具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。

另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。

本发明实施例的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定的顺序。此外术语“包括”和“具有”以及他们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有设定于已列出的步骤或单元，而是可包括没有列出的步骤或单元。

实施例一

图1是本发明实施例一提供的一种信号处理系统的示意图，该信号处理系统包括：第一信号放大模块10、第一滤波模块20、放大衰减模块30、混频模块40和中频滤波模块50，其中：第一信号放大模块10的输出端与第一滤波模块20的输入端电连接，用于接收待测信号，并对待测信号进行放大处理，得到待测试放大信号；第一滤波模块20的输出端与放大衰减模块30的输入端电连接，用于对待测试放大信号进行滤波处理，得到待测试滤波信号；放大衰减模块30的输出端与混频模块40的输入端电连接，用于对待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到待测试放大衰减信号；混频模块40的输出端与中频滤波模块50的输入端电连接，用于对待测试放大衰减信号进行混频处理，得到待测试混频信号；中频滤波模块50用于对待测试混频信号进行中频滤波处理，得到待测试中频信号。

其中，第一信号放大模块10可以是用于对信号进行放大处理的一个模块。第一滤波模块20可以是用于对信号进行滤波处理的一个模块。放大衰减模块30可以是用于对信号进行放大衰减处理的模块。混频模块40可以是用于对信号进行混频处理的模块。中频滤波模块50可以是用于对信号进行中频滤波处理的模块。待测信号可以是未进行信号处理的待测试的信号。可选的，待测信号可以为高频信号。待测试放大信号可以是对待测信号进行放大处理得到的信号。待测试滤波信号可以是对待测试放大信号进行滤波处理得到的信号。待测试放大衰减信号可以是对待测试滤波信号进行放大衰减处理得到的信号。待测试混频信号可以是对待测试放大衰减信号进行混频处理得到的信号。待测试中频信号可以是对待测试混频信号进行中频滤波处理得到的信号。

在本发明实施例中，信号处理系统由第一信号放大模块10、第一滤波模块20、放大衰减模块30、混频模块40和中频滤波模块50构成，其中第一信号放大模块10可以接收待测信号，并将待测信号进行放大处理，以得到待测试放大信号，从而第一信号放大模块10的输出端将待测试放大信号输出至第一滤波模块20，以进一步对待测试放大信号进行处理。第一滤波模块20的输入端接收到待测试放大信号之后，可以进一步对待测试放大信号进行滤波处理，以得到待测试滤波信号，从而第一滤波模块20的输出端将待测试滤波信号输出至放大衰减模块30，以进一步对待测试滤波信号进行处理。放大衰减模块30的输入端接收到待测试滤波信号之后，可以进一步对待测试滤波信号进行放大衰减处理，以得到待测试放大衰减信号，从而放大衰减模块30的输出端将待测试放大衰减信号输出至混频模块40，以进一步对待测试放大衰减信号进行处理。混频模块40的输入端接收到待测试放大衰减信号之后，可以进一步对待测试放大衰减信号进行混频处理，以得到待测试混频信号，从而混频模块40的输出端将待测试混频信号输出至中频滤波模块50，以进一步对待测试混频信号进行处理。中频滤波模块50的输入端接收到待测试混频信号之后，可以进一步对待测试混频信号进行中频滤波处理，以得到待测试中频信号，从而中频滤波模块50的输出端将待测试中频信号输出，以对待测试中频信号进行测试。

可选的，当待测信号仅为一种频带宽度的信号时，可以在通过第一信号放大模块进行放大处理之后，仅需要一个第一滤波模块对放大处理后的信号进行滤波处理。

由此可见，通过上述信号处理系统，可以将高频的待测信号转为可以用于测试的中频的待测信号，同时可以保证信号指标满足标准，也即信号的指标不会恶化，从而满足待测信号的测试要求。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，图2是本发明实施例一提供的一种信号处理系统的具体示例示意图，如图2所示，该信号处理系统还可以包括第一射频开关模块60；第一滤波模块20的数量可以与第一射频开关模块60的开关路数相同；第一射频开关模块60的输入端可以与第一信号放大模块10电连接，输出端可以与各第一滤波模块20电连接，可以用于根据信号测试需求对待测试放大信号的子信号进行筛选和滤波处理，得到待测试滤波信号。

其中，第一射频开关模块60可以用于根据信号的不同频段选择对应的滤波模块，例如可以是多选一射频开关，本发明实施例对此并不进行限制。待测试放大信号的子信号可以是不同频段的待测试放大信号。

