具体实施方式

下面将结合本发明中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施，而不是全部的实施，基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1至图3所示，一种全自动微米级透明薄膜流延卷饶端面平齐控制装置，包括薄膜检测装置1、控制单元2和卷膜执行机构3，其中，所述薄膜检测装置1中并行设置有校正电容8和检测电容9，所述检测电容9的任一极板上设置有检测基准线12，校正电容8的两极板之间设置有薄膜通道，所述薄膜检测装置1通过所述校正电容8和检测电容9与所述控制单元2电连接，所述控制单元2与所述卷膜执行机构3电连接。

所述的端面平齐控制装置工作原理为，所述薄膜检测装置1采用电容式原理对薄膜边缘进行检测，判断是否需要进行纠偏动作，当薄膜边缘偏离设定位置时，控制器控制执行机构动作，引导薄膜向设定位置移动，达到端面平齐的控制。对本领域技术人员来说，电容值的计算公式为

其中，C是在某一具体频率下的电容；

d是电容两极板间厚度；

ε0是真空介电常数；

εr是电容两极板间的相对介电常数；

εr是电容两极板间的有效电极面积。

当极板间薄膜的种类及厚度发生改变时，即εr发生变化，电容量C发生变化。

当薄膜在极板间的相对位置发生变化式，A发生变化，电容量C也发生变化。

在本实施例中，所述薄膜15通过薄膜通道贯穿在校正电容8和检测电容9的两极板之间，优选地，所述薄膜15的边缘与所述检测基准线12平齐。所述检测基准线12优选设置在检测电容9上中的任一极板的中间位置处。

在校正电容8和检测电容9固定后，则校正电容8两极板间的厚度和检测电容9两极板间的厚度d是固定不变的，ε0是真空介电常数为一固定值。

在正常工作情况下，由于校正电容8的两极板间和检测电容9两极板间的薄膜15是相同的，所以校正电容8和检测电容9两极板间的相对介电常数εr和电容两极板间的有效面积εr均不会发生改变，此时校正电容8和检测电容9的电容值不会发生改变。

在薄膜15传送过程中，若薄膜15的边缘线与检测电容9上设置的检测基准线12不能平齐时，则会使得检测电容9两极板间的有效电极面积发生改变，从而最终使得检测电容9的电容值发生改变。此外，若在传送过程中，若薄膜15的材质发生了改变，则相当于电容两极板间的相对介电常数发生改变，此时，校正电容8和检测电容9的电容值均会发生改变。

为了能够灵敏地获取校正电容8和检测电容9的变化量，所述平齐控制装置中还包括LC校正振荡电路和LC检测振荡电路，所述薄膜检测装置1通过LC校正振荡电路和LC检测振荡电路与所述控制单元2电连接。对本领域技术人员来说，LC振荡电路中，振荡频率f与电容C相关，电感L设计为一个精确的稳定值，由LC振荡电路的频率计算公式，可知，在电容C发生微小的容值变化时，振荡频率f则会发生较大的变化值。所以，在本实施例中，所述控制单元2通过采集LC检测振荡电路的振荡频率值和LC校正振荡电路的振荡频率值来判断薄膜15是否跑偏，或者薄膜15的厚度、薄膜15的材质是否发生了改变。

优选地，流延薄膜边缘位于基准线12时，此时，设定控制单元2检测振荡的中心频率为f0，当流延薄膜边缘偏离基准线12时，检测电容9的额容值发生变化，LC检测振荡电路的振荡频率f随之改变，薄膜偏离方向不同，检测电容9的容值变化量也不同，同时，LC检测振荡电路的振荡频率频率改变量Δf=f0-f也不同，控制单元2根据检测振荡频率的大小变化，确定卷膜执行机构3的动作方向，从而达到纠正跑偏的目的。

而且，在本实施例中，为适应不同厚度不同介质种类薄膜的连续生产，设置一个校正电容8，并搭建了与校正电容8相配合的LC校正振荡电路。优选地，所述校正电容8的原始容值C10，所述的原始容值C10是在校正电容8的极板间没有薄膜介质时的电容值，根据LC校正振荡电路计算公式可以得到与原始容值相匹配的原始振荡频率f10。

在工作时，薄膜介质会完全覆盖校正电容8的两极板。得到一个同步流延薄膜材料的电容值C11，从而得到薄膜材料的振荡频率f11，在薄膜的厚度和材质发生改变时，所述LC校正振荡电路的频率也会发生改变，从而使得所述控制单元2进行控制参数的调整，来适应不同厚度和不同介质种类薄膜连续生成。

