具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

方案一

本发明提供了一种端子接线结构，如图1-图4和图6-图8所示，该端子接线结构包括：端子本体10、导线70和楔形体60；端子本体10包括接线部20和用于与用电装置连接的电连接部11，接线部20设有用于容纳导线70的容纳腔21，容纳腔21具有开口端211和封闭端212，容纳腔21包括楔形部31，楔形部31的横截面沿开口端211向封闭端212的方向逐渐增大；楔形体60设置于楔形部31内，楔形体60的横截面沿开口端211向封闭端212的方向逐渐增大；并且，楔形体60进入至导线70的端部。

该端子接线结构在装配时，楔形体60抵接于容纳腔21的封闭端212，通过对导线70和端子本体10施加相向的作用力，驱使楔形体60的横截面较小的一端插入到导线70中，导线70发生膨胀，并与容纳腔21的楔形部31的内壁接触。

在楔形体60的作用下，可以使导线70与接线部20紧密接触。导线70和楔形体60结合后的截面积大于容纳腔21的出口的截面积，并且楔形部31使得导线70沿纵向退出时会产生比较大的摩擦阻力，从而阻止导线70从楔形部31中退出，将导线70限定在容纳腔21内，保证拉脱力合格。采用该端子接线结构，增强了导线70与端子本体10连接的机械性能和导电性能。

在一实施方式中，容纳腔21包括柱形部32，柱形部32和楔形部31沿开口端211向封闭端212的方向依次分布，柱形部32可以引导楔形体60和导线70插入到楔形部31中。进一步地，在连接位置处，楔形部31与柱形部32的横截面形状相同。楔形部31与电连接部11连接的位置的横截面积，大于楔形部31与柱形部32连接的位置的横截面积。

楔形体60的材质可以为非金属或金属。发明人对楔形体60的形状、分布方式和楔形部31的形状作了进一步的改进，以提高导线70与端子本体10连接的牢固性。

楔形体60的形状可以有很多种，例如，楔形体60的形状为圆台、圆锥、椭圆台、椭圆锥、多棱台、多棱锥、半纺锤台或半纺锤体，具体地，楔形体60的横截面可以为圆形、三角形、四边形或者多边形，楔形体60的纵向截面可以为三角形或者梯形；楔形体60的纵向截面的侧边可以为双曲线、抛物线或者圆弧线等。

楔形体60在导线70端面上的分布方式不限于一种，例如：如图5所示，多个楔形体60呈圆形排列；如图9或者图10所示，多个楔形体60呈矩形排列。多个楔形体60的底面的分布区域的外接圆直径，小于或者等于柱形部32的内径，以便于楔形部31经柱形部32进入到楔形部31中。楔形体60的纵向长度，小于楔形部31的纵向高度。

楔形部31的形状可以有很多种，例如，楔形部31的横截面形状为圆形、椭圆形、方形、多边形、十字形、E形、F形、H形、K形、L形、T形、U形、V形、W形、X形、Y形、Z形、半弧形、弧形或波浪形结构。并且，楔形部31的纵向各位置的横截面的形状可以不相同。

该端子接线结构中，可以先将楔形体60设置于楔形部31内，然后将导线70插入到楔形部31内，与此同时，楔形体60插入到导线70中；也可以先将楔形体60连接于导线70的端面，然后楔形体60随导线70一起置入楔形部31中，与此同时，楔形体60插入到导线70中。

在一实施方式中，楔形体60的体积之和、与进入楔形部31内的导线70的体积之和，大于或等于楔形部31的体积，以使该端子接线结构中，导线70与楔形部31的内壁连接的更加紧密。在楔形体60的数量为多个的情况下，楔形体60的体积之和为各个楔形体60的体积之和；在楔形体60的数量为1个的情况下，楔形体60的体积之和为单个楔形体60的体积。

在一实施方式中，楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值范围为1％-45％。

为了验证楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响，发明人选用了相同规格的楔形部31，不同体积的楔形体60，以及相同的导线70，制作了端子接线结构的样件，并对端子接线结构的样件进行了拉拔力和电压降的测试，将结果记录在表1中。

拉拔力测试方法，是使用万能拉拔力试验机，将端子本体10和导线70分别固定在万能拉拔力试验机的拉伸治具上，并使用50mm/min的速度向反方向拉拔，将最终导线70从端子本体10脱离时的力记录为拉拔力。在本实施例中，拉拔力小于1600N为不合格。

