一种超标排污自动预警和留样方法及装置

文档序号:1489559 发布日期:2020-02-28 浏览:9次 >En<

阅读说明:本技术 一种超标排污自动预警和留样方法及装置 (Automatic warning and sample reserving method and device for over-standard pollution discharge ) 是由 陈振国 穆道军 钱玮 时元贵 金润 于 2019-11-18 设计创作,主要内容包括:本发明公开了一种超标排污的自动预警和留样方法和装置,通过对排污门口和泵站的水质参数进行大数据积累,得出企业排污特性作为预警基础库,根据实时排污的水质参数与企业排污特性对比从而实现对超标排污企业的精确定位预警及追溯。(The invention discloses an automatic early warning and sample reserving method and device for over-standard sewage disposal.)

一种超标排污自动预警和留样方法及装置

技术领域

本发明涉及污水处理技术领域,具体涉及一种超标排污的自动预警和留样方法及装置。

背景技术

水质污染直接威胁到人类健康,将会破坏生态环境,制约经济、社会的可持续发展。现今,水质污染问题产生的原因是很广泛的,其中包括了工业废水的排放和生活污水的排放等。尽管政府规范了企业的污水排放行为,但是有些企业为了节省处理废水的经费对工业废水进行偷排。政府对这些不法行为是防不胜防的,因为这些企业常常使用暗铺的管道进行排放,而这些暗道是难以被人们发现,这种企业一直到被发现进行偷排时,早已偷排了十多年,对生态环境、人类健康已经造成了不可挽回的损失;而且,有不少这些企业往往会在多个地方铺设暗道以规避执法人员的检测。正因如此,所以需要采取必要手段去控制这种污染。

在处理水污染事故时,关键是要第一时间识别污染,迅速了解违规排污口的位置及波及范围,做好自动追踪定位。整体上,我国当前的突发污染事件中,事故源的查找定位效率均较低。在近年全国发生的突发性污染事件中,事故污染源的查找定位时间少则4~7日,多则3~4星期,更长达到2个月(如2008年云南阳宗海砷污染事件)。事故源排查周期长延长了污染持续时间,加重了污染程度,更大大增加了后期恢复治理的难度与成本。

为了实现污染企业的准确、快速污染位置定位,现有技术中采用了近年来新兴的一项水体有机污染物监测技术:荧光水质指纹技术。三维荧光光谱(EEM)是荧光分析的主要方法之一,是以发射光波长和激发光波长作为横纵坐标,并将荧光强度以等高线的形式投影在该平面上获得的谱图。具有荧光的物质有很多,例如常存在于污水中的油脂,腐殖酸,蛋白质,表面活性剂,维生素,酚类等芳香族化合物,农药残留物等,而污水中多含有多种荧光物质,所以他的荧光光谱会随污染物种类和含量不同而变化,且具有与水样一一对应的特点,因此称其为水质“荧光指纹”。荧光指纹能够准确得知污染物的具体组成,从而定位到排放该具体污染物的企业,但荧光指纹监测成本高,难以大量应用于水污染实时监测和违规排污口。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种企业超标预警自动留样方法,通过对排污门口的水质参数进行大数据积累,得出企业排污特性,根据实时排污的水质参数与企业排污特性对比从而实现对超标排污企业的精确定位预警及追溯。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种超标排污的自动预警和留样方法,包括如下步骤:

对排污门口的水质参数进行大数据监测,并得出各排污门口的排污特性;

将排污门口的排污特性构建为排污门口预警基础库;

将排污门口实时监测的水质参数与排污门口预警基础库中的水质参数对比,根据比对结果作出对超排、偷排范围的预警及留样判断。

进一步的,

同时对泵站的水质参数进行大数据监测,并得出泵站的排污特性;

将泵站的排污特性构建为泵站预警基础库;

将泵站实时监测的水质参数与泵站预警基础库及排污门口预警基础库中的水质参数对比,根据对比结果作出对超排、偷排范围的预警及留样判断。

进一步的,当实时排污门口和/或泵站实时监测的个别水质参数瞬时异于预警基础库中的水质参数,对预警基础库中的水质参数进行修正。

进一步的,对排污门口和泵站进行大数据监测的水质参数包括TDS、PH、盐度、电导率、色度和SS悬浮物。

一种超标排污的自动预警和留样装置,包括控制器、水质监测仪和TDS监测仪,所述水质监测仪和TDS监测仪均设置在各排污门口和泵站,各所述水质监测仪和TDS监测仪均与所述控制器相连。

进一步的,所述水质监测仪监测的水质参数包括PH、盐度、电导率、色度和SS悬浮物。

进一步的,所述控制器为PLC控制器。

本发明的有益效果,通过对排污门口的水质参数进行大数据积累,得出企业排污特性,根据实时排污的水质参数与企业排污特性对比从而实现对超标排污企业的精确定位预警及追溯。实现实时定位的同时保证设备成本低,便于大量应用于水污染实时监测和违规排污口。

