具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

参照图1-2所示，一种透明介质污渍位置检测方法，包括：

获得建筑3D模型以得到幕墙透明介质整体轮廓，在幕墙透明介质外侧采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪并拍摄获得多个拍摄图像，将多个拍摄图像进行比较得到污渍轮廓图，根据不同拍摄图像上的污渍形态差异确认该污渍在待检测透明介质上的位置信息。

本发明通过在幕墙透明介质外侧采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪并拍摄获得多个拍摄图像，将不同拍摄图像上的污渍形态突出显示，以此来污渍的位置信息，大大降低了确定污渍位于透明介质内外侧的难度，提高检测精度，降低了检测成本，节约了人工成本，同现有人工目视的方式相比，采用本发明的检测效率高，速度快。

所述透明介质可以为PS(聚苯乙烯)、聚甲基丙烯酸甲酯(俗称有机玻璃)、甲丙烯酸甲酯(俗称亚克力)、PC(聚碳酸酯)、玻璃(二氧化硅为主要成分)，本发明检测方法适用于是平面或者曲面且为透明的，在检查污渍的时候通过切换视角获得污渍位置情况。

所述光源包括有至少一个不可见光光源，该至少一个不可见光光源被操作来发射电磁波频谱位于可见区域之外的不可见光。

所述不可见光为红外光源或者紫外光源，较为优选的所述不可见光为红外光源，其波长范围为850nm-900nm，由于幕墙透明介质普遍存在镀膜隔绝紫外线的镀层，本发明较为优选的采用红外光源，当幕墙透明介质为普通透明介质时，采用红外光源或者紫外光源中的任意一个都可以。

红外光源可以突出幕墙透明介质表面的污渍缺陷，实现对幕墙透明介质表面的快速检测，减少运算量。

所述光源的入射角度与待检测透明介质表面呈30°-60°夹角。

采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪并拍摄获得多个拍摄图像，包括：

采用多个不同设定角度的光源对待检测透明介质进行照射，通过与光源设置在剥离同一侧的相机捕获污渍在不同角度照射情况下的拍摄图像。

当拍摄图像需要由多张图像拼合时，包括：

通过多个不同设定角度的光源在待检测透明介质上不同位置进行照射，相机在同一个待检测透明介质上不同位置处每次以与光源所呈的相同角度拍摄透明介质图像，将多个不同位置的拍摄得到的透明介质图像进行拼接得到拍摄图像。

本发明可针对较大透明介质产品，需要相机多次进行拍摄取像情况下，将多个不同位置的拍摄得到的透明介质图像进行拼接得到拍摄图像，可进一步提高了图像的成像质量，避免遗漏透明介质检测部分，提高检测精度。

将多个拍摄图像进行比较得到污渍轮廓图，包括：

将同时间同位置的不同拍摄图像上的污渍面积进行对比；当不同拍摄图像上出现污渍面积存在差异，则判断该污渍位于所述待检测透明介质的外表面；当不同拍摄图像上出现污渍面积未存在差异，则判断该污渍位于所述待检测透明介质的内表面。

所述光源为可见光光源，对可见光光源发出的可见光经过偏振处理得到偏振光，所述偏振光以30°-60°的角度照射所述待检测透明介质表面。

还包括：

当待检测透明介质的厚度为5mm-7mm，相机与待检测透明介质的倾斜角度α为20°-40°，光源的入射角度与待检测透明介质所成角度β为30°-40°时，则此时不同角度光源之间的夹角θ为30°-40°；

当待检测透明介质的厚度为7mm-9mm，相机与待检测透明介质的倾斜角度α为40°-60°，光源的入射角度与待检测透明介质所成角度β为40°-50°时，则此时不同角度光源之间的夹角θ为40°-50°；

当待检测透明介质的厚度为9mm-10mm，相机与待检测透明介质的倾斜角度α为60°-80°，光源的入射角度与待检测透明介质表面所成角度β为50°-60°时，则此时不同角度光源之间的夹角θ为50°-60°。

不同角度光源之间的夹角θ受待检测透明介质的厚度、相机与待检测透明介质的倾斜角度α以及光源的入射角度与待检测透明介质表面所成角度β影响，透明介质厚度越厚，则会导致影响光源照射污渍时的面积差异变小，相机所拍摄的拍摄图像显示内外污渍面积差异不明显，需要增加不同角度光源之间的夹角θ来增加不同角度的拍摄图像中的污渍变化明显，提高污渍位置检测的精度。

参阅图3，本发明还包括一种透明介质污渍位置检测装置，第一获取模块，用于获得建筑3D模型以得到幕墙透明介质整体轮廓；第二获取模块，用于在幕墙透明介质外侧采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪并拍摄获得多个拍摄图像；对比模块，用于将拍摄得到的多个拍摄图像进行比较得到污渍轮廓图；处理模块，用于根据不同拍摄图像上的污渍形态差异确认该污渍在待检测透明介质上的位置信息。

所述光源为不可见光光源，所述第二获取模块为对不可见光源敏感的单色或者彩色相机。

本申请提供的一种透明介质污渍位置检测装置的工作原理，是先通过第一获取模块获得建筑3D模型以得到幕墙透明介质整体轮廓，尤其是幕墙透明介质的曲面透明介质，可采用现有技术中的全站仪或者将建筑图纸导入bim模型中获得，提前分析出光源以及相机与各个幕墙透明介质之间的相对位置关系，减少相机以及光源的矫正时间，保证检测准确性，然后通过第二获取模块在幕墙透明介质外侧采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪，拍摄同位置同时间且不同角度光源的拍摄图像，采用对比模块将拍摄得到的多个拍摄图像进行比较得到污渍轮廓图，处理模块根据不同拍摄图像上的污渍形态差异确认该污渍在待检测透明介质上的位置信息。即确定待检测透明介质表面的污渍是都存在于其内表面还是外表面。

综上所述，本发明提供一种能够更加精确的检测出透明介质表面污渍位置的方法及装置，在幕墙透明介质外侧采用光源以多角度对每个待检测透明介质进行频闪并拍摄获得多个拍摄图像，使其能够获得污渍在待检测透明介质上多个角度的图像，根据不同拍摄图像上的污渍形态差异确认污渍位置，大大降低了透明介质污渍位置检测的难度，提高了透明介质表面污渍检测效率，降低了检测成本，节约了人工成本。

可以理解的是，上述提供的方法实施例与上述的透明介质污渍位置检测方法实施例对应，相应的具体内容可以相互参考，在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的透明介质表面缺陷检测方法。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令透明介质表面缺陷检测方法的制造品，该指令透明介质表面缺陷检测方法实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例，本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换，均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。