具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面将结合附图对本发明作进一步的详细介绍。

参见图1所示；

发明磁栅精度校准检测装置，包括：

基座100，其上部布设有气浮导轨1；

气浮滑块2，其与气浮导轨1滑动连接；

基座100上形成有与气浮导轨1平行的用于容纳待检磁栅带6的导向槽101，气浮滑块2装设有磁栅读数头5；以及

两个光栅带3、11，其装设在基座100上并对称地分布在导向槽101两侧，光栅带3、11的光栅读数头4、12设置于气浮滑块2上，从而驱动气浮滑块2使两个光栅带3、11形成第一基准轴线和第二基准轴线地双基准校准待检磁栅带6。

具体的，该结构中基座100为大理石工作台，基座100上形成有两条气浮导轨1，气浮导轨1上滑动连接有气浮滑块2，气浮导轨1和气浮滑块2均为现有技术，驱动原理，气浮导轨1、气浮滑块2组成滑动连接的移动副，气体充斥在气浮导轨1、气浮滑块2之间形成气膜，当用手推气浮滑块2时，气动滑块2能够沿气浮导轨1滑动；

基座100位于两条气浮导轨1之间形成有导向槽101，通过导向槽101容纳待检磁栅带6，且导向槽101与气浮导轨1平行(平行度公差高于待检磁栅带安装公差)，基座100位于导向槽101一侧布设有光栅带3，另一侧布设有光栅带11，光栅带3和光栅带11相对与导向槽101呈对称设置、且均平行于导向槽101(平行度远远高于待检磁栅带6安装公差可忽略不计)；

气浮滑块2对应光栅带3和光栅带11位置设置有光栅读数头4和光栅读数头12，对应待检磁栅带6位置设置有磁栅读数头5，检测时，驱动气浮滑块2，光栅带3、光栅带11形成第一基准轴线和第二基准轴线来双基准校准待检磁栅带6，第一基准轴线和第二基准轴线求和平均获取校核基准轴线，通过校核基准轴线与待检磁栅带6轴线进行对比，从而将待检磁栅带6轴线与第一基准轴线和第二基准轴线之间的阿贝臂L5降低至待检磁栅带轴线与校核基准轴线之间的阿贝臂L6，最大程度上保证了待检磁栅带轴线与校核基准轴线重合，提高了检测精度。

参见图4所示，优选的，两个光栅读数头4、12中心连线形成第一定位基准线A，磁栅读数头5的中心重合于第一定位基准线A。

该结构中，通过将磁栅读数头5的中心设置在光栅读数头4和光栅读数头12中心连线的第一定位基准线A上，进一步提高了该检测装置检测精度；

优选的，导向槽101宽度方向与待检磁栅带6间隙配合，待检磁栅带6通过间隙配合放置在导向槽101内，能够进一步精确待检磁栅带6在基座100上的位置，保持检磁栅带6轴线与第一基准轴线和第二基准轴线平行，有利于提高检测精度，导向槽101底壁布设用于吸附待检磁栅带6的负压吸附结构。以便使待检磁栅带6与导向槽101固定连接，避免了在检测过程中待检磁栅带6位移，使测量基准能够更精准的对待检磁栅带6进行校准；

参见图2-3所示，优选的，负压吸附结构包括若干吸气孔103和与吸气孔103连通的负压管路102，若干吸气孔103间隔地沿导向槽101底壁长度方向分布，负压管路102形成在基座100内部，且两端均通过接头10与外部负压吸附系统气路连接，检测时，负压吸附系统启动，吸气孔103吸气吸附待检磁栅带6，使待检磁栅带6固定地贴合在导向槽101底壁上；

参见图1所示，优选的，基座100对应导向槽101两端均布设有能够旋转的收揽盘9、13，用于收纳待检磁栅带6，收揽盘9、13通过支架8与基座100固定连接。

具体的，基座100对应导向槽101一端通过支架8固连有收揽盘9，另一端通过支架8固连有收揽盘13，通过收揽盘9上可以缠绕未检测的待检磁栅带6，通过收揽盘13可以收揽检测完毕的磁栅带，便于检测长的磁栅带，使用方便，优选的，导向槽101两端均装设有固定扣7，用于固定待检磁栅带6端部，具体的，固定扣7上设置有通孔，通孔内安装有螺栓，螺栓与基座100上的螺纹孔配合，拧紧螺栓，固定扣7压紧磁栅带6，松开螺栓，固定扣放松磁栅带6，避免待检磁栅带6被检测部分翘曲而影响检测结果；

