阅读说明：本技术 一种共同缺陷判定方法及判定装置 (Common defect judgment method and judgment device ) 是由 叶巧云 于 2020-05-21 设计创作，主要内容包括：本申请公开了一种共同缺陷判定方法及判定装置,所述共同缺陷判定方法包括步骤：识别缺陷、缺陷差异比对以及结果判定,缺陷差异比对包括位置差异比对、灰度差异比对以及形态差异比对,判定发生共同缺陷需同时满足位置差异要求、灰度差异要求以及形态差异要求,该方法具有共同缺陷识别准确率高、快速的优点,有效避免“假报”现象的出现,从而提升生产线的产能,节省人力。所述的判定装置包括识别单元、存储单元和处理单元,识别单元、存储单元和处理单元之间通讯连接。所述的判定装置采用所述的共同缺陷判定方法,对液晶显示板的生产过程进行质量监控,及时拦截和判断共同缺陷,提高产品良品率和生产效率。(The application discloses a common defect judgment method and a common defect judgment device, wherein the common defect judgment method comprises the following steps: the method has the advantages of high common defect identification accuracy and quickness, and effectively avoids the phenomenon of false alarm, so that the productivity of the production line is improved, and the labor is saved. The judging device comprises an identification unit, a storage unit and a processing unit, wherein the identification unit, the storage unit and the processing unit are in communication connection. The judging device adopts the common defect judging method to monitor the quality of the production process of the liquid crystal display panel, intercept and judge the common defects in time and improve the yield and the production efficiency of products.)

一种共同缺陷判定方法及判定装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及液晶显示板制造过程中的质量监测，具体涉及一种共同缺陷判定方法及判定装置。

背景技术

在液晶显示面板的制造工艺中，为了实时监控生产线的异常情况，通常引入自动光学检测技术对显示面板制造过程中的缺陷进行实时拦截和判断，从而避免异常后流造成资源的浪费，提高产品的良率。

现有的自动光学检测技术监控液晶显示板生产，具有快速、高效、节省人力的优点，但在检测共同缺陷上具有一定的局限性。共同缺陷指的是：在同一液晶显示板产品中，不同基板的相同位置发生的同类型缺陷；或者是，在连续生产的不同液晶显示板产品中，不同产品的相同位置发生的同类型缺陷。现有的自动光学检测技术在检测共同缺陷时，会出现“假报”现象，而一旦共同缺陷发生，生产线需立即停下以检查共同缺陷发生的原因，因此，当共同缺陷是“假的”时，会极大地浪费生产线产能，降低生产效率。

发明内容

本申请实施例提供了一种共同缺陷判定方法及判定装置，可用于液晶显示面板生产线的品质监控，提高共同缺陷的识别准确度，有效避免“假报”现象的出现。

一方面，本申请实施例提供一种共同缺陷的判定方法，包括如下步骤：

提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷；

将位于不同板体上的缺陷，两两配成缺陷对进行位置差异比对，以确保位于不同板体上的任意两个缺陷之间均能进行比对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求；

若无一缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则判定各个板体之间未发生共同缺陷；

若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对；

对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷。

在一些实施例中，所述提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷，其中，所述识别各个板体上的缺陷包括如下步骤：

对各个板体上需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个板体的检测图像；

对所述检测图像进行识别，以检测出各个板体上的缺陷。

在一些实施例中，所述识别各个板体上的缺陷，还包括步骤：在检测出各个板体上的缺陷之后，获取各个缺陷的数据信息。

在一些实施例中，所述获取各个缺陷的数据信息，包括：获取各个缺陷的灰度值。

在一些实施例中，所述获取各个缺陷的数据信息，还包括：获取各个缺陷的位置和形态信息，包括以下步骤：

以各个板体相邻的两条边分别作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，且各个板体的X轴和Y轴相对应；

