辐射测试方法及系统

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种辐射测试方法及系统。

背景技术

EMC(Electro Magnetic Compatibility，电磁兼容性)测试是电器产品出口的基本测试，其中，辐射测试又是EMC测试中的重要项目。计算机领域中的辐射测试主要包含不同的频率测试，通常，30MHz-1GHz为一个测试区间，高于1GHz的测试区间称为高频辐射测试。如何对计算机或服务器进行辐射测试，从而获取其电磁兼容性特征，是个重要技术问题。

以30MHz-1GHz频率区间的测试为例，目前对计算机或服务器进行辐射测试的方法通常采用两次寻找PK最大值的方法。具体地，天线分别在1米、2米、3米和4米处360°扫描待测试设备，选择测试点，针对所选择的测试点进行准峰值检波，即：获取初步的PK(峰值)检波波形，确定PK检波波形最高点，确定PK值与法规限值之间的差值，根据差值大小来决定是否读取此PK点的QP(准峰值)值。如与法规限值余量过小或超出法规限值，对PK检波波形最高点进行第二次扫描，再次寻找PK最大值时的记录位置，并读取PK最大值处的QP值，根据QP值确定辐射测试结果。

然而，目前的辐射测试方法中，由于读取QP值时需要再次寻找PK最大值，每次读取QP值时都需要重新扫描确认PK检波波形最高点时的位置，测试效率较低。以计算机或服务器的一次测试报告为例，一次测试报告中通常需要抓取多个点，每个点重复读取大约需要2分钟，一次测试中仅读取PK检波波形最高点大约需要20分钟左右，因此测试效率较低。另外，由于一次测试中需要两次寻找PK最大值，重复扫描PK检波波形最高点时无法确保两次扫描到的PK值最大点重合，因此，目前的辐射测试方法准确性不够高。

发明内容

本申请提供了一种辐射测试方法及系统，以解决现有技术中的辐射测试方法测试效率较低、测试结果的准确性不够高的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

一种辐射测试方法，所述方法包括：

获取任一测试点处的PK值；

将所述PK值转换为设定格式的第一数据，所述第一数据为任一测试点处前一时刻的PK值转换后的测试数据；

记录所述第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息，所述天线位置信息包括：垂直距离和角度；

记录所述任一测试点处的第二数据，所述第二数据为任一测试点处后一时刻的PK值转换后的测试数据；

判断所述第二数据是否大于第一数据；

如果是，将第一数据替换为第二数据，并记录与所述第二数据相匹配的天线位置信息；

如果否，保持第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息不变；

根据一个扫描周期内所述任一测试点的频率与PK值的关系，生成相应的波形；

根据所述波形，确定所述任一测试点的最大PK值；

获取最大PK值处的QP值；

根据设定的辐射测试阈值和QP值，确定辐射测试结果。

可选地，测试点的数量为10-12个。

可选地，记录所述任一测试点处的第二数据的方法，包括：

实时记录所述任一测试点处的第二数据。

可选地，记录所述任一测试点处的第二数据的方法，包括：

每隔设定的时间记录所述任一测试点处的第二数据。

可选地，所述设定的时间为10毫秒。

可选地，所述任一测试点的频率范围是：30MHz-1GHz。

一种辐射测试系统，所述系统设置于暗室中，所述测试系统包括：天线、转桌、接收器、比较器以及波形显示器，待测设备固定设置于所述转桌上，所述天线与转桌的水平距离固定，所述天线与转桌的垂直距离可变，所述接收器与天线通信连接，所述比较器与接收器通信连接；

所述天线，用于扫描待测设备；

所述接收器，用于接收来自所述天线的任一测试点处的PK值，对所述PK值进行处理，以及，将处理后的测试数据分别传输至比较器和波形显示器；

所述比较器，用于获取来自所述接收器的处理后的测试数据，并将前后两个时刻的处理后的测试数据进行比对，获取任一测试点处的最大PK值；

所述波形显示器，用于显示任一测试点处PK值与频率的关系。

可选地，所述接收器包括：

PK值获取模块，用于获取任一测试点处的PK值；

格式转换模块，用于将所述PK值转换为设定格式的测试数据；

发送模块，用于将所述设定格式的测试数据分别传输至比较器和波形显示器。

可选地，所述比较器包括：

第一记录模块，用于记录来自接收器的第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息，所述天线位置信息包括：垂直距离和角度，所述第一数据为任一测试点处前一时刻的PK值转换后的测试数据；

第二记录模块，用于记录所述任一测试点处的第二数据，所述第二数据为任一测试点处后一时刻的PK值转换后的测试数据；

判断模块，用于判断所述第二数据是否大于第一数据；

更新模块，用于当第二数据大于第一数据时，将第一数据替换为第二数据，并记录与所述第二数据相匹配的天线位置信息，否则，保持第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息不变。

