一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备

文档序号:179753 发布日期:2021-11-02 浏览:27次 >En<

阅读说明:本技术 一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备 (Self-rotating efficient polishing equipment for semiconductor wafer silicon wafer ) 是由 周勤 于 2021-07-05 设计创作,主要内容包括:本发明属于硅片生产制备技术领域,具体的说是一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备,包括外壳、转盘、放料部件、电机、主动轮、从动轮、一号齿轮、二号齿轮、安装架、支架、限位轮和打磨部件;本发明中通过电机转动带动转盘转动,进而使得转盘带动上部的晶圆硅片和放料部件移动,随后在两个限位轮的支撑和摩擦力的作用下,进而使得晶圆硅片能够旋转,在抛光的过程中,晶圆硅片能够自转,进而在增加了晶圆硅片上各点在抛光过程中相对打磨部件移动的距离,进而提高了打磨的效率;同时由于晶圆硅片的自转,在转盘转动一周后,晶圆硅片上各点相对打磨部件的位置改变,进而防止出现晶圆硅片局部打磨不到的情况,进而提高了抛光的均匀性。(The invention belongs to the technical field of silicon wafer production and preparation, and particularly relates to a self-rotating efficient polishing device for a semiconductor wafer silicon wafer, which comprises a shell, a turntable, a discharging component, a motor, a driving wheel, a driven wheel, a first gear, a second gear, a mounting rack, a support, a limiting wheel and a polishing component, wherein the turntable is arranged on the shell; according to the polishing device, the motor rotates to drive the turntable to rotate, so that the turntable drives the upper wafer silicon wafer and the material placing component to move, then the wafer silicon wafer can rotate under the action of the support and friction force of the two limiting wheels, the wafer silicon wafer can rotate in the polishing process, the moving distance of each point on the wafer silicon wafer relative to the polishing component in the polishing process is increased, and the polishing efficiency is improved; meanwhile, due to the rotation of the wafer silicon wafer, after the turntable rotates for a circle, the positions of all points on the wafer silicon wafer relative to the polishing part are changed, so that the situation that the local part of the wafer silicon wafer cannot be polished is prevented, and the polishing uniformity is improved.)

一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备

技术领域

本发明属于硅片生产制备技术领域,具体的说是一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备。

背景技术

抛光是硅片的最终加工工序,要求抛光表面具有晶格完整性、高的平面度及洁净性;使用械化学抛光法可以获得无加工变质层的表面。为了提高抛光效率,要进行两次抛光;在第一次抛光中,借助于磨粒与抛光布的机械作用,破坏硅片表面的水合膜进行高效抛光;因此,必须采用大粒度的磨粒和透气性能好的抛光布以形成较薄的水合膜,其目的是为获得硅片的厚度、平面度等。一次抛光的去除量是1.5μm左右,一次抛光使用的抛光液是在SiO2悬浮液中添加NaOH,KOH等碱性添加剂,使抛光液的pH=11。一次抛光用的抛光布是用漫透聚氨基甲酸乙酯的无纺布;二次抛光用的抛光布是用发泡聚氨基甲酸乙酯人造革。二次抛光是精抛光,是通过不断去除水合膜来进行无损伤抛光。二次抛光用的是添加碱或氨的抛光液,pH=9。二次抛光的加工量一般在1μm以下;硅片抛光装置有单面抛光和双面抛光两种。双面抛光可提高抛光效率和加工精度。

在现有的晶圆硅片的抛光设备中,主要是通过转动的打磨头和静止的晶圆硅片之间相对的滑动,进而实现两者之间的互相摩擦,进而达到晶圆硅片的表面抛光效果,但是由于晶圆硅片本身为静止状态,且打磨头的中心位置保持不变,进而在打磨的过程中,晶圆硅片上各点与打磨头中心之间的距离保持不变,进而减少了晶圆与各点在打磨头上滑动的路径,进而降低了抛光的效率;同时由于晶圆硅片保持静止,进而在抛光时,晶圆硅片上各点与打磨头的接触轨迹时始终重合的,进而使得晶圆硅片的表面平整度与打磨头表面完全一致(即当打磨头表面出现小凸起且与晶圆硅片接触时,则在转动一圈后,小凸起回到与晶圆硅片的最初接触位置,进而造成使得小凸起每转一圈在晶圆硅片上滑过的路径重合,进而造成该路径上的出现划痕),进而降低了的打磨的均匀性,在本方案中,通过设置的限位轮和转动的转盘,进而使得转盘转动时,晶圆硅片自身在摩擦力的作用下自转,进而增加了晶圆硅片与打磨部件之间相对滑动的路径,进而解决了传统抛光过程中由于晶圆硅片静止不动进而造成的打磨效率低的问题。