在本发明实施例中，当待测信号为宽频信号时，可以通过第一射频开关模块筛选出宽频信号中的多种频带的不同子信号。具体的，在信号处理系统中，第一滤波模块20的数量与第一射频开关模块60的开关路数相同，也即在第一射频开关模块60的每一路开关的输出端均连接一个第一滤波模块20，以根据待测试放大信号的不同频段选择与频段对应的滤波模块。

具体的，在第一信号放大模块10的输出端输出待测试放大信号之后，第一射频开关模块60的输入端可以接收待测试放大信号，并根据信号测试需求对不同频段的待测试放大信号进行筛选和滤波处理，也即根据不同频段的待测试放大信号选择对应的第一射频开关模块60的开关支路，以使与待测试放大信号的频段对应的第一滤波模块20对待测试放大信号进行筛选和滤波处理，以得到待测试滤波信号。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，放大衰减模块30可以包括带数控衰减器的功率放大器310；带数控衰减器的功率放大器310可以用于根据配置的衰减放大参数对待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到待测试放大衰减信号。

其中，带数控衰减器的功率放大器310可以是带有自动控制信号衰减的衰减器的功率放大器，可以用于对待测试滤波信号进行放大衰减处理。衰减放大参数可以是信号衰减放大值的参数。可以理解的是，衰减放大参数可以是根据具体场景进行预先配置，以对信号衰减放大值进行控制。

可选的，放大衰减模块30可以直接采用带数控衰减器的功率放大器310。相应的，在第一滤波模块20输出待测试滤波信号之后，放大衰减模块30的带数控衰减器的功率放大器310的输入端可以接收待测试滤波信号，进一步根据预先配置的衰减放大参数对待测试滤波信号进行放大衰减处理，以得到待测试放大衰减信号。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，图3是本发明实施例一提供的一种信号处理系统的另一具体示例示意图，如图3所示，放大衰减模块30可以包括可编程衰减模块320和第二信号放大模块330；可编程衰减模块320的输入端与第一滤波模块20的输出端电连接，用于根据配置的衰减参数对待测试滤波信号进行衰减处理，得到待测试衰减信号；第二信号放大模块330的输入端与衰减模块的输出端电连接，输出端与混频模块40的输入端电连接，用于对待测试衰减信号再次进行放大处理，得到待测试放大衰减信号。

其中，可编程衰减模块320可以是可编程的、用于对信号进行衰减处理的模块。第二信号放大模块330可以是用于对信号进行放大处理的另一个模块。衰减参数可以是信号衰减的参数。待测试衰减信号可以是对待测试滤波信号进行衰减处理得到的信号。

可选的，放大衰减模块30还可以采用可编程衰减模块320和第二信号放大模块330构成。相应的，在第一滤波模块20输出待测试滤波信号之后，放大衰减模块30的可编程衰减模块320的输入端可以接收待测试滤波信号，进一步根据配置的衰减参数对待测试滤波信号进行衰减处理，以得到待测试衰减信号，从而可编程衰减模块320的输出端可以将待测试衰减信号发送至第二信号放大模块330的输入端，第二信号放大模块330的输入端接收到待测试衰减信号之后，对待测试衰减信号再次进行放大处理，以得到待测试放大衰减信号，从而将待测试放大衰减信号输出至混频模块40。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，信号处理系统还可以包括第二射频开关模块70，混频模块40可以包括低频段混频模块410、高频段混频模块430和本振模块420；第二射频开关模块70的输入端与放大衰减模块30的输出端电连接，输出端与低频段混频模块410的输入端电连接，并与高频段混频模块430的输入端电连接，用于对待测试放大衰减信号进行分路处理，得到第一路待测信号和第二路待测信号；低频段混频模块410的输入端与第二射频开关模块70的输出端电连接，并与本振模块420的输出端电连接，输出端与中频滤波模块50的输入端电连接，用于根据本振信号对第一路待测信号进行低频混频处理，得到低频待测信号；高频段混频模块430的输入端与第二射频开关模块70的输出端电连接，并与本振模块420的输出端电连接，输出端与中频滤波模块50的输入端电连接，用于根据本振信号对第二路待测信号进行低频混频处理，得到高频待测信号；中频滤波模块50用于对低频待测信号和高频待测信号进行中频滤波处理，得到待测试中频信号。

