阅读说明：本技术 一种静电防护器件和防静电测试电路 (Electrostatic protection device and anti-static test circuit ) 是由 黄威 于 2019-09-19 设计创作，主要内容包括：本发明提出一种静电防护器件和防静电测试电路,涉及面板显示技术领域,静电防护器件包括：位于底层的第一测试单元,所述第一测试单元用于连接待测试显示面板；覆盖第一测试单元上方的第一绝缘层；覆盖第一绝缘层的第一屏蔽单元,所述第一屏蔽单元接地；所述第一屏蔽单元与第一测试单元之间电性连接且具有连接状态和断开状态；当测试点灯时,电性连接为连接状态,当测试结束时,电性连接为断开状态。所述静电防护器件通过改变静电防护器件的相关设计来改善面板的抗静电防护能力。(The invention provides an electrostatic protection device and an anti-static test circuit, which relate to the technical field of panel display, wherein the electrostatic protection device comprises: the first test unit is positioned at the bottom layer and used for connecting the display panel to be tested; a first insulating layer covering the first test unit; a first shielding unit covering the first insulating layer, the first shielding unit being grounded; the first shielding unit is electrically connected with the first testing unit and has a connection state and a disconnection state; when the test lights up, the electrical connection is in a connection state, and when the test is finished, the electrical connection is in a disconnection state. The static protection device improves the antistatic protection capability of the panel by changing the relevant design of the static protection device.)

一种静电防护器件和防静电测试电路

技术领域

本发明属于面板显示技术领域，具体涉及一种静电防护器件和防静电测试电路。

技术背景

现有技术中，点灯测试板一般采用下层金属(一或两层)和上层ITO(一或两层)结合的设计，图1是现有技术中点灯测试板的俯视图，图2是现有技术中点灯测试板的剖面图，如图1和图2所示，点灯测试板包括位于底层的金属层01、覆盖金属层01的绝缘层02以及覆盖绝缘层02的ITO层03，所述绝缘层02上设有位于中间的开孔021，ITO层03通过开孔021与金属层01接触。ITO层03用于点灯测试时与治具探针接触，点灯测试板引出金属走线，连接到显示面板内的点灯转换电路04。在这种设计下，靠近端子区产生的静电容易通过点灯测试板进入显示面板内，击伤面板内部的TFT器件以及线路。

发明内容

本发明提供一种静电防护器件及防静电测试电路，所述静电防护器件通过改变静电防护器件的相关设计来改善面板的抗静电防护能力。

本发明的技术方案如下：

本发明公开了一种静电防护器件，位于底层的第一测试单元，所述第一测试单元用于连接待测试显示面板；覆盖第一测试单元上方的第一绝缘层；覆盖第一绝缘层的第一屏蔽单元第一屏蔽单元，所述第一屏蔽单元第一屏蔽单元接地；所述第一屏蔽单元第一屏蔽单元与第一测试单元之间电性连接且具有连接状态和断开状态；当测试点灯时，电性连接为连接状态，当测试结束时，电性连接为断开状态。

优选地，所述第一测试单元为一层或多层可导电层，第一屏蔽单元为一层或多层可导电层。

优选地，当所述第一测试单元为多层可导电层时，所述第一测试单元包括：第一金属层；第二绝缘层，覆盖第一金属层，所述第二绝缘层上设有位于中间的第一开孔；第一金属氧化物层，覆盖第二绝缘层，所述第一金属氧化物层通过第一开孔与第一金属层接触。

优选地，当所述第一屏蔽单元为多层可导电层时，所述第一屏蔽单元包括：第二金属层；第三绝缘层，覆盖第二金属层，所述第三绝缘层上设有位于中间的第一开孔；第二金属氧化物层，覆盖第三绝缘层，所述第二金属氧化物层通过第一开孔与第二金属层接触。

优选地，所述第一屏蔽单元与第一测试单元通过外部连接孔电性连接。

优选地，所述第一屏蔽单元包括第一主体部分以及和第一主体部分连接的第一连接部；所述第一测试单元包括第二主体部分以及和第二主体部分连接的第二连接部；所述第一屏蔽单元与第一测试单元通过第一连接部设置的连接孔和第二连接部电性连接。