电压降的测试方法：将端子本体10和导线70放置在电压降检测台上，分别测试端子本体10和导线70自身的电压值A和B，然后测试端子本体10到导线70的电压值C，然后计算C-(A+B)的值，作为端子本体10和导线70连接点的电压降值。在本实施例中，电压降值大于4mV为不合格。

表1：楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响

从表1中可以看出，当楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值小于1％时，端子本体10和导线70之间的电压降大于4mV，并且端子本体10和导线70之间的拉拔力小于1600N，都属于不合格；此时楔形体60的体积过小，无法将导线70压紧到楔形部31内壁上；而当楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值大于45％时，端子本体10和导线70之间的电压降大于4mV，并且端子本体10和导线70之间的拉拔力小于1600N，都属于不合格，此时楔形体60的体积过大，导致导线70无法完全插入到楔形部31内部，导致导线70与楔形部31接触面积小；当楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值范围为1％-45％时，端子本体10和导线70之间的电压降和拉拔力都优于合格值，端子接线结构的电学性能和力学性能都符合要求，因此，发明人设定楔形体60的体积之和与楔形部31内部体积的比值范围为1％-45％。

在一实施方式中，楔形体60进入导线70端部后，楔形体60与导线70的径向最大截面积，大于楔形部31内部最小截面积。

在一实施方式中，柱形部32内部径向截面积与导线70外接圆面积的比值范围为75％-100％。

为了验证柱形部32内部径向截面积与导线70外接圆面积的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响，发明人选用了相同规格的导线70和楔形体60，内部径向截面积不同的柱形部32，制作了端子接线结构的样件，并对端子接线结构的样件进行了拉拔力和电压降的测试，将结果记录在表2中。

表2：柱形部32内部径向截面积与导线70外接圆面积的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响

拉拔力测试方法，是使用万能拉拔力试验机，将端子本体10和导线70分别固定在万能拉拔力试验机的拉伸治具上，并使用50mm/min的速度向反方向拉拔，将最终导线70从端子本体10脱离时的力记录为拉拔力。在本实施例中，拉拔力小于1600N为不合格。

电压降的测试方法：将端子本体10和导线70放置在电压降检测台上，分别测试端子本体10和导线70自身的电压值A和B，然后测试端子本体10到导线70的电压值C，然后计算C-(A+B)的值，作为端子本体10和导线70连接点的电压降值。在本实施例中，电压降值大于4mV为不合格。

从表2中可以看出，当柱形部32内部径向截面积与导线70外接圆面积的比值小于75％时，端子本体10和导线70之间的电压降大于4mV，并且端子本体10和导线70之间的拉拔力小于1600N，都属于不合格；此时柱形部32内部和导线70接触面积小；而当柱形部32内部径向截面积占导线70外接圆面积大于100％时，导线70的截面积过大，导致导线70无法插入到柱形部32内部，从而端子接线结构功能失效，因此，发明人设定柱形部32内部径向截面积与导线70外接圆面积的比值范围为75％-100％。

在一实施方式中，柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值范围为45％-95％。

为了验证柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响，发明人选用了相同规格尺寸的导线70和柱形部32，最大径向宽度或直径不同的楔形部31和对应尺寸规格的楔形体60，制作了端子接线结构的样件，并对端子接线结构的样件进行了拉拔力和电压降的测试，将结果记录在表3中。

表3：柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响

拉拔力测试方法，是使用万能拉拔力试验机，将端子本体10和导线70分别固定在万能拉拔力试验机的拉伸治具上，并使用50mm/min的速度向反方向拉拔，将最终导线70从端子本体10脱离时的力记录为拉拔力。在本实施例中，拉拔力小于1600N为不合格。

电压降的测试方法：将端子本体10和导线70放置在电压降检测台上，分别测试端子本体10和导线70自身的电压值A和B，然后测试端子本体10到导线70的电压值C，然后计算C-(A+B)的值，作为端子本体10和导线70连接点的电压降值。在本实施例中，电压降值大于4mV为不合格。

从表3中可以看出，当柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值大于95％时，端子本体10和导线70之间的电压降大于4mV，并且端子本体10和导线70之间的拉拔力小于1600N，都属于不合格，尤其是当比值达到100％时，由于柱形部32与楔形部31尺寸相同，导线70不会被限制在楔形部31内部，很轻易从端子本体10拉脱出来；而当柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值小于45％时，端子本体10和导线70之间的电压降和拉拔力也在合格范围内，但是变化不大，但是制备柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值小于45％的端子本体10，需要花费更大的成本，以及更多的原材料，造成成本的浪费。因此，发明人设定柱形部32最大径向宽度或直径，与楔形部31最大径向宽度或直径的比值范围为45％-95％。

