阅读说明：本技术 一种检测治具及跪针检测方法 (Detection jig and kneeling needle detection method ) 是由 章伟 于 2019-10-29 设计创作，主要内容包括：本申请提供了一种检测治具及跪针检测方法,所述检测治具包括治具主体、相互平行的测试针和定位板,所述治具主体和定位板上均设有与电路板待测区域的板孔一一对应的针孔,所述测试针一一对应的设置的所述治具主体和定位板的针孔中,并可沿针孔滑动,所述定位板与所述治具主体间隔设置且滑动连接,所述治具主体内部的定位弹性件使所述测试针具有向下的推力,确保与连接器针尾良好的接触。本申请所述的测试治具结构简单,仅仅通过测试针端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生,检测结果分析直观快速,且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器,能够大大的降低检测装置的成本。(The application provides a detection tool and kneel needle detection method, detection tool includes tool main part, test needle and locating plate that are parallel to each other, all be equipped with the pinhole with the regional diaphragm orifice one-to-one that awaits measuring of circuit board on tool main part and the locating plate, the setting of test needle one-to-one in the pinhole of tool main part and locating plate to can follow the pinhole and slide, the locating plate with tool main part interval sets up and sliding connection, the inside location elastic component of tool main part makes the test needle has decurrent thrust, ensures with the good contact of connector needle tail. The application test fixture simple structure, only can respond out the emergence whether have the needle phenomenon of kneeling through the difference in height of test needle terminal surface, the analysis of testing result is directly perceived quick, and need not to use expensive instruments such as x-ray emitter, reduction detection device's that can be great cost.)

一种检测治具及跪针检测方法

技术领域

本申请涉及检测治具，尤其涉及一种检测治具。

背景技术

跪针现象，如图1所示，是指电路板1与连接器2压接过程中，连接器的针尾21，又称鱼眼，未被正确地、完全地压入电路板相应板孔11，导致连接器针尾断针、弯折、扭曲于连接器底部和线路板之间的一种现象。因其发生在连接器底部和线路板之间，压接完成后，不可直接被发现。而若不能被及时检测发现，会导致产品存在较为严重的质量隐患。

目前跪针现象的检测，主要方法是用X-ray(X射线)检测。即将压接组装后的电路板，放入X-ray检测装置中，利用X-ray高强度的穿透性，对电路板进行透视拍照，形成照片，再通过对X-ray透视形成的照片进行分析，从而找到跪针现象。通常X-ray检测装置包括2D和3D两种。2D X-ray是用X-ray拍摄产品整体的正透视照片，对比连接器针尾在压接孔周围的投影大小及异常，从而判断出是否有跪针现象存在。3D X-ray是用X-ray拍摄产品整体的多角度透视照片，并经过特殊算法运算，从而得到产品相关对应层的切层图像，查找出是否有缺失点，从而判断出是否有跪针现象存在。利用X-ray检测装置，测试时间短，但是，测试装置的成本高，结果分析困难。

发明内容

鉴于目前跪针现象的检测存在的上述不足，本申请提供一种检测治具，结构简单，能够大大的降低检测装置的成本，且检测结果分析直观快速。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

一种检测治具包括：

治具主体，所述治具主体上设有第一针孔和弹性件腔，所述第一针孔与电路板的待测区域的板孔一一对应，所述弹性件腔由所述第一针孔的非端部区域径向延伸而形成，所述弹性件腔内设有第一弹性件；

测试针，所述测试针相互平行且与所述第一针孔一一对应，与所述第一针孔滑动连接，且各个所述测试针长度相等；所述测试针上设有第一卡挡部，所述第一卡挡部被卡挡在所述弹性件腔的下端，所述第一弹性件套设在所述测试针上，其两端分别被所述弹性件腔的顶部和所述第一卡挡部限位；

定位板，所述定位板上设有与所述第一针孔一一对应的第二针孔，所述测试针与所述第二针孔滑动连接；所述定位板与所述治具主体间隔设置，所述定位板上设有与所述测试针平行的连接杆，所述连接杆的下端与所述导向板固定连接，上端与所述治具主体滑动连接，所述连接杆上设有第二卡挡部，所述第二卡挡部的下表面被所述治具主体卡挡，使所述测试针的下端伸出所述定位板等长的距离。

第一卡挡部、弹性件腔、第一弹性件和测试针的配合，第一弹性件因形变产生的弹力使测试针具有向下的推力，确保测试针的下端与连接器的针尾保持接触，在测试完成后，也可以使被测试针的两端复位。连接杆、第二卡挡部、定位板和治具主体的配合使所述导向板与所述治具主体间隔的滑动连接，所述测试针的下端伸出所述定位板等长的距离，使各个测试针可以快速的与电路板待测区域的板孔一一对应配合，所述连接杆还具有导向的作用，使探测针可以垂直于电路板。其中，一一对应是指数量和排列次序均一致。