可选地，所述任一测试点的频率范围是：30MHz-1GHz。

本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本申请提供一种辐射测试方法，该方法首先获取任一测试点处的PK值，然后将其转换为设定格式的第一数据，并记录第一数据以及与第一数据相匹配的天线位置信息，然后记录任一测试点处的第二数据，当第二数据大于第一数据时，将第一数据替换为第二数据并记录与第二数据相匹配的天线位置信息，否则，保持第一数据及其天线位置。最后根据一个扫描周期内任一测试点处的频率与PK值的关系生成波形，再根据波形确定任一测试点处的最大PK值，根据最大PK值获取到QP最大值，将该QP最大值与辐射测试阈值相比确定辐射测试结果。相比于现有技术，本实施例从第一次扫描开始，通过记录第一数据和第二数据，以及将两者进行比对，对任一测试点处的最大PK值进行更新，能够在测试结束时即可获取到任一测试点处的最大PK值，避免对PK检波波形进行再次扫描，从而节省测试时间，有利于提高辐射测试效率。而且，由于本实施例中及时更新任一测试点处的最大PK值，因此所获取的最大PK值是更加准确的，有利于提高辐射测试结果的准确性。

本申请还提供一种辐射测试系统，该系统除了用于扫描待测设备的天线，以及用于固定待测设备的转桌以外，还包括：接收器、比较器以及波形显示器，待测设置固定设置于转桌上，接收器与天线通信连接，比较器与接收器通信连接。通过接收器能够接收来自天线的任一测试点处的PK值，并对该PK值进行处理，以及将处理后的测试数据分别传输至比较器和波形显示器。通过比较器，能够获取来自接收器的处理后的测试数据，并将前后两个时刻处理后的测试数据进行比对，获取到任一测试点处的最大PK值。通过波形显示器能够显示出任一测试点处PK值与频率的关系，由于最大PK值所对应的QP值也最大，因此，确定任一测试点处的最大PK值后即可确定任一测试点处的QP值，通过QP值与设定辐射阈值的比较，能够确定辐射测试结果。本实施例中接收器的设置能够对任一测试点处的PK值进行记录，以便于后续的比较，比较器的设置，能够及时对任一测试点处的PK值进行比较，从而确定任一测试点处的最大PK值，避免再次扫描确认PK值，有利于提高辐射测试效率。而且比较器通过两两比对的形式确定的最大PK值，总是以更大的PK值去刷新当前的PK值，其比较结果更加准确，有利于提高测试结果的准确性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例所提供的一种辐射测试方法的流程示意图；

图2为本申请实施例所提供的一种辐射测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

本实施例中的辐射测试方法所适用的频率范围为30MHz-1GHz。辐射测试的待测设备主要包括：服务器或普通计算机。通常，待测设备的辐射测试是在3米或10米的暗室中进行，也就是天线与待测设备的距离分别为3米或10米。两种距离对测试结果限值的高低不同，实际操作中这两种距离的测试方法相同，本文以3米暗室为例进行阐述，其方法同样适用于10米暗室。

测试时，暗室中设置有天线和转桌，天线与转桌的距离为3米，且天线可以从1米到4米之间进行升降，转桌可以360°进行圆周旋转。测试过程中，天线分别在1米、2米、3米以及4米的位置处停留，每个高度处转桌进行360°旋转，旋转过程中天线扫描待测设备。

为了更好地理解本申请，下面结合附图来详细解释本申请的实施方式。

实施例一

参见图1，图1为本申请实施例所提供的一种辐射测试方法的流程示意图，由图1可知，本实施例中的辐射测试方法主要包括如下过程：

S01：获取任一测试点处的PK值。

辐射测试时通常需要抓取多个测试点，确定待抓取的测试点数量后，以这些测试点的辐射测试结果作为总体辐射测试结果。本实施例中抓取测试点的数量为10-12个，该数量既能够确保全面衡量待测设备的辐射强度，又不至于太多，有利于节省测试时间，提高测试效率。

确定待抓取的测试点后，首先通过天线的扫描，获取任一测试点处的PK值。

获取到任一测试点处的PK值后，执行步骤S02：将PK值转换为设定格式的第一数据。其中，第一数据为任一测试点处前一时刻的PK值转换后的测试数据。

本实施例中对PK值进行转换所获取到的设定格式的第一数据，是一个最终读数。该转换过程为现有技术，在此不再赘述。

S03：记录第一数据以及与第一数据相匹配的天线位置信息。

其中，天线位置信息包括：垂直距离和角度。本实施例中天线位置信息采用垂直距离和角度信息进行描述，该垂直平距离为天线和待测设备之间的垂直距离，例如某一测试点处采集到第一数据后，记录其数值，并记录该数值对应的天线位置信息为：(2米，45°)。

S04：记录任一测试点处的第二数据。

其中，第二数据为任一测试点处后一时刻的PK值转换后的测试数据。本实施例中第一数据和第二数据为前后两个记录时刻的测试数据，不是次序上的第一个数据和第二个数据。

进一步地，根据记录第二数据的时间段的不同，步骤S04又包括如下两种方式：

第一种方式为：实时记录任一测试点处的第二数据。这种方式适用于计算性能较高的设备，通过实时记录任一测试点处的第二数据，所记录的第二数据集更大，后续所获取的第一数据和第二数据的比较结果更加准确，利用该比较结果所获取的最大PK值也更加准确，有利于进一步提高辐射测试结果的准确性。