在一实施方式中，楔形部31长度与柱形部32长度的比值范围为5％-100％。

为了验证楔形部31长度与柱形部32长度的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响，发明人选用了相同规格尺寸的楔形部31，长度不同的柱形部32，以及相同的导线70，制作了端子接线结构的样件，并对端子接线结构的样件进行了拉拔力和电压降的测试，将结果记录在表4中。

表4：楔形部31长度与柱形部32长度的比值对端子接线结构的拉拔力和电压降的影响

拉拔力测试方法，是使用万能拉拔力试验机，将端子本体10和导线70分别固定在万能拉拔力试验机的拉伸治具上，并使用50mm/min的速度向反方向拉拔，将最终导线70从端子本体10脱离时的力记录为拉拔力。在本实施例中，拉拔力小于1600N为不合格。

电压降的测试方法：将端子本体10和导线70放置在电压降检测台上，分别测试端子本体10和导线70自身的电压值A和B，然后测试端子本体10到导线70的电压值C，然后计算C-(A+B)的值，作为端子本体10和导线70连接点的电压降值。在本实施例中，电压降值大于4mV为不合格。

从表4中可以看出，当楔形部31长度与柱形部32长度的比值小于5％时，端子本体10和导线70之间的电压降大于4mV，并且端子本体10和导线70之间的拉拔力小于1600N，都属于不合格；此时导线70和楔形部31重合长度过小，导线70和楔形部31之间的接触面积小，摩擦力也小，导致端子接线结构的力学性能和电学性能不合格；而当楔形部31长度与柱形部32长度的比值大于100％时，端子本体10和导线70之间的电压降和拉拔力也在合格范围内，但是变化不大，而长度较长的楔形部31需要花费更大的成本、以及更多的原材料，造成成本的浪费。因此，发明人设定楔形部31长度占柱形部32长度的比值范围为5％-100％。

在本发明的一实施方式中，导线70为柔性导体，以便于楔形体60插入至导线70内，促使导线70发生变形膨胀，使导线70与楔形部31的内壁紧密接触。导线70可以为由柔性材料制成整根的导体，或者，如图4所示，由多根金属丝组成的金属丝束构成，楔形体60可以插入到金属丝之间，以使导线70易于变形。

在另一实施方式中，导线70为刚性导体时，如图7和图8所示，导线70的前端设置用于至少容纳楔形体60的尖端的开槽71，对导线70与端子本体10施加相向的力，该力驱使楔形体60进入到开槽71中，并使导线70发生变形，向外扩张。优选地，开槽71的深度大于楔形体60的纵向长度。

在一实施方式中，导线70外周设有绝缘层72，如图1所示，将导线70的端部的绝缘层72去除，端部插入至楔形部31中，绝缘层72保障导线70的绝缘性。

如图1、图3、图6和图11所示，电连接部11连接于封闭端212，封闭端212通过电连接部11实现封闭，以阻止导线70经封闭端212伸出。

进一步地，接线部20与电连接部11可拆卸地连接，如图11所示，电连接部11可以阻挡导线70，使导线70无法从封闭端212伸出，从而将导线70限定在容纳腔21内。将接线部20从电连接部11上拆分下来，以使容纳腔21的封闭端212打开，这时，导线70和楔形体60可以从封闭端212伸出，以拆卸导线70与端子本体10，方便拆装。在一实施方式中，接线部20与电连接部11设置成螺纹套接的，需要拆除时将接线部20与电连接部11旋转拆除，然后将楔形体60取出，就可以将导线70抽离，在一实施方式中，接线部20与电连接部11也可以设置成卡接、螺接、铆接或者锁扣连接。

在一实施方式中，接线部20设有滑槽41，滑槽41中可拆卸地连接有活动板42，封闭端212通过活动板42实现封闭，如图12-图14所示，将活动板42插入滑槽41中，活动板42可以阻止导线70从封闭端212伸出，从而将导线70限定在容纳腔21内。将活动板42从滑槽41中取出，以使容纳腔21的封闭端212打开，这时，导线70和楔形体60可以从封闭端212伸出，以拆卸导线70与端子本体10，方便拆装。进一步地，电连接部11设于接线部20的一侧，以偏离容纳腔21的封闭端212的开口，便于经该开口取出楔形体60，将导线70抽离。

