阅读说明：本技术 介质高度不均匀性检测 (Media height non-uniformity detection ) 是由 M·J·韦斯特 于 2019-04-30 设计创作，主要内容包括：在本公开的示例中,利用位于与辊相邻的第一光发送器和第一光接收器对,测量沿着辊的长度发射穿过卷材介质的第一光束的功率。利用位于与辊相邻的第二光发送器和第二光接收器对,测量发射穿过辊的长度的第二光束的功率。基于第一光束的功率的测量和第二光束的功率的测量,识别介质高度不均匀性。(In an example of the present disclosure, the power of a first optical beam emitted through web media along the length of a roller is measured with a first optical transmitter and first optical receiver pair located adjacent the roller. The power of the second optical beam emitted across the length of the roller is measured with a second optical transmitter and second optical receiver pair located adjacent the roller. Media height non-uniformity is identified based on the measurement of the power of the first beam and the measurement of the power of the second beam.)

具体实施方式

在一些示例中，卷材进给打印机的打印施加组件可以包括喷墨打印头阵列，以喷射液体墨水到介质上。在这样的示例中，即使轻微的介质高度不均匀性也可以导致对打印头的物理损坏。如本公开所使用的“介质高度不均匀性”一般指代介质的高度或厚度缺乏一致性，或者与所需的或目标介质高度的偏差。在示例中，介质高度不均匀性可以是介质中的皱褶或折痕造成的结果。在其他示例中，介质高度不均匀性可以是介质中的制造缺陷造成的结果，或者介质中的制造缺陷是其原因之一。至少，在没有处理卷材介质的不均匀性(包括但不限制于介质中的皱褶)的情况下，打印机的操作可以导致显著的打印质量缺陷。在一些情况下，带有卷材介质不均匀性的打印机的操作可以导致打印头与介质碰撞。这样的碰撞可以高度影响打印机用户，因为用户可能需要更换损坏的设备并且打印机停机。在介质离开打印区之后出现的介质高度不均匀性也可以导致打印质量问题。

目前用于检测介质高度不均匀性的系统对于大规模数字图形打印机可能是不令人满意的，例如，因为测量系统无法提供在必要的精度和/或速度下的操作。其他现有的架构，例如，具有位于沿着介质路径的大量传感器阵列的系统，可能能够提供所需的精度和速度，但对于数字图形打印机中的一些生产实施来说过于复杂和/或昂贵。

为了处理这些问题，下面更详细地描述的各种示例提供用于介质高度不均匀性的检测的系统和方法。然而现有的介质高度测量系统和方法典型地包括测量介质的卷材的绝对高度，而本公开的系统和方法利用光强度(light intensities)的测量来检测卷材介质中的不均匀性，而无需知道该卷材介质的绝对高度。在一个示例中，打印机包括打印引擎，以在打印操作期间在卷材介质上形成图像。打印机包括用于在打印操作期间提供卷材介质的供应卷轴(supply reel)，以及用于在打印引擎在卷材介质上形成图像之后收集卷材介质的收取卷轴(take-up reel)。打印机包括用于使卷材介质前进的辊的集合，包括用于对卷材介质施加卷绕张力(wrapping tension)的第一辊。打印机包括介质高度不均匀性(有时在本公开称为“MHN”)检测系统。

在示例中，MHN检测系统包括第一光发送器，该第一光发送器位置与辊的端部相邻。第一光发送器用于使得第一光束沿着第一路径照射向辊的相对的端部，使得第一光束将沿着第一路径被卷绕的卷材介质影响。检测系统包括第一光接收器，该第一光接收器位置与辊的相对的端部相邻。第一光接收器用于测量第一光束的强度(strength)。

在示例中，MHN检测系统包括第二光发送器，该第二光发送器位置与辊的端部相邻。第二光发送器用于使得第二光束沿着第二路径照射向辊的相对的端部，使得第二光束将不会沿着第二路径被卷绕的卷材介质影响。MHN检测系统包括第二光接收器，该第二光接收器位置与辊的相对的端部相邻。第二光接收器用于测量第二光束的强度(strength)。

