光调制控制装置及马赫曾德干涉装置
阅读说明：本技术 光调制控制装置及马赫曾德干涉装置 (Optical modulation control device and Mach-Zehnder interference device ) 是由 三浦浩志 铃木巨生 于 2019-04-18 设计创作，主要内容包括：光调制控制装置(5)构成为,具备：光检测器(21)或光检测器(29),其检测从马赫曾德干涉仪(4)出射的光,输出表示光的强度的强度信号；以及相位偏置搜索部(22),其调整向马赫曾德干涉仪(4)的内部的光路注入的相位偏置,并搜索从光检测器(21)输出的强度信号成为极小值时的相位偏置、或者从光检测器(29)输出的强度信号成为极大值时的相位偏置,记录搜索到的相位偏置和光的波长的组。(The optical modulation control device (5) is configured to include: a photodetector (21) or a photodetector (29) that detects the light emitted from the Mach-Zehnder interferometer (4) and outputs an intensity signal indicating the intensity of the light; and a phase offset search unit (22) which adjusts the phase offset injected into the optical path inside the Mach-Zehnder interferometer (4), searches for a phase offset when the intensity signal output from the optical detector (21) becomes a minimum value, or a phase offset when the intensity signal output from the optical detector (29) becomes a maximum value, and records the searched phase offset and the set of the wavelength of the light.)
技术领域
本发明涉及搜索相位偏置的光调制控制装置及马赫曾德干涉装置。
背景技术
在光纤通信的领域中，以提高每1个信道的传输容量为目的，有时使用利用QAM(Quadrature Amplitude Modulation：正交调幅)等调制方式的调制器。
在以下的非专利文献1中，公开了一种对从光源出射的光进行调制的马赫曾德调制器。
在以下的非专利文献1所公开的马赫曾德调制器中，使用磷化铟(InP)等半导体材料。
通过使用InP等半导体材料，能够使马赫曾德调制器与光源一体化，因此，能够实现具备马赫曾德调制器和光源的装置整体的小型化。
现有技术文献
专利文献
非专利文献1：川西哲也，“超高速·大容量光伝送を実現する高速高精度光変調技術,”光学/应用物理学会分科会日本光学会，第38卷5号，pp.246-252、May.2009.
发明内容
发明要解决的问题
马赫曾德调制器是将从光源出射的光分配为2个光并将分配后的2个光的合成光输出的调制器，对分配后的2个光分别重叠调制信号。在马赫曾德调制器中，重叠有调制信号的2个光的相位差需要保持为180度。为了将2个光的相位差保持为180度，对2个光施加适当的偏置即可，但适当的偏置根据从光源出射的光的波长而不同。
在非专利文献1所公开的马赫曾德调制器中，当从光源出射的光的波长发生了变化时，无法生成与变化的波长对应的偏置，因此，存在有时调制特性劣化这样的问题。
本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于，得到一种即便入射光的波长发生变化也能够使与入射光的波长对应的相位偏置重叠于光的光调制控制装置及马赫曾德干涉装置。
用于解决问题的手段
本发明的光调制控制装置具备：光检测器，其检测从马赫曾德干涉仪出射的光，输出表示光的强度的强度信号；以及相位偏置记录部，其调整向马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从光检测器输出的强度信号成为极小值时的相位偏置、或者强度信号成为极大值时的相位偏置，使搜索到的相位偏置和光的波长的组被记录。
发明的效果
根据本发明，光调制控制装置构成为，具备相位偏置记录部，该相位偏置记录部调整向马赫曾德干涉仪的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从光检测器输出的强度信号成为极小值时的相位偏置、或者强度信号成为极大值时的相位偏置，使搜索到的相位偏置和光的波长的组被记录。因此，即便入射光的波长发生变化，本发明的光调制控制装置也能够使与入射光的波长对应的相位偏置重叠于光。
附图说明
图1是示出包含实施方式1的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
图2是示出光调制控制装置5所包含的相位偏置调整部26、相位偏置记录部27及控制部28各自的硬件的硬件结构图。
图3是光调制控制装置5的一部分由软件或固件等实现的情况下的计算机的硬件结构图。
图4是示出马赫曾德干涉仪4的初始设定时的光调制控制装置5的处理步骤的流程图。
图5是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)与从光检测器21输出的强度信号IPD(t)之间的关系的一例的说明图。
图6是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)的时间变化的说明图。
图7是示出从放大器24输出的强度信号β(t)·IPD(t)的时间变化的说明图。
图8是示出包含实施方式1的其他光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
图9是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)与从光检测器29输出的强度信号IPD(t)之间的关系的一例的说明图。
图10是示出包含实施方式2的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
图11是示出包含实施方式3的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
图12是示出包含实施方式4的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
具体实施方式
以下，为了更加详细说明本发明，按照附图对用于实施本发明的方式进行说明。
实施方式1.
图1是示出包含实施方式1的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。
图2是示出光调制控制装置5所包含的相位偏置调整部26、相位偏置记录部27及控制部28各自的硬件的硬件结构图。
在图1中，光源1例如由LD(Laser Diode：激光二极管)实现。
光源1经由光纤3而与马赫曾德干涉仪4连接。
光源1将连续光作为马赫曾德干涉仪4的入射光向光纤3出射。
马赫曾德干涉装置2具备光纤3、马赫曾德干涉仪4及光调制控制装置5。
马赫曾德干涉装置2是进行二相偏移调制(BPSK：Binary Phase Shift Keying：二相移相键控)的装置。
光纤3的一端与光源1连接，光纤3的另一端与马赫曾德干涉仪4的分支点10连接。
光纤3将从光源1出射的连续光传输至马赫曾德干涉仪4的分支点10。
马赫曾德干涉仪4具备第1光路11、第2光路12、正相信号电极13、反相信号电极14、相位调整电极15、第1输出端口17及第2输出端口18。
此外，马赫曾德干涉仪4具有将入射光分配为2个光的分支点10和对分配后的2个光进行合成的合成点16。
马赫曾德干涉仪4在分支点10将入射光分配为2个光，在合成点16对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21出射。
第1光路11是马赫曾德干涉仪4的内部的光路，例如由光纤实现。
第1光路11的一端与分支点10连接，第1光路11的另一端与合成点16连接。
第1光路11将在分支点10分配后的2个光中的一方的光传输至合成点16。
第2光路12是马赫曾德干涉仪4的内部的光路，例如由光纤实现。
第2光路12的一端与分支点10连接，第2光路12的另一端与合成点16连接。
第2光路12将在分支点10分配后的2个光中的另一方的光传输至合成点16。
正相信号电极13被插入到第1光路11中。
