具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

对有源植入式神经刺激器，要求进行电磁干扰防护测试，尤其是对于频率16.6Hz-80MHz电磁干扰防护的测试，考虑磁场和电场耦合对患者导线的影响，需要进行整机测试(不仅包括刺激器本身，还包括延长导线和电极等导线部分)。传统方式采用人工测试，测试效率低、准确率低。

为了解决测试效率低，准确率低的问题，申请人申请了一件实用新型专利，授权公告号为CN 209728070 U，发明名称为“用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置”，该专利文献公开了一套可以实现植入式神经刺激器整机测试的自动测试工装，该专利文献公开的技术方案只是针对一种规格的植入电极进行电磁兼容测试，然而应用于神经刺激器的植入电极有多种规格，比如柱状电极、方向电极，柱状电极的触点间距又分为1mm、1.5mm、4mm、6mm等。而为了实现对这些不同规格的植入电极进行测试，该专利文件公开的技术方案必须定制多套不同规格的测试工装，成本昂贵，并且在对不同规格电极进行测试时还需要转换设备进行测试操作，测试效率降低。

为了解决现有技术中只能测试一种规格植入电极所导致的测试效率低的缺陷，本发明实施例提供了一种植入电极通用连接器211，应用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置中，结合图1所示，该通用连接器211包括：外框、多个导电端子257和多根连接导线222。其中，

外框起到固定支撑作用，外框的整体形状大体呈矩形，与柱状植入电极4的形状适配。

多个导线端子，布置在所述外框的内侧，优选为均匀分布在外框的内侧，但在其他实施例中也可以布置为非均匀状态。多个导线端子的排布与柱状植入电极的形状相匹配，优选为矩形，但也不排除其他形状。所述多个导电端子257均匀分布在所述外框的内侧。相邻两所述导电端子257相互隔离，实现隔离的手段为保持最小间隔距离或采用绝缘材料填充导电端子间隙。当柱状植入电极安装至本发明实施例的通用连接器中，部分所述导电端子257会在所述植入电极安装后与所述植入电极的电极触点41接触实现电连接。为了实现对不同规格的柱状植入电极进行测试，需要将每一个导电端子257都与连接导线222电连接。

多根连接导线222，与多个导电端子257相对应，每一根连接导线222的一端都连接到不同的导电端子257上，而连接导线222的另一端则作为自由端。多个所述自由端能够连接到同一个注入电压测试通道中。在本发明实施例中，自由端优选地设置为便于与注入电压测试装置中第二接插端24的第一连接触点插接配合的活动接插件，比如插针、航插等结构。

通过本发明实施例提供的植入电极通用连接器211，实现了与不同规格的柱状植入电极的通用性电连接，不同规格的柱状植入电极4触点间距不同，本发明实施例提供的植入电极通用连接器，包括多个导电端子257，当柱状植入电极安装到通用连接器中，部分导电端子257会与电极触点41接触实现电连接，由于每一个导电端子257都连接有一根连接导线222，而连接导线222的另一端设置为自由端，通过本发明提供的植入电极通用连接器，测试者只要将与同一个电极触点41连接的所有导电端子257的连接导线222都连接至同一个测试通道中即可实现对该电极触点41的测试。由于柱状植入电极4规格的不同，与电极触点41实现电连接的导电端子257也不相同，为了实现不同规格植入电极连接的通用性，测试者可根据导电端子257与电极触点41的接触情况，调节各个连接导线222与测试通道的连接情况即可。

本发明另一实施例提供一种植入电极通用连接结构，包括上述发明实施例的通用连接器和第二接插端24。其中，

第二接插端24，包括多个第一连接触点，每一个所述第一连接触点与对应的注入电压测试通道连通，具体可参考中国专利文献CN 209728070 U说明书。本发明实施例中，第二接插端24的每一个连接触点都可以同时连接多个连接导线222的自由端。优选地，每一个连接触点可以同时与多个连接导线222的活动接插件插接配合且实现电连接。

当柱状植入电极安装到通用连接结构中，部分导电端子257会与电极触点41接触，实现电连接。将与同一个电极触点41连接的所有导电端子257的连接导线222连接至同一个第一连接触点，从而连接到同一个测试通道；所述第二接插端24还包括第二连接触点，所述第二连接触点接地设置；为了起到屏蔽隔离降低测试干扰的目的，将未与所述电极触点41接触的所述导电端子257的连接导线222的所述自由端连接至所述第二连接触点上。

作为未与电极触点41接触的导电端子257接地的一种变形，在本发明的其他实施例中，将未与电极触点41接触的导电端子257全部接地，起到屏蔽隔离降低测试干扰的目的。

由于植入电极规格的不同，与电极触点41实现电连接的导电端子257也不相同。为了实现不同规格植入电极连接的通用性，本结构可根据导电端子257与电极触点41的接触情况，调节各个连接导线222与第二接插端24的连接情况。

本发明另一实施例还提供一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，包括上述实施例的植入电极通用连接结构，其余结构参见中国专利文献CN209728070 U说明书，在此不作赘述。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。