阅读说明：本技术 电导探针流体性质测量系统和相关方法 (Conducting probe fluid property measurement system and correlation technique ) 是由 B·特弗尼 R·D·威廉姆斯 C-G·谢 G·乔利维 于 2018-03-02 设计创作，主要内容包括：本文公开了电导探针流体性质测量系统和相关方法。示例性设备包括流量计和用于相对于所述流量计为流体提供流动路径的流体导管。所述示例性设备包括电导探针,所述电导探针耦合到所述流体导管以在所述流体流过所述流体导管期间产生所述流体的盐水电导率数据。所述示例性设备包括处理器,所述处理器用于基于所述盐水电导率数据来修改由所述流量计产生的流体流量数据。(Disclosed herein is conducting probe fluid property measurement system and correlation techniques.Example devices include flowmeter and provide the fluid conduit systems of flow path for being calculated as fluid relative to the flow.The example devices include conducting probe, and the conducting probe is coupled to the fluid conduit systems to generate the salt water conductivity data of the fluid during the fluid flows through the fluid conduit systems.The example devices include processor, and the processor is for modifying the fluid flow data generated by the flowmeter based on the salt water conductivity data.)

电导探针流体性质测量系统和相关方法

相关申请

此专利要求2017年3月3日提交的美国临时专利申请No.62/466,607的权益。美国临时专利申请No.62/466,607在此以全文引用的方式并入。在此要求美国临时专利申请No.62/466,607的优先权。

技术领域

本公开总体涉及使用电导探针确定流体性质。具体来说，本公开涉及用于实时地或基本上实时地确定流体性质来监测和控制(例如)各种工业操作、油气勘探操作以及开采操作的系统和方法。

背景技术

有时使用电导探针或系统来测量在油/水/气多相流中含有的水的电导率。随后可以使用水电导率测量结果来推断水盐度的变化或者追踪提供到多相流量计(MPFM)(例如，伽马射线分数仪)的水质量衰减系数的校准的变化。

另外，在油气勘探和生产的过程中，页岩环境中的压裂可以利用MPFM在各种类型的压裂操作期间提供对压裂过程的监测，所述压裂操作例如为压裂塞钻开(FPDO)操作和返排操作。图1示出已知的系统100，所述系统包括可以用于监测来自被压裂的储层的流体流的MPFM 102。图1的MPFM 102在FPDO操作和返排操作期间在流体在流体导管107的入口104和出口106之间流动时测量井流体(例如，气、油和水)的单独相流量率。图1的MPFM 102通常部署在阻气门上游(压裂后抽吸)，或在一些示例中，部署在分砂器上游以使得能够监测砂和/或固体。如图1的框108所表示，手动地收集水的样本以确保MPFM 102在水盐度常常变化的情况下作出FPDO操作中的正确的流量率测量。执行对水的一系列工作后原位校准以修改MPFM数据，例如伽马射线水衰减，如由图1的框110所表示。将所述校准提供到数据处理器112，所述数据处理器与MPFM 102通信并且基于由MPFM 102产生的流体流量数据而产生一个或多个输出。具体来说，将来自人工取样分析的校准提供到数据处理器112，以使得所述数据处理器112能够产生基于由MPFM 102收集的考虑到盐度的变化的数据而确定的单独相流量率计算(例如，气流量率、油流量率、水流量率)。不校正盐度的变化的后果包括不正确地估计油和/或冷凝物的流量率以及将盐度的变化误解为固体/砂的产生。

另外，当压裂流体输送和返排服务正在操作时，MPFM工程师通常不会在整个操作持续时间期间都在场。工程师可能在安装钻机期间在场，或者在流的前几个小时期间在场，并且可能还要管理施工现场处的其他工具。然而，典型的FPDO操作会持续数日，而典型的后续的返排操作持续3天到3个月。如今在MPFM数据后处理方面的主要挑战之一是缺乏篡改能力以确保对水质变化的连续调整。水衰减的以事件为中心的变化可能会产生对流量率计算的不合意的阶跃变化，这造成(例如)估计流量率的准确度的挑战以及操作员的误解。因此，将需要使用连续测量的盐水盐度数据来提供MPFM后处理分析。

再次参看图1的已知的系统100，在没有用于(例如)追踪水电导率/盐度变化的电导探针的情况下的挑战是水质快速改变，尤其是在FPDO期间以及在返排操作的较早阶段中。举例来说，水盐度可能会在大约数小时之内从淡水改变为具有100,000ppm的盐浓度。另外，如果压裂操作偏离操作包络之外，进而严重地限制且在一些情况下损坏储层压裂连接性和生产力，那么可能会无意地损害压裂井筒。因此，需要对可能在各种操作期间波动的井储层流体的改进的监测和控制。

发明内容

本文所公开的一些示例包括用于在油气勘探和生产期间监测和控制常规和非常规的井、管道或流的系统和方法。

本文所公开的一些示例包括用于监测和控制其他行业(例如，开采)中的操作、监测和分析工业废液以及评估和控制蓄水层和地表水的水质量的系统和方法。

本文所公开的一些示例包括用于在存在固体的情况下在具有多相流体的应用中使用电导探针的系统和方法，例如测量水电导率变化、改进对固体和/或段塞的检测，以及识别储层性质，例如非常规的页岩井FPDO和返排操作中的相关的压裂化学物质/几何关系。

本文公开的示例性设备包括流量计和用于相对于流量计为流体提供流动路径的流体导管。所述示例性设备包括电导探针，所述电导探针耦合到所述流体导管以在流体流过所述流体导管期间产生流体的盐水电导率数据。所述示例性设备包括处理器，所述处理器用于基于盐水电导率数据来修改由流量计产生的流体流量数据。

本文公开的示例性方法包括：通过使用处理器执行指令来访问在多相流体流过流体导管期间由电导探针产生的盐水电导率数据；通过使用处理器执行指令来访问在多相流体流过流体导管期间由流量计针对所述多相流体产生的流体流量数据；通过使用处理器执行指令向所述流体流量数据应用校正以产生经校正的流体流量数据；以及通过使用处理器执行指令基于经校正的流体流量数据来确定所述多相流体的相的持液率或流量率中的一者或多者。

本文公开的另一示例性设备包括：用于在流体流过导管期间产生流体流量数据的构件；用于在所述流体流过所述导管期间产生所述流体的盐水电导率数据的构件；以及用于基于所述盐水电导率数据来校正所述流体流量数据的构件。

附图说明

将在下文参考图式描述本公开的某些实施方案，其中相同的参考数字表示相同的元件。然而，应理解，附图仅说明本文描述的各种实现方式并且无意限制本文描述的各种技术的范围。所述图式示出和描述本公开的各种实施方案。