正相信号电极13使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第1光路11而传输的光。DC偏置可以是直流的电流，也可以是直流的电压。
在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，正相信号电极13仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在马赫曾德干涉仪4的初始设定完成之后的实际运用时，正相信号电极13使DC偏置及调制信号双方都重叠于光。
反相信号电极14被插入到第2光路12中。
反相信号电极14使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第2光路12而传输的光。
在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，反相信号电极14仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在马赫曾德干涉仪4的初始设定完成之后的实际运用时，反相信号电极14使DC偏置及调制信号双方都重叠于光。
相位调整电极15被插入到第1光路11中。
相位调整电极15使从相位偏置调整部26输出的相位偏置Iφ(t)重叠于通过第1光路11而传输的光。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，相位偏置Iφ(t)为电流，但相位偏置Iφ(t)也可以为电压。
第1输出端口17是用于将合成光向光检测器21出射的端口。
第2输出端口18是用于出射与合成光反相的光的端口。在从第1输出端口17出射的光的强度为极大值时，从第2输出端口18出射的光的强度为极小值。此外，在从第1输出端口17出射的光的强度为极小值时，从第2输出端口18出射的光的强度为极大值。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18出射的光。
光调制控制装置5具备光检测器21、相位偏置搜索部22及控制部28。
光检测器21例如由光电二极管实现。
光检测器21与马赫曾德干涉仪4的第1输出端口17连接。
光检测器21对从第1输出端口17出射的合成光进行检测，将表示检测到的合成光的强度的强度信号IPD(t)向延迟器23、放大器24及相位偏置记录部27分别输出。
此外，光检测器21将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，强度信号IPD(t)为电流，但强度信号IPD(t)也可以为电压。
相位偏置搜索部22具备延迟器23、放大器24、比较器25、相位偏置调整部26及相位偏置记录部27。
相位偏置搜索部22一边调整向马赫曾德干涉仪4的第1光路11注入的相位偏置Iφ(t)，一边搜索从光检测器21输出的强度信号IPD(t)成为极小值时的相位偏置Iφ(t)min。
相位偏置搜索部22使控制部28记录搜索到的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长的组。
延迟器23将从光检测器21输出的强度信号IPD(t)保持延迟时间Δt，将强度信号IPD(t-Δt)向比较器25的输入端子25a输出。
放大器24由相位偏置调整部26调整放大率β(t)。
放大器24以放大率β(t)放大从光检测器21输出的强度信号IPD(t)，将放大后的强度信号β(t)·IPD(t)向比较器25的反相输入端子25b输出。
比较器25将与从延迟器23输出的强度信号IPD(t-Δt)和从放大器24输出的强度信号β(t)·IPD(t)之间的差分(IPD(t-Δt)-β(t)·IPD(t))成正比例的差分信号e(t)向相位偏置调整部26及相位偏置记录部27分别输出。
相位偏置调整部26例如由图2所示的相位偏置调整电路31实现。
相位偏置调整部26在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，按照从比较器25输出的差分信号e(t)来调整向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)。
相位偏置调整部26在马赫曾德干涉仪4的实际运用时，将从控制部28输出的相位偏置Iφ(t)min向相位调整电极15输出。
相位偏置记录部27例如由图2所示的相位偏置记录电路32实现。
相位偏置记录部27从注入到第1光路11的相位偏置Iφ(t)中搜索1个以上的从比较器25输出的差分信号e(t)的绝对值比阈值Th小时的相位偏置。
相位偏置记录部27在与搜索到的1个以上的相位偏置Iφ(t)对应的强度信号IPD(t)中搜索最小的强度信号IPD(t)min。
相位偏置记录部27使控制部28记录对应于最小的强度信号IPD(t)min的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长的组。
阈值Th例如是几[μA]的值，阈值Th可以存储在相位偏置记录部27的内部存储器中，也可以从马赫曾德干涉装置2的外部被赋予。另外，强度信号IPD(t)是几[mA]的电流。
在图1所示的光调制控制装置5中，比较器25将差分信号e(t)向相位偏置调整部26及相位偏置记录部27分别输出。但是，这只不过是一例，光调制控制装置5也可以具备将从比较器25输出的差分信号e(t)从模拟信号转换成数字信号的模数转换器(以下称为“A/D转换器”)，A/D转换器将数字信号向相位偏置调整部26及相位偏置记录部27分别输出。
通过使图1所示的光调制控制装置5具备A/D转换器，能够以数字的形式来处理相位偏置调整部26的计算处理及相位偏置记录部27的判定处理等。
在图1所示的光调制控制装置5具备A/D转换器的情况下，从相位偏置调整部26输出的相位偏置Iφ(t)成为数字信号。因此，光调制控制装置5具备将从相位偏置调整部26输出的相位偏置Iφ(t)转换成模拟信号的数模转换器(以下称为“D/A转换器”)，D/A转换器将模拟信号向相位调整电极15输出。
控制部28例如由图2所示的控制电路33实现。
控制部28在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，记录入射光的波长与相位偏置Iφ(t)min的组。
控制部28在马赫曾德干涉仪4的实际运用时，将对应于波长的相位偏置Iφ(t)min向相位偏置调整部26输出。
在图1中，设想作为光调制控制装置5的一部分结构要素的相位偏置调整部26、相位偏置记录部27及控制部28分别由图2所示的专用的硬件实现。即，设想光调制控制装置5的一部分由相位偏置调整电路31、相位偏置记录电路32及控制电路33实现。
这里，相位偏置调整电路31、相位偏置记录电路32及控制电路33分别例如对应于单一电路、复合电路、程序化的处理器、并行程序化的处理器、ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit：专用集成电路)、FPGA(Field-Programmable Gate Array：现场可编程门阵列)、或者它们的组合。
光调制控制装置5的一部分结构要素不限于由专用的硬件实现，光调制控制装置5的一部也可以通过软件、固件、或者软件与固件的组合来实现。
软件或固件以程序的形式存储在计算机的存储器中。计算机是指执行程序的硬件，例如对应于CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)、中央处理装置、处理装置、运算装置、微处理器、微型计算机、处理器、或者DSP(Digital Signal Processor：数字信号处理器)。
图3是光调制控制装置5的一部分由软件或固件等实现的情况下的计算机的硬件结构图。
在光调制控制装置5的一部分由软件或固件等实现的情况下，将用于使计算机执行相位偏置调整部26、相位偏置记录部27及控制部28的处理步骤的程序存储于存储器41。然后，计算机的处理器42执行存储器41所存储的程序。
此外，在图2中，示出光调制控制装置5的一部分结构要素分别由专用的硬件实现的例子，在图3中，示出光调制控制装置5的一部分由软件或固件等实现的例子。但是，这只不过是一例，也可以是，光调制控制装置5的一部分结构要素由专用的硬件实现，剩余的结构要素由软件或固件等实现。
接着，对图1所示的马赫曾德干涉装置2的动作进行说明。
首先，对马赫曾德干涉仪4的初始设定时的动作进行说明。
在马赫曾德干涉仪4的内部的光路中不重叠调制信号时，在调制特性上期望从马赫曾德干涉仪4的第1输出端口17出射的合成光为接近0的状态。因此，在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，搜索从第1输出端口17出射的合成光成为接近0的状态的相位偏置Iφ(t)。