其中，第二射频开关模块70可以用于根据信号的不同频段选择对应的模块，例如可以是二选一射频开关，本发明实施例对此并不进行限制。低频段混频模块410可以是用于对低频段信号进行混频处理的模块。高频段混频模块430可以是用于对高频段信号进行混频处理的模块。本振模块420可以是用于生成本振信号的模块，可选的，当待测信号为宽频信号时，本振模块420可以生成宽频本振信号。第一路待测信号可以是经过第二射频开关模块70进行分路处理后得到的一个待测信号。第二路待测信号可以是经过第二射频开关模块70进行分路处理后得到的另一个待测信号。本振信号可以是本振模块420发出的信号，用于对信号进行混频处理。示例性的，如果待测信号为5G信号，则本振信号可以是宽频本振信号，也即本振信号可以是700M-6G的信号。如果待测信号为4G信号，则本振信号可以是800M-2700M的信号。本发明实施例对此并不进行限制。低频待测信号可以是经过低频混频处理后得到的信号。高频待测信号可以是经过高频混频处理后得到的信号。

可选的，当待测信号为宽频信号时，可以进一步通过第二射频开关模块将信号进行分路处理。相应的，在对待测试放大衰减信号进行混频处理时，可以在第二射频开关模块70的输入端接收到待测试放大衰减信号之后，进一步对待测试放大衰减信号进行分路处理，以得到第一路待测信号和第二路待测信号。

可选的，混频模块40可以采用低频段混频模块410、高频段混频模块430和本振模块420构成。相应的，第二射频开关模块70的输出端将第一路待测信号输出至低频段混频模块410的输入端，将第二路待测信号输出至高频段混频模块430的输入端。低频段混频模块410的输入端在接收本振模块420发送的本振信号和第一路待测信号之后，进一步根据本振信号对第一路待测信号进行低频混频处理，以得到低频待测信号，从而低频段混频模块410的输出端将低频待测信号输出至中频滤波模块50。高频段混频模块430的输入端在接收本振模块420发送的本振信号和第二路待测信号之后，进一步根据本振信号对第二路待测信号进行高频混频处理，以得到高频待测信号，从而高频段混频模块430的输出端将高频待测信号输出至中频滤波模块50。中频滤波模块50的输入端在接收到低频待测信号和高频待测信号之后，可以进一步对低频待测信号和高频待测信号进行中频滤波处理，以得到待测试中频信号。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，该信号处理系统还可以包括第三信号放大模块80；第三信号放大模块80的输入端与中频滤波模块50的输出端电连接，输出端与AD(analogue-to-digital conversion，模数转换)处理模块90电连接，用于对待测试中频信号进行放大处理，得到目标待测信号。

其中，第三信号放大模块80可以是用于对信号进行放大处理的再一个模块。AD处理模块90可以是用于对信号进行模数转换处理的模块。

可选的，可以通过第三信号放大模块对待测试中频信号再次进行放大处理，以便对待测信号进行测试。相应的，在中频滤波模块50输出待测试中频信号之后，第三信号放大模块80的输入端可以接收待测试中频信号，进一步对待测试中频信号进行放大处理，以得到目标待测信号，从而第三信号放大模块80的输出端将目标待测信号输出至AD处理模块90，进而可以通过AD处理模块90对目标待测信号进行测试。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，第一信号放大模块10可以包括低噪放模块110；低噪放模块110可以用于接收天线发送的待测信号，并对待测信号进行放大处理。

其中，低噪放模块110可以用于将接收自天线的信号进行放大处理，以便后级的电子设备对信号做进一步处理。可以理解的是，来自天线的信号一般都非常微弱，需要对信号放大处理后再做进一步处理，且低噪放模块110一般位于靠近天线的部位，以减小信号因传输造成的损耗。

可选的，当待测信号为来自天线的信号时，可以采用低噪放模块110作为信号处理系统的第一信号放大模块10。相应的，可以由信号处理系统的低噪放模块110接收天线发送的待测信号，并对待测信号进行放大处理。

在本发明实施例的一个可选实施方式中，待测信号可以包括4G信号和5G信号中的至少一项。

具体的，待测信号可以是4G(第四代移动通信技术)信号，也可以是5G(第五代移动通信技术)信号，或者还可以是4G和5G信号，本发明实施例对此并不进行限制。

需要说明的是，现在许多信号测试设备只能测试4G信号，4G基站发射的信号频段是800-2700MHz。而5G信号的频段更宽更高。3GPP(第三代合作伙伴计划)针对5G频段范围的定义是FR1与FR2。频率范围FR1即通常所讲的5G Sub-6GHz(6GHz以下)频段，频率范围FR2则是5G毫米波频段。现在的室外基站基本都是FR1频段。由此，现有的许多信号测试设备的测试频段需要从800-2700MHz扩展成800-6000MHz，以实现对4G信号和5G信号的测试。