图1是在现有技术中已知的系统的示意图，所述系统包括用于在压裂塞钻开(FPDO)和/或返排操作期间测量流量率的多相流量计(MPFM)。

图2是根据本公开的教导的包括MPFM和电导探针的第一示例性电导探针系统的示意图。

图3是根据本公开的教导的包括MPFM和电导探针的第二示例性电导探针系统的示意图。

图4是根据本公开的教导的包括MPFM和电导探针的第三示例性电导探针系统的示意图。

图5是根据本公开的教导的包括MPFM和电导探针的第四示例性电导探针系统的示意图。

图6是根据本公开的教导的用于返排分析的随时间而变的氯化物浓度和管子压力的曲线图。

图7是可以执行以处理经由图2至图5的示例性电导探针系统所测量的数据的示例性方法的流程图。

图8是可以执行以处理经由图2至图5的示例性电导探针系统所测量的数据的示例性方法的流程图。

图9是可以执行以处理经由图2至图5的示例性电导探针系统所测量的数据的示例性方法的流程图。

图10是可以用于执行图7、图8和/或图9的示例性方法和/或更一般地实施图2至图5的示例性系统的处理器平台的图。

所述图未按比例绘制。而是，在图式中可能会放大层或区域的厚度。一般来说，将在所有图和伴随的书面描述中使用相同的参考数字来指代相同或相似的部分。

具体实施方式

在以下描述中，陈述众多细节以提供对本公开的理解。然而，本领域技术人员将理解，可以在没有这些细节的情况下实践本公开的实施方案，并且相对于所描述的实施方案的众多变化或修改可以是可能的。

在说明书和所附权利要求中：术语“连接(connect)”、“连接(connection)”、“连接(connected)”、“与……相连”和“连接(connecting)”用于指“与……直接连接”或“经由一个或多个元件相连”；并且术语“设定”用于指“一个元件”或“一个以上元件”。此外，术语“耦合(couple)”、“耦合(coupling)”、“耦合(coupled)”、“耦合在一起”和“与……耦合”用于指“直接耦合在一起”或“经由一个或多个元件耦合在一起”。如本文所使用，术语“上”和“下”、“上部”和“下部”、“向上”和“向下”、“上游”和“下游”、“上方”和“下方”和其他指示在给定点或元件上方或下方的相对位置的类似术语在此描述中用于更清楚地描述本公开的一些实施方案。

本公开包括使用电导探针在油气田操作中的改变的环境中来执行对单相或多相流体中含有的水的电导率的实时或基本上实时的测量。可以在(例如)生产井、注入井或被钻出、压裂的井或遗弃过程中使用电导探针。本文公开的示例性系统和方法可以单独地使用或者结合其他装置使用，所述其他装置例如为(但不限于)压力和温度计量器、多相或单相流量计、仪表化的分离器、位于电导探针上游和/或下游的砂测量装置、离子选择电极，以及pH传感器。本文公开的示例性系统和方法还可以与自动化或人工取样系统一起使用。

本文公开的示例性系统和方法可以在其他应用中使用，例如监测和控制其他行业(例如，开采)中的操作、监测和分析工业废液以及评估和控制蓄水层和地表水的水质量。然而，出于举例目的，将在油气勘探和生产中所使用的压裂操作的背景下论述本文公开的系统和方法。

本文公开的示例性系统和方法提供结合电导探针使用MPFM来监测、控制和表征来自压裂操作的流体。本文公开的示例性系统和方法可以单独地使用或者结合其他装置使用，所述其他装置例如为(但不限于)压力和温度计量器、多相或单相流量计、仪表化的分离器、位于电导探针上游和/或下游的砂测量装置、离子选择电极，以及pH传感器。本文公开的示例性系统和方法还可以与自动化取样系统和/或人工取样系统一起使用。

在本文所公开的示例中，被表征的流体可以是单相或多相的(即，其中所述相可以是水、油、气、固体(包括未溶解的盐)、泥浆和浆料、蒸汽或水泥的组合中的任一者)。在其中流体是多相的示例中，所述多相流体可以具有多种形式，例如分层流、乳液、泡沫，以及掺杂有示踪剂。在一些示例中，所述多相流体包括钻井泥浆、水泥浆、空气混合泥浆、具有可变流变学的稳定或不稳定的泡沫。

可以在不同的多相流态条件下部署本文公开的示例性电导探针，所述多相流态条件包括不同的气体体积分数、水份额或液包水比率。出于本公开的目的，将假设在水的电导率与其盐度之间存在相关性。可以通过测量结果确定此类相关性，或者通过经验模型或内插查找表推断出此类相关性，例如在美国专利No.6,831,470或美国专利No.9,528,869中公开的经验模型或内插查找表，所述两个美国专利已转让给本申请人。

在本文所公开的示例中，可以基于用于多阶段完井和增产设计的Mangrove^TM和Kinetix^TM软件来执行返排建模，所述设计适于井的特定地质、地球化学以及地质力学条件。可以使用MPFM技术，例如可以从Schlumberger购得的Vx Spectra^TM MPFM，来连续地监测实际的井流，以在FPDO和返排操作期间(例如，在井的使用期限中的早期流期间)准确地捕获所生产的流体和含砂量的快速瞬时变化。将动态流体和固体比率信息实时或基本上实时地传输到盘管(CT)单元使得井操作员能够导引和管理注入、返回率和压力并且优化流入-流出平衡条件。通过MPFM与电导探针的组合在FPDO和返排操作期间提供的准确的流体和固体流量率测量结果实现对CT注入参数和井口节流器的有指导的主动控制，以使井保持在所界定的安全操作包络中来保护压裂连接性并提高生产力。

在本文所公开的示例中，可以在FPDO操作期间使用电导探针来简化和增强使用MPFM(例如，Vx Spectra^TM MPFM)的单独相流量率测量结果的质量。通过使用MPFM来实时或基本上实时地(例如，在流体流过MPFM期间)监测(例如，在高数据取样频率下)压力和流量率可以进一步识别井性能的变化。本文公开的系统和方法的另一示例性用途是监测所产生的水的盐度的变化(例如，水化学物质)，所述变化指示FPDO和返排操作的进度。

为了更准确地监测多相流体的流量率并且基本上减少或消除对在FPDO和返排操作期间获取的MPFM数据的后处理的需要，本文所公开的示例提供对盐水盐度变化的自动且连续或基本上连续的追踪。在一些公开的示例中，MPFM基本上实时地监测(例如，在高数据取样频率下)压力和流量率以进一步确定井性能的变化。在一些公开的示例中，使用电导探针追踪盐水盐度改变的变化使得能够检测砂段塞的存在(例如，以监测井清理)。

图2说明第一示例性电导探针系统200，其包括MPFM 202(例如，Vx Spectra^TMMPFM)和安装在MPFM 202的盲三通入口206(例如，端部凸缘)处的电导探针204。如本文公开，MPFM 202与电导探针204的部署实现在FPDO和返排操作期间对井流体(例如，气、油和水)和/或固体的单独相持液率(例如，被伽马射线或x射线辐射束横越的流体内的每个相的分数部分)和流量率的改进的测量。在一些示例中，MPFM 202和电导探针204可以用于检测固体(例如，砂)段塞的存在。