所述检测装置中还包括检测支架，所述检测支架为C型支架或U型支架，所述校正电容8固定在C型支架或U型支架的开口端处，所述检测电容9固定在C型支架或U型支架的闭合端处。所述校正电容8设置在C型支架或U型支架的开口端处用于检测薄膜的材质和厚度，所述检测电容9设置在C型支架或U型支架的闭合端处，用于检测所述薄膜的边缘是否偏离所述基准线12。

所述检测支架包括立柱14、第一支架臂4和第二支架臂13，所述立柱14两端固定有第一支架臂4和第二支架臂13，所述检测支架为一体成型结构。

所述校正电容8包括校正电容上极板6和校正电容下极板7，所述检测电容9包括检测电容上极板11和检测电容下极板10，所述校正电容上极板6和检测电容上极板11均固定在所述第一支架臂4上，所述校正电容下极板7和检测电容下极板10均固定在所述第二支架臂13上。所述校正电容上极板6和校正电容下极板7之间，以及检测电容上极板11和检测电容下极板10之间行成了薄膜15传送的薄膜通道。

所述第一支架臂4和第二支架臂13上均设置有安装凹槽5，所述安装凹槽5为两组，两组安装凹槽5在第一支架臂4和第二支架臂13上一一对应，所述校正电容8和检测电容9均固定在所述安装凹槽5内。

所述卷膜执行机构3包括卷筒23、动力装置和卷筒23调整机构，其中，所述卷筒23两端固定在卷筒23调整机构上，所述卷筒23调整机构与所述动力装置转动连接。

所述动力装置包括步进电机16、编码器、减速箱和主动带轮17，所述步进电机16的输出轴上设置有编码器，所述步进电机16的输出轴还通过减速箱与所述主动带轮17转动连接，所述步进电机16和编码器均与所述控制单元2电连接。

在本实施例中，所述控制单元2采集LC校正振荡电路的振荡频率值和LC检测振荡电路的振荡频率值，所述控制单元2根据所述振荡频率值来解算出薄膜端面的偏离基准线12的偏移量，并根据所述偏移量来对所述卷膜执行机构3进行相应的调节控制，所述控制单元2采用PID调节控制的方式来对所述卷膜执行机构3进行调节控制。

优选地，所述控制单元2驱动所述步进电机16转动，所述步进电机16的转动量可以根据编码器再次反馈至控制单元2中，这样控制单元2可以对所述步进电机进行精确调节，进一步保证了薄膜卷饶端面的平齐。

所述卷筒23调整机构包括传动丝杆和从动带轮19，所述主动带轮17上设置有传动带18，所述主动带轮17通过所述传动带18与所述从动带轮19转动连接，所述从动带轮19与所述传动丝杠20转动连接，所述传动丝杠20包括丝杠20和滑块21，所述从动带轮19与所述丝杠20转动连接，所述丝杠20与滑块21螺纹连接，所述滑块21上固定设置有卷筒支架22，所述卷筒支架22与所述卷筒23固定连接。

所述步进电机16的转动量通过减速箱传输到主动带轮17上，所述主动带轮17转动，并通过所述传动带18带动所述从动带轮19转动，所述从动带轮19带动所述丝杠20转动，所述丝杠20驱动所述滑块21在丝杠20上滑动，所述滑块21滑动过程中通过卷筒支架22来对卷筒23两端的角度进行调节，最终达到纠偏的效果。

所述控制单元2为控制器，所述控制器为单片机或PLC。

本发明公开了一种全自动微米级透明薄膜延卷饶端面平齐控制装置，所述平齐控制装置包括薄膜检测装置、控制单元和卷膜执行机构，所述薄膜检测装置中采用检测电容来对薄膜边缘进行检测，控制器单元LC检测振荡电路来判断所述薄膜是否跑偏，并根据LC检测振荡检测电路频率的变化量来调整卷膜执行机构进行纠偏，所述薄膜检测装置中还设置有校正电容来对薄膜的厚度和不同介质的薄膜进行检测，以适应不同厚度不同介质种类的薄膜可以连续生产，所述控制单元通过LC校正振荡电路来判断所述薄膜的厚度或薄膜的介质是否发生改变，在发生改变时，所述控制单元进行控制参数的调整，来适应不同厚度和不同介质种类薄膜连续生成，具有薄膜收卷平齐，可对不同厚度不同介质种类的薄膜可以连续生产的有益效果。

本发明方案所公开的技术手段不仅限于上述实施方式所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。