发明内容

为了弥补现有技术的不足,本发明提出的一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备。本发明主要用于解决传统抛光过程中由于晶圆硅片静止不动进而造成的打磨效率低的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备,包括外壳、转盘、放料部件、电机、主动轮、从动轮、一号齿轮、二号齿轮、安装架、支架、限位轮和打磨部件;所述外壳的上部设置有所述转盘;所述转盘与所述外壳通过轴承转动连接;所述转盘的上部设置有所述打磨部件;所述打磨部件用于打磨晶圆硅片;所述外壳的上部沿圆周方向均匀间隔设置有所述安装架;所述安装架与所述外壳固定连接;所述安装架上对称设置有所述限位轮;所述限位轮与所述安装架转动连接;所述转盘的下部设置有所述一号齿轮;所述一号齿轮与所述转盘的一端固定连接;所述外壳的内部设置有所述支架;所述支架与所述外壳固定连接;所述二号齿轮与所述支架上的转轴一端转动连接;所述一号齿轮和所述二号齿轮啮合;所述支架上的转轴的另一端设置有所述从动轮;所述从动轮与所述支架上的转轴转动连接;所述外壳的外部设置有所述电机;所述电机与所述外壳固定连接;所述电机的输出端设置有所述主动轮;所述主动轮与所述电机输出轴固定连接;所述主动轮与所述从动轮通过皮带传动;所述打磨部件的上部设置有所述放料部件;所述放料部件用于装夹晶圆硅片。

工作时,在现有的晶圆硅片的抛光设备中,主要是通过转动的打磨头和静止的晶圆硅片之间相对的滑动,进而实现两者之间的互相摩擦,进而达到晶圆硅片的表面抛光效果,但是由于晶圆硅片本身为静止状态,且打磨头的中心位置保持不变,进而在打磨的过程中,晶圆硅片上各点与打磨头中心之间的距离保持不变,进而减少了晶圆与各点在打磨头上滑动的路径,进而降低了抛光的效率;同时由于晶圆硅片保持静止,进而在抛光时,晶圆硅片上各点与打磨头的接触轨迹时始终重合的,进而使得晶圆硅片的表面平整度与打磨头表面完全一致(即当打磨头表面出现小凸起且与晶圆硅片接触时,则在转动一圈后,小凸起回到与晶圆硅片的最初接触位置,进而造成使得小凸起每转一圈在晶圆硅片上滑过的路径重合,进而造成该路径上的出现划痕),进而降低了的打磨的均匀性;因此在本方案中,抛光前,将晶圆硅片防止在放料机构上,通过放料机构将晶圆硅片压紧在打磨部件上,随后通过设置的电机的转动,进而带动主动轮转动,进而带动从动轮转动,进而使得二号齿轮转动,进而使得一号齿轮转动,进而使得转盘转动和打磨部件转动,进而使得转盘带动上部的晶圆硅片和放料部件移动,移动一定距离后,使得放料部件与限位轮接触,由于限位轮的限制,进而使得晶圆硅片与打磨部件之间出现相对的滑动,进而使得打磨部件对晶圆硅片产生滑动摩擦力,同时在两个限位轮的支撑作用下,使得两个限位轮的作用力的交点经过晶圆硅片的中心点(即图8中的O点),同时由于晶圆硅片的中心不与转盘的中心重合,进而使得作用晶圆硅片上各个点受到的摩擦力,为沿着转盘中心为圆心的各个同心圆的弧线上分布,其中分布在以转盘中心为圆心,O点到转盘中心距离为半径的圆弧(记此圆弧为分界圆弧)上的点的摩擦力因为过晶圆硅片的中心,进而改摩擦力不能使得晶圆硅片绕着O点旋转,而分界圆弧一侧的区域(即图8中的B区域)上的各点的摩擦力能使得晶圆硅片逆时针转动,分界圆弧另一侧区域(即图8中的A区域)上的各点产生的摩擦力能使得晶圆硅片顺时针转动,由于B区域的面积大于A区域,进而使得B区域产生摩擦力的点多与A区域,进而使得B区域摩擦力的的合力(即图8中的fb)大于A区域的摩擦力的合力(即图8中的fa),进而使得晶圆硅片能够逆时针的旋转,进而使得在抛光的过程中,晶圆硅片能够自转,进而在增加了晶圆硅片上各点在抛光过程中相对打磨部件移动的距离,进而提高了打磨的效率,同时由于晶圆硅片的自转,进而使得转盘转动一周后,晶圆硅片上各点相对打磨部件的相对位置改变,进而防止出现由于打磨部件的不平整造成晶圆硅片局部打磨不到的情况,进而提高了抛光的均匀性。

优选的,所述放料部件包括料筒、上盖、螺杆、压板和挂钩;所述料筒上部设置有所述上盖;所述上盖的一侧与所述料筒铰接;所述上盖的上部设置有螺纹孔;所述螺纹孔内部设置与所述螺杆;所述螺杆与所述上盖螺纹连接;所述螺杆靠近所述料筒的一端设置有所述压板;所述压板与所述螺杆固定连接;所述料筒远离交接处的一侧设置有所述挂钩;所述挂钩通过销轴与所述料筒转动连接;所述挂钩与所述料筒连接处设置有扭簧;所述上盖靠近所述挂钩的一端设置有挂杆;所述挂杆与所述上盖固定连接。