优选地，在所述第一屏蔽单元或第一测试单元上设有电路控制开关控制电性连接或断开。

优选地，所述电路控制开关为TFT器件。

优选地，所述电路控制开关是由多个TFT器件串联或并联构成，或者是由多个TFT器件形成的一组电路。

优选地，所述第一测试单元与第一屏蔽单元在外部通过镭射切断实现电性连接断开状态。

本发明还公开了一种防静电测试电路，包括上述的静电防护器件，用于对显示面板进行点灯测试，在点灯测试时通过治具探针电性接触静电防护器件连接待测试显示面板，测试时静电防护器件内部电性连接为连接状态；当测试结束时，静电防护器件内部电性连接为断开状态。

本发明能够带来以下至少一项有益效果：

本发明能够起到隔绝端子上产生的静电通过点灯测试电路进入显示面板内的作用，避免了静电击伤面板内部TFT器件和线路的风险。既不影响点灯测试的功能，又可以在面板正常工作状态下通过最上层的金属氧化物层(ITO)实现屏蔽静电的作用，有效提升面板的抗ESD能力。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本发明予以进一步说明。

图1是现有技术中点灯测试板的俯视图；

图2是现有技术中点灯测试板的剖面图；

图3是本发明静电防护器件的示意图；

图4是本发明实施例一静电防护器件的示意图；

图5是本发明实施例一第一测试单元的示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

本发明提供一种静电防护器件，用于点灯测试装置，如图3所示，包括：位于底层的第一测试单元10，所述第一测试单元10用于连接待测试显示面板；覆盖第一测试单元10上方的第一绝缘层20；覆盖第一绝缘层20的第一屏蔽单元30，所述第一屏蔽单元30接地(GND)；所述第一屏蔽单元30与第一测试单元10之间电性连接且具有电性连接状态和断开状态；当测试点灯时，电性连接为连接状态，当测试结束时，电性连接为断开状态。

其中，第一测试单元10单独使用时可以起到完整的点灯测试作用，但其在单独使用时不能起到屏蔽静电的作用，容易击伤面板，因此本发明另外设置了用于屏蔽静电的第一屏蔽单元30。

所述第一测试单元10可以是由一层或多层可导电层构成，，所述第一屏蔽单元30也可以是由一层或多层可导电层构成，所述的可导电层可以是金属，也可以金属氧化物等其他任意导电材料。不管是第一测试单元10还是第一屏蔽单元30，当可导电层为多层时，相邻的两层可导电层可以通过绝缘层过孔连接，也可以两层可导电层之间没有绝缘层直接连接，具体可根据可导电层的材料和形态依据工艺来选择第一测试单元10或第一屏蔽单元30的内部连接方式。

利用第一绝缘层20将第一测试单元10和第一屏蔽单元30分隔开，第一屏蔽单元30覆盖第一绝缘层20，且第一屏蔽单元30的面积大于第一测试单元10的面积，在第一测试单元10的有效测试面积范围内第一屏蔽单元30不与第一测试单元10的其他层有任何连接。

所述第一屏蔽单元30与第一测试单元10通过在第一测试单元10的有效测试面积范围外进行电性连接且具有电性连接状态和断开状态两个状态，此处连接方式不做限定，第一屏蔽单元30的任意一层或多层可导电层可以与第一测试单元10的任意一层或多层可导电层在第一测试单元10的有效测试面积范围外通过连接孔进行电性连接，多层金属之间可以交叠也可以不交叠，只要实现第一屏蔽单元30与第一测试单元10之间的电性连接即可，此外，连接孔的数量和位置在本发明中也不做限制。

当进行点灯测试时，第一测试单元10可以引出金属走线与待测试显示面板连接，第一屏蔽单元30与治具探针连接，且第一屏蔽单元30接地，治具探针通过与表面的第一屏蔽单元30接触就可以将电信号送至显示面板内；点灯测试结束后，将第一屏蔽单元30与第一测试单元10之间电性连接状态调整为断开状态。这样就起到隔绝端子上产生的静电通过点灯测试电路进入显示面板内的作用，避免了静电击伤面板内部TFT器件和线路的风险。

