阅读说明：本技术 一种调试辅助工具 (Debugging appurtenance ) 是由 徐张群 于 2019-08-29 设计创作，主要内容包括：本发明涉及一种调试辅助工具,包括支架组件、轴体和平台组件；所述轴体转动连接于所述支架组件上,所述平台组件滑动连接于所述轴体上；待调试物与所述平台组件可拆卸连接。平台组件能够随着轴体的旋转进行旋转,且平台组件能够在轴体上进行滑动,而且由于上述旋转以轴体的轴线为轴,上述滑动沿轴体的轴线,旋转与滑动方向互相垂直,互不干扰,但却能够同时为平台组件提供旋转动作和距离变化动作；待调试物与平台组件连接后,平台组件可以带动待调试物进行旋转和位移,对待调试物的旋转角度和移动距离可以同时调试,方便快捷,提高效率,减低成本,而且两种调试可以相互校准,分别提高调试结果的准确性。(The invention relates to a debugging auxiliary tool, which comprises a bracket assembly, a shaft body and a platform assembly, wherein the shaft body is provided with a shaft body; the shaft body is rotatably connected to the bracket assembly, and the platform assembly is slidably connected to the shaft body; the object to be debugged is detachably connected with the platform assembly. The platform assembly can rotate along with the rotation of the shaft body, can slide on the shaft body, and can provide rotation action and distance change action for the platform assembly at the same time, because the rotation takes the axis of the shaft body as an axis, and the sliding direction is vertical to the sliding direction along the axis of the shaft body and is not interfered with each other; after waiting to debug the thing and being connected with the platform subassembly, the platform subassembly can drive and wait to debug the thing and rotate and the displacement, and the rotation angle and the migration distance of treating the thing of debugging can debug simultaneously, and convenient and fast improves efficiency, reduces the cost, and two kinds of debugs can be calibrated each other in addition, improve the accuracy of debugging result respectively.)

一种调试辅助工具

技术领域

本发明涉及传感器的调试技术领域，尤其涉及一种调试辅助工具。

背景技术

陀螺仪是一种用来检测角速度的传感器，加速度计是一种用来检测加速度的传感器，两者可以通过算法获取物体的转动角度和运动距离。目前陀螺仪和加速度一般都封装在一个芯片中，该芯片既拥有陀螺仪测量角速度的功能，也有加速度计测量加速度的功能。在使用该芯片时，必须通过对陀螺仪和加速度计进行调试使其测量到达一个固定的精确度标准。在使用一些陀螺仪和加速度计的调试算法时，如Kalman滤波，就需要让两个传感器配合工作，使用算法相互校准。这就要求二者同时进行调试，即在调试过程中既要求有角度变换，也要求有位移产生。而目前的调试工具大多只支持单独的陀螺仪调试，即将陀螺仪放在旋转的圆盘上进行调试，而对加速度计的距离调试也是单独调试，二者无法相互校准，致使调试结果不准确；而且各自调试的操作也会造成效率降低、成本增加。

因此，需要提供一种调试辅助工具来解决现有技术的不足。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种调试辅助工具。