获取各个缺陷在对应板体上的坐标；

根据各个缺陷的坐标，获取各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。

在一些实施例中，所述判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求，包括如下步骤：

根据缺陷对中两个缺陷的坐标值，计算对应两个缺陷之间的位置差异值；

将缺陷对的位置差异值与预设的距离值Dis进行比对；

根据比对结果，缺陷对的位置差异值处于[0，Dis]的范围内，则判定缺陷对之间的位置差异是否满足预设的位置差异要求。

在一些实施例中，所述若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对，包括如下步骤：

预设灰度差异值为Dg，在X轴方向上的长度差异值为Dx，在Y轴方向上的宽度差异值为Dy，面积大小的差异值Ds；

计算对应缺陷对中的两个缺陷的灰度差异值，在X轴方向上的长度差异值，在Y轴方向上的宽度差异值，以及面积大小的差异值；

将计算获得的灰度差异值、在X轴方向上的长度差异值、在Y轴方向上的宽度差异值、以及面积大小的差异值分别与Dg、Dx、Dy以及Ds比较大小。

在一些实施例中，对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷，具体为：对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，灰度差异值处于[0，Dg]的范围内，且在X轴方向上长度的差异值处于[0，Dx]的范围内，且在Y轴方向上宽度的差异值处于[0，Dy]的范围内，且面积大小的差异值处于[0，Ds]的范围内，判定各个板体之间发生共同缺陷。

另一方面，本申请实施例提供了一种共同缺陷判定装置，该装置能够采用前一方面公开的共同缺陷判定方法，对显示面板生产过程中产生的共同缺陷进行实时拦截和判断。该共同缺陷判定装置，包括：

识别单元，用于识别各个板体上的缺陷，并将各个缺陷的数据传输至存储单元；

存储单元，用于存储整个共同缺陷判定过程中产生的数据信息；

处理单元，用于从所述的存储单元中收集各个缺陷的数据，比对各个缺陷的数据，判定若干个缺陷是否为共同缺陷；

所述的识别单元、存储单元以及处理单元之间为通讯连接。

在一些实施例中，所述的共同缺陷判定装置还包括与所述处理单元通讯连接的报警单元，当所述处理单元判定若干个缺陷为共同缺陷时，触发所述的报警单元发出报警信号。

本申请实施例提供的共同缺陷判定方法，包括步骤：识别缺陷、缺陷差异比对以及结果判定，缺陷差异比对包括位置差异比对、灰度差异比对以及形态差异比对，判定发生共同缺陷需同时满足位置差异要求、灰度差异要求以及形态差异要求，该方法具有共同缺陷识别准确率高、快速的优点，有效避免“假报”现象的出现，从而提升生产线的产能，节省人力。本申请实施例提供的共同缺陷判定装置，采用前述共同缺陷判定方法对液晶显示板的生产过程进行质量监控，及时拦截和判断共同缺陷，提高产品良品率和生产效率。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的

具体实施方式

详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例中共同缺陷判定方法的流程示意图。

图2为本申请实施例中例1的一种液晶显示面板待检测表面的示意图。

图3为本申请实施例中例2的一种液晶显示面板待检测表面的示意图。

图4为本申请实施例中例3的一种液晶显示面板待检测表面的示意图。

图5为本申请实施例中例4的不同种液晶显示面板产品待检测表面的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

具体的，本申请实施例提供了一种共同缺陷的判定方法，可应用于液晶显示面板生产线的质量监控中，以及时排除液晶显示面板制造过程中的异常情况，尤其适用于对共同缺陷的判断及示警，相较于现有判定方法，极大地提升了共同缺陷的识别准确率，有效避免“假报”现象的出现，从而减少生产线产能的浪费。

需要说明的是，共同缺陷指的是：在同一液晶显示板产品中，不同基板的相同位置发生的同类型缺陷；或者是，在连续生产的不同液晶显示面板产品中，不同产品的相同位置发生的同类型缺陷。

参阅图1，该共同缺陷的判定方法包括如下步骤:

S1、提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷；

S2、将位于不同板体上的缺陷，两两配成缺陷对进行位置差异比对，以确保位于不同板体上的任意两个缺陷之间均能进行比对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求；

