具体实施方式

下面对本发明优选实施例作详细说明。

本发明依托流量计内部署的监测传感器，包括在超声波反射片正上方部署的一个或多个测试声波发射和接收装置、在超声波反射片支架上部署的位移传感器、在超声波反射片侧方部署的激光探测器、在超声波反射片支架上部署的振动传感器等。

本发明的一种可调整反射片支架的超声波流量计的实施例，结构示意图如图1所示，包括超声波流量计壳体(1)、超声波换能器(2)、超声波换能器下方的反射片及反射片支架(3)，其特征在于：

所述反射片支架连接用于调整反射片支架的角度和位置的调节装置(4)，所述调节装置(4)采用超声波反射片异常校正算法对反射片支架进行调整。

优选地，调节装置(4)与反射片支架的连接方式包括夹持、胶粘、焊接、紧配、螺纹的任一项或多项组合。

所述调节装置采用超声波反射片异常校正算法对反射片支架进行调整，流程图如图2所示，包括步骤：

根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据计算超声波反射片的异常指数；

根据超声波换能器的超声波接收范围和/或接收能力计算异常容许值；

当超声波反射片的异常指数大于异常容许值时，根据异常指数和异常容许值的差值计算需要调整的超声波反射片的角度和/或位移并进行调整。

所述超声波反射片的角度变化值是单个反射片预设时间段内的角度变化值、两个超声波发射片预设时间段内的角度变化值之差的任一项或多项组合。一种优选实施例中，在流量计的超声波反射片正上方原始平行位置部署测试声波发射和接收装置，测试声波发射和接收装置向当前超声波反射片发射检测声波并接收，获取接收位置与发射位置的距离，根据该距离与反射片角度变化值的几何关系计算预设时间段内的单个反射片角度变化值。另一种优选实施例中，采用上述方法分别计算两个反射片预设时间段内的角度变化值，计算两个超声波发射片预设时间段内的角度变化值之差。另一种优选实施方式中，根据单个反射片角度变化值和两个超声波发射片预设时间段内的角度变化值之差的组合得到角度变化值，所述多项组合是多项之间取极值和/或平均值和/或乘积和/或求和。

所述超声波反射片的表面粗糙度是根据检测声波的发射强度和接收强度之差得到和/或根据激光探测器检测的超声波反射片表面平整度计算得到和/或根据超声波反射片一定时间内的厚度变化值计算得到。

表A中A1～A7表示计算超声波反射片的表面粗糙度的不同实施方式，其中表A中涉及检测声波的发射强度和接收强度值、超声波反射片表面平整度、反射片厚度变化值等数据。

表A计算超声波反射片的表面粗糙度的不同实施方式

所述超声波反射片的位移数据是超声波反射片支架预设时间段内的水平位置变化值、超声波反射片支架预设时间段内的垂直位置变化值、超声波反射片与超声波反射片支架预设时间段内的相对位置变化值的任一项或多项组合。所述多项组合是多项之间取极值和/或平均值和/或乘积和/或求和。

所述根据超声波反射片的角度变化值和/或超声波反射片的表面粗糙度和/或超声波反射片的位移数据计算超声波反射片的异常指数，是：根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系和超声波反射片的位移对超声波接收的影响计算超声波反射片的异常指数、根据超声波反射片的角度变化和位移对超声波接收的影响和超声波反射片的表面粗糙度与超声波反射衰减的关系计算超声波反射片的异常指数的任一项。

表B中B1～B7表示计算超声波反射片的异常指数的不同实施方式，其中表B中涉及超声波反射片的角度变化值、超声波反射片的表面粗糙度、超声波反射片的位移数据等数据。

表B计算超声波反射片的异常指数的不同实施方式

所述根据超声波换能器的超声波接收范围和/或接收能力计算异常容许值，是：根据超声波换能器的超声波接收范围计算超声波反射片的最大偏移角度并以此计算异常容许值、根据超声波换能器的接收能力计算超声波最大衰减值并以此计算异常容许值、根据超声波反射片的最大偏移角度和超声波最大衰减值计算异常容许值的任一项。

表C中C1～C3表示计算异常容许值的不同实施方式，其中表C中涉及超声波接收范围、超声波换能器的接收能力等数据。

表C计算异常容许值的不同实施方式

所述根据异常指数和异常容许值的差值计算需要调整的超声波反射片的角度和/或表面粗糙度和/或位移并进行调整，包括步骤：

计算超声波反射片的异常指数和异常容许值的差值；

根据超声波反射片的异常指数与超声波反射片的角度和/或表面粗糙度和/或位移数据的关系计算差值对应的超声波反射片的角度和/或表面粗糙度和/或位移数据，即为需要调整的超声波反射片的角度和/或表面粗糙度和/或位移；

根据需要调整的超声波反射片的角度和/或表面粗糙度和/或位移将超声波发射片或反射片支架挤压到相应的角度和/或表面粗糙度和/或位移。

本实施例中，计算超声波反射片的异常指数x和异常容许值y的差值z，根据表B中任一项中的超声波反射片的角度和/或位移数据与超声波反射片的异常指数的函数关系计算差值z对应的超声波反射片的角度和/或位移数据，即为需要调整的超声波反射片的角度和/或位移；根据需要调整的超声波反射片的角度和/或位移将超声波发射片或反射片支架挤压到相应的角度和/或位移。

一种优选实施例中，根据表B中B7得到超声波反射片的异常指数x＝2，根据表C中C3得到异常容许值y＝1.8，此时超声波反射片的异常指数x>异常容许值y，计算差值z＝0.2，根据表B的B1中超声波反射片的角度v与超声波反射片的异常指数x的函数关系x＝r1·v计算差值z对应的超声波反射片的角度为0.2×0.2＝0.04度(r1＝0.2)，则需要调整的超声波反射片的角度为0.04度，根据需要调整的超声波反射片的角度0.04度将超声波发射片或反射片支架挤压到相应的角度。

另一种优选实施例中，根据表B中B7得到超声波反射片的异常指数x＝2，根据表C中C3得到异常容许值y＝1.8，此时超声波反射片的异常指数x>异常容许值y，计算差值z＝0.2，根据表B的B3中超声波反射片的位移m与超声波反射片的异常指数x的函数关系x＝r8·m^r9计算差值z对应的超声波反射片的位移为r8·0.2^r9＝0.32厘米(r8＝8，r9＝2)，则需要调整的超声波反射片的位移为0.32厘米，根据需要调整的超声波反射片的位移0.32厘米将超声波发射片或反射片支架挤压到相应的位置。

优选地，所述对反射片支架进行调整的方式包括旋转调节装置使反射片支架角度变化、平移调节装置使反射片支架位置变化、调节装置包绕并挤压反射片支架使支架角度和位置变化的任一项或多项组合。本实施例中，调节装置(4)为与反射片支架连接的旋钮装置和/或推拉装置和/或包裹装置，通过旋转挤压、平移挤压、包绕挤压的任一项或多项组合对反射片支架的位置和/或角度进行调整。

当然，本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上实施例仅是用来说明本发明的，而并非作为对本发明的限定，只要在本发明的范围内，对以上实施例的变化、变型都将落入本发明的保护范围。