在本发明实施例中，通过在信号处理系统中设置第一射频开关模块，能够通过第一射频开关模块在宽频信号中筛选出多种频带的不同子信号，从而对子信号进一步处理，进而实现对宽频信号的处理，使处理后的宽频信号满足测试要求。

本实施例的技术方案，通过第一信号放大模块、第一滤波模块、放大衰减模块、混频模块和中频滤波模块构成一种信号处理系统，该系统通过第一信号放大模块接收待测信号，并对待测信号进行放大处理，得到待测试放大信号，采用第一滤波模块对待测试放大信号进行滤波处理，得到待测试滤波信号，并采用放大衰减模块对待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到待测试放大衰减信号，进一步采用混频模块对待测试放大衰减信号进行混频处理，得到待测试混频信号，再采用中频滤波模块对待测试混频信号进行中频滤波处理，得到待测试中频信号，解决现有信号在不进行任何处理的情况下，无法满足测试需求的问题，能够在保证信号指标满足标准的情况下，将高频的待测信号转为可以用于测试的中频的待测信号，从而满足待测信号的测试要求。

实施例二

图4是本发明实施例二提供的一种信号处理方法的流程图，本实施例可适用于对待测试信号进行处理的情况，该方法可以由信号处理系统来执行，该系统可以由软件/硬件的方式来实现。其中，信号处理系统包括第一信号放大模块、第一滤波模块、放大衰减模块、混频模块和中频滤波模块。相应的，如图4所示，该方法包括如下步骤：

S410、接收待测信号，并对所述待测信号进行放大处理，得到待测试放大信号。

在本发明实施例中，第一信号放大模块可以接收待测信号，并将待测信号进行放大处理，以得到待测试放大信号，从而第一信号放大模块的输出端将待测试放大信号输出至第一滤波模块，以进一步对待测试放大信号进行处理。

可选的，接收待测信号，并对所述待测信号进行放大处理，还可以包括：接收天线发送的待测信号，并对所述待测信号进行放大处理。

具体的，信号处理系统的第一信号放大模块中的低噪放模块接收天线发送的待测信号，并对待测信号进行放大处理。

可选的，待测信号可以包括4G信号和5G信号中的至少一项。

具体的，待测信号可以是4G信号，也可以是5G信号，或者还可以是4G和5G信号，本发明实施例对此并不进行限制。

S420、对所述待测试放大信号进行滤波处理，得到待测试滤波信号。

在本发明实施例中，第一滤波模块的输入端接收到待测试放大信号之后，可以进一步对待测试放大信号进行滤波处理，以得到待测试滤波信号，从而第一滤波模块的输出端将待测试滤波信号输出至放大衰减模块，以进一步对待测试滤波信号进行处理。

可选的，对待测试放大信号进行滤波处理，可以包括：根据信号测试需求对所述待测试放大信号的子信号进行筛选和滤波处理，得到所述待测试滤波信号。

具体的，在第一信号放大模块的输出端输出待测试放大信号之后，第一射频开关模块的输入端可以接收待测试放大信号，并根据信号测试需求对不同频段的待测试放大信号进行筛选和滤波处理，也即根据不同频段的待测试放大信号选择对应的第一射频开关模块的开关支路，以使与待测试放大信号的频段对应的第一滤波模块对待测试放大信号进行筛选和滤波处理，以得到待测试滤波信号。

S430、对所述待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到待测试放大衰减信号。

在本发明实施例中，放大衰减模块的输入端接收到待测试滤波信号之后，可以进一步对待测试滤波信号进行放大衰减处理，以得到待测试放大衰减信号，从而放大衰减模块的输出端将待测试放大衰减信号输出至混频模块，以进一步对待测试放大衰减信号进行处理。

可选的，对所述待测试滤波信号进行放大衰减处理，可以包括：根据配置的衰减放大参数对所述待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到所述待测试放大衰减信号。

具体的，在第一滤波模块输出待测试滤波信号之后，放大衰减模块的带数控衰减器的功率放大器的输入端可以接收待测试滤波信号，进一步根据预先配置的衰减放大参数对待测试滤波信号进行放大衰减处理，以得到待测试放大衰减信号。

可选的，对所述待测试滤波信号进行放大衰减处理，可以包括：根据配置的衰减参数对所述待测试滤波信号进行衰减处理，得到待测试衰减信号；对所述待测试衰减信号再次进行放大处理，得到所述待测试放大衰减信号。