S3、若无一缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则判定各个板体之间未发生共同缺陷；

S4、若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对；

S5、对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷。

在一些实施例中，对于步骤S1，具体包括如下步骤：

S1.1、对各个板体上需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个板体的检测图像；

S1.2、对所述检测图像进行识别，以检测出各个板体上的缺陷；

S1.3、在检测出各个板体上的缺陷之后，获取各个缺陷的数据信息。

其中，对于步骤S1.1，可采用自动光学检测设备对各个板上需要检测的表面进行扫描拍照，得到各个板体待检测表面的检测图像。

步骤S1.2，利用图形识别技术，检测出各个板体的缺陷，所采用的图形识别技术可为现有技术。由于不良像素点的灰阶值与设定灰阶值范围有明显差别，一定范围内的不良像素点连接形成一个缺陷部位，因此，采用五点比对法对板体上的像素点进行辨别，确定各个板体上的不良像素点，再利用图形识别技术识别出由一定范围内不良像素点连接形成的缺陷部位。

五点比对法的操作流程为：取板上的五个像素点，计算这五个像素点的灰阶平均值a；获取测量像素点的灰阶值b，通过b-a得到差值c；求取灰阶中心值与c之和，得到所述测量像素点的灰阶逻辑值d；将d与设定灰阶值范围比对，根据结果判断所述测量像素点是否为不良像素点。其中，五个像素点可以为随机选取，或者具有特定的位置关系，例如：随机选取第一个像素点后，在第一个像素点的上下左右方向各选取一个像素点，以使选取的像素点灰阶值更具有代表性，使得检测结果更加准确。

在一些实施例中，对于步骤S1.3，所述各个缺陷的数据信息包括：缺陷的位置信息、灰度值和形态信息。获取各个缺陷的位置和形态信息，包括以下步骤：

S1.31、以各个板体相邻的两条边分别作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，且各个板体的X轴和Y轴相对应，以保证各个板上缺陷位置比对的正确性；

S1.32、获取各个缺陷在对应板体上的坐标；

S1.33、根据各个缺陷的坐标，获取各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。

在一些实施例中，对于步骤S2，所述判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求，具体包括如下步骤：

S2.1、根据缺陷对中两个缺陷的坐标值，按照算式{(Xm-Xn)×2+(Ym-Yn)×2}计算位置差异值，其中，Xm和Ym分别为缺陷对中一个缺陷的横坐标值和纵坐标值，Xn和Yn分别为缺陷对中另一个缺陷的横坐标值和纵坐标值；

S2.2、将缺陷对的位置差异值与预设的距离值Dis进行比对；

S2.3、根据比对结果，缺陷对的位置差异值处于[0，Dis]的范围内，则判定缺陷对之间的位置差异是否满足预设的位置差异要求

其中，对于步骤S2需要说明的是，同一板体上的缺陷之间不需要配对进行位置差异比对，而分别位于不同板体上的任意两个缺陷之间都需要进行位置差异比对，以确保比对的完全性。各个缺陷对之间的位置差异可同时进行，也可依次进行。

在一些实施例中，对于步骤S4中，所述形态的比对包括在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小的比对。所述若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对，包括如下步骤：

S4.1、预设灰度差异值为Dg，X轴方向上的长度差异值为Dx，Y轴方向上的宽度差异值为Dy，面积大小的差异值Ds；

S4.2、计算对应缺陷对中的两个缺陷的灰度差异值，在X轴方向上的长度差异值，在Y轴方向上的宽度差异值，以及面积大小的差异值；

S4.3、将计算获得的灰度差异值、在X轴方向上的长度差异值、在Y轴方向上的宽度差异值、以及面积大小的差异值分别与Dg、Dx、Dy以及Ds比较大小。

位置差异满足预设的位置差异要求的任一缺陷对，都按照步骤S3.1～S3.3进行灰度差异和形态差异的比对。

基于上述步骤S4，则步骤S5具体为：对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，灰度差异值处于[0，Dg]的范围内，且在X轴方向上长度的差异值处于[0，Dx]的范围内，且在Y轴方向上宽度的差异值处于[0，Dy]的范围内，且面积大小的差异值处于[0，Ds]的范围内，判定各个板体之间发生共同缺陷。即：位置差异、灰度差异和形态差异中任一项都需满足预设的要求，否则不能判定发生共同缺陷。

