阅读说明：本技术 基于嵌入式系统的测试装置 (Test device based on embedded system ) 是由 陈新泉 宋阳 于 2019-07-10 设计创作，主要内容包括：本发明公开了基于嵌入式系统的测试装置,包括主控板、底板和若干测试板卡,底板与主控板电连接,底板上安装有若干连接件,每一个测试板卡与其中一连接件对应插接、实现底板与测试板卡之间的电连接。本发明通过测试板卡与底板之间插接继而实现测试板卡与底板之间的灵活安装与拆卸,提高测试装置的灵活性；通过单个测试板卡或者测试板卡与测试板卡之间的配合,实现测试板卡功能的可选择性,提高了测试板卡选择的多样化。(The invention discloses the test devices based on embedded system, including master control borad, bottom plate and several test boards, bottom plate is electrically connected with master control borad, and several connectors are equipped on bottom plate, and being electrically connected between bottom plate and test board is realized in the grafting corresponding with wherein a connection piece of each test board.The present invention passes through grafting between test board and bottom plate and then realizes the flexible installation and removal between test board and bottom plate, improves the flexibility of test device；By the cooperation between single test board or test board and test board, the alternative of test board function is realized, improve the diversification of test board selection.)

基于嵌入式系统的测试装置

技术领域

本发明涉及软件系统测试装置技术领域，尤其涉及基于嵌入式系统的测试装置。

背景技术

目前嵌入式系统的测试装置的测试功能都是固定的，对嵌入式系统的电压和电流进行测试的装置，该装置仅能对嵌入式系统的电流和电压进行测试，而不能对其他参数进行测试，使用起来灵活性低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供基于嵌入式系统的测试装置，能够实现对嵌入式系统测试功能的增添或删减，提高测试装置的灵活性。

为实现上述目的，本发明提供了基于嵌入式系统的测试装置，包括主控板、底板和若干测试板卡，所述底板与所述主控板电连接，所述底板上安装有若干连接件，每一个所述测试板卡与其中一所述连接件对应插接、实现所述底板与所述测试板卡之间的电连接，若干所述测试板卡通过所述底板与所述主控板电连接。

作为一种改进，每一个测试板卡上安装有一个插件，每个插件与一个连接件对应插接，若干所述测试板卡通过插件与连接件插接实现测试板卡与底板的装配和拆卸。

作为一种改进，主控板包括相互电连接的单片机、万用表芯片、显示触摸屏模块和若干串口，所述显示触摸屏模块与所述单片机双向连接，所述单片机通过所述若干串口与所述测试板卡电连接。

作为一种改进，所述测试装置还包括装配体，所述装配体包括第一装配板和第二装配板，所述第一装配板和第二装配板之间相互固定连接，所述底板固定于所述第一装配板。

作为一种改进，所述第一装配板与所述第二装配板相互垂直形成L形，所述底板与所述第一装配板之间不接触，所述第二装配板上设有若干开口，每一个测试板卡的输出端从一相应的开口露出以用于与待测量设备连接。

作为一种改进，所述测试装置还包括第一限位板，所述第一限位板安装于所述第一装配板上远离所述第二装配板的一端，所述主控板和若干所述测试板卡靠近所述第一限位板的一端设有第一凹槽，所述第一限位板上设有与所述第一凹槽配合的第一卡槽，所述第一凹槽和所述第一卡槽配合安装、且用于限制所述主控板和若干所述测试板卡相对底板发生位移，所述第一限位板的一端与所述第一装配板枢轴连接，所述第一限位板的另一端与所述第一装配板可拆卸连接。

作为一种改进，所述测试装置还包括第二限位板，所述第二限位板安装于所述第二装配板上远离所述第一装配板的一端，所述主控板和若干所述测试板卡靠近所述第二限位板的一端设有第二凹槽，所述第二限位板上设有与所述第二凹槽配合的第二卡槽，所述第二凹槽和所述第二卡槽配合安装、且用于限制所述主控板和若干所述测试板卡相对底板发生位移，所述第二限位板的一端与所述第二装配板枢轴连接，所述第二限位板的另一端与所述第二装配板可拆卸连接。