具体的，在第一滤波模块输出待测试滤波信号之后，放大衰减模块的可编程衰减模块的输入端可以接收待测试滤波信号，进一步根据配置的衰减参数对待测试滤波信号进行衰减处理，以得到待测试衰减信号，从而可编程衰减模块的输出端可以将待测试衰减信号发送至第二信号放大模块的输入端，第二信号放大模块的输入端接收到待测试衰减信号之后，对待测试衰减信号再次进行放大处理，以得到待测试放大衰减信号，从而将待测试放大衰减信号输出至混频模块。

S440、对所述待测试放大衰减信号进行混频处理，得到待测试混频信号。

在本发明实施例中，混频模块的输入端接收到待测试放大衰减信号之后，可以进一步对待测试放大衰减信号进行混频处理，以得到待测试混频信号，从而混频模块的输出端将待测试混频信号输出至中频滤波模块，以进一步对待测试混频信号进行处理。

S450、对所述待测试混频信号进行中频滤波处理，得到待测试中频信号。

在本发明实施例中，中频滤波模块的输入端接收到待测试混频信号之后，可以进一步对待测试混频信号进行中频滤波处理，以得到待测试中频信号，从而中频滤波模块的输出端将待测试中频信号输出，以对待测试中频信号进行测试。

可选的，对所述待测试放大衰减信号进行混频处理，可以包括：对所述待测试放大衰减信号进行分路处理，得到第一路待测信号和第二路待测信号；根据本振信号对所述第一路待测信号进行低频混频处理，得到低频待测信号；根据本振信号对所述第二路待测信号进行低频混频处理，得到高频待测信号。对所述待测试混频信号进行中频滤波处理，可以包括：对所述低频待测信号和所述高频待测信号进行中频滤波处理，得到所述待测试中频信号。

具体的，在对待测试放大衰减信号进行混频处理时，可以在第二射频开关模块的输入端接收到待测试放大衰减信号之后，进一步对待测试放大衰减信号进行分路处理，以得到第一路待测信号和第二路待测信号，从而第二射频开关模块的输出端将第一路待测信号输出至低频段混频模块的输入端，将第二路待测信号输出至高频段混频模块的输入端。低频段混频模块的输入端在接收本振模块发送的本振信号和第一路待测信号之后，进一步根据本振信号对第一路待测信号进行低频混频处理，以得到低频待测信号，从而低频段混频模块的输出端将低频待测信号输出至中频滤波模块。高频段混频模块的输入端在接收本振模块发送的本振信号和第二路待测信号之后，进一步根据本振信号对第二路待测信号进行高频混频处理，以得到高频待测信号，从而高频段混频模块的输出端将高频待测信号输出至中频滤波模块。中频滤波模块的输入端在接收到低频待测信号和高频待测信号之后，可以进一步对低频待测信号和高频待测信号进行中频滤波处理，以得到待测试中频信号。

可选的，信号处理方法还可以包括：对所述待测试中频信号进行放大处理，得到目标待测信号。

具体的，在中频滤波模块输出待测试中频信号之后，第三信号放大模块的输入端可以接收待测试中频信号，进一步对待测试中频信号进行放大处理，以得到目标待测信号，从而第三信号放大模块的输出端将目标待测信号输出至AD处理模块，进而可以对目标待测信号进行测试。

为了使本领域技术人员更好地理解本实施例信号处理方法，下面采用一个具体示例进行说明，图5是本发明实施例二提供的一种信号处理方法的具体示例流程图，如图5所示，具体过程包括有：

天线接收射频信号(频率为F1)，经过第一信号放大模块放大，通过使用第一射频开关模块和第一滤波模块，第一滤波模块可以是带通滤波器，可以对带外无用信号抑制至少40dB以上，抑制带外杂波后输入到混频模块，并将频率为F2的本振信号输入到混频模块，并由两个不同的混频模块，分别工作在高频和低频两部分，也即低频段混频模块和高频段混频模块。混频模块输出中频信号(F1-F2)，信号经过中频滤波模块和第三信号放大模块后输出给AD处理模块，完成整个高频信号转为中频信号的处理流程。

本实施例的技术方案，通过第一信号放大模块接收待测信号，并对待测信号进行放大处理，得到待测试放大信号，采用第一滤波模块对待测试放大信号进行滤波处理，得到待测试滤波信号，并采用放大衰减模块对待测试滤波信号进行放大衰减处理，得到待测试放大衰减信号，进一步采用混频模块对待测试放大衰减信号进行混频处理，得到待测试混频信号，再采用中频滤波模块对待测试混频信号进行中频滤波处理，得到待测试中频信号，解决现有信号在不进行任何处理的情况下，无法满足测试需求的问题，能够在保证信号指标满足标准的情况下，将高频的待测信号转为可以用于测试的中频的待测信号，从而满足待测信号的测试要求。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。