图4是示出马赫曾德干涉仪4的初始设定时的光调制控制装置5的处理步骤的流程图。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，可能作为马赫曾德干涉仪4的入射光的波长而使用的波长为λ1、…、λN的N个。N是2以上的整数。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，与波长λn(n＝1、…、N)对应的DC偏置是已知值。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，表示时刻的变量为t，t＝0、1、2、…、T。T是正整数。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，从外部向光源1及控制部28分别提供表示N个波长λ1、…、λN中的在初始设定时使用的波长λn的波长信息。
波长信息所示的波长λn在后述的相位偏置记录部27每次使控制部28记录相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长λn的组时发生变化。
光源1将波长信息所示的波长λn的连续光作为马赫曾德干涉仪4的入射光向光纤3出射。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，从外部向光源1及控制部28分别赋予波长信息。但是，这只不过是一例，也可以通过用户操作光源1来选择波长λn。
光纤3将从光源1出射的连续光传输至马赫曾德干涉仪4的分支点10。
马赫曾德干涉仪4在分支点10将从光源1出射的连续光即入射光分配为2个光。
马赫曾德干涉仪4的第1光路11将在分支点10分配后的2个光中的一方的光传输至合成点16。
马赫曾德干涉仪4的第2光路12将在分支点10分配后的2个光中的另一方的光传输至合成点16。
向正相信号电极13及反相信号电极14分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第1光路11传输的光。
反相信号电极14在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第2光路12传输的光。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，从外部向正相信号电极13及反相信号电极14分别赋予DC偏置。但是，这只不过是一例，控制部28也可以向正相信号电极13及反相信号电极14分别赋予与波长λn对应的DC偏置。
在马赫曾德干涉仪4的初始设定时，正相信号电极13及反相信号电极14分别仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
控制部28将时刻t初始化为“1”(图4的步骤ST1)。
相位偏置调整部26将时刻t的相位偏置Iφ(t)向相位调整电极15及相位偏置记录部27分别输出(图4的步骤ST2)。
此外，相位偏置调整部26将时刻t处的放大率β(t)向相位偏置记录部27输出。
t＝0时的相位偏置Iφ(0)作为初始值而存储在相位偏置调整部26的内部存储器中。Iφ(0)例如是0[mA]。
例如，按照后述的下式(2)，根据相位偏置Iφ(0)来计算时刻t＝1时的相位偏置Iφ(1)。
t＝0时的放大率β(0)作为初始值而存储在相位偏置调整部26的内部存储器中。放大率β(0)例如是1。
例如，按照后述的下式(3)，根据放大率β(0)来计算时刻t＝1时的大率β(1)。
相位调整电极15使从相位偏置调整部26输出的相位偏置Iφ(t)重叠于通过第1光路11传输的光。
马赫曾德干涉仪4在合成点16合成通过第1光路11传输的一方的光与通过第2光路12传输的另一方的光。
马赫曾德干涉仪4从第1输出端口17向光检测器21输出在合成点16合成的2个光的合成光。
光检测器21检测从第1输出端口17出射的合成光(图4的步骤ST3)。
光检测器21将表示检测到的合成光的强度的强度信号IPD(t)向延迟器2、放大器244及相位偏置记录部27分别输出。
图5是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)与从光检测器21输出的强度信号IPD(t)之间的关系的一例的说明图。
在图5的例子中，T＝31，在t＝6的相位偏置Iφ(6)时，强度信号IPD(t)成为极大值，在t＝22的相位偏置Iφ(22)时，强度信号IPD(t)成为极小值。
图6是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)的时间变化的说明图。
延迟器23在从光检测器21接受强度信号IPD(t)后，将强度信号IPD(t)保持延迟时间Δt。延迟时间Δt是与时刻t和时刻t-1的时间差相等的时间。
延迟器23将保持了延迟时间Δt的强度信号IPD(t)作为强度信号IPD(t-Δt)向比较器25的输入端子25a输出。
放大器24取得从相位偏置调整部26输出的放大率β(t)。
放大器24在从光检测器21接受强度信号IPD(t)后，以放大率β(t)放大强度信号IPD(t)，将放大后的强度信号β(t)·IPD(t)向比较器25的反相输入端子25b输出。
图7是示出从放大器24输出的强度信号β(t)·IPD(t)的时间变化的说明图。
从放大器24输出的强度信号β(t)·IPD(t)伴随着时间的经过如图7那样发生变化。
比较器25从延迟器23取得强度信号IPD(t-Δt)，从放大器24取得强度信号β(t)·IPD(t)。
比较器25如下式(1)所示那样，计算与强度信号IPD(t-Δt)和强度信号β(t)·IPD(t)的差分(IPD(t-Δt)-β(t)·IPD(t))成正比例的差分信号e(t)(图4的步骤ST4)。
e(t)＝α(IPD(t-Δt)-β(t)·IPD(t)) (1)
在式(1)中，α是正常数。
比较器25将计算出的差分信号e(t)向相位偏置调整部26及相位偏置记录部27分别输出。
相位偏置调整部26在从比较器25接受差分信号e(t)后，如下式(2)所示，将差分信号e(t)与相位偏置Iφ(t)相加，由此计算时刻t+1时的相位偏置Iφ(t+1)(图4的步骤ST5)。
相位偏置调整部26将计算出的相位偏置Iφ(t+1)向相位调整电极15输出。
Iφ(t+1)＝e(t)+Iφ(t) (2)
由相位偏置调整部26调整的相位偏置Iφ(t)伴随着时刻t的经过如图6那样发生变化。
此外，相位偏置调整部26如下式(3)所示那样基于差分信号e(t)，计算时刻t+1时的放大率β(t+1)(图4的步骤ST6)。
当差分信号e(t)为正时，放大率β(t+1)与放大率β(t)相比减少，当差分信号e(t)为负时，放大率β(t+1)与放大率β(t)相比增加。
相位偏置调整部26将计算出的放大率β(t+1)向放大器24及相位偏置记录部27分别输出。
相位偏置记录部27在从比较器25接受差分信号e(t)后，如下式(4)所示，判定差分信号e(t)的绝对值是否比阈值Th小(图4的步骤ST7)。
|e(t)|＜Th (4)
在相位偏置Iφ(t)与强度信号IPD(t)的关系如图5那样表示的情况下，如果差分信号e(t)的绝对值比阈值Th小，则从光检测器21输出的强度信号IPD(t)为极大值或极小值的可能性高。
如果强度信号IPD(t)为极值，则如图5所示，相比于强度信号IPD(t)为极值以外的值时，IPD(t-1)与IPD(t)的差分较小。
如果差分信号e(t)的绝对值比阈值Th小(图4的步骤ST7：“是”的情况)，则强度信号IPD(t)为极大值或极小值的可能性高，因此，相位偏置记录部27将强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)分别保存于内部存储器(图4的步骤ST9)。
在图5的例子中，强度信号IPD(6)和相位偏置Iφ(6)的组以及强度信号IPD(22)和相位偏置Iφ(22)的组被保存于相位偏置记录部27的内部存储器。
如图7所示，从放大器24输出的强度信号β(t)·IPD(t)在t＝4附近成为极小值，因此，强度信号IPD(4)及相位偏置Iφ(4)的组可能被保存于相位偏置记录部27的内部存储器。但是，如图5所示，从光检测器21输出的强度信号IPD(4)不是极小值，因此，强度信号IPD(4)及相位偏置Iφ(4)的组被误保存。
控制部28判定时刻t是否为T(图4的步骤ST10)。
如果时刻t比T小(图4的步骤ST10：“是”的情况)，则控制部28将时刻t加1(图4的步骤ST8)。
控制部28在差分信号e(t)的绝对值为阈值Th以上时(图4的步骤ST7：“否”的情况)，也将时刻t加1(图4的步骤ST8)。
以后，重复进行步骤ST2～ST10的处理，直至时刻t成为T(图4的步骤ST10：“否”的情况)。
相位偏置记录部27在时刻t成为T时，将内部存储器所保存的1个以上的强度信号IPD(t)相互比较，搜索最小的强度信号IPD(t)min。
例如，在保存有强度信号IPD(4)、强度信号IPD(6)及强度信号IPD(22)的情况下，如图5所示，由于强度信号IPD(22)最小，因此，搜索到强度信号IPD(22)作为最小的强度信号IPD(t)min。