工作时,由于晶圆硅片自身材质较脆弱,因此在装夹时容易造成破损,同时由于在进行抛光时,施加在晶圆硅片上的力要保持均匀,因此在本方案中,在进行晶圆硅片的装夹时,使用者要通过手动拨离挂钩和挂杆,进而通过转动上盖,使得料筒的上方打开,后将料筒放置在打磨部件上部,随后将晶圆硅片放置进料筒内部,随后转动上盖,随着上盖的关闭,进而使得挂杆靠近挂钩,进而使得挂钩偏转,随着挂杆的继续向下移动,进而使得挂杆从挂钩外侧脱离,进而在扭簧的弹力作用下,使得挂钩恢复到初始位置,进而使得挂杆位于挂钩内侧,进而实现上盖的锁定,后通过转动螺杆,进而使得压板向下移动,进而使得压板压向晶圆硅片,由于压板的面积较大,进而使得压板与晶圆硅片的接触面积大,进而使得压板作用在晶圆硅片上的作用力均匀,进而防止在压紧晶圆硅片时造成晶圆硅片的损坏;同时在使用时,通过转动螺杆,进而能够调节压板按压在晶圆硅片上的松紧;进而实现调节晶圆硅片上的压力大小,进而实现调节晶圆硅片与打磨部件之间的摩擦力的大小,进而实现不同程度的抛光效果,进而增加了抛光设备的适用范围。

优选的,所述打磨部件包括打磨布和压圈;所述转盘的上部铺设有打磨布;所述转盘的外侧设置有螺纹;所述转盘的外侧设置有所述压圈;所述压圈与所述转盘螺纹连接。

工作时,由于不同生产工艺要求的晶圆硅片所需要的表面抛光质量不同,在现有的常用的方法中,通常采用不同型号的抛光设备进行抛光,同时由于抛光设备在使用一段时间后,需要对抛光头进行更换,由于现有的抛光设备的抛光头的连接方式复杂,进而使得抛光头的更换较复杂;因此在本方案中,通过设置的压圈,进而将平铺在转盘上的抛光布一圈进行压紧,进而使得抛光布能够平整的铺设在转盘上,在需要获得不同的抛光效果时,通过转动压圈,进而使得压圈远离抛光布,进而使得抛光布放松,此时便能取下抛光布,进行更换不同需求的抛光布,进而达到不同的抛光质量目的;由于在更换抛光布的过程中,操作者只需要转动压圈急了实现,抛光布的压紧和放松,进而使得抛光布的更换简便易行,进而使得获得不同抛光效果变得简单,进而增加了抛光设备的适用范围。

优选的,所述压圈上部均匀间隔设置有凸起;所述凸起呈圆弧状结构;所述凸起倾斜设置。

工作时,由于在抛光设备中存在有电机和齿轮传动,进而使得抛光设备不可避免的会存在震动,且进而使得压圈容易松动,进而导致抛光布松动,进而造成抛光布出现褶皱,进而造成抛光质量差;因此在本方案中,通过在压圈靠近抛光布的一侧设置凸起,进而在压圈压紧在抛光布上时,由于抛光布自身的柔性的特性,进而使得凸起挤压在抛光布内部,进而增加了抛光布与压圈之间的接触面积,进而使得压圈松动时受到的阻力增大,进而使得起到防止压圈松动的效果,进而减少了抛光设备使用过程中因抛光布松动而造成的抛光质量差的问题,进而保证了抛光设备的抛光质量;同时由于凸起成螺旋倾斜设置,进而在压圈拧紧的过程中,在凸起的带动下,进而使得抛光布向着中间聚拢,进而使得抛光布被绷紧,进而使得抛光布能更平整的铺设在转盘上,进而提高了抛光效果。

优选的,所述转盘的中部中空设置;所述转盘的中部内设置有固定螺母;所述固定螺母的两端通过连接板与所述转盘固定连接;所述打磨布的上部设置有压紧球;所述压紧球上设置有锥杆;所述锥杆与所述压紧球固定连接;所述锥杆上设置有螺纹。

工作时,由于抛光布自身为柔性,且转盘的面积较大,进而在长时间的使用后,抛光布的弹性降低,进而会使得抛光布的中部出现松弛的情况,进而会造成抛光布的褶皱,进而造成抛光质量变差;因此在本方案中,通过在转盘的中部设置有压紧球,进而通过压紧球,进而在中部将抛光布绷紧,进而使得抛光布保持绷紧且平整的状态,进而保证抛光的质量;由于压紧球为球形,进而在压紧球向下移动的过程中,与抛光布的均匀的接触,进而使得压紧球作用在抛光布上的力更均匀,进而使得抛光布能够更均匀的被绷紧;进一步的保证抛光布的平整度,进一步的保证抛光的质量;同时在使用一段时间后,抛光布出现松弛时,通过转动压紧球,进而使得压紧球向下移动,进而使得抛光布的中部向下移动,再次使得抛光布呈绷紧状态,进而能够始终保持抛光布的平整,进而保证不同时段的抛光质量。

优选的,所述转盘的下部设置有循环泵;所述循环泵与所述转盘固定连接;所述转盘内部开设有循环腔;所述循环腔呈涡旋状;所述转盘的下部设置有冷却管;所述冷却管的一端与所述转盘固定连接;所述冷却管与所述循环腔内部连通;所述冷却管的另一端与所述循环泵连通;所述循环泵的另一端口与所述循环腔连通;所述循环腔和冷却管内部设置有冷却液;所述外壳的内部设置有冷却筒;所述冷却筒内部充有冷却液;所述冷却管位于所述冷却筒内部。