本发明提供的基于嵌入式系统的测试装置，通过测试板卡与底板之间插接继而实现测试板卡与底板之间的灵活安装与拆卸，提高测试装置的拆装灵活性；通过单个测试板卡或者测试板卡与测试板卡之间的配合，实现测试板卡功能的可选择性，提高了测试板卡选择的多样化；通过设置装配体和第一限位板以及第二限位板，可以提高测试板卡在使用时的稳定性、和在拆卸时的快捷性。

附图说明

图1为本发明第一实施例装置的整体结构示意图。

图2为本发明第一实施例图1中A的结构放大示意图。

图3为本发明第一实施例主控板的系统框图。

图4为本发明第一实施例装配体的左视图。

图5为本发明第一实施例继电器板卡的系统框图。

图6位本发明第一实施例数据采集与控制卡的系统框图。

图中：1、主控板；2、底板；21、连接件；3、测试板卡；31、插件；32、第一卡槽；33、第二卡槽；34、输出端针座；4、装配体；41、第一装配板； 42、第二装配板；421、开口；43、第一限位板；431、第一凹槽；44、第二限位板；441、第二凹槽。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参看图1-2，本发明提供了基于嵌入式系统的测试装置，包括主控板1、底板2和测试板卡3，主控板1包括相互电连接的单片机、万用表芯片和若干串口，底板2包括电源模块和数据转换模块，电源模块用于为装置提供稳定的电源，数据转换模块用于对主控板1和测试板卡3之间的信号传输；在主控板1中，单片机通过若干串口与显示触屏模块双向电连接，单片机通过继电器控制万用表芯片电源的开关，万用表芯片与外界待测试装置连接、从而为待测试装置的测试进行准备。应当指出的是，在本实施例中，单片机采用但并不局限于采用STM32F103型号；万用表芯片采用但并不局限于采用 FS9922型号，万用表芯片用于对外界的待测试装置进行测量，其他有此功能的芯片也能够将其替换应用到本实施例中。

请参看图3，底板2上安装有若干连接件21，每一个测试板卡3上安装有一个插件31，一个插件31与一个连接件21插接安装，每一个测试板卡3 通过插件31与对应的连接件21配合安装实现测试板卡3与底板2的插接，应当指出的是，这里的测试板卡3可以是单个的测试板卡3，也可以是两个或两个以上测试板卡3的组合；通过插件31与连接件21的插接能够实现测试板卡3与底板2的装配或拆卸，这样测试板卡3就能够很方便的拆卸或安装在底板2上，提高测试装置的拆装灵活性，当若干测试板卡3的其中之一通过插件31与任意一个连接件21插接安装后，对应的测试板卡3就通与底板2 电连接、继而使得测试板卡3与主控板1之间电连接；测试板卡3包括电源、 ARM微处理器、若干串行接口、测试电路板，电源为其他模块提供电能，ARM 微处理器与测试电路板电连接，测试板卡3通过底板2与主控板1电连接，然后将测试板卡3的输出端与待测试装置电连接，整个装置就能够与待测试装置连接进行既定的测试功能(比如测试板卡为继电器板卡，则继电器板卡通过底板2与主控板1的电连接，实现继电器板卡的开关功能的实现)，应当指出的是，测试板卡3和主控板1都要打样，然后重新布线，这样不仅方便插件31的安装、以及测试板卡3的输出端针座34与第二装配板42的开口421 的配合，便于测试板卡3与外界连接进行测试，连接件21的引脚也经过重新排序，方便测试板卡3和主控板1以及底板2之间的信号传输。在本实施例中，测试板卡3可以是但并不局限于继电器板卡、数据采集与控制卡、毫伏电压测量卡、精密电阻测量卡其中的一种，一个或多个测试板卡3与底板2 以及主控板1的配合(比如插接继电器板卡和数据采集与控制卡时，能够实现继电器板卡和数据采集与控制板卡的功能)，构建一个具有可扩展、模块化、多功能的一个通用的测试模块，采用板卡化的形式，可同时支持计算机系统和单片机系统，应当指出的是，后续还可根据需要扩展不同功能的板卡，实现对技术资源的积累与整合。