如果有跪针现象，连接器的针尾则没有正确地、完全地压入电路板相应的板孔中，连接器针尾会出现断针、弯折或者扭曲，使针尾的高度差发生了明显的变化。此外，由于电路板的板孔径小，无法通过足够的光线，很暗，无法用肉眼观察。本申请通过设置等长的所述测试针，在检测开始前，各个测试针的上端和下端均保持在同一平面内，然后将各个测试针伸入电路板待测区域的板孔中，各测试针的下端与所述连接器的针尾接触后停止运动，此时，所述测试针的两端会呈现出与压接后连接器的针尾一致的高度差，通过观察各个测试针的上端是否在同一个平面内，即可快速的分析是否有跪针现象的发生。本申请所述的测试治具结构简单，仅仅通过测试针端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生，检测结果分析直观快速，且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器，能够大大的降低检测装置的成本。

优选的，所述测试针的下端设置为半球状或者锥状。所述测试针的下端设置成由大变小的形状，可以使测试针在有一定误差的范围内仍能够准确的伸入对应的电路板待检测区域对应的板孔中。

优选的，所述连接杆至少设置为两根，可以使定位板的连接和定位效果更好。

优选的，所述治具主体包括由上而下依次连接的上压板、管状板和下压板，所述上压板和下压板上设有相互对应的第一针孔，所述管状板上设有与所述第一针孔对应的弹性件腔。多层分体结构分别加工后再进行连接，可以方便加工，使工艺更加简单，成本更低。

优选的，所述治具主体包括观察板，所述观察板设置在所述上压板的上端，与所述上压板固结，所述观察板上设有对应的第一针孔。设置观察板设置特定的观察区域，使观察更加方便。

优选的，所述治具主体包括连接板，所述连接板设置在所述下压板的下端，与所述下压板固结，所述观察板上设有对应的第一针孔。通过连接板，可以调节治具主体的厚度，也使治具主体更加方便的人工驱动，或者被机械手驱动。

优选的，所述上压板相对的侧面上设有上侧耳，所述连接板上设有与所述上侧耳对应的下侧耳，所述连接杆的上端穿过所述下侧耳和所述上侧耳，与侧耳滑动连接，所述第二卡挡部的下表面被所述下侧耳的上表面卡挡，所述连接杆上还设有第二弹性件，所述第二弹性件的两端分别被所述上侧耳和所述第二卡挡部卡挡。所述第二弹性件因为形变二产生的弹力使所述定位板可以更好的复位。

优选的，所述测试针的数目为50～150个。当所述测试针的数目在50～150个的范围内时，用本申请所述的测试治具进行检测，可以使效率和准确性均达到最好。

优选的，所述测试针的直径为0.2～1mm，特别是当随时测试针的直径不大于0.5mm时，用本申请所述的测试治具进行检测，可以使测试针更好的定位，更加快速准确的伸入所述电路板待检测区域的板孔中。

优选的，所述测试针的下端伸出所述定位板0.5～1mm。伸出较短的距离，方便测试针的下端伸入电路板待检测区域的板孔中。

优选的，所述第一卡挡部与所述探针一体成型或者可拆分连接，所述第二卡挡部与所述导向杆一体成型或者可拆分连接。卡挡部是用于形成台阶，形成提供卡挡的支撑件。第一卡挡部与测试针，或者连接杆的具体连接方式可以根据具体的生产工艺进行选择。

优选的，所述第一弹性件为压缩弹簧，所述第二弹性件为压缩弹簧，弹性件的选择可以根据轴向运动的距离和预设弹力的大小进行选择，还可以为弹片、弹性材料制成的块状体等。

本申请还提供了一种跪针检测方法，用于如上所述的检测治具，其特征在于，包括如下步骤：

所述电路板的待测区域与所述连接器连接后，所述测试针的下端从与所述连接相对的方向，与电路板的待测区域的板孔一一对应的伸入所述板孔中，所述导向板与所述电路板的表面贴合；

驱动所述治具主体向下运动，各个所述测试针伸入对应的所述板孔的底部，并与所述连接器的针尾接触；

观察所述测试针的上端，如果各个测试针的上端齐平，则无跪针现象；如果各个所述测试针的上端有高低差，所述电路板的待测区域有跪针现象。

在检测开始前，各个测试针的上端和下端均保持在同一平面内，然后将各个测试针伸入电路板待测区域的板孔中，各测试针的下端与所述连接器的针尾接触后停止运动，此时，所述测试针的两端会呈现出与压接后连接器的针尾一致的高度差，通过观察各个测试针的上端是否在同一个平面内，即可快速的分析是否有跪针现象的发生。本申请所述的测试治具结构简单，仅仅通过测试针端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生，检测结果分析直观快速，且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器，能够大大的降低检测装置的成本。