一种调试辅助工具，包括支架组件、轴体和平台组件；

所述轴体转动连接于所述支架组件上，所述平台组件滑动连接于所述轴体上；待调试物与所述平台组件可拆卸连接。

进一步的，所述支架组件包括第一支架和第二支架；

所述第一支架包括依次连接的第一基座、第一连接架和第一盘体，所述第二支架包括依次连接的第二基座、第二连接架和第二盘体；

所述第一盘体和所述的第二盘体平行，所述轴体的一端与所述第一盘体转动连接，所述轴体的另一端与所述第二盘体转动连接。

进一步的，所述轴体从一端至另一端依次包括第一端部、中间部和第二端部，所述第一端部和所述第二端部均呈圆柱状；

所述第一端部与所述第一盘体通过轴承连接；所述第二端部贯穿所述第二盘体，所述第二端部上套设有固定件，所述固定件和所述中间部分别位于所述第二盘体的两侧；

所述固定件可相对所述第二端部进行轴向运动以改变其与中间部间的距离。

进一步的，所述平台组件包括平台和设于所述平台一侧的轴套，所述轴套套设于所述轴体的中间部上。

进一步的，所述平台组件还包括限位件，所述轴套设有限位孔，所述限位件设于所述限位孔内且可沿所述限位孔的轴向进行伸缩；

所述限位件与所述轴体相抵时能够限制所述轴套相对所述轴体的滑动。

进一步的，所述中间部呈棱柱状。

进一步的，所述平台的另一侧设有多个固定孔；

每个待调试物上均设有固定柱，不同的待调试物的固定柱分别与所述平台的不同的固定孔相匹配。

进一步的，所述轴体的中间部的一端套设有角度指针，所述第一盘体的朝向所述中间部的一侧设有角度刻度线，所述轴体上设有距离刻度线。

进一步的，还包括能与所述第一盘体的不同位置可拆卸连接的定位件；

所述定位件通过与所述角度指针相抵能够定位所述轴体的旋转角度。

进一步的，所述待调试物为集成了陀螺仪和加速度计的开发板。

本发明的技术方案与最接近的现有技术相比具有如下优点：

本发明提供的技术方案提供的调试辅助工具，通过将轴体转动连接于支架组件上，使所述轴体可以相对支架组件进行旋转，而平台组件连接于轴体上，因此平台组件能够随着轴体的旋转进行旋转；且平台组件与轴体为滑动连接，因此平台组件能够在轴体上进行滑动，而且由于上述旋转以轴体的轴线为轴，上述滑动沿轴体的轴线，旋转与滑动方向互相垂直，互不干扰，但却能够同时为平台组件提供旋转动作和距离变化动作；待调试物与平台组件连接后，平台组件可以带动待调试物进行旋转和位移，对待调试物的旋转角度和移动距离可以同时调试，方便快捷，提高效率，减低成本，而且两种调试可以相互校准，分别提高调试结果的准确性。

附图说明

图1是本发明提供的调试辅助工具的结构示意图；

图2是本发明提供的平台组件与轴体的连接示意图；

图3是图2中A-A方向的剖视图；

图4是本发明提供的平台的俯视图；

图5是本发明提供的第一盘体的正视图；

图6是本发明提供的轴体的中间部的正视图。

其中，1-第一基座；2-第一连接架；3-第一盘体；4-轴体；5-第二端部；6-固定件；7-平台；8-开发板；9-陀螺仪和加速度计；10-固定孔；11-固定柱；12-轴套；13—限位件；14-轴承孔；15-角度刻度线；16-距离刻度线；17-第二基座；18-第二连接架；19-第二盘体；20-角度指针。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本申请中，术语“上”、“下”、“内”、“中”、“外”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。

并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。

此外，术语“设置”、“连接”、“固定”应做广义理解。例如，“连接”可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图1-6并结合实施例来详细说明本申请。图1是本发明提供的调试辅助工具的结构示意图；图2是本发明提供的平台组件与轴体的连接示意图；图3是图2中A-A方向的剖视图；图4是本发明提供的平台的俯视图；图5是本发明提供的第一盘体的正视图；以及，图6是本发明提供的轴体的正视图。

本发明提供了一种调试辅助工具，包括支架组件、轴体4和平台组件；所述轴体4转动连接于所述支架组件上，所述平台组件滑动连接于所述轴体4上；待调试物与所述平台组件可拆卸连接。

通过将轴体4转动连接于支架组件上，使所述轴体4可以相对支架组件进行旋转，而平台组件连接于轴体4上，因此平台组件能够随着轴体4的旋转进行旋转；且平台组件与轴体4为滑动连接，因此平台组件能够在轴体4上进行滑动，而且由于上述旋转以轴体4的轴线为轴，上述滑动沿轴体4的轴线，旋转与滑动方向互相垂直，互不干扰，但却能够同时为平台组件提供旋转动作和距离变化动作；待调试物与平台组件连接后，平台组件可以带动待调试物进行旋转和位移，对待调试物的旋转角度和移动距离可以同时调试，方便快捷，提高效率，减低成本，而且两种调试可以相互校准，分别提高调试结果的准确性。

在本发明的一些实施例中，所述支架组件包括第一支架和第二支架；所述第一支架包括依次连接的第一基座1、第一连接架2和第一盘体3，所述第二支架包括依次连接的第二基座17、第二连接架18和第二盘体19；所述第一盘体3和所述的第二盘体19平行，所述轴体4的一端与所述第一盘体3转动连接，所述轴体4的另一端与所述第二盘体19转动连接。

支架组件即为两个相互平行的支架组成，其核心部件为用于与轴体4连接且限制轴体4位置的盘体，而在盘体下端设置连接架能够增加盘体的高度，方便轴体4和设置在轴体4上的平台组件的转动，使其能够无障碍的完成360°的旋转；在连接架下方设置基座，能够增加整个支架的稳定性，使轴体4旋转和平台组件滑动时都不会引起支架的移动，从而保证两种动作的精确，进而提高了放置在平台组件上的待调试物的调试结果的准确性。

在本发明的一些实施例中，所述轴体4从一端至另一端依次包括第一端部、中间部和第二端部5，所述第一端部和所述第二端部5均呈圆柱状；所述第一端部与所述第一盘体3通过轴承连接；所述第二端部5贯穿所述第二盘体19，所述第二端部5上套设有固定件6，所述固定件6和所述中间部分别位于所述第二盘体19的两侧；所述固定件6可相对所述第二端部5进行轴向运动以改变其与中间部间的距离。

