阅读说明：本技术 一种低阻测试针 (Low resistance test needle ) 是由 杨成 陈飞 郭玉栋 于 2021-09-15 设计创作，主要内容包括：本发明公开了一种低阻测试针,包括：四向调节块,所述四向调节块相邻的两个侧壁上分别活动连接有一个弹性塑料卡,所述弹性塑料卡的端部连接有测试针；两根测试针朝向同一方向,且两者之间呈一定夹角,针尖的距离为12-40μm；所述四向调节块转动连接在连接板上,所述连接板上还连接有针座固定座；该低阻测试针使用的针尖的直径更小,能够满足高精度pcb板的测试,测试针的扎偏的概率更小；测试针更容易调整,多方向的调整的设置,使人工调整的过程中更为简单高效。对比以往的测试针的报废率也更低；可维护性更好,在后期使用如有间距变大的情况,可由专业人员简单调试即可投入使用,无需回厂重新组装调整。(The invention discloses a low resistance test needle, comprising: the testing device comprises a four-way adjusting block, a testing device and a testing device, wherein two adjacent side walls of the four-way adjusting block are respectively and movably connected with an elastic plastic card, and the end part of the elastic plastic card is connected with a testing needle; the two test needles face to the same direction and form a certain included angle, and the distance between the needle points is 12-40 mu m; the four-way adjusting block is rotationally connected to a connecting plate, and a needle seat fixing seat is further connected to the connecting plate; the diameter of the needle point used by the low-resistance test needle is smaller, the test of a high-precision pcb can be met, and the probability of the deflection of the test needle is smaller; the test needle is easier to adjust, and the setting of multi-directional adjustment enables the process of manual adjustment to be simpler and more efficient. The rejection rate of the test needle is lower than that of the prior test needle; the maintainability is better, if the condition that has the interval grow in later stage use, can put into use by the simple debugging of professional, need not to return the factory and reassemble the adjustment.)

一种低阻测试针

技术领域

本发明涉及PCB检测设备领域，特别涉及一种低阻测试针。

背景技术

在电子信息技术高速发展的今天,各种电子设备都离不开其核心部件IC芯片。随着5G时代来临，使得IC器件集成度更高，安装技术已经从插装技术(THT)过渡到表面贴装技术，并普遍采用芯片级封装技术。同时由于通迅技术的发展需要，要求信号的高速传递，PCB作为传送信号的主要载体，致使PCB向高密度(HDI)发展成为必然，目前市场上中高阶HDI板，和Micro LED板、智能手机板精度极高，并且需求测量低电阻，传统测试针已经不能满足低电阻测量条件下的测量精度。

现有的低阻测试针多数为刀片形式，两片刀片组合，这样的测试针针尖比较较粗。刀片安装至弹性塑料件上，塑料件固定在针座测试座上。调整低阻测试针针尖的间距及高差，这一步操作较难完成，需要人工在显微镜下进行调整。在调整完毕后，使用胶水进行封装，以维持测试针调整后的状态，使得测试针不易变形。同时这种低阻测试针的针尖较粗(一般针尖间距在40μm以上)，无法在高精度、超小焊盘上进行测试；二刀型测试针加工成本高，加工的一致性差，维护成本高；调整控制测试针的间距较困难，报废率高。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种方便调整、准确性更好的低阻测试针。

为了实现上述目的，本发明提供的技术方案是：一种低阻测试针，包括：四向调节块，所述四向调节块相邻的两个侧壁上分别活动连接有一个弹性塑料卡，所述弹性塑料卡的端部连接有测试针；两根测试针朝向同一方向，且两者之间呈一定夹角，针尖的距离为12-40μm；所述四向调节块转动连接在连接板上，所述连接板上还连接有针座固定座。

作为优选的一种技术方案，所述测试针为的一端为尖头，另一端为圆头。

作为优选的一种技术方案，所述四向调节块为三棱柱形。

作为优选的一种技术方案，所述弹性塑料卡的延伸方向上并列开设有多个固定孔。

作为优选的一种技术方案，所述弹性塑料卡通过微型挡板活动连接在所述四向调节块上。

作为优选的一种技术方案，所述弹性塑料卡靠近所述测试针的一侧开设有腰型孔，所述腰型孔用于调节所述测试针的位置。

作为优选的一种技术方案，所述四向调节块上安装有调节螺丝，通过所述调节螺丝调节测试针的间距以及测试针的高差。

本发明相对于现有技术的有益效果是：圆形测试针成本低、针尖的直径更小(最小能达到12μm)，能够满足高精度pcb板的测试，测试针的扎偏的概率更小。

测试针更容易调整，多方向的调整的设置，使人工调整的过程中更为简单高效。对比以往的测试针的报废率也更低。

可维护性更好，在后期使用如有间距变大的情况，可由专业人员简单调试即可投入使用，无需回厂重新组装调整。

附图说明

图1是本发明提供的一种低阻测试的其中一个视角的结构图；

图2是本发明提供的一种低阻测试针的另一个视角的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如本申请和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，尽管本申请中所使用的术语是从公知公用的术语中选择的，但是本申请说明书中所提及的一些术语可能是申请人按他或她的判断来选择的，其详细含义在本文的描述的相关部分中说明。此外，要求不仅仅通过所使用的实际术语，而是还要通过每个术语所蕴含的意义来理解本申请。

参照图1和图2，本实施例提供一种低阻测试针，包括：四向调节块10，在本实施例中，四向调节块10为三棱柱形

四向调节块10的相邻的两个侧壁上分别活动连接有一个弹性塑料卡20，所述弹性塑料卡20的端部连接有测试针30，测试针30为的一端为尖头，另一端为圆头。

两根测试针30朝向同一方向，且两者之间呈一定夹角，针尖的距离为12-40μm；所述四向调节块10转动连接在连接板40上，所述连接板40上还连接有针座固定座50。

进一步的，弹性塑料卡20的延伸方向上并列开设有多个固定孔201。弹性塑料卡20通过微型挡板60活动连接在所述四向调节块10上。

所述弹性塑料卡20靠近所述测试针30的一侧开设有腰型孔202，所述腰型孔20用于调节所述测试针30的位置。

所述四向调节块10上安装有调节螺丝101，通过所述调节螺丝101调节测试针的间距以及测试针的高差。

该低阻测试针的圆形测试针成本低、针尖的直径更小(最小能达到12μm)，能够满足高精度pcb板的测试，测试针的扎偏的概率更小。测试针更容易调整，多方向的调整的设置，使人工调整的过程中更为简单高效。对比以往的测试针的报废率也更低。可维护性更好，在后期使用如有间距变大的情况，可由专业人员简单调试即可投入使用，无需回厂重新组装调整。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。