第二种方式为：每隔设定的时间记录任一测试点处的第二数据。这种方式适用于计算性能相对较低的设备，通过设定间隔时间，设定的测试期间内进行数据记录，设定的测试期间外不进行记录，由于该方式对设备的计算性能要求较低，有利于辐射测试的推广应用。

进一步地，本实施例中采用第二种方式记录第二数据时，设定的时间可以根据用户对测试结果的要求而定，设定的时间越小，记录越频繁，测试结果越准确。设定的时间可以取值为10毫秒，该设定时间既能使使常规计算机满足要求，便于推广应用，又能够确保测试结果相对准确，满足辐射测试要求。

继续参见图1可知，记录到第一测试数据和第二测试数据后，执行步骤S05：判断第二数据是否大于第一数据。

如果第二数据大于第一数据，则执行步骤S06：将第一数据替换为第二数据，并记录与第二数据相匹配的天线位置信息。

如果第二数据小于或等于第一数据，则执行步骤S07：保持第一数据以及与第一数据相匹配的天线位置信息不变。

由以上步骤S04-S06可知，通过比对第二测试数据与第一测试数据的大小，以两者中的较大值刷新当前的记录，能够确保当前的测试数据为最大测试数据，从而避免再次读取PK值，有利于提高辐射测试效率和测试的准确性。

继续参见图1可知，刷新当前的PK值之后，执行步骤S08：根据一个扫描周期内任一测试点的频率与PK值的关系，生成相应的波形。

该波形的横坐标为频率，纵坐标我PK值，每个测试点都对应一个波形图，从波形图上能够清晰直观地看到任一测试点的所有PK值。

S09：根据波形，确定任一测试点的最大PK值。

S10：获取最大PK值处的QP值。

确定最大PK值后，该最大PK值对应有一个QP值。且任一天线位置信息与一个QP值、一个PK值一一对应。

S11：根据设定的辐射测试阈值和QP值，确定辐射测试结果。

确定QP值后，将该QP值与频率范围为30MHz-1GHz的待测设备的辐射测试阈值相比，判断该QP值是否超过设定的辐射测试阈值，如果是，辐射测试不合格，如果否，辐射测试合格。

实施例二

在图1所示实施例的基础之上参见图2，图2为本申请实施例所提供的一种辐射测试系统的结构示意图。由图2可知，本实施例中辐射测试系统主要包括：天线、转桌、接收器、比较器以及波形显示器。其中，待测设备固定设置于转桌上，天线与转桌的水平距离固定，天线与转桌的垂直距离可变，接收器与天线通信连接，比较器与接收器通信连接，且辐射测试系统设置于暗室中，该辐射测试系统应用于频率范围为30MHz-1GHz的待测设备。天线用于扫描待测设备，接收器用于接收来自天线的任一测试点处的PK值，对PK值进行处理，以及，将处理后的测试数据分别传输至比较器和波形显示器。比较器用于获取来自接收器的处理后的测试数据，并将前后两个时刻的处理后的测试数据进行比对，获取任一测试点处的最大PK值。波形显示器，用于显示任一测试点处PK值与频率的关系。

本实施例中的转桌用于固定待测设备，且可以带着测试设备进行360°圆周旋转。

进一步地，接收器包括：PK值获取模块、格式转换模块和发送模块。其中，PK值获取模块用于获取任一测试点处的PK值；格式转换模块用于将PK值转换为设定格式的测试数据；发送模块用于将设定格式的测试数据分别传输至比较器和波形显示器。

本实施例中接收器的工作过程为：天线将读取到的电压值发送至接收器，接收器根据该电压值，通过PK值获取模块获取到PK值；格式转换模块根据天线与待测设备的距离计算出场强，将该场强通过log换算得出dB值，并通过修正天线损耗、线缆损耗等参数得出最终测试数据；然后通过发送模块分别发送至比较器和波形显示器。

比较器包括：第一记录模块、第二记录模块、判断模块和更新模块。其中，第一记录模块用于记录来自接收器的第一数据以及与第一数据相匹配的天线位置信息，天线位置信息包括：垂直距离和角度，第一数据为任一测试点处前一时刻的PK值转换后的测试数据。第二记录模块用于记录任一测试点处的第二数据，第二数据为任一测试点处后一时刻的PK值转换后的测试数据。判断模块用于判断第二数据是否大于第一数据。更新模块用于当第二数据大于第一数据时，将第一数据替换为第二数据，并记录与第二数据相匹配的天线位置信息，否则，保持第一数据以及与第一数据相匹配的天线位置信息不变。

该实施例中辐射测试系统的工作原理和工作方法，在图1所示的实施例中已经详细阐述，两个实施例之间可以互相参照，在此不再赘述。

以上所述仅是本申请的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。