相位偏置记录部27在搜索最小的强度信号IPD(t)min时，使控制部28记录对应于强度信号IPD(t)min的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长λn的组(图4的步骤ST11)。
如果搜索到强度信号IPD(22)作为强度信号IPD(t)min，则将相位偏置Iφ(22)与波长λn的组记录于控制部28。
这里，相位偏置记录部27使控制部28记录相位偏置Iφ(t)min与波长λn的组。但是，这只不过是一例，相位偏置记录部27也可以使控制部28记录相位偏置Iφ(t)min、波长λn及DC偏置的组。
在使控制部28记录相位偏置Iφ(t)min、波长λn及DC偏置的组的情况下，在马赫曾德干涉仪4的实际运用时，控制部28能够将对应于波长λn的DC偏置向正相信号电极13及反相信号电极14分别输出。
相位偏置搜索部22判定针对全部N个波长λn的相位偏置Iφ(t)min的记录是否完成(图4的步骤ST12)。
如果针对全部N个波长λn的相位偏置Iφ(t)min的记录完成(图4的步骤ST12：“是”的情况)，则马赫曾德干涉仪4的初始设定时的动作结束。
如果N个波长λn中残留有相位偏置Iφ(t)min的记录未完成的波长λn(图4的步骤ST12：“否”的情况)，则重复进行步骤ST1～ST12的处理。
接着，对马赫曾德干涉仪4的实际运用时的动作进行说明。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，向光源1及控制部28提供表示N个波长λ1、…、λN中的在实际运用时使用的波长λn的波长信息。
光源1将波长信息所示的波长λn的连续光作为马赫曾德干涉仪4的入射光向光纤3出射。
向正相信号电极13及反相信号电极14分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11传输的光。
反相信号电极14在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12传输的光。
控制部28从在初始设定时记录的与N个波长λ1、…、λN对应的相位偏置Iφ(t)min中取得与波长信息所示的波长λn对应的相位偏置Iφ(t)min。
控制部28将取得的相位偏置Iφ(t)min向相位偏置调整部26输出。
相位偏置调整部26将从控制部28输出的相位偏置Iφ(t)min向相位调整电极15输出。
相位调整电极15使从相位偏置调整部26输出的相位偏置Iφ(t)min重叠于通过第1光路11传输的光。
光检测器21对从第1输出端口17出射的合成光进行检测，将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
在图1所示的马赫曾德干涉装置2中，具备光检测器21，该光检测器21对从马赫曾德干涉仪4的第1输出端口17出射的合成光进行检测。
但是，这只不过是一例，如图8所示，也可以为具备光检测器29的马赫曾德干涉装置2，该光检测器29对从马赫曾德干涉仪4的第2输出端口18出射的合成光进行检测。
图8是示出包含实施方式1的其他光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。在图8中，与图1相同的标号表示相同或相当的部分，因此省略说明。
光检测器29例如由光电二极管实现。
光检测器29与马赫曾德干涉仪4的第2输出端口18连接。
光检测器29对从第2输出端口18出射的合成光进行检测，将表示检测到的合成光的强度的强度信号IPD(t)向延迟器23、放大器24及相位偏置记录部27分别输出。
第2输出端口18是用于出射与从第1输出端口17出射的合成光反相的光的端口。
因此，从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)与从光检测器29输出的强度信号IPD(t)之间的关系如图9那样表示。
图9是示出从相位偏置调整部26向相位调整电极15输出的相位偏置Iφ(t)与从光检测器29输出的强度信号IPD(t)之间的关系的一例的说明图。
对图9所示的波形与图5所示的波形进行比较的话，在图5所示的波形中，最开始，强度信号IPD(t)成为极大值，之后成为极小值，但在图9所示的波形中，最开始，强度信号IPD(t)成为极小值，之后成为极大值。
在图9的例子中，T＝31，在t＝6的相位偏置Iφ(6)时，强度信号IPD(t)成为极小值，在t＝22的相位偏置Iφ(22)时，强度信号IPD(t)成为极大值。
图8所示的相位偏置搜索部22与图1所示的相位偏置搜索部22不同，从注入到第1光路11的相位偏置Iφ(t)中搜索从光检测器29输出的强度信号IPD(t)成为极大值时的相位偏置Iφ(t)max。
相位偏置搜索部22使控制部28记录搜索到的相位偏置Iφ(t)max与入射光的波长λn的组。
具体而言，图8所示的相位偏置记录部27与图1所示的相位偏置记录部27同样，如果差分信号e(t)的绝对值比阈值Th小，则将强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)分别保存于内部存储器。
图8所示的相位偏置记录部27与图1所示的相位偏置记录部27不同，当时刻t成为T时，将内部存储器所保存的1个以上的强度信号IPD(t)相互比较，搜索最大的强度信号IPD(t)max。
例如，在保存有强度信号IPD(4)、强度信号IPD(6)及强度信号IPD(22)的情况下，如图9所示，由于强度信号IPD(22)最大，因此，搜索到强度信号IPD(22)作为最大的强度信号IPD(t)max。
相位偏置记录部27在搜索最大的强度信号IPD(t)max时，使控制部28记录对应于强度信号IPD(t)max的相位偏置Iφ(t)max与入射光的波长λn的组。
如果作为强度信号IPD(t)max而搜索到强度信号IPD(22)，则将相位偏置Iφ(22)与波长λn的组记录于控制部28。
由图8所示的相位偏置记录部27记录的相位偏置Iφ(t)max与由图1所示的相位偏置记录部27记录的相位偏置Iφ(t)min是相同的相位偏置Iφ(22)。
因此，图1所示的马赫曾德干涉装置2与图8所示的马赫曾德干涉装置2得到相同的结果。
在以上的实施方式1中，光调制控制装置5构成为，具备：光检测器21或光检测器29，其对从马赫曾德干涉仪4出射的光进行检测，输出表示光的强度的强度信号；以及相位偏置搜索部22，其调整向马赫曾德干涉仪4的内部的光路注入的相位偏置，并搜索从光检测器21输出的强度信号成为极小值时的相位偏置、或者从光检测器29输出的强度信号成为极大值时的相位偏置，使搜索到的相位偏置与光的波长的组被记录。因此，即便入射光的波长发生变化，光调制控制装置5也能够使与入射光的波长对应的相位偏置重叠于光。
在图1所示的光调制控制装置5中，使控制部28记录从光检测器21输出的强度信号IPD(t)成为极小值时的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长λn的组。
此外，在图8所示的光调制控制装置5中，使控制部28记录从光检测器29输出的强度信号IPD(t)成为极大值时的相位偏置Iφ(t)max与入射光的波长λn的组。
但是，这只不过是一例，在图1所示的光调制控制装置5中，除了使控制部28记录从光检测器21输出的强度信号IPD(t)成为极小值时的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长λn的组之外，也可以使控制部28记录强度信号IPD(t)成为极大值时的相位偏置Iφ(t)max与入射光的波长λn的组。
此外，在图8所示的光调制控制装置5中，除了使控制部28记录从光检测器29输出的强度信号IPD(t)成为极大值时的相位偏置Iφ(t)max与入射光的波长λn的组之外，也可以使控制部28记录强度信号IPD(t)成为极小值时的相位偏置Iφ(t)min与入射光的波长λn的组。
在图1及图8所示的光调制控制装置5中，如果差分信号e(t)的绝对值比阈值Th小，则相位偏置记录部27将强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)分别保存于内部存储器。但是，这只不过是一例，相位偏置记录部27也可以将全部时刻t(t＝1、…、N)的强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)分别保存于内部存储器。
相位偏置记录部27在分别保存全部时刻t的强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)的情况下，与在差分信号e(t)的绝对值小于阈值Th时分别保存强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)的情况相比，需要容量大的内部存储器。但是，相位偏置记录部27在分别保存全部时刻t的强度信号IPD(t)及相位偏置Iφ(t)的情况下，不需要延迟器23、放大器24及比较器25中的每一个，能够实现光调制控制装置5的结构的简化。
实施方式2.