如图2中的箭头208、210所表示，在流体导管215的入口212与出口214之间流动的流体流过电导探针204和MPFM 202。示例性MPFM 202产生流体持液率数据、流量率数据和/或流体的其他数据。电导探针204产生流体的盐水电导率数据。在图2的示例中，电导探针204在流体流过流体导管215期间基本上实时地测量盐水电导率数据。在一些示例中，电导探针204在流体流期间基本上连续地收集数据。在其他示例中，电导探针204以预定义的时间间隔(例如，基于用户设定)收集数据。如上文所论述，盐水电导率数据是关于流体(例如，水)的盐度。在图2的示例中，将电导探针数据提供给数据处理器216。

图2的示例性数据处理器216与MPFM 202和电导探针204通信。除了在图2中说明的内容之外，图2的示例性电导探针系统200可以包括数据处理器216。例如，在一些示例中，电导探针系统200包括数据处理器，所述数据处理器用于从电导探针204接收和/或处理数据，之后将电导探针数据传输到处理器216。

图2的示例性数据处理器216包括探针数据分析仪218。探针数据分析仪218确定对水的校正、修改和/或校准以修改由MPFM 202测量的数据，例如伽马射线水衰减。探针数据分析仪218将根据由电导探针204收集的盐水电导率数据而确定的数据调整传输到数据处理器216的MPFM数据分析仪220。MPFM数据分析仪220使用由MPFM 202和/或电导探针204收集的数据以产生流体流量数据输出。所述流体流量数据输出可以包括(例如)流体的相应相的一个或多个流体持液率和流量率(例如，油流量率、气流量率、水流量率)。在一些示例中，图2的MPFM数据分析仪220检测固体和/或砂段塞的存在并且基于由MPFM 202和/或电导探针204收集的数据来确定固体流量率。数据处理器216的输出可以包括气流量率测量结果、油流量率测量结果、水流量率测量结果、固体和/或砂段塞的识别和/或固体/砂流量率。

在一些示例中，探针数据分析仪218确定盐度的变化相对于时间的斜率，这可以指示储层性质，例如压裂化学物质/几何关系的变化，并且可以用于产生数据输出，例如压裂阶段的识别。因此，与图1的已知示例相比，图2的电导探针204提供对盐度状况的实时监测，并且消除或基本上消除对MPFM数据的人工取样和后处理的需要。

图3说明包括MPFM 302(例如，Vx Spectra^TM MPFM)和电导探针304的第二示例性电导探针系统300。在图3的示例中，电导探针304设置在MPFM 302的垂直端部凸缘306处。在图3的示例中，电导探针304设置在垂直端部凸缘306处以减少在流体流经过流体导管311的入口308和出口310之间的电导探针304时(如由图3的箭头312、314表示)砂累积在电导探针304的测量表面上的机会。图3的示例性电导探针系统300包括一个或多个数据处理器，例如图2的数据处理器216，以处理由电导探针304测量的盐水电导率数据和/或由MPFM 302测量的流体流量数据，从而产生一个或多个流体流量数据输出。在图3的示例中，数据处理器216在FPDO和返排操作期间输出(例如)井流体(例如，气、油水)的持液率和流量率和/或检测固体/砂段塞，基本上如上文结合图2所公开。

图4和图5说明根据本公开的教导的包括MPFM和电导探针的额外的示例性电导探针系统。如图4中所示，第三示例性电导探针系统400包括MPFM 402和设置在MPFM 402的下游的电导探针404。在一些示例中，电导探针404设置在节流器的下游和/或砂分离器/捕捉器(或捕集器)的下游，其中节流器和/或砂分离器位于MPFM 402的下游(即，在MPFM 402与电导探针404之间)。

图5说明包括MPFM 502和设置在MPFM 502的上游的电导探针504的第四示例性电导探针系统500。图4和图5的示例性系统400、500提供对水盐度的变化的基本上实时的监测。可以将由图4和图5的电导探针404、504产生的电导探针数据提供到一个或多个数据处理器，以实现对井流体(例如，气、油、水)的单独相持液率和流量率的改进的测量，和/或使得能够在FPDO和返排操作期间检测固体和/或砂段塞，如上文结合图2和图3所论述。在其他示例中，电导探针可以耦合到与MPFM分开的滑轨。

在一些示例中，可以基于(例如)由图2至图5的电导探针204、304、404、504测量的数据在地面执行由单相流量计或多相流量计(例如，图2至图5的MPFM 202、302、402、502)测量的流量率的计算校正。因此，本文公开的示例性数据分析可以由在井下、在地面或其组合设置的数据处理器(例如，图2和图3的数据处理器216)执行。在一些示例中，基于使用单相或多相流量计和/或图2至图5的电导探针204、304、404、504所收集的数据而测量的流量率可以用于控制对取样操作的人工和/或自动触发。

虽然在图2至图5中说明了实施示例性系统200、300、400、500的示例性方式，但可以通过任何其他方式来组合、分割、重新布置、省略、消除和/或实施在图2至图5中说明的要素、过程和/或装置中的一者或多者。此外，图2至图5的示例性MPFM 202、302、402、502、示例性电导探针204、304、404、504、示例性数据处理器216、示例性MPFM数据分析仪220、示例性探针数据分析仪218和/或更一般地示例性电导探针系统200、300、400、500可以由硬件、软件、固件和/或硬件、软件和/或固件的任何组合实施。因此，例如，图2至图5的示例性MPFM202、302、402、502、示例性电导探针204、304、404、504、示例性数据处理器216、示例性MPFM数据分析仪220、示例性探针数据分析仪218和/或更一般地示例性电导探针系统200、300、400、500可以由以下各者实施：一个或多个模拟或数字电路、逻辑电路、可编程处理器、可编程控制器、图形处理单元(GPU)、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑装置(PLD)和/或现场可编程逻辑装置(FPLD)。当读到此专利的设备或系统权利要求中的任一者涵盖纯软件和/或固件实现方式时，在此将图2至图5的示例性MPFM 202、302、402、502、示例性电导探针204、304、404、504、示例性数据处理器216、示例性MPFM数据分析仪220、示例性探针数据分析仪218和/或更一般地示例性电导探针系统200、300、400、500中的至少一者明确地界定为包括非暂时性计算机可读存储装置或存储盘，例如存储器、数字多功能盘(DVD)、高密度磁盘(CD)、蓝光盘等，所述非暂时性计算机可读存储装置或存储盘包括软件和/或固件。此外，图2至图5的示例性电导探针系统200、300、400、500可以包括一个或多个要素、过程和/或装置以作为在图2至图5中说明的要素、过程和/或装置的补充或替代，和/或可以包括所说明的要素、过程和装置中的任一者中的一者以上或全部。如本文所使用，短语“通信”(包括其变化)涵盖直接通信和/或通过一个或多个中间部件的间接通信，并且不要求直接物理(例如，有线)通信和/或一直通信，而是另外包括在周期性间隔、所安排的间隔、非周期性间隔和/或一次性事件下的选择性通信。