在一实施方式中，接线部20包括可拆卸连接的第一分体51和第二分体52，如图15和图16所示，第一分体51和第二分体52的分割结合面53沿接线部20的纵向延伸，第一分体51和第二分体52结合在一起时，容纳腔21的封闭端212保持封闭，导线70和楔形体60无法从容纳腔21中取出；将第一分体51与第二分体52拆分开后，容纳腔21被打开，楔形体60和导线70可以从中取出，以拆卸导线70与端子本体10，方便拆装。

进一步地，第一分体51与第二分体52通过粘接结构、磁吸结构、插接结构、卡接结构、螺栓连接结构、铆接结构、焊接结构、捆扎结构或锁扣结构54连接，以保障第一分体51与第二分体52连接的牢固性，并便于组装和拆卸。具体的实现方式如下：

在第一种可行的技术方案中，可以采用粘接结构，第一分体51和第二分体52的待拼接表面通过粘接的方式固定连接。

在第二种可行的技术方案中，可以采用磁吸结构，第一分体51和第二分体52通过磁吸件磁吸连接，连接方便快捷。

在第三种可行的技术方案中，可以采用插接结构，第一分体51表面设置插槽，第二分体52表面上设置插销，插销插入插槽后固定连接，从而使第一分体51和第二分体52固定连接。

在第四种可行的技术方案中，可以采用卡接结构，在第一分体51待拼接表面上设置第一卡扣，第二分体52的待拼接表面上设置卡槽，从而使第一分体51和第二分体52固定连接。

在第五种可行的技术方案中，可以采用螺栓连接结构，螺栓连接结构包括螺栓和螺母，螺栓固定于第一分体51待拼接表面上，螺母设置在第二分体52的待拼接表面上并能够旋转，螺栓连接结构将第一分体51和第二分体52的待拼接表面固定连接到一起。螺栓连接结构采用最小为M3的螺栓和螺母，螺栓连接结构拧紧时的扭矩最小为0.2N·m。

在第六种可行的技术方案中，可以采用铆接结构，铆接结构包括铆钉和固定孔，固定孔设置在第一分体51和第二分体52的待拼接表面上，铆钉穿过固定孔，并将铆钉穿过的一端变形，从而将第一分体51和第二分体52拉紧，从而使第一分体51和第二分体52的待拼接表面固定连接到一起。

在第七种可行的技术方案中，可以采用焊接结构，将焊接件设置在第一分体51和第二分体52的待拼接表面上，使用焊接机，将焊接件熔化并连接在一起，从而使第一分体51和第二分体52的待拼接表面固定连接。焊接机包括热熔焊接机或超声波焊接机。

在第八种可行的技术方案中，可以采用捆扎结构，捆扎结构包括捆扎件，在待拼接第一分体51和第二分体52的表面上设置凹槽，使用捆扎件在凹槽位置将第一分体51和第二分体52的待拼接表面捆扎在一起，从而使第一分体51和第二分体52待拼接表面固定连接。捆扎件包括扎带、管箍或钩锁等。

在第九种可行的技术方案中，可以采用锁扣结构54，锁扣结构54包括锁扣件，锁扣件设于第一分体51和第二分体52的待拼接表面的相邻表面处或设于待拼接表面上，第一分体51和第二分体52的待拼接表面通过锁扣件固定连接。

在一实施方式中，端子本体10的材质含有镍、镉、锆、铬、钴、锰、铝、锡、钛、锌、铜、银、金、磷、碲、铍和铅中的一种或多种。

为了论证端子本体10的不同材质对导电率的影响，发明人使用不同的材质制作规格尺寸相同的端子本体10的样件，分别测试端子本体10的导电率，实验结果如表5所示，在本实施例中，端子本体10的导电率大于99％为理想值。

表5：不同材质的端子本体10的导电率

从表5可以看出，选用的不同材质的金属制作的端子本体10，导电率都在理想值范围内，另外，磷是非金属材料，不能直接作为端子本体的材质，但是可以添加到其他金属中形成合金，提高金属本身的导电和机械性能。因此，发明人设定端子本体的材质含有镍、镉、锆、铬、钴、锰、铝、锡、钛、锌、铜、银、金、磷、碲、铍和铅中的一种或多种。