在图1所示的光调制控制装置5中，相位偏置调整部26调整向第1光路11注入的相位偏置Iφ(t)。
在实施方式2中，对相位偏置调整部26调整向第1光路11注入的相位偏置 和向第2光路12注入的相位偏置双方的光调制控制装置5进行说明。
图10是示出包含实施方式2的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。在图10中，与图1相同的标号表示相同或相当的部分。
在图10所示的光调制控制装置5中，光检测器21检测从马赫曾德干涉仪4的第1输出端口17出射的合成光。光调制控制装置5代替具备光检测器21，也可以具备光检测器29，该光检测器29检测从马赫曾德干涉仪4的第2输出端口18出射的合成光。
相位调整电极15a与图1所示的相位调整电极15同样地被插入到第1光路11。
相位调整电极15a使从相位偏置调整部26输出的相位偏置重叠于通过第1光路11传输的光。
通过相位调整电极15a，使相位偏置重叠于通过第1光路11传输的光，由此，通过第1光路11传输的光的相位向正侧旋转。
相位调整电极15b被插入到第2光路12。
相位调整电极15b使从相位偏置调整部26输出的相位偏置重叠于通过第2光路12传输的光。
通过相位调整电极15b，使相位偏置重叠于通过第2光路12传输的光，由此，通过第2光路12传输的光的相位向负侧旋转。
通过第1光路11传输的光的相位的旋转方向与通过第2光路12传输的光的相位的旋转方向为相反方向。但是，由于相位偏置的绝对值与相位偏置的绝对值相同，因此，通过第1光路11传输的光的相位的旋转量与通过第2光路12传输的光的相位的旋转量相同。
但是，这里的相同并不限于严格意义上的一致，也可以在实用上没有问题的范围内偏移。
图10所示的相位偏置搜索部22的动作与图1所示的相位偏置搜索部22的动作大致相同。但是，图10所示的相位偏置调整部26与图1所示的相位偏置调整部26不同，将相位偏置向相位调整电极15a输出，将相位偏置向相位调整电极15b输出。
此外，图10所示的相位偏置调整部26将相位偏置相位偏置及放大率β(t)分别向相位偏置记录部27输出。
图10所示的相位偏置调整部26如下式(5)所示那样通过将差分信号e(t)与相位偏置Iφ(t)相加来计算时刻t+1时的相位偏置Iφ(t+1)。
图10所示的相位偏置调整部26如下式(6)所示那样计算时刻t+1时的相位偏置
图10所示的相位偏置调整部26通过将相位偏置向相位调整电极15a输出并且将相位偏置向相位调整电极15b输出，从而如果 则即便在如图1所示那样向相位调整电极15输出相位偏置Iφ(t)的情况下，相位旋转量也成为2倍。
通过使相位旋转量成为2倍，能够使相位的控制中的动态范围扩大为向相位调整电极15输出相位偏置Iφ(t)的情况下的2倍。
由于相位旋转量成为2倍，因此，相位偏置调整部26也可以如下式(7)所示那样计算时刻t+1时的放大率β(t+1)。
在式(7)的右边第2项的分母中，与|e(t)|相乘的常数成为20，成为式(3)中与|e(t)|相乘的常数“10”的2倍。
因此，相比于如图1所示那样向相位调整电极15输出相位偏置Iφ(t)的情况，时刻t+1时的放大率β(t+1)的增减变小。
实施方式3.
在实施方式1、2的马赫曾德干涉装置2中，进行BPSK。
在实施方式3中，对进行四相偏移调制(QPSK：Quadrature Phase Shift Keying：四相移相键控)的马赫曾德干涉装置2进行说明。
图11是示出包含实施方式3的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。在图11中，与图1相同的标号表示相同或相当的部分，因此省略说明。
第1马赫曾德干涉仪4-1包含第2马赫曾德干涉仪4-2和第3马赫曾德干涉仪4-3。
第1马赫曾德干涉仪4-1具备第1光路11-1、第2光路12-1、光检测器21-2、21-3、相位调整电极15-1、第1输出端口17-1及第2输出端口18-1。
此外，第1马赫曾德干涉仪4-1具有将入射光分配为2个光的分支点10-1、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-1。
第1马赫曾德干涉仪4-1在分支点10-1将入射光分配为2个光，在合成点16-1对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光-1向光检测器21-1出射。
第1光路11-1例如由光纤实现。
第1光路11-1的一端与分支点10-1连接，第1光路11-1的另一端与合成点16-1连接。
第1光路11-1将在分支点10-1分配后的2个光中的一方的光经由第2马赫曾德干涉仪4-2传输至合成点16-1。
第2光路12-1例如由光纤实现。
第2光路12-1的一端与分支点10-1连接，第2光路12-1的另一端与合成点16-1连接。
第2光路12-1将在分支点10-1分配后的2个光中的另一方的光经由第3马赫曾德干涉仪4-3传输至合成点16-1。
相位调整电极15-1被插入到第2光路12-1。
相位调整电极15-1使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第2光路12-1传输的光。
第1输出端口17-1是用于向光检测器21-1出射合成光的端口。
第2输出端口18-1是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-1出射的光。
第2马赫曾德干涉仪4-2具备第1光路11-2、第2光路12-2、正相信号电极13-2、反相信号电极14-2、相位调整电极15-2、第1输出端口17-2及第2输出端口18-2。
此外，第2马赫曾德干涉仪4-2具有将入射光分配为2个光的分支点10-2、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-2。
第2马赫曾德干涉仪4-2在分支点10-2将入射光分配为2个光，在合成点16-2对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21-2出射。
正相信号电极13-2被插入到第1光路11-2。
正相信号电极13-2使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
在第2马赫曾德干涉仪4-2的初始设定时，正相信号电极13-2仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第2马赫曾德干涉仪4-2的初始设定完成之后的实际运用时，正相信号电极13-2使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
反相信号电极14-2被插入到第2光路12-2。
反相信号电极14-2使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第2光路12-2传输的光。
在第2马赫曾德干涉仪4-2的初始设定时，反相信号电极14-2仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第2马赫曾德干涉仪4-2的初始设定完成之后的实际运用时，反相信号电极14-2使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
相位调整电极15-2被插入到第1光路11-2。
相位调整电极15-2使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
第1输出端口17-2是用于向光检测器21-2出射合成光的端口。
第2输出端口18-2是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-2出射的光。
第3马赫曾德干涉仪4-3具备第1光路11-3、第2光路12-3、正相信号电极13-3、反相信号电极14-3、相位调整电极15-3、第1输出端口17-3及第2输出端口18-3。
此外，第3马赫曾德干涉仪4-3具有将入射光分配为2个光的分支点10-3、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-3。
第3马赫曾德干涉仪4-3在分支点10-3将入射光分配为2个光，在合成点16-3对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21-3出射。
正相信号电极13-3被插入到第1光路11-3。
正相信号电极13-3使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
在第3马赫曾德干涉仪4-3的初始设定时，正相信号电极13-3仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第3马赫曾德干涉仪4-3的初始设定完成之后的实际运用时，正相信号电极13-3使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
反相信号电极14-3被插入到第2光路12-3。
反相信号电极14-3使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第2光路12-3传输的光。
在第3马赫曾德干涉仪4-3的初始设定时，反相信号电极14-3仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第3马赫曾德干涉仪4-3的初始设定完成之后的实际运用时，反相信号电极14-3使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
相位调整电极15-3被插入到第1光路11-3。
相位调整电极15-3使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
第1输出端口17-3是用于向光检测器21-3出射合成光的端口。
第2输出端口18-3是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-3出射的光。
光检测器21-2例如由光电二极管实现。
光检测器21-2与第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2连接。
光检测器21-2检测从第1输出端口17-2出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第2强度信号IPD2(t)向相位偏置搜索部50输出。
此外，光检测器21-2将检测到的合成光向第1光路11-1输出。
光检测器21-3例如由光电二极管实现。
光检测器21-3与第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3连接。
光检测器21-3检测从第1输出端口17-3出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第3强度信号IPD3(t)向相位偏置搜索部50输出。
此外，光检测器21-3将检测到的合成光向相位调整电极15-1输出。
光检测器21-1例如由光电二极管实现。
光检测器21-1与第1马赫曾德干涉仪4-1的第1输出端口17-1连接。
光检测器21-1检测从第1输出端口17-1出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第1强度信号IPD1(t)向相位偏置搜索部50输出。
此外，光检测器21-1将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