中间部即为轴体4的主体部分，而且平台组件即是与此主体部分进行连接，而在中间部的两端分别连接有第一端部和第二端部5，第一端部和第二端部5关于中间部对称，而且第一端部和第二端部5较之中间部细一些，也就是第一端部在中间部的端部的投影落于该端部内，同样第二端部5在中间部的端部的投影也落于该端部内；而且第一盘体3内设有轴承孔14，轴承孔14内设有轴承，而第一端部设置在轴承内，轴承的内圈与第一端部过盈配合连接，轴承的外圈与轴承孔14的内壁过盈配合连接；第二端部5上设置有外螺纹，第二端部5穿过第二盘体19后中间部的端部与第二盘体19一侧的表面相抵，而第二盘体19的另一侧，第二端部5上套设有作为固定件6的螺母，螺母旋紧至与与第二盘体19另一侧的表面相抵的位置，从而将第二盘体19夹紧在中间部和螺母之间，而且由于中间部和螺母对第二盘体19的摩擦力限制作用，轴体4此时不能够进行旋转，当需要旋转时，则需要将螺母旋松，使其远离第二盘体19，从而解除第二盘体19的夹持力，然后再进行旋转。

在本发明的一些实施例中，所述平台组件包括平台7和设于所述平台7一侧的轴套12，所述轴套12套设于所述轴体4的中间部上。平台组件的主体为平台7，平台7即为一个平板，其一个表面上用于放置待调试物，其另一个表面上设有轴套12，而轴套12套设在轴体4的中间部上，前文已经描述过，中间部为轴体4的主体部分，而且中间部位于第一盘体3和第二盘体19之间，通过轴套12将平台组件设置在中间部上，可以增加平台组件在轴体4上滑动时的稳定性，不致引起轴体4甚至两个支架的晃动；而且轴套12的内壁与轴体4的内壁完全匹配，轴套12能够在轴体4上进行沿其轴向的滑动，而不会出现径向上的移动，而轴向的滑动即可为平台组件提供距离变化动作。

在本发明的一些实施例中，所述平台组件还包括限位件13，所述轴套12设有限位孔，所述限位件13设于所述限位孔内且可沿所述限位孔的轴向进行伸缩；所述限位件13与所述轴体4相抵时能够限制所述轴套12相对所述轴体4的滑动。限位件13可以选择螺钉，限位孔内设置于螺钉匹配的内螺纹，螺钉孔可以设置在轴套12的任何一个径向，当设置在朝向平台7的径向时，需要使螺钉孔贯穿平台7，这样螺钉才能置入；然后螺钉可以在限位孔内旋进旋出的过程即可完成其端部对轴体4的靠近和远离，当靠近至与轴体4相抵时，则可完成对轴套12滑动的限制，当远离至离开轴体4时，则可解除对轴套12滑动的限制。具体使用时，当需要平台组件进行滑动时，则解除对轴套12滑动的限制，滑动平台组件，当不需要平台组件进行滑动时，则完成对轴套12滑动的限制。

在本发明的一些实施例中，所述中间部呈棱柱状。冷柱状能够防止轴套12相对于轴体4进行转动，从而使平台7的转动与轴体4同步，增加转动时角度控制的准确性。

在本发明的一些实施例中，所述平台7的另一侧设有多个固定孔10；每个待调试物上均设有固定柱11，不同的待调试物的固定柱11分别与所述平台7的不同的固定孔10相匹配。在使用MCU(微控制器)调试陀螺仪时，因为使用杜邦线将MCU和陀螺仪连接到一起，使得陀螺仪不能进行大距离位移和大角度变换，需要对整个开发板8进行位移和角度变换；而目前其他的调试方式和调试工具不能兼顾不同型号和尺寸的开发板8。通过在平台7的另一侧设置多个固定孔10，选择不同的固定孔10进行组合，可以用来固定不同规格和大小的待调试物，也就是用来固定不同规格和大小的开发板8，各种规格和大小的开发板8均于四角处设置固定柱11，而四个固定柱11可以插设在平台7上的四个固定孔10中，四个固定孔10组成一个固定孔10组，不同的开发板8的四个固定柱11插设在平台7上不同的固定孔10组中，增加了平台7对不同的待调试物的适应能力，使其能够用于调试各种规格、型号和尺寸的待调试物。