例1，参阅图2，图1为一种液晶显示面板待检测表面的示意图，该液晶显示面板上设有六个基板。六个基板排列为两行，每行设有三个基板；第一行由左至右，依次为第一基板、第二基板和第三基板；第一行由左至右，依次为第四基板、第五基板和第六基板。在该液晶显示面板生产过程，需要实时监控这六个基板是否发生共同缺陷。下面具体阐述本例的共同缺陷判定方法。

S1、识别六个待检测基板上的缺陷，包括如下步骤：

S1.1、对六个基板需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个基板的检测图像；

S1.2、对各个基板的检测图像进行识别，以检测出各个基板上的缺陷，第一基板上具有A缺陷，第二基板上具有B缺陷，第三基板、第四基板和第五基板不具有缺陷，第六基板具有C缺陷；

S1.3、在检测出各个板体上的缺陷之后，获取A缺陷、B缺陷和C缺陷的数据信息，所述的数据信息包括灰度信息、位置信息和形态信息，其中，利用图形识别技术获取各个缺陷的灰度信息，获取各个缺陷的位置信息和形态信息具体为：

S1.31、对于第一基板、第二基板以及第六基板，分别以各自相邻的两条边作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，并且第一基板、第二基板以及第六基板的X轴和Y轴相对应，均是以各自相邻两条边延长线的交点作为原点(位于对应基板的左下角)；

S1.32、获取A缺陷的坐标为(X_A，Y_A)、B缺陷的坐标为(X_B，Y_B)和C缺陷的坐标(X_C，Y_C)；

S1.33、然后根据各个缺陷的坐标，计算各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。

S2、将A缺陷、B缺陷和C缺陷两两配成缺陷对进行位置差异比对，A缺陷和B缺陷为第一缺陷对，A缺陷和C缺陷为第二缺陷对，B缺陷和C缺陷为第三缺陷对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求。

对于步骤S2，若A缺陷、B缺陷和C缺陷的坐标至少满足下列算式(1)、(2)和(3)中的任何一个，则说明六个基板之间可能发生共同缺陷，需进行下一步灰度和形态差异的比对；若A缺陷、B缺陷和C缺陷的坐标均不能满足算式(1)、(2)和(3)中，则说明六个基板之间未发生共同缺陷，从而结束判定。其中，Dis为预设的距离值：

{(X_A-X_B)×2+(Y_A-Y_B)×2}×0.5＜Dis (1)

{(X_A-X_C)×2+(Y_A-Yc)×2}×0.5＜Dis (2)

{(X_C-X_B)×2+(Y_C-Y_B)×2}×0.5＜Dis (3)

本例1中，A缺陷、B缺陷和C缺陷的坐标均不能满足算式(1)、(2)和(3)，不能发生共同缺陷，因此，进入步骤S3，无一缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则判定六个基板之间未发生共同缺陷。

例2，参阅图3，本例的液晶显示面板待检测表面与例1的区别之处在于：B缺陷和C缺陷在对应基板上的坐标不同。对于步骤S1和S2的具体流程如例1所述，在此不再赘述。

对于步骤S2，本例2中，A缺陷和B缺陷的坐标满足算式(1)，算式(2)、(3)、(4)和(5)不成立，说明六个基板之间具有发生共同缺陷的可能性。因此，进入步骤S4，对第一缺陷对中的A缺陷和B缺陷进行灰度和形态的比对，形态的比对包括在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小的比对。具体包括如下步骤：