在一实施方式中，端子本体10材质中含有碲铜合金，碲铜合金中碲的含量为0.1％-5％，使端子本体10具有良好的导电性和易切削性能，保证电学性能，也能提高加工性。

为了验证端子本体10材质中，碲铜合金中碲的含量对端子本体10的导电率的影响，发明人选用了10个相同形状的端子本体10进行测试，每个端子本体10的尺寸相同，端子本体10的材质均为碲铜合金，其中碲的含量占比分别为0.05％、0.1％、0.2％、0.5％、0.8％、1.2％、2％、3％、5％、6％、7％。将端子本体10通电流，检测相应的端子本体10的导电率，测试结果如表6所示。在本实施例中，导电率大于99％为理想值。

表6：不同碲含量的碲铜合金对端子本体10导电率的影响

由表6可知，当碲的含量占比小于0.1％时或者大于5％时，导电率明显下降，不能满足导电率理想值要求。当碲的含量占比大于等于0.2％且小于等于1.2％时，导电性能最好，当碲的含量占比大于0.1％且小于0.2％时，或者大于1.2％且小于等于5％时，虽然导电率满足理想值要求，但是趋势是逐渐下降，导电性能也会下降。因此发明人选用碲的含量为0.1％-5％的碲铜合金。在最理想的情况下选用含量为0.2％-1.2％的碲铜合金。

在一实施方式中，端子本体10材质中含有铍铜合金，铍铜合金中铍的含量为0.05％-5％。优选地，端子本体材质中铍的含量为0.1％～3.5％。

端子本体10含有铍具有很高的硬度、弹性极限、疲劳极限和耐磨性，还具有良好的耐蚀性、导热性和导电性，且受冲击时不产生火花。

为了试验铍含量对端子本体10的导电率的影响，发明人选用了10个相同形状、相同宽度的端子本体10进行测试，每个端子本体均含有铍，其中铍的含量占比分别为0.03％、0.05％、0.1％、0.2％、1％、1.8％、3％、3.5％、5％、6％。测试结果如表7所示。在本实施例中，导电率大于99％为理想值。

表7：不同铍含量对端子本体10导电率的影响

由表7可知，当铍的含量占比小于0.05％时或者大于5％时，导电率明显下降，不能满足实际需求。当铍的含量占比大于等于0.1％且小于等于3.5％时，导电性能最好，因此发明人选用铍的含量为0.05％-5％的端子本体。在最理想的情况下选用铍含量为0.1％～3.5％的端子本体10。

在一实施方式中，端子本体10材质中含有磷青铜合金，磷青铜合金中磷的含量为0.01％～1.5％。磷青铜优势是具备更好的耐蚀性、耐磨损，可保证端子本体10接触良好，弹力好，并具有优良机械加工性能，可迅速缩短零件加工时间。

为了试验磷含量对端子本体10的导电率的影响，发明人选用了10个相同形状、相同宽度的端子本体10进行测试，每个端子本体10均含有磷，其中磷的含量占比分别为0.001％、0.005％、0.01％、0.05％、0.1％、0.5％、1％、1.5％、2％、2.5％。测试结果如表8所示。在本实施例中，导电率大于99％为理想值。

表8：不同磷含量对端子本体10导电率的影响

由表8可知，当磷的含量占比小于0.01％时或者大于1.5％时，导电率明显下降，不能满足实际需求。当磷的含量占比大于等于0.05％且小于等于0.5％时，导电性能最好，因此发明人选用磷的含量为0.01％-1.5％的端子本体10。在最理想的情况下选用磷含量为0.05％～0.5％的端子本体10。

在一实施方式中，端子本体10材质中含有铅黄铜合金，铅黄铜合金中铅的含量为0.1％～5％。铅黄铜合金优势是强度高，组织致密均匀，耐蚀性好，切削、钻孔等机加工性能极佳。

为了试验铅含量对端子本体的导电率的影响，发明人选用了10个相同形状、相同宽度的端子本体10进行测试，每个端子本体10均含有铅，其中铅的含量占比分别为0.05％、0.1％、0.5％、1％、2％、3％、4％、5％、6％、7％。测试结果如表9所示。在本实施例中，导电率大于99％为理想值。

表9：不同铅含量对端子本体10导电率的影响

由表9可知，当铅的含量占比小于0.1％时或者大于5％时，导电率明显下降，不能满足实际需求。当铅的含量占比大于等于1％且小于等于3％时，导电性能最好，因此发明人选用铅的含量为0.1％-5％的端子本体。在最理想的情况下选用铅含量为1％～3％的端子本体。