请一并参看图1和图4，基于嵌入式系统的测试装置还包括装配体4，装配体4包括第一装配板41和第二装配板42，第一装配板41和第二装配板42 之间固定安装，第一装配板41与第二装配板42相互垂直形成L形，底板2 固定于第一装配板41、且底板2与第一装配板41之间不接触，便于提高底板 2的散热能力，便于装置长时间持续工作，第二装配板42上设有若干开口421，测试板卡3的输出端从开口421露出、用于与待测量设备连接。

在本实施例中，第一限位板43安装于第一装配板41上远离第二装配板 42的一端，主控板1和若干测试板卡3靠近第一限位板43的一端设有第一凹槽431，第一限位板43上设有与第一凹槽431配合的第一卡槽32，第一凹槽431和第一卡槽32配合安装、且用于限制主控板1和若干测试板卡3相对底板2发生位移，第一限位板43的一端与第一装配板41枢轴连接，第一限位板43的另一端与第一装配板41可拆卸连接，第二限位板44安装与第二装配板42上远离第一装配板41的一端，主控板1和若干测试板卡3靠近第二限位板44的一端设有第二凹槽441，第二限位板44上设有与第二凹槽441配合的第二卡槽33，第二凹槽441和第二卡槽33配合安装、且用于限制主控板1 和若干测试板卡3相对底板2发生位移，第二限位板44的一端与第二装配板 42枢轴连接，第二限位板44的另一端与第二装配板42可拆卸连接，使用这种结构，在安装和拆卸限位板时，仅需要拆除一边然后进行旋转就能解除对主控板1以及测试板卡3的位移限制，使用起来比较方便，而且避免了限位板丢失的风险。

请参看图5，更具体的是，测试板卡3为继电器板卡，继电器板卡包括电源、2路串行接口(RS-485、RS232各一路)、ARM、12路通用继电器电路、8 路具有电压和电流采集功能的继电器电路，电源由非隔离的DC/DC和线性稳压芯片组成，前者用于将外部输入的8～32V的DC电源变为稳压的5V的DC 输出；后者用于将5V的DC变为ARM所需的3.3V的DC，它们共同为整个板卡供电。串行接口电路包括RS-485和RS232接口各一路，使用时可以根据实际需要选用。总共20路继电器分为两种方式：其中12路为普通的小型继电器，每路具有常开、常闭和公共端三个接口，这些通路可承受的信号是 1.0A-20V的DC、0.3A-60V的DC、0.5A-125V的AC；另8路继电器只提常开和公共端两个接口，但配有实时电压和电流检测功能，可以实时监控每一个通路的电压和电流，受电压/电流检测电路的限制，这些通路只能接-32～32V的DC范围内的直流信号，最大可承受电流为10A。

请参看图6，更具体的是，测试板卡3为数据采集与控制卡，数据采集与控制卡包括电源、2路串行接口(RS-485、RS232各一路)、ARM、模拟输入接口、2路DA电路、16路输出接口电路，电源由非隔离的DC/DC和线性稳压芯片组成，前者用于将外部输入的8～32V的DC的电源变为稳压的5V的DC 输出；后者用于将5V的DC变为ARM所需的3.3V的DC，它们共同为整个板卡供电。串行接口电路包括RS-485和RS232接口各一路，用户可以根据实际需要选用。32路模拟输入电路分为两种结构，其中前24路可接受0～32V 模拟输入电压，后8路可接受-32～32V范围的模拟输入电路。2路DA电路采用双路16Bit电流输出型的D/A芯片和相应的运放、高精度参考电源电路等组成，可以提供-10～10V模拟输出电压。

以上的仅是本发明的实施方式，在此应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出改进，但这些均属于本发明的保护范围。