工作时,由于在抛光的过程中会产生大量的热量,若热量长时间不散,进而会造成晶圆硅片和抛光布的损伤,进而造成抛光质量变差,因此在本方案中通过在转盘的内部设置有循环腔,进而在循环泵的作用下,使得内部的冷却液流动,进而将打磨产生的热量,通过流动的冷却液带动到转盘以外,进而加速热量的散出,进而防止晶圆硅片的温度过高,进而保证晶圆硅片不因温度过高为损伤;同时通过将冷却管设置成螺旋状,进而增加了冷却管与外部的冷却液的接触面积,进而加快了抛光产生的热量的散出,进一步的保证晶圆硅片不出现热损伤。

优选的,所述转盘的下部设置有推力轴承;所述推力轴承的一侧与所述外壳抵触;所述推力轴承的另一侧与所述转盘抵触;所述推力轴承靠近所述转盘的边缘处。

工作时,由于转盘的面积较大,且转盘上部放置的放料部件重量也较大,且放料部件远离转盘中心放置,进而在转动的过程中,难以保证上部放置的多个放料部件之间能保持平衡,进而会导致转盘不稳定,进而造成转盘的偏斜,因此在本方案中,通过在转盘的边缘处设置有推力轴承,进而在竖直方向上能起到支撑转盘的作用,进而防止转盘竖直方向出现偏斜,进而增加了转盘的稳定性,进而保证了打磨部件的稳定和平整性,进而保证了抛光效果。

本发明的有益效果如下:

1.本发明中抛光前,将晶圆硅片防止在放料机构上,通过放料机构将晶圆硅片压紧在打磨部件上,随后通过设置的电机的转动,进而带动主动轮转动,进而带动从动轮转动,进而使得二号齿轮转动,进而使得一号齿轮转动,进而使得转盘转动和打磨部件转动,进而使得转盘带动上部的晶圆硅片和放料部件移动,移动一定距离后,使得放料部件与限位轮接触,由于限位轮的限制,进而使得晶圆硅片与打磨部件之间出现相对的滑动,进而使得打磨部件对晶圆硅片产生滑动摩擦力,同时在两个限位轮的支撑作用下,使得两个限位轮的作用力的交点经过晶圆硅片的中心点(即图8中的O点),同时由于晶圆硅片的中心不与转盘的中心重合,进而使得作用晶圆硅片上各个点受到的摩擦力,为沿着转盘中心为圆心的各个同心圆的弧线上分布,其中分布在以转盘中心为圆心,O点到转盘中心距离为半径的圆弧(记此圆弧为分界圆弧)上的点的摩擦力因为过晶圆硅片的中心,进而改摩擦力不能使得晶圆硅片绕着O点旋转,而分界圆弧一侧的区域(即图8中的B区域)上的各点的摩擦力能使得晶圆硅片逆时针转动,分界圆弧另一侧区域(即图8中的A区域)上的各点产生的摩擦力能使得晶圆硅片顺时针转动,由于B区域的面积大于A区域,进而使得B区域产生摩擦力的点多与A区域,进而使得B区域摩擦力的的合力(即图8中的fb)大于A区域的摩擦力的合力(即图8中的fa),进而使得晶圆硅片能够逆时针的旋转,进而使得在抛光的过程中,晶圆硅片能够自转,进而在增加了晶圆硅片上各点在抛光过程中相对打磨部件移动的距离,进而提高了打磨的效率,同时由于晶圆硅片的自转,进而使得转盘转动一周后,晶圆硅片上各点相对打磨部件的相对位置改变,进而防止出现由于打磨部件的不平整造成晶圆硅片局部打磨不到的情况,进而提高了抛光的均匀性。

2.本发明中由于晶圆硅片自身材质较脆弱,因此在装夹时容易造成破损,同时由于在进行抛光时,施加在晶圆硅片上的力要保持均匀,因此在本方案中,在进行晶圆硅片的装夹时,使用者要通过手动拨离挂钩和挂杆,进而通过转动上盖,使得料筒的上方打开,后将料筒放置在打磨部件上部,随后将晶圆硅片放置进料筒内部,随后转动上盖,随着上盖的关闭,进而使得挂杆靠近挂钩,进而使得挂钩偏转,随着挂杆的继续向下移动,进而使得挂杆从挂钩外侧脱离,进而在扭簧的弹力作用下,使得挂钩恢复到初始位置,进而使得挂杆位于挂钩内侧,进而实现上盖的锁定,后通过转动螺杆,进而使得压板向下移动,进而使得压板压向晶圆硅片,由于压板的面积较大,进而使得压板与晶圆硅片的接触面积大,进而使得压板作用在晶圆硅片上的作用力均匀,进而防止在压紧晶圆硅片时造成晶圆硅片的损坏;同时在使用时,通过转动螺杆,进而能够调节压板按压在晶圆硅片上的松紧;进而实现调节晶圆硅片上的压力大小,进而实现调节晶圆硅片与打磨部件之间的摩擦力的大小,进而实现不同程度的抛光效果,进而增加了抛光设备的适用范围。

3.本发明中由于不同生产工艺要求的晶圆硅片所需要的表面抛光质量不同,在现有的常用的方法中,通常采用不同型号的抛光设备进行抛光,同时由于抛光设备在使用一段时间后,需要对抛光头进行更换,由于现有的抛光设备的抛光头的连接方式复杂,进而使得抛光头的更换较复杂;因此在本方案中,通过设置的压圈,进而将平铺在转盘上的抛光布一圈进行压紧,进而使得抛光布能够平整的铺设在转盘上,在需要获得不同的抛光效果时,通过转动压圈,进而使得压圈远离抛光布,进而使得抛光布放松,此时便能取下抛光布,进行更换不同需求的抛光布,进而达到不同的抛光质量目的;由于在更换抛光布的过程中,操作者只需要转动压圈急了实现,抛光布的压紧和放松,进而使得抛光布的更换简便易行,进而使得获得不同抛光效果变得简单,进而增加了抛光设备的适用范围。