相位偏置搜索部50调整向第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2注入的相位偏置并搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部50使控制部51记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部50调整向第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3注入的相位偏置并搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部50使控制部51记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部50调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置该两个相位偏置为从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置以及第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部50使控制部51记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
控制部51记录入射光的波长λn、相位偏置相位偏置以及相位偏置的组。
控制部51在第1马赫曾德干涉仪4-1的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部50输出。
控制部51在第2马赫曾德干涉仪4-2的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部50输出。
控制部51在第3马赫曾德干涉仪4-3的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部50输出。
接着，对图11所示的马赫曾德干涉装置2的动作进行说明。
首先，对第1马赫曾德干涉仪4-1、第2马赫曾德干涉仪4-2及第3马赫曾德干涉仪4-3的初始设定时的动作进行说明。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，从外部向光源1及控制部28分别提供表示N个波长λ1、…、λN中的在初始设定时使用的波长λn的波长信息。
波长信息所示的波长λn在后述的相位偏置搜索部50每次使控制部51记录入射光的波长λn、相位偏置相位偏置以及相位偏置的组时发生变化。
光源1将波长信息所示的波长λn的连续光作为第1马赫曾德干涉仪4-1的入射光向光纤3出射。
光纤3将从光源1出射的连续光传输至第1马赫曾德干涉仪4-1的分支点10-1。
第1马赫曾德干涉仪4-1在分支点10-1将从光源1出射的连续光即入射光分配为2个光。
第1马赫曾德干涉仪4-1的第1光路11-1将在分支点10-1分配后的2个光中的一方的光传输至第2马赫曾德干涉仪4-2的分支点10-2。
第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1将在分支点10-1分配后的2个光中的另一方的光传输至第3马赫曾德干涉仪4-3的分支点10-3。
第2马赫曾德干涉仪4-2在分支点10-2将通过第1光路11-1传输的光分配为2个光。
第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2将在分支点10-2分配后的2个光中的一方的光传输至合成点16-2。
第2马赫曾德干涉仪4-2的第2光路12-2将在分支点10-2分配后的2个光中的另一方的光传输至合成点16-2。
向正相信号电极13-2及反相信号电极14-2分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
反相信号电极14-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第2光路12-2传输的光。
相位调整电极15-2使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
第3马赫曾德干涉仪4-3在分支点10-3将由第2光路12-1传输的光分配为2个光。
第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3将在分支点10-3分配后的2个光中的一方的光传输至合成点16-3。
第3马赫曾德干涉仪4-3的第2光路12-3将在分支点10-3分配后的2个光中的另一方的光传输至合成点16-3。
向正相信号电极13-3及反相信号电极14-3分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
反相信号电极14-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置重叠于通过第2光路12-3传输的光。
相位调整电极15-3使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2出射的合成光。
光检测器21-2将表示检测到的合成光的强度的第2强度信号IPD2(t)向相位偏置搜索部50输出。
光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3出射的合成光。
光检测器21-3将表示检测到的合成光的强度的第3强度信号IPD3(t)向相位偏置搜索部50输出。
相位偏置搜索部50调整向第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2注入的相位偏置并搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极小值时的相位偏置
第2强度信号IPD2(t)成为极小值时的相位偏置的搜索方法与图1所示的相位偏置搜索部22相同，因此省略详细说明。
相位偏置搜索部50使控制部51记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部50调整向第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3注入的相位偏置并搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极小值时的相位偏置
第3强度信号IPD3(t)成为极小值时的相位偏置的搜索方法与图1所示的相位偏置搜索部22相同，因此省略详细说明。
相位偏置搜索部50使控制部51记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部50调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部50暂时保存第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部50调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部50暂时保存第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部50如下式(8)所示那样计算暂时保存的相位偏置与暂时保存的相位偏置之和的2分之1的相位偏置
相位偏置搜索部50使控制部51记录计算出的相位偏置与入射光的波长λn的组。
接着，对第1马赫曾德干涉仪4-1、第2马赫曾德干涉仪4-2及第3马赫曾德干涉仪4-3的实际运用时的动作进行说明。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，向光源1及控制部51提供表示N个波长λ1、…、λN中的在实际运用时使用的波长λn的波长信息。
光源1将波长信息所示的波长λn的连续光作为第1马赫曾德干涉仪4-1的入射光向光纤3出射。
向正相信号电极13-2、13-3及反相信号电极14-2、14-3分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-2传输的光。
正相信号电极13-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-3传输的光。
反相信号电极14-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-2传输的光。
反相信号电极14-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-3传输的光。
控制部51从在初始设定时记录的与N个波长λ1、…、λN对应的相位偏置中取得与波长信息所示的波长λn对应的相位偏置与波长λn对应的相位偏置 以及与波长λn对应的相位偏置
控制部51将相位偏置相位偏置以及相位偏置向相位偏置搜索部50输出。
相位偏置搜索部50将从控制部51输出的相位偏置向相位调整电极15-2输出，将从控制部51输出的相位偏置向相位调整电极15-3输出。
此外，相位偏置搜索部50将从控制部51输出的相位偏置向相位调整电极15-1输出。
相位调整电极15-2使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2出射的合成光，将检测到的合成光向合成点16-1输出。
相位调整电极15-3使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3出射的合成光，将检测到的合成光向相位调整电极15-1输出。
相位调整电极15-1使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于从光检测器21-3输出的光。
光检测器21-1检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第1输出端口17-1出射的合成光，将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
根据以上，在进行QPSK的马赫曾德干涉装置2中，也与图1所示的马赫曾德干涉装置2同样，即便入射光的波长发生变化，也能够使与入射光的波长对应的相位偏置重叠于光。
在图11所示的马赫曾德干涉装置2中，光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2出射的合成光，光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3出射的合成光。此外，光检测器21-1检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第1输出端口17-1出射的合成光。
但是，这只不过是一例，也可以是，光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第2输出端口18-2出射的合成光，光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第2输出端口18-3出射的合成光。此外，光检测器21-1也可以检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第2输出端口18-1出射的合成光。在该情况下，相位偏置搜索部50调整向第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2注入的相位偏置并搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极大值时的相位偏置 此外，相位偏置搜索部50调整向第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3注入的相位偏置并搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部50调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置该两个相位偏置为从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置以及第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
实施方式4.