S4.1、预设灰度差异值为Dg，在X轴方向上的长度差异值为Dx，在Y轴方向上的宽度差异值为Dy，面积大小的差异值Ds；

S4.2、计算A缺陷和B缺陷之间灰度的差异值，在X轴方向上长度的差异值，在Y轴方向上宽度的差异值，以及面积大小的差异值；

S4.3、将A缺陷和B缺陷之间灰度的差异值、在X轴方向上长度的差异值、在Y轴方向上宽度的差异值以及面积大小的差异值，分别与Dg、Dx、Dy以及Ds比较大小。

接着进行步骤S5，根据比对结果，第一缺陷对的A缺陷和B缺陷之间符合位置差异要求，且符合灰度差异要求，且符合形态差异要求，即：A缺陷和B缺陷之间的位置差异值处于[0，Dis]的范围内，且两者之间的灰度差异值处于[0，Dg]的范围内，且两者之间在X轴方向上长度的差异值处于[0，Dx]的范围内，且两者之间在Y轴方向上宽度的差异值处于[0，Dy]的范围内，且两者之间面积大小的差异值处于[0，Ds]的范围内，则判定六个基板发生共同缺陷，在该液晶显示面板生产中的检测工序上，会发生共同缺陷报警，便于操作人员及时发现缺陷问题，避免缺陷后流造成资源的浪费，有助于提高产品的良率。

例3，参阅图4，本例的液晶显示面板待检测表面与例2的区别之处在于：B缺陷的缺陷形态不同。对于步骤S1、S2和步骤S4的具体流程如例1和例2所述，在此不再赘述。

对于步骤S5，根据比对结果，第一缺陷对的A缺陷和B缺陷之间符合位置差异要求，但A缺陷和B缺陷之间不符合形态差异要求，A缺陷的形态为多刺形，B缺陷的形态为四角星形，A缺陷和B缺陷在X轴方向上的长度差异值、在Y轴方向上的宽度差异值以及面积大小差异值并不能均符合预设的差异要求，则判定六个基板未发生共同缺陷，在该液晶显示面板生产中的检测工序上，不会发生共同缺陷报警，避免“假报“现象的发生，从而提升生产线的产能。

例4，参阅图5，本例是对不同产品待检测表面是否具有共同缺陷进行判定，一共有四个产品，一共两行，每行设有两个产品，第一行从左至右分别为第一产品和第二产品，第二行从左至右分别为第三产品和第四产品。下面具体阐述本例的共同缺陷判定方法。

S1、识别四个待检测产品上的缺陷，包括如下步骤：

S1.1、对四个产品需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个产品的检测图像；

S1.2、对各个产品的检测图像进行识别，以检测出四个产品上的缺陷，第一产品具有A1缺陷和B1缺陷，第二个产品无缺陷，第三个产品具有A2缺陷，第四个产品具有A3缺陷；

S1.3、获取A1缺陷、A2缺陷、A3缺陷和B1缺陷的的数据信息，所述的数据信息包括灰度信息、位置信息和形态信息，其中，利用图形识别技术获取各个缺陷的灰度信息，获取各个缺陷的位置信息和形态信息具体为：

S1.31、对于第一产品、第三产品以及第四产品，分别以各自相邻的两条边作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，并且第一产品、第三产品以及第四产品直角坐标系中的X轴和Y轴均相对应，均是以检测表面左下角的顶点作为原点；

S1.32、获取A1缺陷的坐标为(X_A1，Y_A1)、A2缺陷的坐标为(X_A2，Y_A2)，A3缺陷的坐标为(X_A3，Y_A3)以及B1缺陷的坐标为(X_B1，Y_B1)；

S1.33、然后根据各个缺陷的坐标，计算各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。

S2、将A1缺陷、A2缺陷、A3缺陷和B1缺陷两两配成缺陷对进行位置差异比对，A1缺陷和A2缺限为第一缺陷对，A1缺陷和A3缺限为第二缺陷对，B1缺陷和A2缺陷为第三缺陷对，B1缺陷和A3缺陷为第四缺陷对，A2缺陷和A3缺陷为第五缺陷对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求。

对于步骤S2，判断A1缺陷、A2缺陷、A3缺陷和B1缺陷的坐标是否满足下列算式(1)、(2)、(3)、(4)和(5)，其中，Dis为预设的距离值：

{(X_A1-X_A2)×2+(Y_A1-Y_A2)×2}×0.5＜Dis (1)

{(X_A1-X_A3)×2+(Y_A1-Y_A3)×2}×0.5＜Dis (2)