在示例中，MHN检测系统包括介质高度不均匀性识别组件，该组件用于基于第一和第二光束的测量强度识别介质高度不均匀性。介质高度不均匀性组件用于响应于这样的识别启动补救动作。在一个示例中，实施的补救动作可以是使得向用户发送存在介质高度不均匀性问题的消息或指令。在其他示例中，实施的补救动作可以是停止或暂停在打印机处的打印操作。

以这样的方式，公开的方法和系统提供在打印机处对卷材介质高度不均匀性的有效和高效率的识别。当整合在卷材进给打印机内时，本公开可以减少或限制由反复出现的介质皱褶和其他介质高度不均匀性导致的打印质量问题和对耗材的浪费。喷墨打印机的用户和供应商还将赞赏对打印头和其他打印机组件的损坏减少，以及由介质高度不均匀性的早期识别带来的停机时间减少。包括公开的用于检测介质高度不均匀性的方法和系统的喷墨打印机的安装和使用因此应该得到提升。

图1和2描绘了用于实现各种示例的物理和逻辑组件的示例。在图1和2中，各种组件被识别为引擎110、112、114、204和206。在描述引擎110-114、204和206时，重点在于每个引擎的指定功能。然而，如本公开所使用的，术语引擎一般指代用于执行指定功能的硬件和/或程序。如关于图3所图示的，例如，每个引擎的硬件可以包括处理器和存储器中的一个或两个，而程序可以是存储在存储器上的代码，并可由处理器运行以执行指定的功能。

图1是描绘了用于检测介质高度不均匀性的系统100的示例的框图。在该示例中，系统100包括辊104、第一光发送器和光接收器对106、第二光发送器和光接收器对108、第一强度测量引擎110、第二强度测量引擎112和识别引擎114。如本公开所使用的，“辊”一般指代围绕中心轴旋转的圆柱体。在示例中，辊104可以由塑料、基于橡胶的物质、金属或任何其他耐用材料形成，其形成为带有光滑表面的圆柱体形状，用于与介质对接。如本公开所使用的，“卷材介质”一般指代可以由打印机在其上形成打印的图像的介质，其中卷材介质是以连续的长度通过打印机的。如本公开所使用的，“打印机”是“打印设备”或“打印装置”的同义词，一般指代任何消耗标记剂以生产打印的打印任务或打印的内容的电子设备或电子设备组。在示例中，打印机可以是但不限制于液体喷墨打印机、基于液体调色剂的打印机或除打印外还执行例如扫描和/或复印的功能的多功能设备。如本公开所使用的，“打印任务”一般指代例如图像的内容和/或关于格式化和呈现发送到计算机系统以用于打印的内容的指令。在示例中，打印任务可以以程序语言和/或数字形式被存储，使得该任务可以在计算设备、服务器、打印机和其他能够执行计算和操纵数据的机器中存储和使用。如本公开所使用的，“图像”一般指代物体、场景、人物或例如文本或几何形状的抽象体的渲染。

典型地，卷材介质从在打印机的一个端部的供给或进给卷轴被进给，通过打印区，并且在任何打印后处理(例如，干燥、施加外涂层等)之后，可以在打印机的相对的端部处的收取卷轴上被卷起。在示例中，辊114可以是被包括在打印机内的辊的集合中的一个辊，以将卷材介质从进给器卷轴输送通过打印机以经过打印区，并且输送到打印机外以在收取卷轴上被收集。在不同示例中，在非打印装置位于下游并且与打印剂连线以用于执行卷材介质上的修整操作(例如，切割、折叠、装订和/或排序(sorting)操作)的情况下，打印机可以不使用收取卷轴。

系统100包括第一光发送器和第一光接收器对106。如本公开所使用的，光发送器指代任何产生光束的光源。在一些示例中，光束可以是LED束、红外束或激光束。其他类型的光束也是可能的，并且由本公开视作可行的。如本公开所使用的，光接收器指代用于检测由光发送器发射的光束的存在并且用于检测所检测的光束的强度变化的任何设备。在示例中，光接收器可以是或包括以下类型的光电检测器：光电二极管、光电晶体管、光子倍增器(photon multiplier)和光电电阻。

