阅读说明：本技术 发光二极管检测装置 (Light-emitting diode detection device ) 是由 徐诺维 于 2018-08-15 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种发光二极管检测装置,包括立柱、支撑台、夹装台、升降板、检测头、检测仪及剔除机构,所述夹装台设于所述支撑台的上端面,所述支撑台的下端面安装有旋转电机,所述夹装台的边缘处沿周向设有多个安装缺口,所述立柱的上端设有顶板,所述顶板上安装有升降电机,所述升降电机的输出轴连接所述升降板,所述检测头安装于所述升降板上,所述检测头连接所述升降板,所述支撑台上设有剔除机构。本发明的发光二极管检测装置,通过设置支撑台、夹装台、检测头与剔除机构,实现了发光二极管的自动检测与剔除,提高了检测精度与检测效率,降低了人力物力成本。(The invention discloses a light-emitting diode detection device which comprises an upright post, a supporting table, a clamping table, a lifting plate, a detection head, a detector and a rejection mechanism, wherein the clamping table is arranged on the upper end surface of the supporting table, a rotating motor is arranged on the lower end surface of the supporting table, a plurality of mounting notches are formed in the edge of the clamping table along the circumferential direction, a top plate is arranged at the upper end of the upright post, the lifting motor is arranged on the top plate, an output shaft of the lifting motor is connected with the lifting plate, the detection head is arranged on the lifting plate and is connected with the lifting plate, and the rejection mechanism is arranged on the supporting table. According to the light-emitting diode detection device, the supporting table, the clamping table, the detection head and the rejection mechanism are arranged, so that automatic detection and rejection of the light-emitting diodes are realized, the detection precision and the detection efficiency are improved, and the cost of manpower and material resources is reduced.)

发光二极管检测装置

技术领域

本发明涉及二极管检测设备技术领域，具体涉及一种发光二极管自动检测装置。

背景技术

发光二极管是半导体二极管中的一种，能够将电能转化为光能，具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点，而广泛应用于需要信号指示及照明的元件中。发光二极管的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附着在一个支架上，为负极，另一端连接电源的正极，半导体晶片由两部分组成，一部分是P型半导体，里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，里边主要是电子。这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个“P-N结”。当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子就会被推向P区，在P区里电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是发光二极管的发光原理。

发光二极管在使用之前需要进行检测，现有的检测方法是人工逐个检测二极管的通电性能，对不合格件进行剔除，由于二极管的数量很多，二极管的检测及不合格件的剔除过程需要耗费大量的人力物力。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种发光二极管检测装置，它可以解决现有技术中发光二极管检测及剔除过程的效率低、需要耗费大量人力物力的问题。

为了解决上述问题，本发明采用以下技术方案：

本发明提供一种发光二极管检测装置，包括立柱、支撑台、夹装台、升降板、检测头、检测仪及收集箱，所述支撑台及夹装台的横截面均为圆形，所述支撑台安装于所述立柱的下方，所述夹装台设于所述支撑台的上端面，所述支撑台的下端面安装有旋转电机，所述旋转电机的输出轴贯穿所述轴台且连接所述夹装台下端面的圆心处，所述夹装台的边缘处沿周向设有多个安装缺口，所述安装缺口贯穿所述夹装台的上端面与下端面，所述立柱的上端设有顶板，所述顶板上安装有升降电机，所述升降电机的输出轴连接所述升降板，所述检测头安装于所述升降板上，所述检测头连接所述升降板，所述检测头位于安装缺口中任意一个的正上方，所述支撑台上设有剔除机构，所述收集箱设于所述剔除机构的正下方，所述检测仪连接所述剔除机构。

作为优选的技术方案，所述顶板上设有定位套，所述升降板上设有定位轴，所述定位轴安装于所述定位套内。

进一步的技术效果，定位套与定位轴保证了升降板在上下运动时保持直线运动，确保了检测头能够准确地与发光二极管对接。

作为优选的技术方案，所述检测头包括压料头、正电极及负电极，所述正电极与负电极对称设置于所述压料头的两侧，所述压料头远离所述升降板的一端设有伸缩弹簧。

进一步的技术效果，伸缩弹簧首先与发光二极管接触，在压缩的过程中，正电极与负电极逐渐与发光二极管触碰，提供了正电极、负电极与发光二极管之间的缓冲力，避免了接触过程中受力过大而造成发光二极管损坏。