本申请实施的优点：本申请提供了一种检测治具及跪针检测方法,所述检测治具包括治具主体、相互平行的测试针和定位板，所述治具主体和定位板上均设有与电路板待测区域的板孔一一对应的针孔，所述测试针一一对应的设置的所述治具主体和定位板的针孔中，并可沿针孔滑动，所述定位板与所述治具主体间隔设置且滑动连接，所述治具主体内部的定位弹性件使所述测试针具有向下的推力，确保与连接器针尾良好的接触。本申请所述的测试治具结构简单，仅仅通过测试针端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生，检测结果分析直观快速，且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器，能够大大的降低检测装置的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请背景技术所述的跪针现象的示意图；

图2为本申请实施例所述的检测治具的检测开始前的状态示意图；

图3为本申请实施例所述的检测治具的检测过程中的状态示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1、图2和图3所示，一种检测治具包括：

治具主体1，所述治具主体1上设有第一针孔11和弹性件腔12，所述第一针孔11与电路板4的待测区域的板孔41一一对应，所述弹性件腔12由所述第一针孔11的非端部区域径向延伸而形成，所述弹性件腔12内设有第一弹性件13；

测试针2，所述测试针2相互平行与所述第一针孔11一一对应，与所述第一针孔11滑动连接，且各个所述测试针2长度相等；所述测试针2上设有第一卡挡部12，所述第一卡挡部12被卡挡在所述弹性件腔12的下端，所述第一弹性件13套设在所述测试针2上，其两端分别被所述弹性件腔12的顶部和所述第一卡挡部12限位；

定位板3，所述定位板3上设有与所述第一针孔11一一对应的第二针孔31，所述测试针2与所述第二针孔31滑动连接；所述定位板3与所述治具主体1间隔设置，所述定位板3上设有与所述测试针2平行的连接杆32，所述连接杆32的下端与所述导向板固定连接，上端与所述治具主体1滑动连接，所述连接杆32上设有第二卡挡部33，所述第二卡挡部33的下表面被所述治具主体1卡挡，使所述测试针2的下端伸出所述定位板3等长的距离。

第一卡挡部12、弹性件腔12、第一弹性件13和测试针2的配合，第一弹性件13因形变产生的弹力使测试针2具有向下的推力，确保测试针2的下端与连接器5的针尾51保持接触，在测试完成后，也可以使被测试针2的两端复位。连接杆32、第二卡挡部33、定位板3和治具主体1的配合使所述导向板与所述治具主体1间隔的滑动连接，所述测试针2的下端伸出所述定位板3等长的距离，使各个测试针2可以快速的与电路板4待测区域的板孔41一一对应配合，所述连接杆32还具有导向的作用，使探测针可以垂直于电路板4。其中，一一对应是指数量和排列次序均一致。

如果有跪针现象，连接器5的针尾51则没有正确地、完全地压入电路板4相应的板孔41中，连接器5针尾51会出现断针、弯折或者扭曲，使针尾51的高度差发生了明显的变化。此外，由于电路板4的板孔41孔径小，无法通过足够的光线，很暗，无法用肉眼观察。本申请通过设置等长的所述测试针2，在检测开始前，各个测试针2的上端和下端均保持在同一平面内，然后将各个测试针2伸入电路板4待测区域的板孔41中，各测试针2的下端与所述连接器5的针尾51接触后停止运动，此时，所述测试针2的两端会呈现出与压接后连接器5的针尾51一致的高度差，通过观察各个测试针2的上端是否在同一个平面内，即可快速的分析是否有跪针现象的发生。本申请所述的测试治具结构简单，仅仅通过测试针2端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生，检测结果分析直观快速，且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器，能够大大的降低检测装置的成本。

使测试针2在有一定误差的范围内仍能够准确的伸入对应的电路板4待检测区域对应的板孔41中，在本申请的部分实施例中，所述测试针2的下端可以设置为由大变小的形状，特别是半球状或者锥状，效果最好。

连接杆32的数量可以根据定位板3的大小进行选择，在所述定位板3的面积较大时，可以设置较多的数目，一般的，所述连接杆32可以设置为两根，可以使定位板3的连接和定位好，且结构简单。