4.本发明中由于在抛光设备中存在有电机和齿轮传动,进而使得抛光设备不可避免的会存在震动,且进而使得压圈容易松动,进而导致抛光布松动,进而造成抛光布出现褶皱,进而造成抛光质量差;因此在本方案中,通过在压圈靠近抛光布的一侧设置凸起,进而在压圈压紧在抛光布上时,由于抛光布自身的柔性的特性,进而使得凸起挤压在抛光布内部,进而增加了抛光布与压圈之间的接触面积,进而使得压圈松动时受到的阻力增大,进而使得起到防止压圈松动的效果,进而减少了抛光设备使用过程中因抛光布松动而造成的抛光质量差的问题,进而保证了抛光设备的抛光质量;同时由于凸起成螺旋倾斜设置,进而在压圈拧紧的过程中,在凸起的带动下,进而使得抛光布向着中间聚拢,进而使得抛光布被绷紧,进而使得抛光布能更平整的铺设在转盘上,进而提高了抛光效果。

5.本发明中由于抛光布自身为柔性,且转盘的面积较大,进而在长时间的使用后,抛光布的弹性降低,进而会使得抛光布的中部出现松弛的情况,进而会造成抛光布的褶皱,进而造成抛光质量变差;因此在本方案中,通过在转盘的中部设置有压紧球,进而通过压紧球,进而在中部将抛光布绷紧,进而使得抛光布保持绷紧且平整的状态,进而保证抛光的质量;由于压紧球为球形,进而在压紧球向下移动的过程中,与抛光布的均匀的接触,进而使得压紧球作用在抛光布上的力更均匀,进而使得抛光布能够更均匀的被绷紧;进一步的保证抛光布的平整度,进一步的保证抛光的质量;同时在使用一段时间后,抛光布出现松弛时,通过转动压紧球,进而使得压紧球向下移动,进而使得抛光布的中部向下移动,再次使得抛光布呈绷紧状态,进而能够始终保持抛光布的平整,进而保证不同时段的抛光质量。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1是本发明中抛光设备的第一整体结构示意图;

图2是本发明中抛光设备的第二整体结构示意图;

图3是本发明中抛光设备的第一内部结构示意图;

图4是本发明中抛光设备的第二内部结构示意图;

图5是本发明中打磨部件的内部结构示意图;

图6是本发明中放料部件的内部结构示意图;

图7是本发明中压圈的结构示意图;

图8是本发明中晶圆硅片抛光时的受力示意图;

图中:外壳1、转盘2、放料部件3、电机40、主动轮41、从动轮42、一号齿轮43、二号齿轮44、安装架5、支架6、限位轮7、打磨部件8、料筒31、上盖32、螺杆33、压板34、挂钩35、压圈81、打磨布82、凸起83、固定螺母9、压紧球10、循环泵11、循环腔12、冷却管13、冷却筒14、推力轴承15。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。

如图1至图8所示,一种半导体晶圆硅片自旋转式高效抛光设备,包括外壳1、转盘2、放料部件3、电机40、主动轮41、从动轮42、一号齿轮43、二号齿轮44、安装架5、支架6、限位轮7和打磨部件8;所述外壳1的上部设置有所述转盘2;所述转盘2与所述外壳1通过轴承转动连接;所述转盘2的上部设置有所述打磨部件8;所述打磨部件8用于打磨晶圆硅片;所述外壳1的上部沿圆周方向均匀间隔设置有所述安装架5;所述安装架5与所述外壳1固定连接;所述安装架5上对称设置有所述限位轮7;所述限位轮7与所述安装架5转动连接;所述转盘2的下部设置有所述一号齿轮43;所述一号齿轮43与所述转盘2的一端固定连接;所述外壳1的内部设置有所述支架6;所述支架6与所述外壳1固定连接;所述二号齿轮44与所述支架6上的转轴一端转动连接;所述一号齿轮43和所述二号齿轮44啮合;所述支架6上的转轴的另一端设置有所述从动轮42;所述从动轮42与所述支架6上的转轴转动连接;所述外壳1的外部设置有所述电机40;所述电机40与所述外壳1固定连接;所述电机40的输出端设置有所述主动轮41;所述主动轮41与所述电机40输出轴固定连接;所述主动轮41与所述从动轮42通过皮带传动;所述打磨部件8的上部设置有所述放料部件3;所述放料部件3用于装夹晶圆硅片。