继续图1的示例，发送器/接收器对106的第一光发送器位置与辊104的端部相邻，并且用于使得第一光束沿着路径照射向辊104的相对的端部。在示例中，该路径是与卷材介质沿着辊104行进的方向正交的路径。第一光发送器发射的第一光束用于当沿着第一路径照射时，遇到卷绕在辊104上的卷材介质。发送器/接收器对106的第一光接收器用于测量第一光束的强度。卷绕在辊104上的卷材介质的高度影响第一传感器所检测到的光束的强度。随后，卷材介质的高度的任何不均匀性，例如，皱褶、折痕、隆起、折缝或卷材介质的导致介质高度差异的其他特征，也将影响第一传感器检测到的光束的强度。

系统100包括第二光发送器和第二光接收器对108。发送器/接收器对108的第二光发送器位置与辊104的端部相邻，并且用于使得第二光束沿着第二路径照射向辊104的相对的端部。在示例中，第二路径是与卷材介质沿着辊104行进的方向正交的路径。

第二光发送器发射的第二光束用于当沿着第二路径照射时，不会遇到卷绕在辊104上的卷材介质。即，第二光发送器用于在使得光束在辊104的长度上照射而卷材介质将不影响光束的方向上发射光束。发送器/接收器对108的第二光接收器用于测量第二光束的强度。辊104中的缺陷，例如，任何凸起、隆起、鼓胀、突出或辊的其他高度上升，将影响第二传感器检测到的第二光束的强度。

继续图1的示例，第一强度测量引擎110通常代表硬件和程序的组合，以接收指示第一光接收器对第一光束的强度的测量的数据。第二强度测量引擎112通常代表硬件和程序的组合，以接收指示第二光接收器对第二光束的强度的测量的数据。识别引擎114通常代表硬件和程序的组合，以考虑第一和第二光束的测量强度，识别辊104处的介质高度的不均匀性。

在示例中，识别引擎114识别介质高度不均匀性可以是或者包括，从合计的高度不均匀性值(如利用第二光发送器和光接收器对106检测的)减去辊高度不均匀性值(如利用第二光发送器和光接收器对108检测的)，以计算调整的高度不均匀性值。在特定的示例中，系统100用于使得第一光接收器对第一光束的强度的测量在辊的圆周上的点X与第一光发送器和第一光接收器对106对准时发生，并且使得第二光接收器对第二光束强度的测量在圆周上的点X与第二光发送器和第二光接收器对108对准时发生。

图2是描绘了用于检测介质高度不均匀性的系统的另一个示例的框图。在这个示例中，系统100除了包括关于图1所讨论的组件104-114之外，还包括编码器202、对准的测量识别引擎204和补救动作引擎206。

在图2的示例中，系统100包括编码器202，用于在辊104输送卷材介质时跟踪辊104的旋转位置。如本公开所使用的，“编码器(encoder)”一般指代测量位置或运动的机电设备，例如，卷材进给打印机中辊的旋转位置或运动。在示例中，编码器202可以是光旋转式编码器(optical rotary encoder)或旋转式磁性编码器(rotary magnetic encoder)。在示例中，编码器202可以输出被已知为正交编码器输出(quadrature encoder output)的信号对，其由两个通道组成，从这两个通道可以确定位置和运动的方向。在一些示例中，旋转式编码器可以包括Z脉冲，表示辊的旋转中的单一位置的单一脉冲。

继续在图2处，对准的测量识别引擎204通常代表硬件和程序的组合，以利用由编码器202收集的辊位置数据，识别当辊圆周上的点X与第一光发送器和第一光接收器对对准时发生的、要遇到卷材介质的第一光束的强度的测量。对准的测量识别引擎204用于识别当点X与第二光发送器和第二光接收器对对准时发生的、不会遇到卷材介质的第二光束的强度的测量。

在一个示例中，第一光发送器和第一光接收器对106以及第二光发送器和第二光接收器对108连续进行光强度测量。对准的测量识别引擎204可以利用从编码器202收集或输出的旋转位置数据来识别当圆周上的点X与第一光发送器和第一光接收器对106或第二光发送器和第二光接收器对108对准时进行的测量。可选地，在不同的示例中，对准的测量识别引擎204可以利用从编码器202收集或输出的旋转位置数据，使得第一光发送器和第一光接收器对106以及第二光发送器和第二光接收器对108在与辊104的圆周上的点X对准时进行光束强度测量。