附图说明

图1是本发明的整体结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施,但所举实施例不作为对本发明的限定。

本发明的一种超标排污的自动预警和留样方法的实施例,包括如下步骤:

对排污门口的水质参数进行大数据监测,并得出各排污门口的排污特性;通过大数据监测,能够得出企业常规状态下每个时间每种水质参数的范围,由于每个企业排污时间不同,排出的废水中污染物的含量和种类都不相同,因此每个企业的每个时间每种水质参数的范围也不相同,多个水质参数的组合形成各企业独有的排污特性。

将排污门口的排污特性构建为排污门口预警基础库;通过大数据监测得到的排污特性为企业的常规排污情况,将常规排污情况构建为企业的排污预警基础,符合实际情况。

将排污门口实时监测的水质参数与排污门口预警基础库中的水质参数对比,根据比对结果作出对超排、偷排范围的预警及留样判断。当每个排污口均能够进行排污监测时,若实时监测到的企业水质参数超过该企业排污门口预警数据库中的范围时,说明该排污门口超标排污,从而实时确定与该排污门口对应的企业超标排污,实现实时反馈。将该企业的排污和留样进行分别检测,确定该企业排污中的污染物和留样中的污染物是否相同,能够进一步确定超排企业具体超排的污染物。若排污门口实时监测到的个别水质参数仅瞬时异于预警基础库中的水质参数,而其他水质参数无异常,则不进行预警和留样,而是对预警基础库中的水质参数进行修正,因为仅瞬时水质参数异常,不能说明企业超标排污或偷排污,可能是监测探头瞬时接触到某一异物,造成监测数据不准确,此时进行预警容易形成误报警,因此本实施例中设置参数修订功能。当存在企业偷排时,导致下游企业排污门口监测到的水质参数超标,此时与该排污门口预警基础库中水质参数对比,超标的水质参数的种类和各种类之间的数量关系与该排污门口预警基础库中水质参数不匹配,则可以向上游追溯,将超标的水质参数的种类和各种类之间的比例关系与其他排污门口预警基础库的水质参数对比,最终确定实际的偷排企业,实现对排污企业的实时追踪。

进一步的,除了对排污门口进行水质参数的大数据监测,同时对泵站的水质参数进行大数据监测,并得出泵站的排污特性;泵站汇总了各排污门口排出的废水,通过对泵站的水质参数进行大数据监测,能够得出总排污在每个时间每种水质参数的范围,形成泵站的排污特性。

将泵站的排污特性构建为泵站预警基础库;即形成总排污的预警基础。

将泵站实时监测的水质参数与泵站预警基础库及排污门口预警基础库中的水质参数对比,根据对比结果作出对超排、偷排范围的预警和留样判断。由于泵站监测的是总排污的情况,当对泵站实时监测的水质参数超过泵站预警基础库中的范围时,可以判断存在上游企业超标排污。若上游企业的排污门口同样监测到排污超标,则可以相互印证,实现对超标排污的双重监测。而若上游各排污门口监测的水质参数均正常,而泵站监测的水质参数超标,则可判断上游企业中存在未设置水质监测的偷排现象。将在泵站监测到的超标的水质参数的种类及各水质参数之间的比例关系等与排污门口预警基础库中的水质参数对比,得出具体的超排、偷排企业,若仍不能与排污门口预警基础库中的水质参数匹配,则偷排企业为未安装水质监测的企业,通过对上述企业的排污和留样的检测,具体确定超排、偷排污企业,及具体超排、偷排的污染物。大大减小对超标排污企业定位的困难,实现快速、准确定位。同样的,当泵站实时监测的个别水质参数瞬时异于预警基础库中的水质参数,对预警基础库中的水质参数进行修正。因为仅个别参数瞬时超标,无其他参数超标,不能判断企业超标排污,通过对参数的修正能够防止误报警。

本实施例中,对排污门口和泵站进行大数据监测的水质参数包括TDS、PH、盐度、电导率、色度和SS悬浮物。上述水质参数即可确定企业的排污特性,根据各水质参数间关系,能够唯一确定排污企业。

为实现上述监测预警方法,本发明公开一种超标排污的自动预警和留样装置,包括控制器10、水质监测仪20和TDS监测仪30,所述水质监测仪20和TDS监测仪30均设置在各排污门口和泵站,各所述水质监测仪20和TDS监测仪30均与所述控制器10相连。通过将水质监测仪20和TDS监测仪30设置在各排污门口和泵站,能够实现对排污门口的实时监测预警及对上游企业的排污追溯,快速定位超排、偷排污企业。其中,所述水质监测仪20监测的水质参数包括PH、盐度、电导率、色度和SS悬浮物。所述控制器10为PLC控制器10。

以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例,本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换,均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

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