可以使用图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504识别的盐度的预期变化是由四个主要现象引起：1)使具有与存在于井和/或压裂系统中的水的盐度不同的盐度的水在盘管(CT)中循环；2)从已经从地层沥滤一些盐的漏油产生水；3)产生储层水，所述储层水的盐度可能由于与来自相邻的井或地区的所注入的水混合而受到影响；以及4)将低盐度水注入井环隙中，以溶解管子中的盐沉淀并且使之循环穿过完井中的端口。第一现象是快速的并且受限于FPDO。第二现象存在于FPDO和返排操作期间。第三现象一般受限于返排或生产周期的后半部分。第四现象在高盐度地层中的修复活动之后以恢复/保护流生产力。

在一些示例中，可以在盘管处从水槽收集注入的水的样本，之后抽吸于井中。所述样本用作初始参考，并且所述样本的水不是存在于井中的将被盘管末端处的所注入的水移位的水。样本流体可以不同于在水力压裂工作结束时所使用的移位流体(例如，处于关井的井筒中的流体)，从而导致在FPDO开始时的盐度的近乎即时的变化(更高或更低)。此外，可以按照逐步的方式出现循环的流体混合物的流体化学物质的这些变化，因为由于同一现象(例如，由于与所捕集的塞混合从而塞住井筒而引起的循环的流体化学物质的变化)而钻开每个塞。

当完成每个阶段的水力压裂操作时，那个阶段内的完井流体开始与地层相互作用并且改变化学物质。通常，这导致盐度的增加，但还已经观察到相反情况。化学物质的此变化是时间相依的(浓度相对于t^1/2的线性变化)，因为这是增产流体与增产区内的原生水混合的结果(且在一些情况下，这还是溶解盐的结果)，如本文论述。由于此现象，预期每个阶段的化学物质将存在细微的变化。这些变化导致在FPDO期间在钻开每个后续阶段时循环流体的盐度的不同变化。图2的示例性电导探针系统200中的直列地添加电导探针实现对这些变化的适当识别/校准，以及辅助识别相对于设计改变的阶段(例如，不同的压裂化学物质或几何关系)。

所产生的水化学物质的变化继续数周到数月的周期，这取决于增产流体与原生水之间的盐度差异和地层参数(例如，透水性、孔隙率等)。由于时间相依性的高度可重现的平方根，大多数盐度变化较早地出现在生产周期，这是当通常部署MPFM的时候。经由本文公开的电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)对盐度变化的连续或基本上连续的监测使得可以经由对每个井中的此现象的识别/表征相对于伽马射线水衰减来改进地校准MPFM(例如，图2至图5的MPFM 202、302、402、502)。

在生产继续进行到生产周期的后半部分时，水化学物质的前述变化可能会由于压裂几何关系的变化而偏离。在已知的系统(例如，图1的已知的系统100)中，通常经由人工水取样和分析来识别此现象。然而，可以使用电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)基于对所产生的水电导率/盐度(例如，在多相流条件下串联地测得)的连续或基本上连续的监测来识别水化学物质的变化。在一些示例中，可以收集周期性水-样本化学物质分析以便验证或产生电导率-盐度模型，或者可以安装离子选择电极以随时间监测单独的离子浓度的变化。对盐度变化的检测使得能够更新盐水密度，使用所述盐水密度来计算工作流中的井底压力。

可以将图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504用于其他类型的应用中，例如循环应用、注入应用、流动应用、管线应用、盘管铣削应用、流量率校正/计算应用，以及离子组成确定。在循环应用中，在注入点与返回点之间确立流体循环，并且电导探针(或此类探针的组合)监测各个地方或流态中的流。井可以包括地下管道，其中若干排出管或分叉彼此连接。可以存在连接到井的若干排出管。示例性循环应用包括(例如)钻井、盘管钻井、盘管铣削、盘管监测、返回酸化、返回压裂、对井的盘管或管子清洁、直接循环以移位井中的流体、反向循环以移位井中的流体、蒸汽循环、环隙泄漏检测，以及井间或排出管间或井内干扰监测和测试(在生产、注入或增产期间)。

其中可以使用图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504的另一示例性应用包括注入应用，例如水一致性、水注入、气注入、油/气存储、水存储、蒸汽注入、蒸汽质量监测，以及吞吐(吞部分)。吞吐是指循环过程，其中使用回收增强流体注入井，并且在浸泡周期之后，使井恢复生产。流动应用可以包括(例如)水监测(包括先水)、示踪剂监测、吞吐(吐部分)。管线应用可以包括(例如)管线中的流体移位和清管器标记/监测。

在盘管铣削应用中，水用作具有或没有添加剂的钻井和/或动力流体以钻穿多级压裂井中的栓塞。地质结构可能会影响各种组成的一些流体，包括可能具有不同盐度的水。盐度的变化可以是因为水天然掺杂有一些盐，或者由于已经改变了原位水的初始盐度的人工干预。盐度的变化可能是因为水的存在是涉及注入具有不同盐度的水的先前操作的结果，其中盐度可能已经在注入期间随时间改变，或者盐度在水存在于地层、引发的压裂或井筒中时可能已经改变。水的注入可能已经在同一井和/或排出管中或来自不同的排出管或其组合，或不同的井。通过经由图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504收集所注入的水的电导率和所产生的水电导率的测量结果，可以推断出以下示例性参数：所注入的水相对于所产生的水的相对比率、所产生的水入口的位置、与地层接触的水的沥滤的动力学，以及水移位的效率。

其中可以使用图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504的另一示例性应用包括通过电导率数据确定离子组成。举例来说，当与所产生的水的周期性取样和化学分析组合时，可以使用流体的电导率来推断出在前述应用期间水中的随时间组成变化。

说明性井的返排分析

当处理流体在水力压裂过程期间与新近裂开的岩石表面相互作用时，岩石内的平衡条件受到干扰。例如高压、良好的润湿性、粘土反应与高渗透势等因素的组合可以导致压裂流体大量吸入到储层中。此相对新鲜的水的吸入导致对局部化学平衡的干扰。在原生水被稀释时，一些固态矿物质溶解并且使原生水更富有相关联的离子，例如Ca+2离子和CO3-2离子。在同步过程中，原生水的稀释还导致粘土表面上的所吸附的阳离子的变化。这是由于被称为价稀释效应的过程，这是由粘土表面处的电荷平衡偏好多价阳离子多于单价阳离子所驱动的效应。在压裂流体由于水的再用或粘土反应考虑因素而充满盐的情况下，粘土原生水平衡可能受到进一步干扰。

最终，原生水的稀释被附近岩石内具有的大量的盐抵消。这导致附近压裂区域中的总盐浓度的平缓增加。返排水盐度随时间的平缓增加显示了此效应，通常展现出随时间的平方根的线性增加(即，扩散限制)。