继续在图2处，补救动作引擎206通常代表硬件和程序的组合，以响应于识别引擎114已经识别了介质高度不均匀性而启动补救动作。在一个示例中，补救动作是引起发布用户警告，例如，警告存在可能影响打印质量和/或损坏容纳辊104的设备(例如，打印机)的介质高度不均匀性或介质高度状况。在示例中，警告可以视觉地提供给用户，例如，经由在打印机处或连接到打印机的计算设备处的屏幕，或经由打印输出。在其他示例中，警告可以是声音警告。在另一个示例中，启动的补救动作可以是使得卷材介质的运动暂停或停止。在又一个示例中，在介质高度不均匀性检测系统100位于卷材进给打印机内的情况下，补救动作可以是触发用于检测打印机的损坏的诊断测试，例如，来自打印头碰撞的损坏，其可能是由发现的介质高度不均匀性造成的。

在前述图1和图2的讨论中，第一强度测量引擎110、第二强度测量引擎112、识别引擎114、对准的测量识别引擎204和补救动作引擎206被描述为硬件和程序的组合。引擎110-114、204和206可以以多种方式实施。参见图3，程序可以是存储在实体存储器资源330上的处理器可执行指令，并且硬件可以包括用于执行这些指令的处理资源340。因此，存储器资源330可以说用于存储程序指令，所述程序指令当由处理资源340执行时，实施图2的系统100。

存储器资源330通常代表能够存储可由处理资源340执行的指令的任何数量的存储器组件。存储器资源330是非暂态的，其意义在于存储器资源330不覆盖暂态信号，而是由一个或多个存储器组件组成以存储指令。存储器资源330可以在单个设备中实施，或分布在多个设备中。同样地，处理资源340代表能够执行存储器资源330存储的指令的任何数量的处理器。处理资源340可以集成在单个设备中，或分布在多个设备中。进一步地，存储器资源330可以完全地或部分地集成在与处理资源340相同的设备中，或者可以是独立的但是可以被设备和处理资源340访问。

在一个示例中，程序指令可以是安装包的部分，所述安装包在被安装后可以由处理资源340执行以实施系统100。在这种情况下，存储器资源330可以是便携式介质，例如CD、DVD或闪存驱动器或由服务器维护的存储器，可以从其中下载并安装所述安装包。在另一个示例中，程序指令可以是已经安装的一个或多个应用的部分。在此，存储器资源330可以包括集成的存储器，例如硬盘、固态驱动器或类似物。

在图3中，存储在存储器资源330中的可执行程序指令被描绘为第一强度测量模块310、第二强度测量模块312、识别模块314、对准的测量识别模块304和补救动作模块306。第一强度测量模块310代表程序指令，所述程序指令在由处理资源340执行时可以执行上述与图1的第一强度测量引擎110有关的任何功能。第二强度测量模块312代表程序指令，所述程序指令在由处理资源340执行时可以执行上述与图1的第二强度测量引擎112有关的任何功能。识别模块314代表程序指令，所述程序指令在由处理资源340执行时可执行上述与图1的识别引擎114有关的任何功能。对准的测量识别模块304代表程序指令，所述程序指令在由处理资源340执行时可以执行上述与图2的对准的测量识别引擎204有关的任何功能。补救动作模块306代表程序指令，所述程序指令在由处理资源340执行时，可以执行上述与图2的补救动作引擎206有关的任何功能。

图4A-4D是示出了系统100的示例的简单示意图。从图4A处开始，在这个示例中，系统100包括辊104、第一光发送器106A和第一光接收器106B、第二光发送器108A和第二光接收器108B、以及介质高度不均匀性识别组件450(有时在本公开被称为“MHNIC 450”。MHNIC450是用于检测介质高度不均匀性的硬件和程序的组合，包括第一测量引擎110、第二测量引擎112、识别引擎114和补救动作引擎206，如同关于图1和图2描述的引擎。在图4A的基础上移至图4B，第一光发送器106A和第一光接收器106B位置沿着辊104的长度在介质404沿着辊104卷绕的地方与辊104相邻。MHNIC 450用于利用第一光发送器106A和第一光接收器106B，使得对在介质404沿着辊104卷绕的地方穿过沿着辊104的长度发射的第一光束402的功率进行测量。在这个示例中，光束402遇到卷材介质404，使得光束402的第一部分420被光接收器106B感测，而第二部分422被卷材介质404阻挡而没有被光接收器106B感测。