工作时,在现有的晶圆硅片的抛光设备中,主要是通过转动的打磨头和静止的晶圆硅片之间相对的滑动,进而实现两者之间的互相摩擦,进而达到晶圆硅片的表面抛光效果,但是由于晶圆硅片本身为静止状态,且打磨头的中心位置保持不变,进而在打磨的过程中,晶圆硅片上各点与打磨头中心之间的距离保持不变,进而减少了晶圆与各点在打磨头上滑动的路径,进而降低了抛光的效率;同时由于晶圆硅片保持静止,进而在抛光时,晶圆硅片上各点与打磨头的接触轨迹时始终重合的,进而使得晶圆硅片的表面平整度与打磨头表面完全一致(即当打磨头表面出现小凸起且与晶圆硅片接触时,则在转动一圈后,小凸起回到与晶圆硅片的最初接触位置,进而造成使得小凸起每转一圈在晶圆硅片上滑过的路径重合,进而造成该路径上的出现划痕),进而降低了的打磨的均匀性;因此在本方案中,抛光前,将晶圆硅片防止在放料机构上,通过放料机构将晶圆硅片压紧在打磨部件8上,随后通过设置的电机40的转动,进而带动主动轮41转动,进而带动从动轮42转动,进而使得二号齿轮44转动,进而使得一号齿轮43转动,进而使得转盘2转动和打磨部件8转动,进而使得转盘2带动上部的晶圆硅片和放料部件3移动,移动一定距离后,使得放料部件3与限位轮7接触,由于限位轮7的限制,进而使得晶圆硅片与打磨部件8之间出现相对的滑动,进而使得打磨部件8对晶圆硅片产生滑动摩擦力,同时在两个限位轮7的支撑作用下,使得两个限位轮7的作用力的交点经过晶圆硅片的中心点(即图8中的O点),同时由于晶圆硅片的中心不与转盘2的中心重合,进而使得作用晶圆硅片上各个点受到的摩擦力,为沿着转盘2中心为圆心的各个同心圆的弧线上分布,其中分布在以转盘2中心为圆心,O点到转盘2中心距离为半径的圆弧(记此圆弧为分界圆弧)上的点的摩擦力因为过晶圆硅片的中心,进而改摩擦力不能使得晶圆硅片绕着O点旋转,而分界圆弧一侧的区域(即图8中的B区域)上的各点的摩擦力能使得晶圆硅片逆时针转动,分界圆弧另一侧区域(即图8中的A区域)上的各点产生的摩擦力能使得晶圆硅片顺时针转动,由于B区域的面积大于A区域,进而使得B区域产生摩擦力的点多与A区域,进而使得B区域摩擦力的的合力(即图8中的fb)大于A区域的摩擦力的合力(即图8中的fa),进而使得晶圆硅片能够逆时针的旋转,进而使得在抛光的过程中,晶圆硅片能够自转,进而在增加了晶圆硅片上各点在抛光过程中相对打磨部件8移动的距离,进而提高了打磨的效率,同时由于晶圆硅片的自转,进而使得转盘2转动一周后,晶圆硅片上各点相对打磨部件8的相对位置改变,进而防止出现由于打磨部件8的不平整造成晶圆硅片局部打磨不到的情况,进而提高了抛光的均匀性。

如图3至图6所示,所述放料部件3包括料筒31、上盖32、螺杆33、压板34和挂钩35;所述料筒31上部设置有所述上盖32;所述上盖32的一侧与所述料筒31铰接;所述上盖32的上部设置有螺纹孔;所述螺纹孔内部设置与所述螺杆33;所述螺杆33与所述上盖32螺纹连接;所述螺杆33靠近所述料筒31的一端设置有所述压板34;所述压板34与所述螺杆33固定连接;所述料筒31远离交接处的一侧设置有所述挂钩35;所述挂钩35通过销轴与所述料筒31转动连接;所述挂钩35与所述料筒31连接处设置有扭簧;所述上盖32靠近所述挂钩35的一端设置有挂杆;所述挂杆与所述上盖32固定连接。

工作时,由于晶圆硅片自身材质较脆弱,因此在装夹时容易造成破损,同时由于在进行抛光时,施加在晶圆硅片上的力要保持均匀,因此在本方案中,在进行晶圆硅片的装夹时,使用者要通过手动拨离挂钩35和挂杆,进而通过转动上盖32,使得料筒31的上方打开,后将料筒31放置在打磨部件8上部,随后将晶圆硅片放置进料筒31内部,随后转动上盖32,随着上盖32的关闭,进而使得挂杆靠近挂钩35,进而使得挂钩35偏转,随着挂杆的继续向下移动,进而使得挂杆从挂钩35外侧脱离,进而在扭簧的弹力作用下,使得挂钩35恢复到初始位置,进而使得挂杆位于挂钩35内侧,进而实现上盖32的锁定,后通过转动螺杆33,进而使得压板34向下移动,进而使得压板34压向晶圆硅片,由于压板34的面积较大,进而使得压板34与晶圆硅片的接触面积大,进而使得压板34作用在晶圆硅片上的作用力均匀,进而防止在压紧晶圆硅片时造成晶圆硅片的损坏;同时在使用时,通过转动螺杆33,进而能够调节压板34按压在晶圆硅片上的松紧;进而实现调节晶圆硅片上的压力大小,进而实现调节晶圆硅片与打磨部件8之间的摩擦力的大小,进而实现不同程度的抛光效果,进而增加了抛光设备的适用范围。

如图3至图5所示,所述打磨部件8包括打磨布82和压圈81;所述转盘2的上部铺设有打磨布82;所述转盘2的外侧设置有螺纹;所述转盘2的外侧设置有所述压圈81;所述压圈81与所述转盘2螺纹连接。