在一实施方式中，楔形体60的材质含有镍、镉、锆、铬、钴、锰、铝、锡、钛、锌、铜、银、金、磷、碲、铍和铅中的一种或多种。

在一实施方式中，端子本体10的至少部分表面设置镀层，以提高耐腐蚀性，提高导电性能，能够更好的延长使用寿命。

具体地，接线部20与导线70连接的内壁设置有镀层，当端子本体10与导线70为不同的材质时，镀层能有效降低二者之间的接触电阻，降低接线部20与导线70之间的电压降，提高电学性能。

在另一实施方式中，接线部20表面不设置镀层，设置为裸露的。当接线部20与导线连接时，连接面采用压紧方式连接时，使两个连接面直接接触，能够减少接触电阻，降低端子本体10的接线部20与导线70之间的电压降，提高该端子接线结构的电学性能。

在一实施方式中，镀层材质含有金、银、镍、锡、锌、锡铅合金、银锑合金、钯、钯镍合金、石墨银、石墨烯银、硬银和银金锆合金中的一种或多种。大多数情况下，端子本体10使用铜材料，铜作为一种活泼金属，在使用过程中会与氧气和水发生氧化反应，因此需要一种或几种不活泼金属作为镀层，延长端子本体10的使用寿命。上述金属的导电性和稳定性，都要优于铜或铜合金，能够使端子本体10获得更好的电学性能和更长的使用寿命。

为了论证不同镀层材质对端子本体10整体性能的影响，发明人使用相同规格、材质，采用不同镀层材料的端子本体10，做一系列耐腐蚀性时间测试，实验结果如表10所示。

表10中的耐腐蚀性时间测试，是将端子本体10样件放入到盐雾喷淋试验箱内，对样件的各个位置喷淋盐雾，每隔20小时取出清洗观察表面腐蚀情况，即为一个周期，直到表面腐蚀面积大于总面积的10％的时候，停止测试，并记录当时的周期数。在本实施例中，周期数小于80次认为不合格。

表10：不同镀层材质对端子本体10样件耐腐蚀性的影响

从表10可以看出，当镀层材质含有常用的金属锡、镍、锌时，实验的结果不如其他选用的金属，选用其他金属的实验结果，超过标准值较多，性能比较稳定。因此，发明人选择镀层材质含有金、银、镍、锡、锌、锡铅合金、银锑合金、钯、钯镍合金、石墨银、石墨烯银、硬银和银金锆合金中的一种或多种。

在一实施方式中，镀层采用电镀、化学镀、磁控溅射或者真空镀的方式设置。

电镀方法，就是利用电解原理在金属表面上镀上一薄层其它金属或合金的过程。

化学镀方法，是在金属的催化作用下，通过可控制的氧化还原反应产生金属的沉积过程。

磁控溅射方法，是利用磁场与电场交互作用，使电子在靶表面附近成螺旋状运行，从而增大电子撞击氩气产生离子的概率，所产生的离子在电场作用下撞向靶面从而溅射出靶材。

真空镀方法，是采用在真空条件下，通过蒸馏或溅射等方式在零件表面沉积各种金属和非金属薄膜。

该端子接线结构具有以下优点：

(1)导线70和楔形部31紧密结合，连接稳固，不易脱落，增加了接触面积，保证导线70和端子本体10的电学性能和力学性能符合要求。

(2)楔形体60可以为导电金属，增大导线70与端子本体10的导通面积，减少连接处的发热量；

(3)该接线端子结构简单，操作方便，省去了压接工具，适用于线束维修维护等场景；

(4)便于拆装，可以重复使用。

方案二

本发明提供了一种接线端子，应用于上述的端子接线结构，该接线端子包括端子本体10；端子本体10包括接线部20和用于与用电装置连接的电连接部11，接线部20设有用于容纳导线70的容纳腔21，容纳腔21具有开口端211和封闭端212，容纳腔21包括楔形部31，楔形部31的横截面沿开口端211向封闭端212的方向逐渐增大。

该接线端子与上述端子接线结构的功能和效果基本相同，在此不再赘述。

在本发明的一实施方式中，该接线端子包括楔形体60，楔形体60设置于楔形部31内，楔形体60的横截面沿开口端211向封闭端212的方向逐渐增大；并且，楔形体60能够进入至导线70的端部。

以上所述仅为本发明的几个实施例，本领域的技术人员依据申请文件公开的内容可以对本发明实施例进行各种改动或变型而不脱离本发明的精神和范围。