图6是氯化物浓度和管子压力随时间的示例性曲线图600。第一井(井A)和第二井(井B)的氯化物浓度的现场测量结果示出在返排周期中途的斜率的变化。这可以指示所连接的压裂几何关系的变化。如图6中所示，所述第一井和所述第二井都在约1,700磅/平方英寸(5,400磅/平方英寸的井底压力)的管子压力下展现化学行为的变化。

如图6的曲线图600中所示，第一井(井A)和第二井(井B)展现斜率变化的线性趋势(其中氯化物Cl-是盐度的代理)，但斜率在返排周期中途改变。当与额外的化学数据一起考虑时，此变化指示在两个井的返排周期期间的导通压裂几何关系的变化。

在操作中，在图6中观测到的氯化物浓度的斜率变化可以对应于在返排水中观测到的化学物质变化(在图6中未示出)。在过渡点处展现化学物质的此变化的大量离子可以是压裂几何关系的变化的结果。如本文论述，返排水化学物质随时间不断变化，因为压裂网络中的流体和地层化学物质平衡。此过程在一些储层中可能要花费数月，并且特点是由压裂几何关系和储层接触界定的恒定斜率。在图6的第一井(井A)(和根据现场氯化物测量结果的第二井(井B))的情况下，仅在较短时间周期内是这种情况，之后，所述数据展现出不同的斜率。此外，化学行为的此变化与1,700磅/平方英寸的管子压力或5,400磅/平方英寸的井底压力(图6)和井的生产性能的变化(未示出)相一致。此类变化指向压裂几何关系的变化的机制(即，先前贡献的压裂几何关系的闭合)或来自稍微压力不足的区域的所产生的流体的贡献。

使用电导探针的MPFM现场操作

涉及MPFM(例如，图2至图5的MPFM 202、302、402、502)的示例性现场操作涉及MPFM的装配/安装(例如，由操作员)和流体校准。电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)可以设置在MPFM(例如，如在图2的示例中)的盲三通入口的端部凸缘处、垂直盲三通端部凸缘(例如，如在图3的示例中)处，或节流器的下游(如果存在与压力或砂相关的问题(例如，结合图4所论述))。

可以收集所注入的水的样本(例如，在所述操作之前)。与电导探针204、304、404、504相关联的数据处理器(例如，图2和图3的数据处理器216)可以使用NaCl盐水电导率/盐度与伽马射线质量衰减之间的关系的默认查找表。如美国专利No.6,831,470和美国专利No.9,528,869中所公开，可以在所述操作之前基础地使用原位验证执行来自先前井或先前水混合的盐物质的水。

在示例性现场操作中，使用CT(盘管)水执行压力测试。CT在孔洞中延伸。即使不抽吸流体，也将由于在井中注入(例如)钢CT而在流线中存在水的返回。在循环期间，可以观测到重碳氢化合物(例如，具有接近1000kg/m³的密度)的段塞。油段塞可能会持续数分钟并且可以包括100％(或基本上100％)的油脂(例如，所述段塞可以是与CT相关的润滑剂或移位出井的完井操作)。其中段塞是基本上完全油脂的周期通常后面紧跟着30分钟或更长时间的100％(或基本上100％)的水。

在示例性现场操作中，盐水电导率的变化可能会触发对水样本的收集(例如，使用取样器的人工或自动化取样)。此类样本提供井筒内部的流体的循环和移位的状态的指示。触发机构可以基于被视为对于计算水、油、气和固体速率来说可接受的特定(例如，预定义)的不确定性阈值水平。

在示例性操作中，将由地层/压裂产生的净流体体积实时地提供到CT控制单元。可以根据以下两者的差值来计算净流体体积：由MPFM在地面测量并且根据由电导探针204、304、404、504追踪的当前盐水盐度且根据井底压力和温度条件进行校正的总产生的流体；以及CT中的所注入的体积。在一些示例中，操作员在井底条件下或在受控的不平衡条件(预定义或在运行中优化)下保持FPDO处于平衡(无流入，无流出)。

在示例性现场操作中，图2至图5的电导探针204、304、404、504对盐水盐度变化的基本上实时的追踪可以用于使用MPFM检测砂。例如，如果存在流入条件(通常在地面处的节流器控制可能具挑战性时出现)，那么操作员可能会观察到在从井底部行进之后运输到地面的砂的段塞。操作员可以使这些事件与即时欠平衡所监测的流量率相关。可能存在以下状况：井欠平衡(流入条件)但仍然将保持在安全操作包络(SOE)的***分或保留压裂与井筒之间的关系的操作参数的组合中。在这些示例中，在地面将观察不到砂或基本上观察不到砂。在其中操作移动到SOE的第一区域中的示例中，可以观察到较短的砂突发。如果示例性操作移动到SOE的第二区域中，那么可以观察到具有较大量的较长的砂事件。如果当操作员期望处于SOE的第三区域中时观察到砂，那么可以重新校准且重新调整模型以保护操作包络。

在示例性操作中，可以基于砂质量流量基本上准确地量化砂生产。砂事件可能会持续(例如)30秒至10分钟。然而，不应在连续的砂生产条件下操作压裂工作。砂检测的示例性阈值可以是0.5质量％。在一些示例中，阈值可以是在一分钟内检测到1-kg的砂生产。举例来说，已经在使用电导探针的测试期间观察到，盐度测量结果在很大程度上不受水中的悬浮的砂的存在影响。因此，所产生的特定量的砂将不会显著影响所产生的流体的体积的计算。在一些示例中，如果观察到砂和/或盐度的变化，那么估计含水率和/或气/油比率(GOR)可能是有价值的。

在示例性操作中，可以监测水密度测量结果以使用管道压力模拟模型来提供井底压力状况的更准确的计算。盐度的变化还可以是密度的变化的表达。在检测到盐度变化(例如，基于从电导探针204、304、404、504获得的数据)之后，可以使用查找表来校正(例如)水相的密度以计算井底压力。

在示例性操作中，可以将前述现场信息实时或基本上实时地流式传输到相关联的软件部件(例如，由一个或多个例如图2和图3的数据处理器216等数据处理器实施)。在一些示例中，将现场信息存储在一个或多个基于云的位置和/或整理于单个报告中。

对电导探针的MPFM伽马射线测量结果的校正

如图2和图3中所表示，数据处理器216基于由MPFM(例如，图2至图5的MPFM 202、302、402、502)测量的数据来确定多相流体的一个或多个特性，例如油、气、水和固体/砂的单独相持液率和流量率。可以通过由MPFM收集的所测得的计数率、压力和温度数据来计算伽马射线衰减系数。可以将衰减系数存储在数据处理器216的存储器中。而且，如本文公开，可以由数据处理器216通过使用衰减系数与其他参数(例如，温度和表示从电导探针系统(如本文公开)的测量结果得到的复介电常数的参数)之间的一个或多个相关性基于来自电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)的盐水电导率和/或盐度测量结果来调整衰减系数。