使用时，当待检磁栅带6从收纳盘9释放时，收纳盘13同时收卷检测完毕的磁栅带，测量磁栅带长度为气浮滑块2的行程长度，当检测完毕的磁栅带收卷到收纳盘13时，此时磁栅带待检部分铺满导向槽101，负压系统启动，磁栅带待检部分被吸附到导向槽并固定，同时用固定扣7将磁栅带待检部分在导向槽101两端固定，检测开始，气浮滑块2从基座100的气浮导轨1一端滑到另一端，在滑动过程中光栅读数头4、光栅读数头12和磁栅读数头5同步实时读取数据，输出到数据存储单元并进行计算输出检测结果，完成该段长度磁栅带的精度检测后，负压气路释放，重复以上过程将磁栅带测量完成部分收卷，磁栅带待检部分重新铺满导向槽101，启动负压系统吸附，进行下一段待检磁栅带6长度检测，如此循环完成整卷磁栅带检测。

优选的，光栅带3、11为钢带光栅。

具体的，该结构中通过将光栅带3、光栅带11设置为钢带光栅，钢带光栅与磁栅带6能够安装在同一平面上；

发明磁栅精度校准检测方法，使用上述磁栅精度校准检测装置，该方法包括以下步骤：

步骤一，提供待检磁栅带6；

步骤二，将待检磁栅带6铺满导向槽101，测量待检磁栅带6的实际物理长度为L₂；

步骤三，驱动气浮滑块2沿气浮导轨1位移，获取第一基准轴线和第二基准轴线；

步骤四，获取校核基准轴线长度；

根据公式：

其中，L₁为第一基准轴线的长度，L₄为第二基准轴线的长度，从而计算出校核基准轴线长度为L₃，从而在第一定位基准线A上获得L₃和L₂之间的阿贝臂为L₆，进而获得最小阿贝臂。

优选的，第一基准轴线和第二基准轴线、以及待检磁栅带6的实际物理长度的测量起点为两个光栅读数头4、12、以及磁栅读数头5的中心三点连线形成的第一定位基准线A；

其中，气浮滑块2行程末端为第二定位基准线B；

第一基准轴线和第二基准轴线、以及待检磁栅带6的实际物理长度的测量终点为第二定位基准线B。

具体的，光栅读数头4和光栅带3组成第一测量基准形成第一基准轴线，光栅读数头12和光栅带11组成第二测量基准形成第二基准轴线；磁栅带6为待检项；

参见图4所示，第一基准轴线和第二基准轴线相互平行，且距离磁栅读数头5所在轴线距离相等为L₅，此时L₅为实际测量阿贝臂，光栅读数头4与光栅读数头12中心连线过磁栅读数头5的中心，测量时L₁为光栅读数头4读数长度，L₄为光栅读数头12读数长度，L₂为待检磁栅带6的实际物理长度，L₃为第一基准轴线和第二基准轴线合成的校核基准轴线长度，同时也是磁栅读数头5的实际位置距离，可以算得L₃＝(L₁+L₄)/2，此时L₃与L₂之间的阿贝臂为L₆，由此阿贝臂由L₅减小到L₆，从而提高了检测精度；

具体的，假设L₆＝0.1mm(实际安装过程中远小于0.1mm)，a＝1°，可计算由阿贝误差引起的误差为ΔL₆＝L₆×sina＝0.1×sin1°≈0.0017，L₅的实际尺寸由于安装结构及光栅读数头4尺寸限制，往往会在几十毫米，假若取10mm(实际情况下远远比10mm多)，此时ΔL₅＝L₅×sina＝10×sin1°≈0.17，两者之间的数量级相差100倍，而实际情况L₅往往比10mm要大得多，误差也大的多，因此采用L₃来替代L₁或L₄的单独测量值更接近L₂。由于在实际测量中L₂与L₃的夹角a非常小(导向槽可在一定程度上保障待检磁栅带与光栅带的平行程度)，以上述假设为例，cos1°≈0.9998，1mm的长度误差在0.0002mm，由于a在实际应用当中远小于1°，cosa与1极为接近，因此L₂与L₃值可以近似替代，采用L₃＝(L₁+L₄)/2来替代L₂，进一步与磁栅读数头5的读数进行比较，大大减小了阿贝误差的影响因素，采用L₃作为测量基准能够更加精准的对磁栅带进行校准。

利用该磁栅精度校准检测装置于能够大大减小测量基准与待测磁栅带之间的阿贝误差，使测量基准能够更精准的对磁栅带进行校准，同时磁栅带的固定简便快捷无需背胶，无需剪断，又可实现大长度磁栅带的测量。

以上只通过说明的方式描述了本发明的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本发明的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本发明权利要求保护范围的限制。