作为优选的技术方案，所述剔除机构包括剔除口、剔除板及驱动电机，所述剔除口设置于任意一个所述安装缺口正下方的支撑台上，所述剔除板设于所述剔除缺口内，所述剔除板与所述安装板铰接，所述驱动电机安装于所述支撑台上，所述驱动电机的输出轴通过传动板连接所述剔除板，所述收集箱位于所述剔除缺口的正下方。

进一步的技术效果，当检测仪检测出发光二极管为损坏件，驱动电机的输出轴通过传动板带动剔除板转动，损坏件随着剔除板的转动落入收集箱内。

作为优选的技术方案，所述剔除口位于所述检测头的正下方。

作为优选的技术方案，所述安装缺口长度方向的中轴线的延长线穿过所述夹装台的圆心。

作为优选的技术方案，所述旋转电机为步进电机。

本发明的发光二极管检测装置，通过设置支撑台、夹装台、检测头与剔除机构，夹装台对发光二极管进行预夹装，并带动发光二极管移动，当发光二极管移动至检测头正下方时，检测头下移，对发光二极管进行固定及检测，剔除机构对不合格工件进行剔除，实现了发光二极管的自动检测与剔除，提高了检测精度与检测效率，降低了人力物力成本。

附图说明

下面结合附图与具体实施例对本发明作进一步详细说明。

图1为本发明发光二极管检测装置的结构示意图。

图2为本发明发光二极管检测装置中夹装台的结构示意图。

其中，附图标记具体说明如下：立柱1、支撑台2、夹装台3、顶板4、检测仪5、检测头6、压料头7、收集箱8、升降板9、升降电机10、定位套11、定位轴12、安装缺口13、旋转电机14、剔除板15、驱动电机16、传动板17、正电极18、负电极19。

具体实施方式

如图1所示，一种发光二极管检测装置，包括立柱1、支撑台2、夹装台3、升降板9、检测头6、检测仪5及收集箱8，支撑台2及夹装台3的横截面均为圆形，支撑台2安装于立柱1的下方，夹装台3设于支撑台2的上端面，支撑台2的下端面安装有旋转电机14，旋转电机14为步进电机。旋转电机14的输出轴贯穿轴台且连接夹装台3下端面的圆心处。如图2所示，夹装台3的边缘处沿周向设有12个安装缺口13，安装缺口13贯穿夹装台3的上端面与下端面，安装缺口13长度方向的中轴线的延长线穿过夹装台3的圆心。

如图1所示，立柱1的上端设有顶板4，顶板4上安装有升降电机10，升降电机10的输出轴连接升降板9，顶板4上设有定位套11，升降板9上设有定位轴12，定位轴12安装于定位套11内。定位套11与定位轴12保证了升降板9在上下运动时保持直线运动，确保了检测头6能够准确地与发光二极管对接。检测头6安装于升降板9上，检测头6连接升降板9，检测头6位于安装缺口13中任意一个的正上方，检测头6包括压料头7、正电极18及负电极19，正电极18与负电极19对称设置于压料头7的两侧，压料头7远离升降板9的一端设有伸缩弹簧。伸缩弹簧首先与发光二极管接触，在压缩的过程中，正电极18与负电极19逐渐与发光二极管触碰，提供了正电极18、负电极19与发光二极管之间的缓冲力，避免了接触过程中受力过大而造成发光二极管损坏。

支撑台2上设有剔除机构，收集箱8设于剔除机构的正下方，检测仪5连接剔除机构。剔除机构包括剔除口、剔除板15及驱动电机16，剔除口位于检测头6的正下方。剔除板15设于剔除缺口内，剔除板15与安装板铰接，驱动电机16安装于支撑台2上，驱动电机16的输出轴通过传动板17连接剔除板15，收集箱8位于剔除缺口的正下方。当检测仪5检测出发光二极管为损坏件，驱动电机16的输出轴通过传动板17带动剔除板15转动，损坏件随着剔除板15的转动落入收集箱8内。

工作过程：将待检测工件依次放入安装缺口13内进行预固定，升降电机10带动升降板9下移，压料头7将发光二极管压紧，正电极18与负电极19与发光二极管接触，检测仪5对发光二极管进行检测，当发光二极管为合格件时，升降电机10上移，旋转电机14带动夹装台3转动一个工位，对下一个发光二极管进行检测。当发光二极管为不合格件时，驱动电机16的输出轴通过传动板17带动剔除板15转动，损坏件随着剔除板15的转动落入收集箱8内，剔除板15复位后，升降电机10上移，旋转电机14带动夹装台3转动一个工位，对下一个发光二极管进行检测。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。