为了使治具主体1的加工工艺更加简单，我们将所述治具主体1设置成分体的结构，例如，在本申请的部分实施例中，所述治具主体1包括由上而下依次连接的上压板、管状板和下压板，所述上压板和下压板上设有相互对应的第一针孔11，所述管状板上设有与所述第一针孔11对应的弹性件腔12。多层分体结构分别加工后再进行连接，使加工工艺更加简单。

为了方便观察，在本申请部分实施例中，所述治具主体1还可以包括观察板，所述观察板设置在所述上压板的上端，与所述上压板固结，所述观察板上设有对应的第一针孔11。

为了调节治具主体1的厚度，在本申请的部分实施例中，所述治具主体1包括连接板，所述连接板设置在所述下压板的下端，与所述下压板固结，所述观察板上设有对应的第一针孔11。

此外，为了方便动力的输入，通过我们还可以在上压板、弹簧板、下压板和连接板中的一块或者多块上设置与驱动机构相配合的动力输入结构，驱动机构可以为气缸、油缸或者机械手，也可以由操作人员手动操作提供动力。例如，当动力由操作人员手动操作提供时，将所述上压板、弹簧板、下压板和连接板中的一块或者多块上的相对的侧面延长形成便于握手的手柄即可。

为了方便连接杆32的安装，在本申请的部分实施例中，所述上压板相对的侧面上设有上侧耳，所述连接板上设有与所述上侧耳对应的下侧耳，所述连接杆32的上端穿过所述下侧耳和所述上侧耳，与侧耳滑动连接，所述第二卡挡部33的下表面被所述下侧耳的上表面卡挡，所述连接杆32上还设有第二弹性件34，所述第二弹性件34的两端分别被所述上侧耳和所述第二卡挡部33卡挡。所述第二弹性件34因为形变二产生的弹力使所述定位板3可以更好的复位。此外，所述连接杆32还具有导向的作用，使探测针可以垂直于电路板4。

在本申请的实施例中，所述测试针2的数目最好设置为50～150个。当所述测试针2的数目在50～150个的范围内时，可以使效率和准确性均达到最好。

在本申请的实施例中，所述测试针2的直径最好为0.2～1mm。特别是当所述测试针2的直径不大于0.5mm时，可以使测试针2更好的定位，更加快速准确的伸入所述电路板4待检测区域的板孔41中。

为了使所述测试针2的下端更加容易的伸入电路板4待检测区域的板孔41中，所述测试针2的下端伸出所述定位板3的距离最好保持在0.5～1mm之间。

卡挡部是用于形成台阶，形成提供卡挡的支撑件，可以设置为多种形式，所述第一卡挡部12与所述探针可以设置为一体成型的结构，也可以设置为可拆分连接的结构，同理，所述第二卡挡部33与所述导向杆也可以设置成一体成型的结构或者可拆分连接结构。此外，所述卡挡部的形状也可以根据需要进行适应性的变换，例如，可以设置成凸起圈的形状，也可以设置成台阶状等。

所述弹性件的选择可以根据轴向运动的距离和预设弹力的大小进行选择，在本申请的部分实施例中年，所述第一弹性件13为压缩弹簧，所述第二弹性件34为压缩弹簧，在本申请其它的实施例中，还可以设置为弹片或者弹性材料制成的块状体等，。

本申请还提供了一种跪针检测方法，用于如上所述的检测治具，其特征在于，包括如下步骤：

S1:所述电路板4的待测区域与所述连接器5连接后，所述测试针2的下端从与所述连接相对的方向，与电路板4的待测区域的板孔41一一对应的伸入所述板孔41中，所述导向板与所述电路板4的表面贴合；

S2:驱动所述治具主体1向下运动，各个所述测试针2伸入对应的所述板孔41的底部，并与所述连接器5的针尾51接触；

S3:观察所述测试针2的上端，如果各个测试针2的上端齐平，则无跪针现象；如果各个所述测试针2的上端有高低差，所述电路板4的待测区域有跪针现象。

在检测开始前，各个测试针2的上端和下端均保持在同一平面内，然后将各个测试针2伸入电路板4待测区域的板孔41中，各测试针2的下端与所述连接器5的针尾51接触后停止运动，此时，所述测试针2的两端会呈现出与压接后连接器5的针尾51一致的高度差，通过观察各个测试针2的上端是否在同一个平面内，即可快速的分析是否有跪针现象的发生。本申请所述的测试治具结构简单，仅仅通过测试针2端面的高度差即可反应出是否有跪针现象的发生，检测结果分析直观快速，且无需使用x-ray发射装置等昂贵的仪器，能够大大的降低检测装置的成本。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域技术的技术人员在本申请公开的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。

因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。