在图4A和4B的基础上移至图4C，第二光发送器108A和第二光接收器108B位置与辊104相邻。MHNIC 450用于利用第二光发送器108A和第二光接收器108B，使得对在第二光束406将不遇到卷材介质404且不受到卷材介质404影响的地方发射穿过辊104的长度(例如，在卷材介质404没有沿着辊104卷绕的地方穿过辊104的长度)的第二光束406的功率进行测量。在这个示例中，光束406遇到辊104中的隆起、凸起或其他变形440，使得光束406的第一部分430被光接收器108B感测，而第二部分432随着辊104的旋转被辊变形440阻挡、部分阻挡或周期性阻挡。

在图4A-4C的基础上移至图4D，MHNIC 450用于基于第一光束402的功率的测量和第二光束406的功率的测量，识别卷材介质的皱褶、折痕、隆起、折缝或其他特征，或卷材介质404中的其他介质高度不均匀性460。在特定的示例中，MHNIC 450用于通过将第一光束402的功率的测量与第一目标光束功率(例如，通过访问查找表)比较以确定合计的高度不均匀性值，识别介质高度不均匀性460。在这个特定的示例中，MHNIC 450还用于将第二光束406的功率的测量与第二目标光束功率(例如，通过访问查找表)比较以确定辊高度不均匀性值。

MHNIC 450用于在考虑确定的合计的高度不均匀性值和确定的辊高度不均匀性值的情况下，接着识别与介质404相关联的介质高度不均匀性460。在一些示例中，MHNIC 450可以使用调整后的高度不均匀性值识别介质高度不均匀性460，调整后的高度不均匀性值是通过从确定的合计的高度不均匀性值中减去确定的辊高度不均匀性值计算的。在示例中，MHNIC 450可以通过将调整后的高度不均匀性值与将调整后的高度不均匀性值和介质高度不均匀性相关联的查找表进行比较，识别介质高度不均匀性和/或介质高度均匀性属性(例如，不均匀性的类型、不均匀性在卷材介质104上的位置、或不均匀性的程度)。

在图4B-4C的基础上回到图4A，响应于已经识别与卷材介质404相关联的介质高度不均匀性460，MHNIC 450要启动补救动作。在一个示例中，启动的补救动作是向用户提供卷材具有介质高度不均匀性的警告。在另一个示例中，例如，当识别的介质高度不均匀性被认为严重到足以损坏打印机的情况下，启动的补救动作可以是停止或暂停卷材介质的运动。在特定的示例中，其中辊104被包括在打印机内，暂停或停止卷材介质的运动的补救动作可以包括暂停在打印机处的打印剂施加操作(例如，对于喷墨打印，暂停喷射液体墨水的打印头的激发，或者对于激光或LEP打印，分别暂停干墨粉或静电墨到介质的转移)。

图5A和5B是示出了用于检测介质高度不均匀性的系统的示例的截面视图的示意图。在这个示例中，系统100包括辊104、编码器202、第一光发送器(图5A和5B中没有示出)、第一光接收器106B、第二光发送器(图5A和5B中没有示出)、第二光接收器108B和MHNIC450。MHNIC 450是用于检测介质高度不均匀性的硬件和程序的组合，包括第一测量引擎110、第二测量引擎112、识别引擎114、对准的测量识别引擎202和补救动作引擎206，如图1和图2描述的引擎。

辊104用于施加卷绕张力到卷材介质404。与辊104的端部相邻的第一光发送器用于使得第一光束402沿着第一路径照射向辊104的相对的端部。第一光束402用于沿着第一路径遇到被卷绕的卷材介质404，而第一光接收器106B用于测量第一光束402的强度。

继续图5A和5B的示例，第二光发送器与辊104的端部相邻。第二光发送器用于使得第二光束406沿着第二路径照射向辊104的相对的端部。第二光发送器和第二光接收器108B的位置使得第二光束406沿着第二路径将不会遇到卷绕的卷材介质、不会被卷绕的卷材介质转向且不会以其他方式受到卷绕的卷材介质的影响。第二光接收器108B用于测量第二光束406的强度。