在本发明的一些实施例中，所述轴体4的中间部的一端套设有角度指针20，所述第一盘体3的朝向所述中间部的一侧设有角度刻度线15，所述轴体4上设有距离刻度线16。通过角度指针20和角度刻度线15可以读取到轴体4转动的角度，通过轴体4上的距离刻度线16能够读取到平台组件在轴体4上滑动的距离；角度指针20靠近第一盘体3，其与第一盘体3间保持0.5-3mm的间隙，从而方便角度的读取，同时能避免角度指针20与第一盘体3间的摩擦，防止影响轴体4的转动；第一盘体3可以设置成圆形形状，然后角度刻度线15布置在其表面，角度刻度线15的最小刻度值可根据调试的精度要求进行设置，一般可以设置在0.1度至1度之间。

在本发明的一些实施例中，还包括能与所述第一盘体3的不同位置可拆卸连接的定位件；所述定位件通过与所述角度指针20相抵能够定位所述轴体4的旋转角度。所述定位件可以设置在需要定位的刻度处，例如，需要轴体4转动180°，而且轴体4从初始的0°位置开始转动，将定位件与第一盘体3的180°处进行连接，然后转动轴体4的过程中，当转动至180°时，角度指针20与定位件相抵，即被定位件阻止不能继续转动，则完成了轴体4转动180°的定位；当然将定位件连接于其他的角度处，即可完成轴体4转动其他角度的定位。而定位件与第一盘体3的连接可以根据需要采用各种形式，例如可以在几个比较常见的定位角度处设置定位孔，然后将定位件设置成定位针的形式，然后插设入定位孔或者通过设置螺纹旋紧定位孔中；或者通过在第一盘体3没有刻度的一侧设置磁铁或者电磁机构，然后在第一盘体3设有刻度的一侧设置定位铁针，通过二者间的磁力，加之移动磁铁或电磁机构的位置，使定位铁针能够连接于第一盘体3的任何刻度处；或者将定位件设置成定位夹，其能够夹持在第一盘体3的周向任何位置，从而能够将角度指针20定位在任何需要的角度。

在本发明的一些实施例中，所述待调试物为集成了陀螺仪和加速度计9的开发板8。

在手动调试加速度计过程中，由于加速度计不是严格按照直线运动的，实际运动的距离为D2，理论上的调试校准目标为D1。根据X，Y，Z三轴读取到的寄存器数据计算出来的位移为D3，调试的目的是使|D1-D3|越小越好，然而实际的运动距离为D2，这就导致加速度计始终存在|D2-D3|的误差。本发明的作用是通过带刻度的轴体4控制加速度计的运动，使|D2-D3|尽可能的小，从而使调试结果更加接近真实运动情况。

同理，在手动调试陀螺仪的过程中，由于陀螺仪不是严格按照空间坐标系的某一轴进行转动的，实际上在空间转动的角度为A2。理论上的转动角度为A1。根据X，Y，Z三轴读取到的寄存器数据计算出来的位移为A3，调试的目的是使|A1-A3|越小越好，然而实际的转动角度为A2，本发明的作用是使用带角度刻度的盘体严格控制转动的角度，使|A2-A3|尽可能的小，缩小调试环境下和理论环境下的误差。

在使用加速度辅助校正陀螺仪的算法中，如Kalman滤波，以及陀螺仪和加速度计9的综合调试中，需要同时测量加速度计和陀螺仪的值，本发明的辅助装置能够同时产生准确的位移和角度，便于开发板8上的陀螺仪和加速度计9的同时调试。

前面已经描述了平台7能够通过固定孔10固定不同规格、型号和大小的待调试物，能够固定不同尺寸大小的MCU开发板8。

在对开发板8上的陀螺仪和加速度计9进行调试时，根据调试需求，分为以下三种调试场景：

单独调试加速度计。此时将轴体4的第一端部的螺母旋紧，使其不会相对第一盘体3产生转动，然后使作为限位件13的螺钉解除对轴套12滑动的限制，从而平台组件可以通过滑动在轴体4上产生加速度，以及可以通过刻在轴体4上的刻度读出加速度计的位移，从而对加速度计的相关算法进行调试和校正。

单独调试陀螺仪。此时通过作为限位件13的螺钉对轴套12滑动进行限制，从而使平台组件和轴体4之间不会产生相对的滑动，然后旋开轴体4的第一端部的螺母，使轴体4能够相对第一盘体3旋转，进而轴体4上的平台组件也可绕着轴体4的轴线转动，可以通过角度刻度线15和固定在轴体4上的角度指针20读出陀螺仪的旋转角度，从而对陀螺仪的相关算法进行调试和校正。

同时调试陀螺仪和加速度计9。此时需要解除平台组件内作为限位件13的螺钉对轴套12滑动的限定，同时要旋开轴体4的第一端部的螺母，使轴体4能够相对第一盘体3旋转，进而轴体4上的平台组件也可绕着轴体4的轴线转动，然后按照需求将带有陀螺仪和加速度计9的开发板8进行滑动以及旋转，达到调试的目的。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。