图2至图5的示例性MPFM 202、302、402、502可以包括电磁辐射的发射器和检测器，所述发射器和检测器使得能够测量沿着MPFM 202、302、402、502的流体导管215、311的一部分流动的流体的衰减数据(例如，流体导管的测量区段)。一些电磁辐射被流体吸收，但所述电磁辐射的一部分被检测器接收。发射器可以产生电磁波谱内的任何合适的频率和能量的电磁辐射。例如，在一些示例中，所述发射器包括发射伽马射线和X射线的一个或多个放射性源。其他示例可以包括非放射性发射器，例如电动X射线发生器。

图2至图5的示例性MPFM 202、302、402、502的发射器和检测器可以定位在流体导管的相对侧上，例如图2和图3的流体导管215、311的一部分(例如，测量区段)上。可以根据比尔-朗伯定律来测量给定能量E下的伽马射线或x射线电磁辐射的流体的线性衰减系数λ_m(E)：

其中d是将辐射引导穿过的流体导管215、311的部分的直径，N(E)是所传输的光子的量(由检测器检测到的光子的计数率或数量)，以及N_o(E)是空管计数率(在流体导管215、311的测量区段中没有流体的情况下从发射器发射的会到达检测器的光子的数量)。

所分析的流体可以具有多个相。举例来说，所述流体可以是具有油相、水液相、气相和固(砂)相的多相流体。多相流体对伽马射线或x射线电磁辐射的衰减是由其相中的每一者(被流体中的它们的比例加权)导致的衰减的线性组合。在具有气、油、水和固体的某一组合的流体的情况下，可以将此写作：

λ_m(E)＝λ_g(E)α_g+λ_o(E)α_o+λ_w(E)α_w+λ_s(E)α_s (2)

其中λ_g(E)、λ_o(E)、λ_w(E)和λ_s(E)是在给定能量水平E的辐射下的气、油、水和固体的衰减系数，以及α_g、α_o、α_w和α_s是被伽马射线或x射线辐射束横越的所分析的流体内的每个相的相应的分数部分(还称为相含率或相分数)。这给出与来自示例性MPFM 202、302、402、502的发射器的电磁辐射中的不同能量水平的数目一样多的方程(进一步考虑到所有相含率总计为一)。对于包括MPFM(例如，图2至图5的示例性电导探针系统200、300、400、500)与展现至少三个不同的能量水平的适当地选择的放射性源(例如，¹³³钡)的系统，可以获得以下线性方程组：

可以从每个相上的全管道测量结果(在下文称为原位参考)获得以上4×4衰减矩阵A(即，包括三个适当选择的能量水平下的相特定衰减系数的矩阵)，或者可以使用理论系数。随后可以在数学上直接或间接地反转此衰减矩阵(给出视在反转矩阵A^-1)以计算相含率：

应注意，矩阵A含有所有单独相的线性衰减系数λ_i(E_j)(i＝‘o’，‘g’，‘w’，‘s’；j＝1,2，3)。如果流体性质相对于原位参考的值存在变化，例如水盐度sal(以重量百分比计)的变化，那么这将导致盐水质量衰减系数μ_w(E_j)的变化，如下(其中μ_H2O和μ_盐-物质是纯水和水中的盐物质(例如，氯化钠NaCl)的质量衰减系数)，

μ_w(E_j)＝(1-sal)×μ_H2O(E_j)+sal×μ_盐-物质(E_j) (5a)

Δμ_w(E_j)＝(μ_盐-物质(E_j)μ_H2O(E_j))Δsal (5b)

且因此，盐水线性衰减系数λ_w(E_j)将存在变化：

λ_w(E_j)＝ρ_w(sal；p，T)×μ_w(E_j) (6a)

Δλ_w(E_j)＝ρ_w(sal；p，T)×Δμ_w(E_j)+Δρ_w(sal；p，T)×μ_w(E_j) (6b)

其中ρ_w(sal；p，T)是盐水的密度，这也取决于压力p和温度。对盐度变化的检测可以实现对盐水密度的更新，使用所述更新来计算MPFM混合物密度和单独的流量率(例如，由数据处理器216)以及工作流中的井底压力以便对压裂井进行建模。

如等式(4)所暗示，如果盐水线性衰减系数λ_w(E_j)不存在更新，那么在计算单独的相含率α_i(i＝‘o’,‘g’，‘w’,‘s’)时将存在误差。这可能导致与相应的单独的相含率成正比的单独相体积(或质量)流量率的误差。

图2至图5的示例性电导探针204、304、404、504可以在多相流状况下提供对盐水电导率的在线(例如，基本上实时和/或基本上连续)的测量，且因此提供对盐水盐度sal的变化的在线追踪，从而根据等式(5)至(6)作出盐水质量衰减系数μ_w(E_j)和盐水线性衰减系数λ_w(E_j)的校正。

在一些示例中，可以通过RF/微波传输传感器、反射传感器和/或共振传感器实现图2至图5的电导探针。在这些示例中，盐水电导率和/或盐度的确定可以基于解译所测得的多相流混合物复介电常数(ε^＊＝ε’-jε”)的方法，例如在美国专利No.6,831,470中所公开的方法。结合图7至图9论述结合此方法而使用射频(RF)/微波开放-同轴反射探针。

在图2至图5的电导探针系统200、300、400、500中，在给定所测得的富水流混合物复介电常数比率(ε”/ε’)以及所测得的流温度T和压力p的情况下，可以使用盐水介电模型来确定(例如，通过内插)直接多相流盐水盐度(s)和/或盐水dc-电导率(σdc)以及盐水密度ρ_w和质量衰减系数μ(E)。

图7至图9的示例性方法包括使用至少三个参考流体来校准探针，所述参考流体例如为干燥空气、淡水以及适当盐度的盐水(并且可以是金属短路以涵盖高度有效水导电状况)。在给出那些校准水的dc电导率和温度(由实验室电导率传感器测得)的情况下，盐水介电模型(水盐度、例如NaCl的盐物质、温度、压力和RF/微波频率的函数)可以提供那些水的复介电常数的参考值(探针校准所需)。

在图7至图9的示例性方法中，可以映射同一盐水介电模型(针对若干压力、盐物质)，以便建立在一个或多个所选择的RF/微波频率下盐水复介电常数比率(ε”/ε’)随盐度和温度而变的相关性。在图7至图9的示例性方法中，在给出由RF/微波探针测得的富水多相流混合物复介电常数比率(ε”/ε’)_混合物以及由温度探针测得的流温度的情况下，所确立的相关性用于通过内插来确定多相流的盐水盐度。

用于校准探针并解译探针所测得的复介电常数比率的盐水介电模型的自一致性产生稳健的水-盐度(和电导率)估计。可以执行通过使用检测到的淡水段塞的数据对MPFM(例如，图2至图5的MPFM 202、302、402、502)和/或电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)的潜在的原位校准和/或验证。