编码器202是硬件和编程的组合，用于在辊104输送或移动卷材介质404时跟踪辊104的旋转位置。在一些示例中，辊104可以是带有附属电机的辊，以便主动移动卷材介质404。在其他示例中，辊104可以是被动辊。

继续图5A和5B的示例，MHNIC 450用于利用来自编码器202的读数以从由第一和第二光发送器和光接收器对做出的多个光束功率测量的多个测量中确定第一测量和第二测量。参见图A，MHNIC 450用于利用由编码器202收集的辊位置数据识别第一测量，所述第一测量是当辊104的圆周上的点X 502与第一光发送器和第一光接收器106B对对准时发生的第一光束402的强度的测量。参见图5B，MHNIC 450用于利用由编码器202收集的辊位置数据，识别第二测量，所述第二测量是当点X502与第二光发送器和第二光接收器108B对对准时，在辊104的旋转的某一阶段发生的第二光束406的强度的测量。

MHNIC 450用于接收指示第一光束402的强度的第一测量和第二光束404的强度的第二测量的数据，并且基于测量的强度识别介质404处的介质高度不均匀性。一旦识别到介质高度不均匀性，MHNIC 450用于触发补救动作，例如发布用户警告或停止打印机处的打印剂施加操作。

图6A和6B是图示了打印机600的示例的简单截面示意图。在图6A和6B中的每一个中，打印机600包括打印引擎602，以在打印操作期间在卷材介质404上形成图像。如本公开所使用的，“打印引擎”一般指代被用于向例如卷材介质的介质施加打印剂的组件的集合。在特定的示例中，打印引擎602可以是喷墨打印引擎，该喷墨打印引擎包括带有热喷墨打印头的一个或多个集合的打印杆(print bar)。在另一个示例中，打印引擎602可以是包括打印杆的压电打印引擎602，或压电打印头的另一个或多个集合。在另一个示例中，打印引擎602可以是干墨粉激光打印引擎，而打印剂施加组件可以包括光电导体、干墨粉盒和/或熔融元件(fuser element)。在又一个示例中，打印引擎602可以是液体电子照相(“LEP”)打印机，其带有包括写元件、光电导体元件、充电元件、中间转印构件或橡胶布(blanket)和/或压印鼓(impression drum)的打印施加组件。在其他示例中，将打印剂施加于卷材介质长度可以包括利用底涂器(primer coater)装置将底涂层施加于卷材介质长度。在其他示例中，将打印剂施加于卷材介质长度可以包括利用添印器(overprint coater)装置将添印涂层施加于卷材介质长度。

在图6A和6B中的每一个中，打印机600包括用于在打印操作期间在卷材方向610中提供卷材介质404的供应卷轴606，以及用于在由打印引擎602在卷材介质404上形成图像之后收集卷材介质404的收取卷轴608。打印机包括辊的集合，包括辊104直至用于对卷材介质404施加卷绕张力的辊。

在图6A和6B中的每一个中，打印机600包括卷材介质高度不均匀性检测系统100。系统100包括第一光发送器106A，该第一光发送器位置与辊104的端部相邻。第一光发送器106A用于使得第一光束沿着第一路径照射向辊104的相对的端部，使得第一光束将沿着第一路径被卷绕的卷材介质影响。第一光接收器(在图6A和图6B的截面视图中不可见)位置与辊104的相对的端部相邻，用于测量由第一光发送器106A产生的第一光束的强度。

在图6A和6B中的每一个中，系统100包括第二光发送器108A，该第二光发送器位置与辊的端部相邻，以使得第二光束沿着第二路径照射向辊104的相对的端部，使得第二光束不会沿着第二路径被卷绕的卷材介质影响。第二光接收器(在图6A和图6B的截面视图中不可见)位置与辊104的相对的端部相邻，用于测量第二光束的强度。

在图6A和6B中的每一个中，系统包括介质高度不均匀性识别组件(“MHNIC 450”)。在这些示例中，MHNIC 450是用于检测介质高度不均匀性的硬件和程序的组合，包括识别引擎114和补救动作引擎206，如图1和图2描述的引擎。在这些示例中，MHN 450用于基于第一和第二光束的测量强度识别卷材介质404上的介质高度不均匀性。一旦识别到介质高度不均匀性，MHNIC 450用于响应于这样的识别启动补救动作。