工作时,由于不同生产工艺要求的晶圆硅片所需要的表面抛光质量不同,在现有的常用的方法中,通常采用不同型号的抛光设备进行抛光,同时由于抛光设备在使用一段时间后,需要对抛光头进行更换,由于现有的抛光设备的抛光头的连接方式复杂,进而使得抛光头的更换较复杂;因此在本方案中,通过设置的压圈81,进而将平铺在转盘2上的抛光布一圈进行压紧,进而使得抛光布能够平整的铺设在转盘2上,在需要获得不同的抛光效果时,通过转动压圈81,进而使得压圈81远离抛光布,进而使得抛光布放松,此时便能取下抛光布,进行更换不同需求的抛光布,进而达到不同的抛光质量目的;由于在更换抛光布的过程中,操作者只需要转动压圈81急了实现,抛光布的压紧和放松,进而使得抛光布的更换简便易行,进而使得获得不同抛光效果变得简单,进而增加了抛光设备的适用范围。

如图7所示,所述压圈81上部均匀间隔设置有凸起83;所述凸起83呈圆弧状结构;所述凸起83倾斜设置。

工作时,由于在抛光设备中存在与电机40和齿轮传,进而使得抛光设备不可避免的会存在震动,且进而使得压圈81容易松动,进而导致抛光布松动,进而造成抛光布出现褶皱,进而造成抛光质量差;因此在本方案中,通过在压圈81靠近抛光布的一侧设置凸起83,进而在压圈81压紧在抛光布上时,由于抛光布自身的柔性的特性,进而使得凸起83挤压在抛光布内部,进而增加了抛光布与压圈81之间的接触面积,进而使得压圈81松动时受到的阻力增大,进而使得起到防止压圈81松动的效果,进而减少了抛光设备使用过程中因抛光布松动而造成的抛光质量差的问题,进而保证了抛光设备的抛光质量;同时由于凸起83成螺旋倾斜设置,进而在压圈81拧紧的过程中,在凸起83的带动下,进而使得抛光布向着中间聚拢,进而使得抛光布被绷紧,进而使得抛光布能更平整的铺设在转盘2上,进而提高了抛光效果。

如图3至图5所示,所述转盘2的中部中空设置;所述转盘2的中部内设置有固定螺母9;所述固定螺母9的两端通过连接板与所述转盘2固定连接;所述打磨布82的上部设置有压紧球10;所述压紧球10上设置有锥杆;所述锥杆与所述压紧球10固定连接;所述锥杆上设置有螺纹。

工作时,由于抛光布自身为柔性,且转盘2的面积较大,进而在长时间的使用后,抛光布的弹性降低,进而会使得抛光布的中部出现松弛的情况,进而会造成抛光布的褶皱,进而造成抛光质量变差;因此在本方案中,通过在转盘2的中部设置有压紧球10,进而通过压紧球10,进而在中部将抛光布绷紧,进而使得抛光布保持绷紧且平整的状态,进而保证抛光的质量;由于压紧球10为球形,进而在压紧球10向下移动的过程中,与抛光布的均匀的接触,进而使得压紧球10作用在抛光布上的力更均匀,进而使得抛光布能够更均匀的被绷紧;进一步的保证抛光布的平整度,进一步的保证抛光的质量;同时在使用一段时间后,抛光布出现松弛时,通过转动压紧球10,进而使得压紧球10向下移动,进而使得抛光布的中部向下移动,再次使得抛光布呈绷紧状态,进而能够始终保持抛光布的平整,进而保证不同时段的抛光质量。

如图3和图4所示,所述转盘2的下部设置有循环泵11;所述循环泵11与所述转盘2固定连接;所述转盘2内部开设有循环腔12;所述循环腔12呈涡旋状;所述转盘2的下部设置有冷却管13;所述冷却管13的一端与所述转盘2固定连接;所述冷却管13与所述循环腔12内部连通;所述冷却管13的另一端与所述循环泵11连通;所述循环泵11的另一端口与所述循环腔12连通;所述循环腔12和冷却管13内部设置有冷却液;所述外壳1的内部设置有冷却筒14;所述冷却筒14内部充有冷却液;所述冷却管13位于所述冷却筒14内部。

工作时,由于在抛光的过程中会产生大量的热量,若热量长时间不散,进而会造成晶圆硅片和抛光布的损伤,进而造成抛光质量变差,因此在本方案中通过在转盘2的内部设置有循环腔12,进而在循环泵11的作用下,使得内部的冷却液流动,进而将打磨产生的热量,通过流动的冷却液带动到转盘2以外,进而加速热量的散出,进而防止晶圆硅片的温度过高,进而保证晶圆硅片不因温度过高为损伤;同时通过将冷却管13设置成螺旋状,进而增加了冷却管13与外部的冷却液的接触面积,进而加快了抛光产生的热量的散出,进一步的保证晶圆硅片不出现热损伤。

如图1至图5所示,所述转盘2的下部设置有推力轴承15;所述推力轴承15的一侧与所述外壳1抵触;所述推力轴承15的另一侧与所述转盘2抵触;所述推力轴承15靠近所述转盘2的边缘处。