{(X_B1-X_A2)×2+(Y_B1-Y_A2)×2}×0.5＜Dis (3)

{(X_B1-X_A2)×2+(Y_B1-Y_A2)×2}×0.5＜Dis (4)

{(X_A2-X_A3)×2+(Y_A2-Y_A3)×2}×0.5＜Dis (5)

本例4中，第一缺陷对的A1缺陷和A2缺陷的坐标满足算式(1)，第二缺陷对的A1缺陷和A3缺陷的坐标满足算式(2)，第五缺陷对的A2和A3的缺陷满足算式(5)，算式(3)和算式(4)不成立，说明四个产品之间具有发生共同缺陷的可能性。

因此，判定继续进行，进入步骤S4，分别对第一缺陷对的A1缺陷和A2缺陷，进行形态和灰度比对；对第二缺陷对的A1缺陷和A3缺陷，进行形态和灰度比对；对第五缺陷对的A2缺陷和A3缺陷，进行形态和灰度比对。各个缺陷对的形态和灰度比对具体包括如下步骤：

S3.1、预设灰度差异值为Dg，在X轴方向上的长度差异值为Dx，在Y轴方向上的宽度差异值为Dy，面积大小的差异值Ds；

S3.2、计算A1缺陷与A2缺陷之间，A1缺陷与A3缺陷之间，以及A2缺陷与A3缺陷之间的灰度差异值、在X轴方向上长度的差异值、在Y轴方向上宽度的差异值以及面积大小的差异值；

S3.3、将步骤S3.2计算得到的三个灰度差异值分别与Dg比较大小，三个在X轴方向上的长度差异值分别与Dx比较大小，三个在Y轴方向上的宽度差异值分别与Dy比较大小，三个面积大小的差异值分别与Ds比较大小。

对于步骤S5，根据比对结果，A1缺陷、A2缺陷和A3缺陷之间符合位置差异要求，但A1缺陷、A2缺陷和A3缺陷不符合形态差异要求，A1缺陷的形态为多刺形，A2缺陷的形态为四角星形，A3缺陷的形态为矩形，则判定四个产品之间未发生共同缺陷，在该液晶显示面板生产中的检测工序上，不会发生共同缺陷报警，避免“假报“现象的发生，从而提升生产线的产能。

本申请实施例还提供了一种共同缺陷判定装置，该共同缺陷判定装置能够采用前述的共同缺陷判定方法，对显示面板生产过程中产生的共同缺陷进行实时拦截和判断。

该共同缺陷判定装置包括识别单元、存储单元、处理单元以及报警单元，所述的识别单元、存储单元以及处理单元之间为通讯连接，所述的报警单元与所述的处理单元之间通讯连接。

所述的识别单元用于识别各个板体上的缺陷，并将各个缺陷的数据传输至存储单元，所述的识别单元包括CCD摄像头，利用CCD摄像头扫描拍摄各个板待检测表面的图像，并将图像信息传输至存储单元以保存下来。

所述的存储单元，用于存储整个共同缺陷判定过程中产生的数据信息，包括各个板待检测表面的图像信息、各个缺陷的数据信息等。所述的存储单元可采用现有技术中常用的存储装置。

所述的处理单元，用于从所述的存储单元中收集各个缺陷的数据，比对各个缺陷的数据，判定若干个缺陷是否为共同缺陷。所述的处理单元包括数据计算中心，用于计算缺陷之间的位置差异值、灰度差异值、在X轴方向上长度的差异值以及在Y轴方向上宽度的差异值等数据信息。

所述的报警单元，基于处理单元的比对结果来判断是否发出报警信号。当判定发生共同缺陷时，所述的报警单元发出报警信号。所述的报警单元既可内置于所述的处理单元中，也可以外设于处理单元。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种共同缺陷判定方法及判定装置进行了详细介绍，需要说明的是，所述在X轴方向上的长度指的是：缺陷在X轴方向上的最长距离；在Y轴方向的宽度指的是：缺陷在Y轴方向上的最长距离。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。