图7是用于确定盐水电导率和/或盐度的示例性方法700的流程图。可以通过分析使用电导探针(例如，图2至图5的电导探针204、304、404、504)所测得的多相流混合物复介电常数来实施示例性方法700。如上文所论述，在图7的方法700的示例中，电导探针可以是射频(RF)/微波开放-同轴反射探针。可以通过位于地面处、井下或其组合的一个或多个数据处理器(例如，图2和图3的数据处理器216)来实施图7的示例性方法700。

参看图7，示例性方法700包括相对于环境温度范围在一组预先表征/预校准的温度T_RF下使与RF探针相关联的RF板(包括一个或多个测量电子器件)稳定(框702)。

图7的示例性方法700包括在频率f下测量RF探针流混合物数据(框704)。测量RF探针流混合物数据可以包括(例如)经由RF探针获取反射路径信号V_RC和入射路径信号V_MC。示例性方法700包括计算所补偿的反射信号ρ(框706)。所补偿的反射信号ρ可以计算为：

图7的示例性方法700包括在稳定的温度T_RF下应用RF板校正因子(E_d,E_s,E_f)以计算经校正的反射系数Г(框708)。可以将RF板校正因子(E_d,E_s,E_f)视为在RF板电子器件工厂校准期间获得的第一组校正因子，并且存储在与图2和/或图3的数据处理器216通信的存储器中(如结合图8所论述)。可以将经校正的反射系数Г计算为：

图7的示例性方法700包括应用RF探针的流体校准系数(A,B)以计算流-混合物复介电常数ε^＊□((框710)。可以将流体校准系数(A,B)视为在工厂校准期间或在井场处获得的第二组校正因子，并且存储在与图2和/或图3的数据处理器216通信的存储器中(如结合图9所论述)。可以将流-混合物复介电常数ε^＊计算为：

图7的示例性方法700包括处理流-混合物复介电常数ε^＊时间序列数据以确定富水流介电常数比率(框712)。

图7的示例性方法700包括测量流体温度T和压力p(例如，经由温度和压力传感器)(框714)。图7的示例性方法700包括将盐水介电模型用作温度、压力和盐物质的函数来计算盐水盐度s(框716)。可以将所述盐水介电模型存储在与图2和/或图3的数据处理器216通信的存储器中。可以如下计算盐水盐度s：

在一些示例中，还可以计算dc电导率σ_dc。

图7的示例性方法700包括根据盐度s计算盐水密度ρ_w(框718)。可以使用流体压力p和温度T作为输入来计算盐水密度ρ_w。示例性方法700包括使用(例如)以上等式(5a)计算伽马射线能带(E)下的盐水质量衰减系数μ(E)(框720)。图7的示例性方法700结束于更新伽马射线盐水校准点(框722)。

图8是用于在一个或多个RF板热稳定温度T_RF下确定结合图7论述的电导探针RF板误差校正因子(E_d,E_s，E_f)的示例性方法800的流程图。可以通过位于地面处、井下或其组合的一个或多个数据处理器(例如，图2和图3的数据处理器216)来实施图8的示例性方法800。

图8的示例性方法800包括在温度T_RF下使RF板(包括一个或多个测量电子器件)稳定(框802)。图8的示例性方法800包括依次连接RF探针处的相应的校准负荷(框804)。所述校准负荷包括与Г_oc相关联的开路(“oc”)、与参考值Г_sc相关联的短路(“sc”)，以及与参考值Г_zo相关联的匹配负荷(“zo”)。

图8的示例性方法800包括经由RF探针获取信号数据，包括反射路径信号V_RC和入射路径信号V_MC(框806)。图8的示例性方法800包括计算被入射路径信号V_MC补偿的反射信号(框808)。可以使用以上等式(7)计算被入射路径信号补偿的反射信号(即，对于(oc，sc,zo))

图8的示例性方法800包括计算RF板误差校正因子(E_d，E_s，E_f)(框810)。可以如下计算RF板误差校正因子(E_d，E_s，E_f)：

E_d＝ρ_zo (12)

E_s＝Func_Es(Γ_sc，Γ_oc；ρ_sc，ρ_oc,ρ_zo) (13)

E_f＝Func_Ef(Γ_sc，Γ_oc；ρ_sc，ρ_oc，ρ_zo) (14)

示例性方法800包括将针对特定温度T_RF的RF板误差校正因子(E_d,E_s，E_f)存储在与图2和图3的数据处理器216通信的存储器处(框812)。

可以使用RF板误差校正因子(E_d，E_s，E_f)来计算经校正的反射系数Г，如结合等式(8)和图7所论述(例如，在框708处)。

图9是用于确定结合图7论述的电导探针流体校准系数(A,B)(即，第二组校正因子)的示例性方法900的流程图。可以通过位于地面处、井下或其组合的一个或多个数据处理器(例如，图2和图3的数据处理器216)来实施图9的示例性方法900。

图9的示例性方法900包括使用盐水介电模型在频率f下计算盐水复介电常数ε(框902)。对于给出的所测得的盐水dc电导率σ_dc、温度T和压力p，并且其中s是已知的盐物质的盐度，可以将盐水复介电常数ε界定为：

ε＝ε'jε"＝func(s(σ_dc)，T；p)_{f；盐-物质} (15)

图9的示例性方法900包括将探针放置在具有已知的复介电常数的校准流体中(框902)。举例来说，可以将探针放置在具有复介电常数ε_ref的参考流体(例如，干燥空气)、具有复介电常数ε₁的淡水以及具有复介电常数ε₂的盐水中。

图9的示例性方法900包括在温度T_RF下使RF板(包括一个或多个测量电子器件)稳定(框906)。图9的示例性方法900包括在频率f下测量RF探针流混合物数据(框908)。测量RF探针流混合物数据可以包括(例如)获取反射路径信号V_RC和入射路径信号V_MC。示例性方法900包括计算所补偿的反射信号ρ(框910)。可以使用以上等式(7)计算所补偿的反射信号ρ。

图9的示例性方法900包括在T_RF下应用RF板校正因子(E_d,E_s,E_f)以计算经校正的反射系数Г(框912)。可以使用以上等式(8)计算经校正的反射系数Г。

图9的示例性方法900包括测量探针的经校正的反射系数(Г_ref,Г₁,Г₂)(框914)。图9的示例性方法900包括计算探针的流体校准系数(A,B)(框916)。可以将流体校准系数(A,B)界定为：