工作时,由于转盘2的面积较大,且转盘2上部防止的放料部件3重量也较大,且放料部件3远离转盘2中心放置,进而在转动的过程中,难以保证上部放置的多个放料部件3之间能保持平衡,进而会导致转盘2不稳定,进而造成转盘2的偏斜,因此在本方案中,通过在转盘2的边缘处设置有推力轴承15,进而在竖直方向上能起到支撑转盘2的作用,进而防止转盘2竖直方向出现偏斜,进而增加了转盘2的稳定性,进而保证了打磨部件8的稳定和平整性,进而保证了抛光效果。

工作时,在现有的晶圆硅片的抛光设备中,主要是通过转动的打磨头和静止的晶圆硅片之间相对的滑动,进而实现两者之间的互相摩擦,进而达到晶圆硅片的表面抛光效果,但是由于晶圆硅片本身为静止状态,且打磨头的中心位置保持不变,进而在打磨的过程中,晶圆硅片上各点与打磨头中心之间的距离保持不变,进而减少了晶圆与各点在打磨头上滑动的路径,进而降低了抛光的效率;同时由于晶圆硅片保持静止,进而在抛光时,晶圆硅片上各点与打磨头的接触轨迹时始终重合的,进而使得晶圆硅片的表面平整度与打磨头表面完全一致(即当打磨头表面出现小凸起且与晶圆硅片接触时,则在转动一圈后,小凸起回到与晶圆硅片的最初接触位置,进而造成使得小凸起每转一圈在晶圆硅片上滑过的路径重合,进而造成该路径上的出现划痕),进而降低了的打磨的均匀性;因此在本方案中,抛光前,将晶圆硅片防止在放料机构上,通过放料机构将晶圆硅片压紧在打磨部件8上,随后通过设置的电机40的转动,进而带动主动轮41转动,进而带动从动轮42转动,进而使得二号齿轮44转动,进而使得一号齿轮43转动,进而使得转盘2转动和打磨部件8转动,进而使得转盘2带动上部的晶圆硅片和放料部件3移动,移动一定距离后,使得放料部件3与限位轮7接触,由于限位轮7的限制,进而使得晶圆硅片与打磨部件8之间出现相对的滑动,进而使得打磨部件8对晶圆硅片产生滑动摩擦力,同时在两个限位轮7的支撑作用下,使得两个限位轮7的作用力的交点经过晶圆硅片的中心点(即图8中的O点),同时由于晶圆硅片的中心不与转盘2的中心重合,进而使得作用晶圆硅片上各个点受到的摩擦力,为沿着转盘2中心为圆心的各个同心圆的弧线上分布,其中分布在以转盘2中心为圆心,O点到转盘2中心距离为半径的圆弧(记此圆弧为分界圆弧)上的点的摩擦力因为过晶圆硅片的中心,进而改摩擦力不能使得晶圆硅片绕着O点旋转,而分界圆弧一侧的区域(即图8中的B区域)上的各点的摩擦力能使得晶圆硅片逆时针转动,分界圆弧另一侧区域(即图8中的A区域)上的各点产生的摩擦力能使得晶圆硅片顺时针转动,由于B区域的面积大于A区域,进而使得B区域产生摩擦力的点多与A区域,进而使得B区域摩擦力的的合力(即图8中的fb)大于A区域的摩擦力的合力(即图8中的fa),进而使得晶圆硅片能够逆时针的旋转,进而使得在抛光的过程中,晶圆硅片能够自转,进而在增加了晶圆硅片上各点在抛光过程中相对打磨部件8移动的距离,进而提高了打磨的效率,同时由于晶圆硅片的自转,进而使得转盘2转动一周后,晶圆硅片上各点相对打磨部件8的相对位置改变,进而防止出现由于打磨部件8的不平整造成晶圆硅片局部打磨不到的情况,进而提高了抛光的均匀性;由于晶圆硅片自身材质较脆弱,因此在装夹时容易造成破损,同时由于在进行抛光时,施加在晶圆硅片上的力要保持均匀,因此在本方案中,在进行晶圆硅片的装夹时,使用者要通过手动拨离挂钩35和挂杆,进而通过转动上盖32,使得料筒31的上方打开,后将料筒31放置在打磨部件8上部,随后将晶圆硅片放置进料筒31内部,随后转动上盖32,随着上盖32的关闭,进而使得挂杆靠近挂钩35,进而使得挂钩35偏转,随着挂杆的继续向下移动,进而使得挂杆从挂钩35外侧脱离,进而在扭簧的弹力作用下,使得挂钩35恢复到初始位置,进而使得挂杆位于挂钩35内侧,进而实现上盖32的锁定,后通过转动螺杆33,进而使得压板34向下移动,进而使得压板34压向晶圆硅片,由于压板34的面积较大,进而使得压板34与晶圆硅片的接触面积大,进而使得压板34作用在晶圆硅片上的作用力均匀,进而防止在压紧晶圆硅片时造成晶圆硅片的损坏;同时在使用时,通过转动螺杆33,进而能够调节压板34按压在晶圆硅片上的松紧;进而实现调节晶圆硅片上的压力大小,进而实现调节晶圆硅片与打磨部件8之间的摩擦力的大小,进而实现不同程度的抛光效果,进而增加了抛光设备的适用范围。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本发明的保护之内。

22页详细技术资料下载
上一篇:一种医用注射器针头装配设备
下一篇:一种工程机械配件抛光装置

网友询问留言

已有0条留言

还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!

精彩留言,会给你点赞!