在实施方式4中，对进行双重偏振QPSK(以下称为“DP-QPSK”)的马赫曾德干涉装置2进行说明。
图12是示出包含实施方式4的光调制控制装置5的马赫曾德干涉装置2的结构图。在图12中，与图1及图11相同的标号表示相同或相当的部分，因此省略说明。
分波器61将从光源1出射的连续光分波为X偏振波(第1偏振波)和Y偏振波(第2偏振波)，将X偏振波经由光纤3a向第1马赫曾德干涉仪4-1输出，将Y偏振波经由光纤3b向第4马赫曾德干涉仪4-4输出。
光纤3a的一端与分波器61连接，光纤3a的另一端与第1马赫曾德干涉仪4-1的分支点10-1连接。
光纤3b的一端与分波器61连接，光纤3b的另一端与第4马赫曾德干涉仪4-4的分支点10-4连接。
第4马赫曾德干涉仪4-4包含第5马赫曾德干涉仪4-5和第6马赫曾德干涉仪4-6。
第4马赫曾德干涉仪4-4具备第1光路11-4、第2光路12-4、光检测器21-5、21-6、相位调整电极15-4、第1输出端口17-4及第2输出端口18-4。
此外，第4马赫曾德干涉仪4-4具有将入射光分配为2个光的分支点10-4、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-4。
第4马赫曾德干涉仪4-4在分支点10-4将入射光分配为2个光，在合成点16-4对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21-4出射。
第1光路11-4例如由光纤实现。
第1光路11-4的一端与分支点10-4连接，第1光路11-4的另一端与合成点16-4连接。
第1光路11-4将在分支点10-4分配后的2个光中的一方的光经由第5马赫曾德干涉仪4-5传输至合成点16-4。
第2光路12-4例如由光纤实现。
第2光路12-4的一端与分支点10-4连接，第2光路12-4的另一端与合成点16-4连接。
第2光路12-4将在分支点10-4分配后的2个光中的另一方的光经由第6马赫曾德干涉仪4-6传输至合成点16-4。
相位调整电极15-4被插入到第2光路12-4。
相位调整电极15-4使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第2光路12-4传输的光。
第1输出端口17-4是用于将合成光向光检测器21-4出射的端口。
第2输出端口18-4是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图12所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-4出射的光。
第5马赫曾德干涉仪4-5具备第1光路11-5、第2光路12-5、正相信号电极13-5、反相信号电极14-5、相位调整电极15-5、第1输出端口17-5及第2输出端口18-5。
此外，第5马赫曾德干涉仪4-5具有将入射光分配为2个光的分支点10-5、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-5。
第5马赫曾德干涉仪4-5在分支点10-5将入射光分配为2个光，在合成点16-5对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21-5出射。
正相信号电极13-5被插入到第1光路11-5。
正相信号电极13-5使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第1光路11-5传输的光。
在第5马赫曾德干涉仪4-5的初始设定时，正相信号电极13-5仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第5马赫曾德干涉仪4-5的初始设定完成之后的实际运用时，正相信号电极13-5使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
反相信号电极14-5被插入到第2光路12-5。
反相信号电极14-5使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第2光路12-5传输的光。
在第5马赫曾德干涉仪4-5的初始设定时，反相信号电极14-5仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第5马赫曾德干涉仪4-5的初始设定完成之后的实际运用时，反相信号电极14-5使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
相位调整电极15-5被插入到第1光路11-5。
相位调整电极15-5使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-5传输的光。
第1输出端口17-5是用于向光检测器21-5出射合成光的端口。
第2输出端口18-5是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图12所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-5出射的光。
第6马赫曾德干涉仪4-6具备第1光路11-6、第2光路12-6、正相信号电极13-6、反相信号电极14-6、相位调整电极15-6、第1输出端口17-6及第2输出端口18-6。
此外，第6马赫曾德干涉仪4-6具有将入射光分配为2个光的分支点10-6、以及对分配后的2个光进行合成的合成点16-6。
第6马赫曾德干涉仪4-6在分支点10-6将入射光分配为2个光，在合成点16-6对分配后的2个光进行合成，将2个光的合成光向光检测器21-6出射。
正相信号电极13-6被插入到第1光路11-6。
正相信号电极13-6使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第1光路11-6传输的光。
在第6马赫曾德干涉仪4-6的初始设定时，正相信号电极13-6仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第6马赫曾德干涉仪4-6的初始设定完成之后的实际运用时，正相信号电极13-6使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
反相信号电极14-6被插入到第2光路12-6。
反相信号电极14-6使与入射光的波长对应的DC偏置重叠于通过第2光路12-6传输的光。
在第6马赫曾德干涉仪4-6的初始设定时，反相信号电极14-6仅使DC偏置重叠于光，不使调制信号重叠于光。
在第6马赫曾德干涉仪4-6的初始设定完成之后的实际运用时，反相信号电极14-6使DC偏置及调制信号双方重叠于光。
相位调整电极15-6被插入到第1光路11-6。
相位调整电极15-6使从相位偏置搜索部50输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-6传输的光。
第1输出端口17-6是用于向光检测器21-6出射合成光的端口。
第2输出端口18-6是用于出射与合成光反相的光的端口。
在图12所示的马赫曾德干涉装置2中，未利用从第2输出端口18-6出射的光。
光检测器21-5例如由光电二极管实现。
光检测器21-5与第5马赫曾德干涉仪4-5的第1输出端口17-5连接。
光检测器21-5检测从第1输出端口17-5出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第5强度信号IPD5(t)向相位偏置搜索部62输出。
此外，光检测器21-5将检测到的合成光向第1光路11-4输出。
光检测器21-6例如由光电二极管实现。
光检测器21-6与第6马赫曾德干涉仪4-6的第1输出端口17-6连接。
光检测器21-6检测从第1输出端口17-6出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第6强度信号IPD6(t)向相位偏置搜索部62输出。
此外，光检测器21-6将检测到的合成光向相位调整电极15-4输出。
光检测器21-4例如由光电二极管实现。
光检测器21-4与第4马赫曾德干涉仪4-4的第1输出端口17-4连接。
光检测器21-4检测从第1输出端口17-4出射的合成光，将表示检测到的合成光的强度的第4强度信号IPD4(t)向相位偏置搜索部62输出。
此外，光检测器21-4将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
相位偏置搜索部62调整向第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2注入的相位偏置并搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3注入的相位偏置并搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置该两个相位偏置为从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置以及第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第5马赫曾德干涉仪4-5的第1光路11-5注入的相位偏置并搜索从光检测器21-5输出的第5强度信号IPD5(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第6马赫曾德干涉仪4-6的第1光路11-6注入的相位偏置并搜索从光检测器21-6输出的第6强度信号IPD6(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第4马赫曾德干涉仪4-4的第2光路12-4注入的相位偏置并搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置该两个相位偏置为从光检测器21-4输出的第4强度信号IPD4(t)成为极小值时的相位偏置以及第4强度信号IPD4(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
控制部63基于入射光的波长λn、相位偏置相位偏置相位偏置相位偏置相位偏置以及相位偏置 的组。
控制部63在第1马赫曾德干涉仪4-1的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
控制部63在第2马赫曾德干涉仪4-2的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
控制部63在第3马赫曾德干涉仪4-3的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
控制部63在第4马赫曾德干涉仪4-4的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
控制部63在第5马赫曾德干涉仪4-5的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
控制部63在第6马赫曾德干涉仪4-6的实际运用时，将与波长λn对应的相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
接着，对图12所示的马赫曾德干涉装置2的动作进行说明。
首先，对初始设定时的动作进行说明。
第4马赫曾德干涉仪4-4的动作与第1马赫曾德干涉仪4-1的动作同样，第5马赫曾德干涉仪4-5的动作与第2马赫曾德干涉仪4-2的动作同样。
此外，第6马赫曾德干涉仪4-6的动作与第3马赫曾德干涉仪4-3的动作相同。
因此，省略第4马赫曾德干涉仪4-4、第5马赫曾德干涉仪4-5及第6马赫曾德干涉仪4-6的详细动作。