示例性方法900包括将探针的校准数据(Г_ref,ε_ref)和流体校准系数(A,B)存储在(例如)与图2和图3的数据处理器216通信的存储器处(框918)。

可以使用流体校准系数(A,B)来计算结合等式(10)和图7论述的流-混合物复介电常数(例如，在框710处)。

图7至图9的流程图表示可以用于实施图2至图5的示例性电导探针系统200、300、400、500的示例性机器可读指令。所述机器可读指令可以是用于由处理器(例如，在下文结合图10而论述的示例性处理器平台1000中示出的处理器1012)执行的程序或程序的一部分。所述程序可以体现为存储在非暂时性计算机可读存储介质上的软件，所述非暂时性计算机可读存储介质例如是CD-ROM、软盘、硬盘驱动器、DVD、蓝光盘或与处理器1012相关联的存储器，但可以替代地由除了处理器1012之外和/或体现为固件或专用硬件的装置执行整个程序和/或其部分。此外，虽然参考在图7至图9中说明的流程图来描述示例性程序，但可以替代地使用实施图2至图5的示例性电导探针系统200、300、400、500的许多其他方法。举例来说，可以改变框的执行次序，和/或可以改变、消除或组合所描述的框中的一些框。另外或替代地，任何或所有块可以由被结构化成在不执行软件或固件的情况下执行对应操作的一个或多个硬件电路(例如，分立的和/或集成的模拟和/或数字电路、FPGA、ASIC、比较器、运算放大器(op-amp)、逻辑电路等)来实施。

如上文提及，可以使用存储在非暂时性计算机和/或机器可读介质上的可执行指令(例如，计算机和/或机器可读指令)来实施图7至图9的示例性过程，所述非暂时性计算机和/或机器可读介质例如是硬盘驱动器、快闪存储器、只读存储器、压缩磁盘、数字多功能磁盘、缓存、随机存取存储器，和/或将信息存储任何持续时间(例如，长期、永久、短期、临时缓冲，和/或对信息的缓存)的任何其他存储装置或存储盘。如本文所使用，将术语“非暂时性计算机可读介质”明确地界定为包括任何类型的计算机可读存储装置和/或存储盘并且排除传播的信号且排除传输媒体。

在本文使用“包括(including)”和“包括(comprising)”(以及其所有形式和时态)作为开放式术语。因此，每当权利要求采用任何形式的“包括(include)”或“包括(comprise)”(例如，包括(comprises)、包括(includes)、包括(comprising)、包括(including)、具有等)作为序言或者在任何种类的权利要求叙述内时，将理解，在不脱离对应的权利要求或叙述的范围的情况下可以存在额外的元件、术语等。如本文所使用，当将短语“至少”用作(例如)权利要求的序言中的转折语时，所述短语与术语“包括(comprising)”和“包括(including)”是开放式一样也是开放式的。术语“和/或”当(例如)按照例如A、B和/或C的形式使用时是指A、B、C的任何组合或子集，例如(1)仅有A、(2)仅有B、(3)仅有C、(4)A与B、(5)A与C，以及(6)B与C。

图10是能够执行指令以实施图7、图8和/或图9的方法来实施图2和图3的数据处理器216的示例性处理器平台1000的框图。处理器平台1000可以是(例如)服务器、个人计算机、工作站、自学***板计算机，例如iPad^TM)，个人数字助理(PDA)、互联网家电或任何其他类型的计算装置。

所说明的示例的处理器平台1000包括处理器1012。所说明的示例的处理器1012是硬件。举例来说，可以通过一个或多个集成电路、逻辑电路、微处理器、GPU、DSP或来自任何所要的家族或制造商的控制器来实施处理器1012。硬件处理器可以是基于半导体(例如，基于硅)的装置。在此示例中，处理器实施探针数据分析仪218和MPFM数据分析仪220。

所说明的示例的处理器1012包括本地存储器1013(例如，缓存)。所说明的示例的处理器1012经由总线1018与包括易失性存储器1014和非易失性存储器1016的主存储器通信。可以由同步动态随机存取存储器(SDRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、动态随机存取存储器和/或任何其他类型的随机存取存储器装置来实施易失性存储器1014。可以由快闪存储器和/或任何其他所要类型的存储器装置来实施非易失性存储器1016。由存储器控制器控制对主存储器1014、1016的存取。

所说明的示例的处理器平台1000还包括接口电路1020。所述接口电路1020可以由任何类型的接口标准(例如，以太网接口、通用串行总线(USB)、接口、近场通信(NFC)接口，和/或PCI express接口)实施。

在所说明的示例中，一个或多个输入装置1022连接到接口电路1020。输入装置1022准许用户将数据和/或命令输入到处理器1012中。输入装置可以由(例如)音频传感器、麦克风、摄像机(静态或视频)、键盘、按钮、鼠标、触摸屏、追踪板、追踪球、isopoint和/或语音辨识系统实施。

一个或多个输出装置1024还连接到所说明的示例的接口电路1020。输出装置1024可以(例如)由显示装置(例如，发光二极管(LED)、有机发光二极管(OLED)、液晶显示器(LCD)、阴极射线管显示器(CRT)、原位切换(IPS)显示器、触摸屏等)、触觉输出装置、打印机和/或扬声器实施。所说明的示例的接口电路1020因此通常包括图形驱动器卡、图形驱动器芯片，和/或图形驱动器处理器。

所说明的示例的接口电路1020还包括通信装置，例如发射器、接收器、收发器、调制解调器、常驻网关、无线接入点，和/或网络接口，以促进经由网络1026与外部机器(例如，任何种类的计算装置)交换数据。所述通信可以(例如)经由以太网连接、数字订户线(DSL)连接、电话线连接、同轴电缆系统、卫星系统、直线对传式无线系统、蜂窝电话系统等。

所说明的示例的处理器平台1000还包括用于存储软件和/或数据的一个或多个大容量存储装置1028。此类大容量存储装置1028的示例包括软盘驱动器、硬盘驱动器磁盘、压缩盘驱动器、蓝光盘驱动器、独立磁盘冗余阵列(RAID)系统以及数字多功能盘(DVD)驱动器。

可以将图10的编码的指令1032存储在大容量存储装置1028中、易失性存储器1014中、非易失性存储器1016中和/或例如CD或DVD等可移除非暂时性计算机可读存储介质上。

从前述内容将了解，上文公开的设备、系统和方法提供了经由电导探针对多相流体中的水的电导率和盐度的监测。在本文所公开的示例中，使用电导率数据来校正和/或调整基于由流体流量计(例如，多相流量计)收集的测量结果而产生的流体流量数据，以提供(例如)基于流量计数据而确定的流体相含率和流量率的提高的准确度、检测流体中的固体等。本文所公开的一些示例基于经由电导探针收集的盐度-时间数据来识别储层性质的变化。在本文所公开的示例中，基本上消除了以下需要：进行人工取样和/或后处理分析以结合由流量计收集的数据来考虑水盐度的变化。本文公开的示例提供对水电导率性质的高效监测和基于所述监测的对流体流量数据的自动调整。

虽然本文已经参考特定构件、材料和实施方案描述了前面的描述，但无意受限于本文公开的细节；而是，所述描述扩展到所有在功能上等效的结构、方法和用途，例如在所附权利要求的范围内。