图6A和图6B的示例的打印机的打印引擎602相对于卷材介质高度不均匀性检测系统100的一些组件的位置不同。在图6A中，辊104、第一光发送器和光接收器对(第一光发送器106A和在图6A和6B中不可见的第一光接收器)和第二光发送器和光接收器对(第二光发送器108A和在图6A和6B中不可见的第二光接收器)在打印操作期间相对于卷材介质移动方向610被安置在打印引擎602下游。以这种方式，不均匀性检测系统100可以检测皱褶和其他介质不均匀性，该介质不均匀性是在由打印引擎施加打印剂之后出现的。

在图6B中，辊104、第一光发送器和光接收器对，以及第二光发送器和光接收器对在打印操作期间相对于卷材介质移动方向610被安置在打印引擎602上游。在特定的示例中，打印引擎602包括打印头的集合，系统100的这些组件被安置在打印头的上游。以这种方式，不均匀性检测系统100可以检测皱褶和其他介质不均匀性，该介质不均匀性是在卷材介质404在打印引擎602处遇到打印头之前出现的，从而可以避免卷材介质与打印头碰撞，该碰撞原本可能在时间损失和/或打印头损坏的方面造成巨大损失。

图7是对于描绘了用于检测介质高度不均匀性的方法的示例实施的流程图的方法的实施的流程图。测量沿着辊的长度发射穿过卷材介质的第一光束的功率。该测量是利用位置与辊相邻的第一光发送器和第一光接收器对进行的(框702)。

测量发射穿过辊的长度的第二光束的功率。该测量是利用位置与辊相邻的第二光发送器和第二光接收器对进行的(框704)。

考虑对第一光束的功率的测量和对第二光束的功率的测量，识别介质高度不均匀性(框704)。

图1-7帮助描绘各种示例的架构、功能和操作。特别地，图1-6描绘了多个物理和逻辑组件。各种组件至少部分被定义为程序或程序设计。每个这样的组件，其部分，或其各种组合可以全部或部分代表模块、段、或代码的部分，所述模块、段、或代码的部分包括可执行指令以实现任何指定的一个或多个逻辑功能。每个组件或其各种组合可以代表电路或多个相互连接的电路，以实现指定的一个或多个逻辑功能。示例可以在存储器资源中实现，以用于由处理资源使用或与处理资源关联使用。“处理资源”是指令执行系统，例如基于计算机/处理器的系统或ASIC(专用集成电路)或可以从计算机可读介质中获取或获得指令和数据并执行其中包含的指令的其他系统。“存储器资源”是非暂态存储介质，可以包含、存储或维持程序和数据，以用于由指令执行系统使用或与指令执行系统关联使用。术语“非暂态”的使用只是为了澄清如本公开所使用的术语介质并不包含信号。因此，存储器资源可以包括物理介质，例如，电子、磁、光学、电磁或半导体介质。合适的计算机可读介质的更具体示例包括但不限制于硬盘、固态驱动器、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、闪存驱动器和便携式光盘。

尽管图7的流程图示出了具体的执行顺序，但执行顺序可以与所描绘的不同。例如，两个或多个框或箭头的执行顺序可以相对于示出的顺序被打乱。另外，连续示出的两个或更多的框可以同时执行或部分地同时执行。这种变型在本公开的范围内。

可以理解的是，上述对所公开的示例的描述是为了使本领域的任何技术人员能够制造或使用本公开而提供的。对这些示例的各种修改对于本领域的技术人员来说将是清楚的，在不偏离本公开的主旨或范围的情况下，本公开定义的一般原则可以应用于其他示例。因此，本公开并不旨在限制于本公开所示的示例，而是旨在被给予与所公开的原则和新颖特征相一致的最宽泛的范围。本说明书(包括任何所附的权利要求书、摘要和附图)中公开的所有特征，和/或公开的任何方法或过程的所有框或阶段，可以以任何方式组合，除非组合中至少一些这样的特征、框和/或阶段相互排斥。权利要求中的术语“第一”、“第二”、“第三”等只是区分不同的元素，除非另有说明，否则不应具体与本公开的元素的特定顺序或特定编号联系起来。