相位偏置搜索部62与图11所示的相位偏置搜索部50同样，调整向第2马赫曾德干涉仪4-2的第1光路11-2注入的相位偏置并搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62与图11所示的相位偏置搜索部50同样，调整向第3马赫曾德干涉仪4-3的第1光路11-3注入的相位偏置并搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62与图11所示的相位偏置搜索部50同样，调整向第1马赫曾德干涉仪4-1的第2光路12-1注入的相位偏置并搜索从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62暂时保存第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62调整向第2光路12-1注入的相位偏置并搜索从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62暂时保存第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62如式(8)所示那样计算暂时保存的相位偏置与暂时保存的相位偏置之和的2分之1的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录计算出的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第5马赫曾德干涉仪4-5的第1光路11-5注入的相位偏置并搜索从光检测器21-5输出的第5强度信号IPD5(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第6马赫曾德干涉仪4-6的第1光路11-6注入的相位偏置并搜索从光检测器21-6输出的第6强度信号IPD6(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录搜索到的相位偏置与入射光的波长λn的组。
相位偏置搜索部62调整向第4马赫曾德干涉仪4-4的第2光路12-4注入的相位偏置并搜索从光检测器21-4输出的第4强度信号IPD4(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62暂时保存第4强度信号IPD4(t)成为极小值时的相位偏置
相位偏置搜索部62调整向第2光路12-4注入的相位偏置并搜索从光检测器21-4输出的第4强度信号IPD4(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62暂时保存第4强度信号IPD4(t)成为极大值时的相位偏置
相位偏置搜索部62如下式(9)所示那样计算暂时保存的相位偏置与暂时保存的相位偏置之和的2分之1的相位偏置
相位偏置搜索部62使控制部63记录计算出的相位偏置与入射光的波长λn的组。
接着，对实际运用时的动作进行说明。
在图12所示的马赫曾德干涉装置2中，向光源1及控制部63提供表示N个波长λ1、…、λN中的在实际运用时使用的波长λn的波长信息。
光源1将波长信息所示的波长λn的连续光向光纤3出射。
向正相信号电极13-2、13-3及反相信号电极14-2、14-3分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-2传输的光。
正相信号电极13-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-3传输的光。
反相信号电极14-2在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-2传输的光。
反相信号电极14-3在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-3传输的光。
向正相信号电极13-5、13-6及反相信号电极14-5、14-6分别赋予与从光源1出射的连续光的波长λn对应的DC偏置。
正相信号电极13-5在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-5传输的光。
正相信号电极13-6在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第1光路11-6传输的光。
反相信号电极14-5在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-5传输的光。
反相信号电极14-6在被赋予DC偏置时，使DC偏置及调制信号双方重叠于通过第2光路12-6传输的光。
控制部63从在初始设定时记录的与N个波长λ1、…、λN对应的相位偏置中取得与波长信息所示的波长λn对应的相位偏置与波长λn对应的相位偏置 以及与波长λn对应的相位偏置
控制部63将相位偏置相位偏置及相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
相位偏置搜索部62将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-2输出，将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-3输出。
此外，相位偏置搜索部62将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-1输出。
控制部63从在初始设定时记录的与N个波长λ1、…、λN对应的相位偏置中取得与波长信息所示的波长λn对应的相位偏置与波长λn对应的相位偏置 以及与波长λn对应的相位偏置
控制部63将相位偏置相位偏置及相位偏置向相位偏置搜索部62输出。
相位偏置搜索部62将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-5输出，将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-6输出。
此外，相位偏置搜索部62将从控制部63输出的相位偏置向相位调整电极15-4输出。
相位调整电极15-2使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-2传输的光。
光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2出射的合成光，将检测到的合成光向合成点16-1输出。
相位调整电极15-3使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-3传输的光。
光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3出射的合成光，将检测到的合成光向相位调整电极15-1输出。
相位调整电极15-1使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于从光检测器21-3输出的光。
光检测器21-1检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第1输出端口17-1出射的合成光，将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
相位调整电极15-5使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-5传输的光。
光检测器21-5检测从第5马赫曾德干涉仪4-5的第1输出端口17-5出射的合成光，将检测到的合成光向合成点16-4输出。
相位调整电极15-6使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于通过第1光路11-6传输的光。
光检测器21-6检测从第6马赫曾德干涉仪4-6的第1输出端口17-6出射的合成光，将检测到的合成光向相位调整电极15-4输出。
相位调整电极15-4使从相位偏置搜索部62输出的相位偏置重叠于从光检测器21-6输出的光。
光检测器21-4检测从第4马赫曾德干涉仪4-4的第1输出端口17-4出射的合成光，将检测到的合成光作为出射光向外部输出。
在图12所示的马赫曾德干涉装置2中，光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第1输出端口17-2出射的合成光，光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第1输出端口17-3出射的合成光，光检测器21-1检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第1输出端口17-1出射的合成光。
此外，光检测器21-5检测从第5马赫曾德干涉仪4-5的第1输出端口17-5出射的合成光，光检测器21-6检测从第6马赫曾德干涉仪4-6的第1输出端口17-6出射的合成光，光检测器21-4检测从第4马赫曾德干涉仪4-4的第1输出端口17-4出射的合成光。
但是，这只不过是一例，也可以是，光检测器21-2检测从第2马赫曾德干涉仪4-2的第2输出端口18-2出射的合成光，光检测器21-3检测从第3马赫曾德干涉仪4-3的第2输出端口18-3出射的合成光，光检测器21-1检测从第1马赫曾德干涉仪4-1的第2输出端口18-1出射的合成光。
此外，也可以是，光检测器21-5检测从第5马赫曾德干涉仪4-5的第2输出端口18-5出射的合成光，光检测器21-6检测从第6马赫曾德干涉仪4-6的第2输出端口18-6出射的合成光，光检测器21-4检测从第4马赫曾德干涉仪4-4的第2输出端口18-4出射的合成光。
在该情况下，相位偏置搜索部62搜索从光检测器21-2输出的第2强度信号IPD2(t)成为极大值时的相位偏置此外，相位偏置搜索部62搜索从光检测器21-3输出的第3强度信号IPD3(t)成为极大值时的相位偏置此外，相位偏置搜索部62搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置 该两个相位偏置为从光检测器21-1输出的第1强度信号IPD1(t)成为极小值时的相位偏置以及第1强度信号IPD1(t)成为极大值时的相位偏置
此外，相位偏置搜索部62搜索从光检测器21-5输出的第5强度信号IPD5(t)成为极大值时的相位偏置此外，相位偏置搜索部62搜索从光检测器21-6输出的第6强度信号IPD6(t)成为极大值时的相位偏置此外，相位偏置搜索部62搜索成为如下两个相位偏置之和的2分之1时的相位偏置该两个相位偏置为从光检测器21-4输出的第4强度信号IPD4(t)成为极小值时的相位偏置以及第4强度信号IPD4(t)成为极大值时的相位偏置
根据以上，在进行DP-QPSK的马赫曾德干涉装置2中也与图1所示的马赫曾德干涉装置2同样，即便入射光的波长发生变化，也能够使与入射光的波长对应的相位偏置重叠于光。
另外，本申请发明在该发明的范围内，能够进行各实施方式的自由组合或各实施方式的任意的结构要素的变形、或者在各实施方式中能够省略任意的结构要素。
产业利用性
本发明适合于搜索相位偏置的光调制控制装置及马赫曾德干涉装置。
标号说明
1光源，2马赫曾德干涉装置，3光纤，4马赫曾德干涉仪，4-1第1马赫曾德干涉仪，4-2第2马赫曾德干涉仪，4-3第3马赫曾德干涉仪，4-4第4马赫曾德干涉仪，4-5第5马赫曾德干涉仪，4-6第6马赫曾德干涉仪，5光调制控制装置，10、10-1、10-2、10-3、10-4、10-5、10-6分支点，11、11-1、11-2、11-3、11-4、11-5、11-6第1光路，12、12-1、12-2、12-3、12-4、12-5、12-6第2光路，13、13-1、13-2、13-3、13-4、13-5、13-6正相信号电极，14、14-1、14-2、14-3、14-4、14-5、14-6反相信号电极，15、15a、15b、15-1、15-2、15-3、15-4、15-5、15-6相位调整电极，16、16-1、16-2、16-3、16-4、16-5、16-6合成点，17、17-1、17-2、17-3、17-4、17-5、17-6第1输出端口，18、18-1、18-2、18-3、18-4、18-5、18-6第2输出端口，21、21-1、21-2、21-3、21-4、21-5、21-6光检测器，22相位偏置搜索部，23延迟器，24放大器，25比较器，25a输入端子，25b反相输入端子，26相位偏置调整部，27相位偏置记录部，28控制部，29光检测器，31相位偏置调整电路，32相位偏置记录电路，33控制电路，41存储器，42处理器，50相位偏置搜索部，51控制部，61分波器，62相位偏置搜索部，63控制部。
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