下面以具体实施例详细介绍本发明的技术方案。

实施例一：

一种静电防护器件，如图4所示，包括：位于底层的第一测试单元10，第一测试单元用于连接待测试显示面板；覆盖第一测试单元10上方的第一绝缘层20；覆盖第一绝缘层20的第一屏蔽单元30，所述第一屏蔽单元30接地。本实施例中的第一屏蔽单元30为一层金属氧化物ITO。

其中，图5是第一测试单元10的示意图，所述第一测试单元10包括：金属层01；第二绝缘层02，覆盖金属层01，所述第二绝缘层02上设有位于中间的第一开孔021；第一金属氧化物层03，覆盖第二绝缘层02，所述第一金属氧化物层03通过第一开孔021与金属层01接触。

所述第一测试单元10的膜层结构和材料不仅限于上述提到的内容，膜层数量、厚度以及制作顺序都可以根据实际需求进行变化，只需满足单独使用时可以起到完整的点灯测试作用即可。

所述第一屏蔽单元30包括第一主体部分31以及和第一主体部分31连接的第一连接部32，所述第一连接部32上设有连接孔301；所述第一测试单元10包括第二主体部分11以及和第二主体部分11连接的第二连接部12；所述第一屏蔽单元30与第一测试单元10通过第一连接部32上的连接孔301和第二连接部12电性连接，且所述电性连接具有连接状态和断开状态两种状态，当测试点灯时，电性连接为连接状态，当测试结束时，电性连接为断开状态。

通过在所述第一屏蔽单元30和第一测试单元10之间设有电路控制开关(图中未示出)可以控制电性连接或断开。

在本实施例中，所述电路控制开关为TFT器件，TFT器件连接在第一连接部32和第二连接部12之间。其中，TFT器件的源极和漏极分别连接第一连接部32和第二连接部12，TFT器件的栅极连接转换信号(Switch信号)，此处的转换信号可以与点灯测试时的转换信号共用，也可以由外部单独提供。

所述电路控制开关也可以是由多个TFT器件串联或并联构成，或者是由多个TFT器件形成的一组电路。

除了本实施例提到的所述电路控制开关为TFT器件的情况以外，为了实现控制电性连接或断开，也可以是将所述第一测试单元10与第一屏蔽单元30直接连接，断开时只需在外部通过镭射切断实现电性连接断开状态，即镭射切断第一连接部32或第二连接部12。

需要说明的是，除了上述提到的使用电路控制开关或镭射切断，其他能够达到控制第一屏蔽单元30和第一测试单元10之间电性连接或断开状态的方法也都属于本发明的保护范围。

本发明还公开了一种防静电测试电路，包括上述的静电防护器件，用于对显示面板进行点灯测试，在点灯测试时通过治具探针电性接触静电防护器件连接待测试显示面板，测试时静电防护器件内部电性连接为连接状态；当测试结束时，静电防护器件内部电性连接为断开状态。

本发明提到的这种防护静电的方案不仅仅适用于IGZO半导体和IPS显示模式，同时也适用于a-Si、LTPS等其他半导体材料制作的显示面板，以及适用于TN、VA等其他显示模式下的显示面板。

本发明提出的静电防护器件及防静电测试电路通过改变静电防护器件的相关设计来改善面板的抗静电防护能力，起到隔绝端子上产生的静电通过点灯测试电路进入显示面板内的作用，避免了静电击伤面板内部TFT器件和线路的风险。既不影响点灯测试的功能，又可以在面板正常工作状态下通过最上层的ITO层实现屏蔽静电的作用，有效提升面板的抗ESD能力。

应当说明的是，以上所述仅是本发明的优选实施方式，但是本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在本发明的技术构思范围内，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，对本发明的技术方案进行多种等同变换，这些改进、润饰和等同变换也应视为本发明的保护范围。